上海光源光束線站配置

1、SSRF首批光束線和實驗站配置一覽表軟X射線譜學顯微光束線/實驗站（BL08U1 A）光源類型和參數橢圓極化波蕩器EPU100,周期長度100mm, 4.2 米。樣品處同步 輻射光特性能量范圍250 - 2000 eV能量分辨3000410eV 15001840eV樣品處光通量> 108 (phs/s) 410 eV> 107 (phs/s) 1840 eV樣品處光斑尺寸<150nm實驗站實驗站設備主體STXM顯微鏡一臺快速正比計數管、光電二極管濕樣品槽二個（供濕 樣品用）工作站一臺分析軟件：NEXAFS分析軟件、元素成分分析軟件、三維圖像分析。光學顯微鏡實驗方法透射軟X射線

2、近邊吸收譜分析（NEXAFS譜）、 光譜顯微分析一空間、能量三維（x,y,E）掃描 形態(tài) 三維顯微成像一空間三維（x,y沖）掃描。X射線成像及生物醫(yī)學應用光束線/實驗站（BL13W1）光源類型和參數多極 Wiggler ,1.944T/16poles/14cm。樣品處同步 輻射光特性能量范圍10-60keV能量分辨< 5X1 O'3樣品處光通量921X10 cha/a/mm fSiPOkAV樣品處光斑尺寸45mm(HA 5mm(V) 30m20keV實驗站實驗站設備精密隔振平臺、高分辨X射線CCD、多維樣品 臺、精密導軌、電離室、快門、斬波器等。實驗方法同軸相襯成像（IL-PCI

3、）顯微CT （MCT）衍射 增強（DEI ）等XAFS光束線/實驗站（BL14W1）光源類型和參數多極Wiggler 38極1.2 T,周期長度80mm。能量范圍4 22.5 keV能量分辨-42X10Si(111)晶體 10keV樣口口處冋步 輻射光特性樣品處光通量12>2X0 phs/s (100mA)10keV樣品處光斑尺寸2< 0.5 X.5 mm (H XV)實驗站實驗站設備32元Ge固體探測器、Oxford閉氣路譜學電離 室、Lytle熒光電離室、高低溫原位設備 (10KT000K)、5維樣品平臺。實驗方法透射XAFS、熒光XAFS、掠入射XAFS、時間分 辨 QXAF

4、S、原位 XAFS。X射線衍射光束線/實驗站(BL14B1)光源類型和參數彎鐵，電子能量3.5GeV，束流300mA，磁場強度127T,臨界能量10.35keV冰平自然發(fā)射度3.9 nmrad。樣品處同步 輻射光特性能量范圍4-22keV能量分辨2X10-410keV樣品處光通量2X1011phs/s樣品處光斑尺寸(H)0.4mmX(V)0.4mm實驗站實驗站設備Huber5021型6圓衍射儀及相尖附件、Nal閃爍體探測器、電離室、固體熒光探測器。實驗方法粉末衍射(XRD)掠入射衍射/掠入射反常衍射(GID/GIXAD)反射率測 量(XRR)倒易空間二維強度分布測量(RSMs)衍射異常精細結

5、構(D AFS)硬X射線微聚焦光束線/實驗站侶L15U1)光源類型和參數真空室內波蕩器，周期數80,長度2m。樣品處同步 輻射光特性能量范圍5-20 keV能量分辨AE/E-2X104樣品處光通量106X10 phs/s 10keV, 200mA樣品處光斑尺寸< 3»m實驗站實驗站設備探測器：7元Si （Li）探測器，硅漂移探測器，成 像用X射線CCD,電離室。樣品臺：7軸高精度電 動掃描臺，2維壓電陶瓷掃描臺。其他：樣品對光 顯微鏡，調光X-CCDo實驗方法微束X射線熒光分析（4XRF）：探測樣品中微區(qū) 元素含量和分布,2維，3維。微束近邊X射線吸收精細結構（4XANES）:

6、特 定 的元素在樣品中的化學種態(tài)。微束X射線衍射、散射（需要借用X射線面探測 器）表面分析實驗方法、X射線成像。小角散射光束線/實驗站（BL16B1）光源類型和參數彎鐵光源，電子能量3.5GeV;自然水平發(fā)射度3.9nm.rad;流強 300mA;磁場強度 1.27T。樣品處同步 輻射光特性能量范圍5-20keV能量分辨< 6.0 為 0-410keV樣品處光通量樣品處光斑尺寸0.4 為.5mm10keV實驗站實驗站設備一維廣角氣體探測器、一維小角氣體探測器、成像 板探測器、單色光狹縫、電離室系統、掠入射小角 散射樣品臺、真空管道及支架系統等。實驗方法小角散射同時廣角和小角散射掠入射小角散射反常小角散 射生物大分子晶體學光束線/實驗站（BL17U1）光源類型和參數真空室內波蕩器，周期長度為2.5cm,最小磁隙為6mm。樣品處同步 輻射光特性能量范圍578 keV能量分辨<2X10-4樣品處光通量2X1012phs/s (12keV200mA)樣品處光斑尺寸150X50 #m2 (12keV)實驗站實驗站設備Mar225 CCD 探測器、Mar Dtb 系統、熒光探測器、樣品低溫冷卻裝置(CryoStre