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1、NastarV600R014業(yè)務(wù)分析指導(dǎo)書(shū)(LTE覆蓋分析)文檔版本01發(fā)布日期2012-08-31華為技術(shù)有限公司版權(quán)所有 © 華為技術(shù)有限公司 2013。 保留一切權(quán)利。非經(jīng)本公司書(shū)面許可,任何單位和個(gè)人不得擅自摘抄、復(fù)制本文檔內(nèi)容的部分或全部,并不得以任何形式傳播。商標(biāo)聲明和其他華為商標(biāo)均為華為技術(shù)有限公司的商標(biāo)。本文檔提及的其他所有商標(biāo)或注冊(cè)商標(biāo),由各自的所有人擁有。注意您購(gòu)買的產(chǎn)品、服務(wù)或特性等應(yīng)受華為公司商業(yè)合同和條款的約束,本文檔中描述的全部或部分產(chǎn)品、服務(wù)或特性可能不在您的購(gòu)買或使用范圍之內(nèi)。除非合同另有約定,華為公司對(duì)本文檔內(nèi)容不做任何明示或暗示的聲明或保證。由于產(chǎn)

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3、如何基于該特性完成業(yè)務(wù)分析。目 錄前 言ii1 LTE覆蓋分析41.1 特性功能說(shuō)明41.1.1 特性簡(jiǎn)介41.1.2 特性價(jià)值41.2 特性實(shí)現(xiàn)算法41.2.1 分析數(shù)據(jù)源41.3 特性操作步驟51.3.1 操作流程51.3.2 關(guān)鍵參數(shù)配置51.4 特性注意事項(xiàng)61.4.1 特性應(yīng)用限制和注意事項(xiàng)61.4.2 特性對(duì)周邊產(chǎn)品的影響說(shuō)明61.5 特性應(yīng)用思路71.5.1 整體應(yīng)用思路71.5.2 詳細(xì)說(shuō)明71 LTE覆蓋分析1.1 特性功能說(shuō)明1.1.1 特性簡(jiǎn)介L(zhǎng)TE覆蓋分析功能提供對(duì)手機(jī)和基站上報(bào)的測(cè)量報(bào)告進(jìn)行分析,結(jié)合呼叫過(guò)程產(chǎn)生的CHR,幫助用戶判斷網(wǎng)絡(luò)中測(cè)量小區(qū)的覆蓋情況,以及在各

4、種覆蓋水平下呼叫事件的分布情況,評(píng)估現(xiàn)網(wǎng)中是否存在小區(qū)弱覆蓋、越區(qū)覆蓋、業(yè)務(wù)質(zhì)量差等問(wèn)題,以及呼叫異常事件是否和覆蓋存在關(guān)聯(lián)聯(lián)系。 1.1.2 特性價(jià)值幫助客戶評(píng)估和快速發(fā)現(xiàn)可能的網(wǎng)絡(luò)覆蓋問(wèn)題,提升網(wǎng)絡(luò)性能,減少路測(cè)成本。1.2 特性實(shí)現(xiàn)算法1.2.1 分析數(shù)據(jù)源本特性主要基于LTE eNodeB CHR數(shù)據(jù)(又稱小區(qū)跟蹤數(shù)據(jù)數(shù)據(jù))進(jìn)行分析,同時(shí)需要接入eNodeB配置。1.3 特性操作步驟1.3.1 操作流程1.3.2 關(guān)鍵參數(shù)配置在操作過(guò)程中,有如下關(guān)鍵參數(shù)需要關(guān)注:操作過(guò)程關(guān)鍵參數(shù)設(shè)置建議參數(shù)影響訂閱分析數(shù)據(jù)選擇事件塊覆蓋分析使用到的事件塊如下:PERIOD_INTRA_FREQ_MEA

5、SUREMENTPERIOD_INTRA_FREQ_MR_MDTPERIOD_PRIVATE_UE_MEASUREMENT_MDTPERIOD_PRIVATE_UE_MEASUREMENTPRIVATE_INTRA_RAT_HO_OUTPRIVATE_INTER_RAT_HO_OUTPRIVATE_RRC_CONNECTION_SETUPPRIVATE_ERAB_RELEASEPRIVATE_UE_CONTEXT_RELEASE分析使用的相關(guān)測(cè)量塊必須打開(kāi),否則對(duì)應(yīng)測(cè)量塊統(tǒng)計(jì)的指標(biāo)為空或統(tǒng)計(jì)結(jié)果偏少創(chuàng)建分析任務(wù)設(shè)置過(guò)濾條件根據(jù)現(xiàn)網(wǎng)的情況進(jìn)行設(shè)置各類過(guò)濾條件比如:為了在分析結(jié)果中快速查找到Top

6、弱覆蓋小區(qū),可以設(shè)置RSRP<-95,TA<2比例大于30的過(guò)濾條件。設(shè)置該參數(shù),用戶可以在覆蓋分析結(jié)果選擇該參數(shù)的過(guò)濾條件,快速過(guò)濾出滿足該條件的小區(qū)。1.4 特性注意事項(xiàng)1.4.1 特性應(yīng)用限制和注意事項(xiàng)LTE的覆蓋的TA、RSRP、RSRQ針對(duì)不同指標(biāo)組合使用了不同事件塊,和地理化的數(shù)據(jù)源不完全一致,統(tǒng)計(jì)結(jié)果無(wú)法嚴(yán)格匹配。1.4.2 特性對(duì)周邊產(chǎn)品的影響說(shuō)明打開(kāi)小區(qū)中等深度跟蹤數(shù)據(jù),對(duì)主控板CPU使用率上升36%左右,對(duì)KPI指標(biāo)無(wú)影響。1.5 特性應(yīng)用思路1.5.1 整體應(yīng)用思路1、對(duì)VIP活動(dòng)區(qū)域小區(qū),客戶投訴小區(qū)和性能惡化小區(qū)進(jìn)行覆蓋性能分析。2、查找問(wèn)題小區(qū),主要是通

7、過(guò)話務(wù)分布,查找平均TA、RSRP、RSRQ、UETxPower或異常事件類指標(biāo)較差小區(qū)。方法1:使用覆蓋分析概述導(dǎo)出功能,查看其中的表格。分析最差小區(qū)。方法2:在創(chuàng)建覆蓋分析任務(wù)時(shí),定制過(guò)濾條件,篩選出符合條件的小區(qū)。3、在發(fā)生覆蓋問(wèn)題之后,需要結(jié)合配置鄰區(qū)數(shù)據(jù)檢查(地理化呈現(xiàn)),小區(qū)的站高,天線下傾角等RF參數(shù)綜合進(jìn)行判斷。若為覆蓋不足或者過(guò)覆蓋、導(dǎo)頻污染、鄰區(qū)漏配等原因,遠(yuǎn)端可以進(jìn)行導(dǎo)頻功率、鄰區(qū)等配置參數(shù)調(diào)整。如果使用電下調(diào)天線可以進(jìn)行遠(yuǎn)端的操作,使用Nastar LTE覆蓋分析評(píng)估效果。如果實(shí)在必要,只能現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行路測(cè),上塔調(diào)整方向角和下傾角等近端測(cè)試和操作。4、對(duì)電平較好而質(zhì)量較差的

8、小區(qū),排除導(dǎo)頻污染后,極有可能是外部下行干擾造成,比如會(huì)議干擾器,直放站干擾等原因,需要攜帶掃頻儀定位外部干擾源。5、執(zhí)行優(yōu)化方案,對(duì)優(yōu)化效果進(jìn)行評(píng)估。1.5.2 詳細(xì)說(shuō)明LTE覆蓋分析功能提供對(duì)手機(jī)上報(bào)的測(cè)量報(bào)告的分析。這些分析結(jié)果可以幫助用戶判斷網(wǎng)絡(luò)中測(cè)試小區(qū)的覆蓋情況,確定在現(xiàn)網(wǎng)中是否存在小區(qū)弱覆蓋、越區(qū)覆蓋、業(yè)務(wù)質(zhì)量差問(wèn)題。1、下行弱覆蓋分析1、新建覆蓋分析任務(wù),設(shè)置過(guò)濾參數(shù),過(guò)濾出Top弱覆蓋小區(qū),過(guò)濾參數(shù)可根據(jù)現(xiàn)場(chǎng)實(shí)際情況進(jìn)行設(shè)置。2、基于分析任務(wù)結(jié)果,按照過(guò)濾條件查找滿足自定義弱覆蓋條件的小區(qū)列表3、查看弱覆蓋小區(qū)的2D/3D圖,通過(guò)指標(biāo)關(guān)聯(lián)分析可能原因 1)查看過(guò)濾小區(qū)的RSR

9、P/RSRQ關(guān)系圖,可以看到大部分話務(wù)集中在弱覆蓋低質(zhì)量狀態(tài)2)查看弱覆蓋小區(qū)的RSRP CDF圖,平均覆蓋為-113dBm50%,整體覆蓋較差3)查看該小區(qū)的TA分布,分布不均且呈現(xiàn)話務(wù)分布在兩端的情況,平均TA為3050%,存在過(guò)遠(yuǎn)覆蓋的可能 綜上,可以推測(cè)該小區(qū)可能為越區(qū)導(dǎo)致的覆蓋不足,可以結(jié)合地圖進(jìn)一步排查是地物原因或進(jìn)一步實(shí)施工程排查。2、上行覆蓋受限分析1、參考上面“下行弱覆蓋分析”,在新建覆蓋分析任務(wù),設(shè)置過(guò)濾參數(shù),過(guò)濾Top小區(qū)進(jìn)行結(jié)果查看2、查看Top小區(qū)的UETxPower的CDF/PDF分布,如下平均值在10dBm50%,平均發(fā)射功率較高 3、查看該小區(qū)的RSRP的CDF/PDF分布,下行覆蓋信號(hào)較好,平均值在81dBm50%綜上,該小區(qū)下的大部

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