測(cè)井方法原理期末復(fù)習(xí)

1、測(cè)井方法原理與應(yīng)用1 緒論1. 測(cè)井技術(shù)發(fā)展根據(jù)采集系統(tǒng)特點(diǎn)大致可分為：模擬測(cè)井，數(shù)字測(cè)井，數(shù)控測(cè)井，成像測(cè)井2. 常規(guī)測(cè)井方法按照測(cè)井系列可分為：巖性測(cè)井系列、孔隙度測(cè)井系列、電阻率測(cè)井系列；3. 巖性測(cè)井系列包括：自然電位、自然伽馬、井徑測(cè)井；4.孔隙度測(cè)井系列包括：聲波時(shí)差測(cè)井、密度測(cè)井、中子測(cè)井；5.電阻率測(cè)井系列包括：深、中、淺探測(cè)的普通時(shí)電阻率測(cè)井、側(cè)向測(cè)井、感應(yīng)測(cè)井2 自然電位測(cè)井1. 自然電場(chǎng)產(chǎn)生的原因：（1）地層水和泥漿含鹽濃度不同而引起的擴(kuò)散電動(dòng)勢(shì)和吸附電動(dòng)勢(shì) （2）地層壓力與泥漿柱壓力不同而引起的過(guò)濾電動(dòng)勢(shì)2. 由砂巖，泥巖、泥漿所組成的導(dǎo) 電回路中，電動(dòng)勢(shì)Ed和Eda是

2、串聯(lián)的， 因此，在該回路中擴(kuò)散作用的總電動(dòng)勢(shì) Es為該兩電動(dòng)勢(shì)的代數(shù)和。Es = Ed+Eda = Kdlg(Cw/Cmf)+ Kdalg(Cw/Cmf) = Kslg(Cw/Cmf) Ks=Kd+Kda Ks-總的擴(kuò)散、擴(kuò)散吸附電動(dòng)勢(shì)系數(shù); Es-井內(nèi)自然電動(dòng)勢(shì) 通常把Es記作SSP，稱為自然電位，此 時(shí)的Ed的幅度稱為砂巖線，Eda稱為泥 巖線。實(shí)際測(cè)井是通常都是以泥巖線作 為自然電位測(cè)井曲線的基線。3. 自然電位測(cè)井曲線的影響因素：（1）巖性影響、（2）溫度影響、（3）地層水和泥漿濾液中含鹽性質(zhì)的影響、（4）地層水和泥漿濾液中含鹽濃度比值的影響、（5）地層電阻率的影響、（6）地層厚度的影

3、響、（7）井徑擴(kuò)大和泥漿侵入的影響4. 自然電位測(cè)井的應(yīng)用：（1）判斷巖性、劃分滲透層;(2)判斷儲(chǔ)層中流體性質(zhì)；(3)計(jì)算地層水電阻率；（4）估計(jì)泥質(zhì)含量：泥質(zhì)系數(shù)法經(jīng)驗(yàn)公式法關(guān)系曲線法;（4)判斷水淹層; (5)地層對(duì)比和沉積相研究3 普通電阻率法測(cè)井1. 地層因素：也叫相對(duì)電阻率，用F表示，F(xiàn)=Ro/Rw，式中: Ro孔隙中100含水時(shí)的地層電阻率；Rw地層水電阻率。2. 電阻增大系數(shù)：即含油巖石的電阻率Rt與該巖石完全含水時(shí)的電阻率R0之比，I=Rt/Ro3. 阿爾奇公式：上式合稱為Archie公式，它們是應(yīng)用電阻率測(cè)井資料解釋具有顆粒孔隙的含水巖石和含油氣巖石的兩個(gè)基本解釋公式。式中

4、 b 系數(shù)，僅與巖性有關(guān)；n 飽和度指數(shù)，n2。 4. 阿爾奇公式的重要意義：1）奠定了測(cè)井定量解釋的基礎(chǔ)；2）架起了孔隙度測(cè)井（一般為聲測(cè)井與核測(cè)井）與飽和度測(cè)井（一般為電阻率測(cè)井）之間的橋梁。5. 視電阻率：這個(gè)電阻率值既不可能等于某一巖層的真電阻率，也不是電極周圍各部分介質(zhì)電阻率的平均值，而是在離電極裝置一定距離范圍內(nèi)各介質(zhì)電阻率綜合影響的結(jié)果。我們稱之為視電阻率，記作Ra。6. 泥漿低侵：泥漿侵入后，Ri<Rt，一般對(duì)應(yīng)油層 泥漿高侵：泥漿侵入后，Ri>Rt，一般對(duì)應(yīng)水層7.梯度電極系：梯度電極系就是成對(duì)電極靠得很近，而不成對(duì)電極離得較遠(yuǎn)的電極系。 電位電極系：電位電極系就

5、是在電極的相互距離中，成對(duì)電極相距較遠(yuǎn)的電極系。8.普通視電阻率測(cè)井曲線特征：（1）梯度電極系視電阻率理論曲線：對(duì)于高阻厚層模型，理論曲線特征：頂部和底部梯度電極系視電阻率曲線形狀正好是相反的；頂部梯度曲線上的視電阻率極大值、極小值分別出現(xiàn)在高阻層Rt的頂界面和底界面，而底部梯度曲線上的極大值和極小值分別出現(xiàn)在高阻層的底界面和頂界面。中部視電阻率測(cè)量時(shí)不受上下圍巖的影響，故在地層中部，曲線出現(xiàn)一個(gè)直線段其幅度為Rt。對(duì)于高阻中等厚度層模型，其理論曲線特征如下：曲線在高阻層界面附近的特點(diǎn)和厚地層視電阻率曲線界面特征基本相同；地層中部差異較大，隨著地層的變薄，地層中部的平直線段部分不再存在，曲線變

6、化陡直，幅度變低。 對(duì)于高阻薄層模型，其理論曲線特征如下：在高阻薄層處只有極大值是明顯的；在高阻層的下方(成對(duì)電極一方)距高阻層底界面一個(gè)電極距的深度上出現(xiàn)一個(gè)假極大b點(diǎn)。（2）電位電極系視電阻率理論曲線： 當(dāng)上、下圍巖電阻率相等時(shí)，曲線對(duì)地層中點(diǎn)上下對(duì)稱；視電阻率曲線在地層中點(diǎn)取得極值在地層界面處，曲線出現(xiàn)“小平臺(tái)”，小平臺(tái)中點(diǎn)正對(duì)著地層的界面。9. 普通視電阻率測(cè)井曲線影響因素：（1）井的影響（2）電極系的影響（3).侵入影響(4).高阻鄰層的屏蔽影響(5).圍巖的影響10. 普通視電阻率測(cè)井的地質(zhì)應(yīng)用：確定巖層界面；確定地層電阻率Rt；地層對(duì)比；用于標(biāo)準(zhǔn)測(cè)井圖 11. 標(biāo)準(zhǔn)測(cè)井：在一個(gè)油

7、田或一個(gè)區(qū)域內(nèi)，為了研究巖性變化、構(gòu)造形態(tài)和大段油層組的劃分等工作，常使用幾種測(cè)井方法在全地區(qū)的各口井中，用相同的深度比例（1:500）及相同的橫向比例對(duì)全井段進(jìn)行測(cè)井，這種組合測(cè)井叫做標(biāo)準(zhǔn)測(cè)井。4 側(cè)向測(cè)井1.三電極測(cè)井工作原理：(1)測(cè)井過(guò)程中，主電極Ao和A1、A2供以相同極性的電流Io和Ia，并使它們之間處于等電位狀態(tài)。(2)當(dāng)Ao與A1、A2電位不相等時(shí)，其電位差被送到調(diào)整線路上，通過(guò)調(diào)節(jié)A1、A2電路中的屏蔽電流Ia，保持整個(gè)電極系處于等電位狀態(tài)。(3)三側(cè)向的電場(chǎng): 由于主電流Io被A1、A2所屏蔽。主電流水平流入地層。(4）儀器記錄的是任意屏蔽電極A1或A2，或主電極Ao與回流

8、電極B之間的電位差U和主電極電流Io ro表示主電極的接地電阻，表示主電電極到回流電極所經(jīng)過(guò)的 介質(zhì)的電阻。(5)三側(cè)向的主電流基本上是垂直射入地層。接地電阻定義:ro可看成是由三部分組成：ro=rm+rt+ri(等效串聯(lián)電路) 其中rm、ri、rt對(duì)Ra貢獻(xiàn)，取決于聚焦能力大小，聚焦能力強(qiáng)，rt貢獻(xiàn)大，反之rt對(duì)Ro貢獻(xiàn)就小。2.影響三側(cè)向測(cè)井的因素：1）電極系參數(shù)的影響；2）井眼及地層參數(shù)的影響3.三側(cè)向曲線特征：?jiǎn)我桓咦鑼拥碾娮杪是€形態(tài)(1)上下圍巖一致時(shí)，曲線中心對(duì)稱，對(duì)高阻層，Ra上升；層愈厚，電阻越高。(2)上下圍巖不一致時(shí)，Ra曲線不對(duì)稱，極大值偏向高阻圍巖一方；3)h4d時(shí)，

9、極值不變，曲線對(duì)稱，對(duì)地層中心出現(xiàn)極大值。4.三側(cè)向測(cè)井曲線的應(yīng)用：（1）劃分巖性剖面：地層界面一般劃在曲線開(kāi)始急劇變化的位置（2）可用LLd、LLs重疊法定性判斷油水層：油、水層的泥漿侵入性質(zhì)不同，（Rmf>Rw時(shí)）油層多為減阻侵入，水層多為增阻侵入。 深側(cè)向RLLD淺側(cè)向RLLS為油層；反之為水層。3）求地層真電阻率Rt：對(duì)于較厚的高阻層可以通過(guò)深淺三側(cè)向組合圖版求出巖層的真電阻率Rt和侵入帶直徑Di。5.雙側(cè)向測(cè)井與三側(cè)向的比較：1)電極系結(jié)構(gòu)：LL3由三個(gè)柱狀電極構(gòu)成，雙側(cè)向由“七環(huán)、兩柱”狀電極構(gòu)成。(2)探測(cè)深度：雙側(cè)向探測(cè)深度大于三側(cè)向。在泥漿侵入深時(shí)，LL3所測(cè)視電阻率受

10、侵入帶影響大，深淺三側(cè)向探測(cè)深度差別小，給判斷油(氣)、水層帶來(lái)困難。其原因是：三側(cè)向的探測(cè)深度取決于電極系長(zhǎng)度，LL3電極系長(zhǎng)度有限，主電流從一開(kāi)始就緩慢發(fā)散，到一定程度后擴(kuò)散劇烈，致使主電流不能進(jìn)入較深的地層。而雙側(cè)向的探測(cè)深度由屏蔽電極A1，A2的長(zhǎng)度決定。雙側(cè)向采用將屏蔽電極分為兩段，通過(guò)控制各段的電壓，達(dá)到增加探測(cè)深度目的。(3)縱向分層能力：三側(cè)向的分層能力由主電極長(zhǎng)度決定。由于主電極較短，主電流呈水平狀進(jìn)入地層，降低了上下圍巖的影響，縱向分層能力較強(qiáng)，可劃分出h=0.40.5m以上地層電阻率的變化。雙側(cè)向的縱向分層能力與O1O2的距離有關(guān)，可劃分出h> O1O2的地層電阻率

11、變化。(4)影響因素：三側(cè)向受井眼、圍巖影響，探測(cè)深度不深，使用受限制。層厚、圍巖對(duì)深、淺雙側(cè)向的影響是相同的，淺雙側(cè)向比淺三側(cè)向受井眼影響小得多。(5)應(yīng)用：兩種側(cè)向測(cè)井都可用于劃分地質(zhì)剖面，判斷油水層，確定地層電阻率Rt和侵入帶直徑Di。6. 雙向測(cè)井資料應(yīng)用：（1）確定地層的真電阻率需要做必要的井眼、圍巖、侵入三種因素的校正后即可用來(lái)確定地層的真電阻率。（2）劃分巖性剖面（3）快速直觀地判斷油水層。7. 將深、淺側(cè)向視電阻率曲線重疊繪制如圖，觀察 兩條曲線幅度的相對(duì)關(guān)系，在滲透層井段會(huì)出現(xiàn) 幅度差。深側(cè)向曲線幅度大于淺側(cè)向曲線幅度， 叫正幅度差（意味著泥漿低侵)，這種井段一般可 以認(rèn)為是

12、含油氣井段，反之，當(dāng)深側(cè)向曲線幅度 小于淺側(cè)向曲線幅度時(shí)，稱之為負(fù)幅度差（意味 著高侵），這種井段可以認(rèn)為是含水井段。當(dāng)然最 后確定油氣，水層還得參考其他測(cè)井資料綜合判 斷做出可靠結(jié)論。5 感應(yīng)測(cè)井1.感應(yīng)測(cè)井原理：把裝有發(fā)射線圈T和接收線圈R的感應(yīng)測(cè)井探管放入井中，給發(fā)射線圈 通交流電(常為20kHz)，在發(fā)射線圈周圍地層中產(chǎn)生交變磁場(chǎng)1，這個(gè) 交變磁場(chǎng)通過(guò)地層，在地層（假想線圈）中感應(yīng)出電流I1，此電流環(huán)繞 井軸流動(dòng)，稱為渦流。渦流在地層中流動(dòng)又產(chǎn)生交變磁場(chǎng)，這個(gè)磁場(chǎng)是地 層中的感應(yīng)電流產(chǎn)生的，稱為二次磁場(chǎng)2二次磁場(chǎng)2穿過(guò)接收線圈R， 并在R中感應(yīng)出電流，從而被記錄儀記錄。2. 縱向微分幾

13、何因子：實(shí)際反映的是單位厚度水平地層幾何因子在縱向(軸向)上變化規(guī)律。 物理意義是：厚度為1個(gè)單位，z值一定的無(wú)限延伸薄板狀介質(zhì)對(duì)視 電導(dǎo)率的相對(duì)貢獻(xiàn)。 縱向積分幾何因子：雙線圈系處于厚度為h的地層中心時(shí)，地層對(duì)測(cè)量結(jié)果所作的貢獻(xiàn)。 物理意義是：當(dāng)雙線圈系中點(diǎn)與地層中點(diǎn)重合時(shí)，厚度為h的地層對(duì) 視電導(dǎo)率的相對(duì)貢獻(xiàn)。 徑向微分幾何因子：就是研究以井軸為中心的單位厚度無(wú)限延伸圓筒狀介質(zhì)的幾何因子。 物理意義是：厚度為1，半徑為r的無(wú)限長(zhǎng)圓筒狀介質(zhì)對(duì)視電導(dǎo)率的 相對(duì)貢獻(xiàn)。 徑向積分幾何因子：就是討論以井軸為中心的整個(gè)圓柱狀介質(zhì)的幾何因子。物理意義是： 半徑不同無(wú)限長(zhǎng)圓柱狀介質(zhì)對(duì)視電導(dǎo)率相對(duì)貢獻(xiàn)。3.

14、 六線圈系與雙線圈系的主要區(qū)別：從結(jié)構(gòu)上看，六線圈系比雙線圈系增加了一對(duì)聚焦線圈和一對(duì)補(bǔ)償線圈，其中聚焦線圈對(duì)放在主線圈外側(cè)對(duì)稱位置，補(bǔ)償線圈對(duì)通常放在主雙線圈之間且繞軸方向與主線圈相反，補(bǔ)償線圈是為了消除井和侵入帶的影響。改變探測(cè)深度，聚焦線圈功能是減小圍巖影響，提高縱向辨別能力。 雙線圈系只由兩個(gè)線圈組成，它的縱向特征和徑向特征都不夠理想。在縱向特征上：均勻介質(zhì)中有50%的信號(hào)是線圈系以外的介質(zhì)貢獻(xiàn)的，在比較薄的底層情況下，上、下圍巖的影響比較大，同時(shí)底層界面在曲線上反映不夠明顯。在徑向上特征：1)靠近線圈系的介質(zhì)r<0.45L，對(duì)讀數(shù)有較大影響，說(shuō)明了井對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響很大.2)分

15、析顯示，簡(jiǎn)單雙線全系的無(wú)用信號(hào)遠(yuǎn)大于有用信號(hào)，所以，相對(duì)雙線圈，六線圈系有改善，壓制了無(wú)用信號(hào)，克服和抵消了井、侵入巖、圍巖等對(duì)測(cè)量時(shí)的影響。4. 感應(yīng)測(cè)井曲線的應(yīng)用:1.劃分地層;2.確定地層的真電阻率Rt;3確定儲(chǔ)層流體性質(zhì)5. 感應(yīng)測(cè)井的曲線特征：1上、下圍巖電導(dǎo)率相同的單一巖層的感應(yīng)測(cè)井曲線特征：曲線的共同特點(diǎn)是曲線對(duì)稱，正對(duì)巖層處視電導(dǎo)率增大。但是隨著厚度的變化，曲線的幅度隨地層厚度的增大而增大。當(dāng)厚度大于5米以上，巖層的視電導(dǎo)率接近真電導(dǎo)率，而且曲線的半幅度點(diǎn)為地層界面點(diǎn)。2上、下圍巖電導(dǎo)率不同的單一巖層的感應(yīng)測(cè)井曲線特征：當(dāng)巖層厚度大于2米時(shí)，曲線呈臺(tái)階狀，可按地層中點(diǎn)視電導(dǎo)率取

16、值，用半幅點(diǎn)分層。當(dāng)巖層厚度小于1米時(shí)，曲線在地層處呈傾斜狀，讀值和分層都比較困難。6. 感應(yīng)測(cè)井的曲線影響因素：1）均質(zhì)校正：指對(duì)電磁波在均勻無(wú)限介質(zhì)中傳播時(shí)，其幅度衰減和相位移動(dòng)的校正；2）圍巖層厚校正：根據(jù)圖版，進(jìn)行圍巖層厚校正。3)侵入校正:如果地層沒(méi)有泥漿侵入，則經(jīng)過(guò)均質(zhì)校正及圍巖層厚校正后的電導(dǎo)率即為地層電導(dǎo)率。如果有泥漿侵入，則接著做侵入校正，得到地層電導(dǎo)率。7. 比較普通電阻率測(cè)井、側(cè)向測(cè)井及感應(yīng)測(cè)井的電極系特征、 探測(cè)特征、電流分布特征及適用條件。見(jiàn)上課畫(huà)的表。6 微電阻率測(cè)井1. 微電阻率測(cè)井：是指探測(cè)深度較淺的一類測(cè)井方法，主要是探測(cè)儲(chǔ)集層沖洗帶、侵入帶的 電阻率。2.

17、微電極系的測(cè)井曲線：巖層依滲透性可分為滲透層和非滲透層：（1）當(dāng)巖層為非滲透層時(shí)測(cè)得的微電位和微梯度值相等。在微電極系曲線表現(xiàn)為無(wú)幅度差或有正、負(fù)不定的較小的幅度差。非滲透性的石灰?guī)r和白云巖薄層在微電極系曲線上幅值極高且無(wú)幅度差或者具有很小的正、負(fù)不定的幅度差。（2）當(dāng)巖層為滲透性地層時(shí)：由于泥漿侵入地層，同時(shí)在滲透層井壁上形成泥餅，測(cè)量結(jié)果Ra主要取決于泥漿侵入帶的電阻率Ri、泥餅電阻率Rmc和泥餅的厚度Hmc。通常泥餅電阻率約為1-3倍的泥漿電阻率，沖洗帶電阻率Rxo約為泥餅電阻率Rmc的5陪以上。因此微梯度電極系的極距比微電位電極系的極距短，因而受泥餅的影響比微電位電極系更大一些。3.

18、微電極系測(cè)井資料應(yīng)用： 確定巖層界面 確定井徑擴(kuò)大井段 確定含油砂巖的有效厚度劃分巖性和滲透性地層7 聲波測(cè)井1. 聲波測(cè)井主要分兩大類:聲速測(cè)井和聲幅測(cè)井2. 巖石中聲波傳播的影響因素：（1）巖性：不同巖石礦物有不同彈性性質(zhì)，所以不同巖石，其聲速大小也不同。（2）孔隙度：巖層孔隙中通常被油、氣、水等流體介質(zhì)所充填。流體傳播聲波的速度較造巖礦物小得多，即孔隙流體相對(duì)巖石骨架是低速介質(zhì)，所以巖性相同、孔隙流體不變時(shí)，孔隙度越大，巖石聲速越小。（3）巖層的地質(zhì)時(shí)代： 深度相同，成分相似的巖石，當(dāng)?shù)刭|(zhì)時(shí)代不同時(shí)，聲速也不同。一般地，老地層比新地層具有較高的聲速。（4）巖層埋藏的深度：在巖性和地質(zhì)時(shí)代

19、相同的條件下，聲速隨巖層埋藏深度加深而增大。3. 為了保證接收器首先接收到滑行波，就必須消除后面幾種波的干擾，即不讓這些波在滑行波之前到達(dá)。在測(cè)井儀器中，通常采用如下措施：儀器外殼上刻槽；適當(dāng)增長(zhǎng)發(fā)射器至第一接收器距離(源距)，使直達(dá)波與滑行波通過(guò)的路徑大體相等，即可首先接收到滑行波。 ttt2t1t0ABCTR1R2v1v24. 單發(fā)雙收聲速測(cè)井原理：假設(shè)發(fā)射器在某一時(shí)刻t0發(fā)射聲波，聲波 經(jīng)過(guò)泥漿、地層、泥漿分別傳播到接收器R1和R2。即沿TABR1 到達(dá)路徑R1，沿TABCR2路徑到達(dá)R2，到達(dá)接收器R1和R2的 時(shí)刻分別為t1和t2，那么到達(dá)兩個(gè)接收器的時(shí)間差t為如果兩個(gè)接收器之間的距

20、離為L(zhǎng)（稱之為間距），且所對(duì)井徑?jīng)]有明顯變化、儀器居中時(shí)，則可以認(rèn)為BCR1R2，于是 或5. 周波跳躍：在聲速測(cè)井曲線上，對(duì)應(yīng)于疏松含氣砂巖層、裂縫帶或破碎帶及井眼嚴(yán)重垮塌等地段，常出現(xiàn)時(shí)差明顯增大且有時(shí)變化無(wú)規(guī)律現(xiàn)象。6. 聲波時(shí)差測(cè)井曲線的影響因素： 井徑變化的影響 地層厚度的影響 氣層、破碎帶等引起周波跳躍 巖石物性變化影響曲線形態(tài)7. 曲線特征 地層均勻、上下圍巖聲速相同時(shí)，曲線關(guān) 于地層中心對(duì)稱，巖層的界面位于曲線急劇變化處。 巖層不均勻或夾層時(shí)，巖層對(duì)應(yīng)的時(shí)差曲線出現(xiàn)相 應(yīng)變化。 界面附近井徑影響，不反映真值。 聲 波的“周波跳躍”：疏松含氣砂巖層、裂縫帶或破碎帶 以及井眼嚴(yán)重垮

21、塌等地段，出現(xiàn)“周波跳躍”，據(jù)此可 以識(shí)別氣層或碳酸巖地層中的裂縫發(fā)育帶。8.聲波時(shí)差測(cè)井應(yīng)用：（1）劃分巖性，作地層對(duì)比：由于各類巖石聲波速度不同，所以根據(jù)聲速曲線可以劃分不同巖性的巖石。（2）判斷氣層：天然氣和油水層時(shí)差差別大，一般氣比油水中大3050s/m，所以當(dāng)巖層孔隙中含氣時(shí)，時(shí)差將顯著增大。此外由于聲波在氣層中能量衰減顯著，有可能出現(xiàn)周波跳躍現(xiàn)象。（3）確定地層孔隙度 （4）為地震勘探提供聲速資料（5）提供波阻抗和反射系數(shù)9. 水泥膠結(jié)測(cè)井的測(cè)量原理：A、套管波的產(chǎn)生：聲波以臨界角入射到套管內(nèi)壁，在套管內(nèi)激發(fā)套管波；B、套管波沿套管傳播時(shí)，在井內(nèi)產(chǎn)生臨界折射波，此波被井內(nèi)接收器接收

22、并記錄其首波幅度；C、套管波幅度與第一界面的膠結(jié)程度有關(guān)，第一界膠結(jié)良好，套管波幅度低；第一界膠結(jié)差，套管波幅度高。這樣，就得到了一條隨深度變化的套管波幅度曲線，以反映第一界面膠結(jié)情況。10. 水泥膠結(jié)測(cè)井曲線的影響因素：（1）測(cè)井時(shí)間：為保證灌入到管外環(huán)行空間的水泥充分凝固，一般在固井后24小時(shí)到48小時(shí)測(cè)井最好，過(guò)早或過(guò)晚都會(huì)造成測(cè)井值的失真。（2）水泥環(huán)厚度：實(shí)驗(yàn)證明，水泥環(huán)厚度大于2厘米，其對(duì)測(cè)井曲線的影響基本固定；小于2厘米，隨水泥環(huán)厚度的減小，測(cè)井值升高（失真），因此，在對(duì)資料進(jìn)行解釋時(shí)，應(yīng)參考井徑曲線。（3）井內(nèi)泥漿氣侵：井內(nèi)泥漿氣侵造成聲波幅度的降低，造成膠結(jié)良好的假象。（4）

23、儀器偏心：與井內(nèi)泥漿氣侵一樣，儀器偏心也造成聲幅的降低，造成膠結(jié)良好的假象。11. 不同固井情況下的變密度測(cè)井的特點(diǎn)見(jiàn)表：固井情況波列特征VDL圖形特點(diǎn)套管與水泥環(huán)（第一界面）、水泥環(huán)與地層（第二界面）均膠結(jié)良好套管波弱地層波強(qiáng)左淺右深第一界面膠結(jié)良好而第二界面未膠結(jié)套管波弱地層波也弱左淺右淺第一界面未膠結(jié)或套管外為泥漿套管波強(qiáng)地層波弱左深右淺8 自然伽馬測(cè)井1. 根據(jù)實(shí)驗(yàn)和統(tǒng)計(jì)，沉積巖的自然放射性強(qiáng)度一般有以下變化規(guī)律：隨泥質(zhì)含量的增加而增加；隨有機(jī)物含量的增加而增加，如瀝青質(zhì)泥巖的放射性很高。在還原條件下，六價(jià)鈾能被還原成四價(jià)鈾，從溶液中分離出來(lái)而沉淀在地層中，且有機(jī)物容易吸附含鈾和釷的放

24、射性物質(zhì)；隨著鉀鹽和某些放射性礦物的增加而增加。2. 巖石含泥質(zhì)越多，自然放射性就越強(qiáng)。這是因?yàn)椋簶?gòu)成泥質(zhì)的粘土顆粒較細(xì)，有較大的比表面積，在沉積過(guò)程中能夠吸附較多的溶液中放射性元素的離子。 泥質(zhì)顆粒沉積時(shí)間長(zhǎng)(特別是深海沉積)，有充分的時(shí)間同放射性元素接觸和進(jìn)行離子交換，所以，泥質(zhì)巖石就具有較強(qiáng)的自然放射性。3. 其工作原理是，伽馬射線射到螢光 體(如碘化鈉晶體)上，從其原子中打 出電子，并在該電子的激發(fā)下發(fā)出閃 光。光電倍增管將閃光轉(zhuǎn)變?yōu)殡娒} 沖，電脈沖的數(shù)量與進(jìn)入螢光體的伽 馬射線成正比，這就是閃爍計(jì)數(shù)器的 基本工作原理。4. 自然伽馬測(cè)井曲線特征： 中心對(duì)稱（上下圍巖放射性相同），中心

25、出現(xiàn)極大值h3d0，曲線極大值隨h增加而增加，h3d0，極大值=const,與強(qiáng)度大小成正比，與厚度無(wú)關(guān)h3d0半幅點(diǎn)定界面，h3d0，厚度真實(shí)厚度。5. 自然伽馬測(cè)井影響因素：（1）放射性漲落影響；（2）測(cè)井速度和儀器時(shí)間常數(shù)的影響；（3）地層厚度對(duì)曲線幅度的影響，（4）井的參數(shù)對(duì)自然伽馬測(cè)井曲線的影響6. 放射性漲落：由于地層中放射性元素的衰變是隨機(jī)的，因此，在一定時(shí)間間隔內(nèi)衰變的原子核數(shù)，亦即放射出的伽馬射線數(shù)不可能完全相同。但從統(tǒng)計(jì)的角度來(lái)看，它基本上圍繞著一個(gè)平均值在一定的范圍內(nèi)波動(dòng)。這就是通常所說(shuō)的統(tǒng)計(jì)起伏，或放射性漲落。7. 自然伽馬測(cè)井曲線應(yīng)用：(1)劃分巖性，確定滲透層；（2

26、）進(jìn)行地層對(duì)比；（3）確定巖石的泥質(zhì)含量 Vsh=(2c·GR-1)/(2c-1)老地層 C=2, 新地層 C=3.74；（4）確定巖石的粒度中值，作沉積環(huán)境分析9 自然伽馬能譜測(cè)井1. 自然伽馬能譜測(cè)井資料的應(yīng)用： 研究生油層：大量研究表明，巖石中的有機(jī)物對(duì)鈾富集起著重要作用，因此應(yīng)用自然伽馬能譜測(cè)井，可在縱向和橫向上，追蹤生油層和評(píng)價(jià)生油層生油能力。 求泥質(zhì)含量：研究發(fā)現(xiàn)，地層的泥質(zhì)含量與釷或鉀的含量有較好的線性關(guān)系，而與地層的鈾含量關(guān)系較小 用Th/U比值研究沉積環(huán)境：統(tǒng)計(jì)表明：陸相沉積、氧化環(huán)境、風(fēng)化層，ThU7；海相沉積、灰色或綠色頁(yè)巖，ThU7；海相黑色頁(yè)巖、磷酸鹽巖，T

27、hU2。（5)尋找高效放射性碎屑巖和碳酸鹽巖儲(chǔ)集層10 密度測(cè)井1. 伽馬射線與物質(zhì)的相互作用： 光電效應(yīng) 康普頓吳有訓(xùn)效應(yīng)（0.25-2.50MeV） 電子對(duì)效應(yīng) 伽馬射線的吸收2. 密度測(cè)井使用的伽馬源與巖石作用時(shí)，主要產(chǎn)生康普頓效應(yīng)，并散射伽馬射線。密度測(cè)井就在于測(cè)量這種散射伽馬射線強(qiáng)度而求巖石密度。3. 為了克服井眼對(duì)密度測(cè)井影響，常采用： 推靠裝置將裝有伽馬源和探測(cè)器儀器部位推向井壁進(jìn)行測(cè)量； 將伽馬源放在一個(gè)帶定向窗口的鉛瓶?jī)?nèi)，定向發(fā)射、定向接收，增強(qiáng)散射伽馬射線強(qiáng)度。4. 通常由于短源距探測(cè)器探測(cè)深度淺，受泥餅影響比長(zhǎng)源距探測(cè)器大，故圖上交會(huì)點(diǎn)就會(huì)偏離脊線。這種偏離可以有兩種情況

28、： 當(dāng)泥餅密度小于巖石密度時(shí)，泥餅的影響使得長(zhǎng)、短源距計(jì)數(shù)率有所增高，且因短源距計(jì)數(shù)率增高更顯著，于是，圖上的交會(huì)點(diǎn)將偏離所探測(cè)巖石的實(shí)際密度值而落在脊線右上方。 當(dāng)泥餅密度大于巖石密度時(shí)(如含重晶石的泥餅)，泥餅的影響使得長(zhǎng)、短源距計(jì)數(shù)率降低，且因短源距計(jì)數(shù)率的降低更顯著，于是，圖上的交會(huì)點(diǎn)將落在脊線左下方。5. 密度測(cè)井的地質(zhì)應(yīng)用：（1）確定巖層的孔隙度 純巖石孔隙度為，骨架密度、孔隙流體密度和巖層體積密度分別為ma、f、b（2）確定巖性（3）密度曲線與中子曲線重疊可用于識(shí)別氣層：氣層表現(xiàn)為低孔隙度11 中子測(cè)井1. 中子測(cè)井分類：（1）根據(jù)中子測(cè)井的記錄內(nèi)容：可以將它分為：中子-中子測(cè)井

29、；中子-伽馬測(cè)井 （2）根據(jù)儀器的結(jié)構(gòu)特點(diǎn)，中子中子測(cè)井又可分為：中子-超熱中子測(cè)井（SNP）井壁中子測(cè)井；中子-熱中子測(cè)井（CNL）補(bǔ)償中子測(cè)井2. 地層對(duì)快中子的減速能力主要決定于地層的含氫量。3. 減速長(zhǎng)度LS：用來(lái)描述快中子變?yōu)闊嶂凶拥臏p速過(guò)程，減速長(zhǎng)度定義為由快中子減速為熱中子所經(jīng)過(guò)的直線距離的平均值，單位為厘米4. 擴(kuò)散長(zhǎng)度Ls：從產(chǎn)生熱中子起到其被俘獲吸收為止，熱中子移動(dòng)的距離。5. 地層的含氫指數(shù)：?jiǎn)挝惑w積的任何巖石或礦物中氫核數(shù)與同樣體積的淡水中氫核數(shù)的比值，稱為該巖石或礦物的含氫指數(shù)，用H表示。 是介質(zhì)密度M是該化合物的克分子量；x是介質(zhì)分子中的氫原子數(shù)；K是比例常數(shù)6.

30、中子測(cè)井的應(yīng)用： 確定地層孔隙度 FDC與CNL石灰?guī)r孔隙度曲線重疊定性判斷氣層：天然氣使FDC測(cè)井計(jì)算孔隙度增大，而使CNL測(cè)井計(jì)算孔隙度偏小。故二者在氣層上有一定的幅度差，而且DN。 CNL與FDC測(cè)井交會(huì)求孔隙度、確定巖性：由密度測(cè)井(FDC)的體積密度值和CNL的石灰?guī)r孔隙度值的交會(huì)點(diǎn)，可確定地層的孔隙度ND的大小和巖性。7. 中子伽馬測(cè)井中的氯和氫的作用比較：對(duì)相同含氫量的巖石而言，如果含氯量不同時(shí)，在含氯量高的巖石中，無(wú)論采用的源距如何，測(cè)得的中子伽馬射線強(qiáng)度均有所增高。8. 中子伽馬測(cè)井曲線的應(yīng)用： 劃分氣層。中子伽馬測(cè)井曲線可以用來(lái)劃分氣層確定油水界面 12 測(cè)井解釋1. 如圖所示，當(dāng)含水飽和度很低而含油飽和度很高 時(shí)，水的相對(duì)滲透率接近于零，地層產(chǎn)油不出水。 這時(shí)含水飽和度叫束縛水飽和度Swb。當(dāng)含水飽和 度很高，而含油飽和度很低時(shí)，有的絕對(duì)滲透率接 近于零，此時(shí)地層只出水不出油，這時(shí)的含油飽和 度叫殘油飽和度Shr。2. 儲(chǔ)集層具備的條件：一是具有儲(chǔ)存油氣的孔隙、孔洞和裂縫（隙）等空間場(chǎng)所；二是孔隙、孔洞和裂縫（隙）之間必須相互連通，在一定壓差下能夠形成油氣流動(dòng)的通道。3. 儲(chǔ)集層的基本參數(shù)：1、孔隙度2、滲透率