管制坉使用作榠規(guī)范標(biāo)準(zhǔn)

1、 Micro-Star International Co.,Ltd.微星科技股份文件申請單(T-0-6-0-QP0501-01)區(qū)別：新建 , V變更 , 作廢申請日期： 90 年 9 月 25 日文件名稱：管制圖使用作業(yè)規(guī)版本：2.0 容：增加新表格部門主管：立偉申請單位：PCBA品質(zhì)工程課文件編號：T-0-6-3-QW2002生效日期： 90 年 9 月 28 日申請人:蔡勝武文管確認(rèn)部門總經(jīng)理管理代表安衛(wèi)室工務(wù)課總務(wù)課人事課研發(fā)本部業(yè)務(wù)本部船務(wù)課采購部零倉課包裝課生管部維修課成倉課組裝課部稽核審核分發(fā)數(shù)量簽收繳回文管確認(rèn)部門SMT1SMT2DIP1DIP2系保中心供應(yīng)品保制造品保品質(zhì)工程

2、制造工程產(chǎn)品工程審核分發(fā)數(shù)量簽收繳回90.03.15 Ver:1.0Micro - Star International Co., Lt d微星科技股份文件履歷表 (T-0-6-0-QP0501-01)文件名稱 :管制圖使用作業(yè)規(guī)文件編號 :T-0-6-3-QW2002版次變更理由變更容生效日期 1.0 2.0新發(fā)行增加新表格增加單位缺點數(shù)管制圖90/9/1090/9/28頁數(shù)12345678910111213141516版序2112211111單位主管: 立偉承辦人：蔡勝武品質(zhì)程序書微星科技主題管制圖使用作業(yè)規(guī)生效日期90 年 9 月 28 日分類編號T-0-6-3-QW2002修訂版序2.

3、0頁次 11.目的：使全廠使用統(tǒng)一之方法來使用管制圖，以達(dá)到管制圖之標(biāo)準(zhǔn)化，進(jìn)而建立制程管制。2.圍：凡廠生產(chǎn)單位中規(guī)定之主要制程與生產(chǎn)品質(zhì)須監(jiān)控時皆適用。3.組織與權(quán)責(zé)：3-1 PCBA品質(zhì)工程課：制定管制圖使用作業(yè)規(guī)。3-2 廠務(wù)本部與相關(guān)單位：依管制圖使用作業(yè)規(guī)執(zhí)行。4.規(guī)容：4-1 管制圖種類4-1-1 計量值：4-1-1-1 Xbar-R管制圖 4-1-1-2 X-Rm 管制圖4-1-2 計數(shù)值： 4-1-2-1 不良率管制圖（P Chart）4-1-2-2 缺點數(shù)管制圖 (C Chart)4-1-2-3 單位缺點數(shù)管制圖 (U Chart )4-2 計量值管制圖填寫與制作說明4-2

4、-1 字段填寫說明：4-2-1-1 品質(zhì)特性：填寫管制項目。4-2-1-2 測量單位(Unit)：填寫品質(zhì)特性之單位。4-2-1-3 管制圖的管制上/下限、中心線：依公式計算后填寫。4-2-1-4 月Cpk：填入上個月份所統(tǒng)計分析出來的Cpk值。4-2-1-5 抽樣方法：抽樣頻率與數(shù)量。4-2-1-6 日期、時間：記錄取樣的日期、測量時間。4-2-1-7 平均值：（X1X2Xn）/n4-2-1-8 全距值：RMax(X1,X2,Xn)Min(X1,X2,Xn)（抽樣之最大值最小值）4-2-1-9 個別值：X單一樣本量測值。4-2-1-10 移動全距：Rm，亦即以相鄰之2數(shù)據(jù)計算全距。4-2-1

5、-11 測定員：畫該項管制圖者。4-2-1-12 當(dāng)異常發(fā)生時，必須做原因說明與對策。品質(zhì)程序書微星科技主題管制圖使用作業(yè)規(guī)生效日期90 年 9 月 10 日分類編號T-0-6-3-QW2002修訂版序1.0頁次 24-3 管制圖之畫法4-3-1 管制圖的管制上/下限、中心線計算公式類 別-RX-Rm平均值（個別值）管制圖（X）管制圖管制上限管制中心線管制下限全距（移動全距）管制圖R（Rm）管制圖管制上限D(zhuǎn)4*管制中心線管制下限D(zhuǎn)3*4-3-2 計量值管制圖之常數(shù)對照表樣本數(shù)值（n）A2D3D4E221.88003.2671.1282.66031.02302.5741.6931.77240.7

6、2902.2822.0591.45750.57702.1142.3261.29060.48302.0042.5341.18470.4190.0761.9242.7041.10980.3730.1361.8642.8471.05490.3370.1841.8162.9701.010100.3080.2231.7773.0780.975160.2120.3631.6373.5320.8494-3-3 管制圖的管制上/下限用紅色虛線表示，管制中心線用藍(lán)色實線表示。 4-3-4 依各組樣本量測值之統(tǒng)計量（平均值、全距值、個別值、移動全距）大小，描點于管制圖上。4-3-5 將各點以實線連接。4-3-6

7、有點超出管制上/下限時需加以圈注。品質(zhì)程序書微星科技主題管制圖使用作業(yè)規(guī)生效日期90 年 9 月 10 日分類編號T-0-6-3-QW2002修訂版序1.0頁次 34-4 管制界限之延用4-4-1管制界限每月根據(jù)制程狀況做調(diào)整；一旦制程到達(dá)穩(wěn)定狀態(tài)時，就不允許放寬管制界限，以達(dá)到持續(xù)改善品質(zhì)之目的。4-4-2 若當(dāng)月之制程呈管制狀態(tài)（無異常發(fā)生）時，則可延用至下個月；若當(dāng)月制程有異常發(fā)生時，則需重新計算管制界限。4-4-3當(dāng)制程改變（參數(shù)、原物料或操作方法有變更）、樣本的抽取方法改變或條件與原來不一樣時，其管制界限需重新計算。4-4-4制程雖未改變，但管制界限若繼續(xù)使用到一個時期后，制程狀態(tài)可

8、能改變，過去所使用的管制界限為基準(zhǔn)的管制圖就不適合了。這樣的話，就需要重新搜集最近的數(shù)據(jù)，重新計算管制界限；或者另一種情況，當(dāng)Cpk值到達(dá)1.33以上時，則以Cpk值等于1.33之管制界限為其管制底限。4-5制程能力分析制程能力指數(shù)是依品質(zhì)特性值的規(guī)格與制程特性的中心位置與一致程度，來表示制程中心的偏移與制程均勻度。首先假設(shè)制程是在管制狀態(tài)下；也就是說制程很穩(wěn)定，以下的數(shù)據(jù)分析才會有合理的依據(jù)?；騏SL是品質(zhì)特性值之規(guī)格上限；即產(chǎn)品品質(zhì)特性大于USL在工程上將造成不合格。LSL是品質(zhì)特性值之規(guī)格下限；即產(chǎn)品品質(zhì)特性小于LSL在工程上將造成不合格。（值查表5-2-2-1-1 計量值管制圖之常數(shù)對

9、照表）品質(zhì)程序書微星科技主題管制圖使用作業(yè)規(guī)生效日期90 年 9 月 28 日分類編號T-0-6-3-QW2002修訂版序2.0頁次 44-6 計數(shù)值管制圖填寫與制作說明4-6-1 字段填寫說明：4-6-1-1 品質(zhì)特性：填寫管制項目。4-6-1-2 測量單位(Unit)：填寫品質(zhì)特性之單位。4-6-1-3 管制圖的管制上/下限、中心線：依公式計算后填寫。4-6-1-4 抽樣方法：抽樣頻率與數(shù)量。4-6-1-5 日期、時間：記錄取樣的日期、測量時間。4-6-1-6 檢驗數(shù)：每次抽取樣本數(shù)。4-6-1-7 不良數(shù)(nP)每次檢驗中之不良個數(shù)。4-6-1-8 不良率(P)不良數(shù) / 檢驗數(shù)。4-6

10、-1-9 缺點數(shù)(C)每次抽取樣本數(shù)中之缺點數(shù)。4-6-1-10單位缺點數(shù)(u)=缺點數(shù) / 檢驗數(shù)。4-6-1-11 測定員：畫該項管制圖者。4-6-1-12 當(dāng)異常發(fā)生時，必須做原因說明。4-7 管制圖之畫法4-7-1 管制圖的管制上/下限、中心線計算公式類 別P管制上限管制中心線 管制下限類 別C管制上限管制中心線管制下限類 別U管制上限管制中心線管制下限4-7-2 管制圖的管制上/下限用紅色虛線表示，管制中心線用藍(lán)色實線表示。4-7-3 依各組樣本量測值之統(tǒng)計量（不良數(shù)、不良率、缺點數(shù)、單位缺點數(shù)）大小，描點于管制圖上。4-7-4 將各點以實線連接。4-7-5 有點超出管制上/下限時需

11、加以圈注。品質(zhì)程序書微星科技主題管制圖使用作業(yè)規(guī)生效日期90 年 9 月 28 日分類編號T-0-6-3-QW2002修訂版序2.0頁次 54-7-6 管制界限之延用4-7-6-1 管制界限每月根據(jù)制程狀況做調(diào)整；一旦制程到達(dá)穩(wěn)定狀態(tài)時，就不允許放寬管制界限，以達(dá)到持續(xù)改善品質(zhì)之目的。4-7-6-2 若當(dāng)月之制程呈管制狀態(tài)（無異常發(fā)生）時，則可延用至下個月；若當(dāng)月制程有異常發(fā)生時，則需重新計算管制界限。4-7-6-3 當(dāng)制程改變（參數(shù)、原物料或操作方法有變更）、樣本的抽取方法改變或條件與原來不一樣時，其管制界限需重新計算。4-7-6-4 制程雖未改變，但管制界限若繼續(xù)使用到一個時期后，制程狀態(tài)

12、可能改變，過去所使用的管制界限為基準(zhǔn)的管制圖就不適合了。這樣的話，就需要重新搜集最近的數(shù)據(jù)，重新計算管制界限；或者另一種情況，當(dāng)管制上限低于當(dāng)年度OQC KPI指數(shù)之不良率時，則可停止管制上限的縮。 4-7-6-5 調(diào)整后之各管制上下限將以 SPC參數(shù)發(fā)行表公告。 4-8 管制圖之判圖有下列任一狀況發(fā)生時，則表示制程有異常發(fā)生。4-8-1 有點超出管制上/下限。4-8-2 連續(xù)7點出現(xiàn)在管制中心線的一側(cè)。4-8-3 連續(xù)7點出現(xiàn)持續(xù)上升或下降。4-8-4 連續(xù)3點中有2點靠近管制上/下限。4-9 參考文件與附件：6-1 Xbar-R管制圖 6-2 X-Rm管制圖 6-3 缺點數(shù)管制圖 6-4 不良率管制圖6-5 不良統(tǒng)計記錄表 6-6 Cpk 管制圖6-7 SPC 參數(shù)發(fā)行表6-8 單位缺點數(shù)管制圖品質(zhì)程序書微星科技主題管制圖使用作業(yè)規(guī)生效日期90 年 9 月 10 日分類編號T-O-6-3-QW2002修訂版序1.0頁次6品質(zhì)程序書微星科技主題管制圖使用作業(yè)規(guī)生效日期90 年 9 月 10 日分類編號T-0-6-3-QW2002修訂版序1.0頁次 7品質(zhì)程序