QZTT 3004-2016 無源分布系統(tǒng) 無源器件檢測規(guī)范

1、中國鐵塔股份有限公司企業(yè)標準Q/ZTT 30042016代替Q/ZTT 1003.32014無源分布系統(tǒng)無源器件檢測規(guī)范Passive Distribution System Passive Components Test Specification版本號：V2.02016 - 02 - 15發(fā)布2016 - 02 - 15實施中國鐵塔股份有限公司發(fā)布 Q/ZTT 30042016目次前言IV1 范圍12 規(guī)范性引用文件13 術語和定義13.1 插入損耗Insertion Loss23.2 電壓駐波比Voltage Standing-wave Ratio (VSWR)23.3 帶內(nèi)波動（紋波）

2、Inband Ripple23.4 耦合度Coupling Degree23.5 功率容量Power Capacity23.6 無源互調(diào)Passive Intermodulation24 檢測項目24.1 功分器24.2 耦合器34.3 3dB電橋34.4 衰減器（選做）44.5 負載45 基本測試環(huán)境55.1 常規(guī)測試條件55.2 極限測試條件55.3 不確定度及判斷依據(jù)56 電氣性能檢測要求56.1 功分器56.1.1 網(wǎng)絡分析儀校準56.1.2 插入損耗和帶內(nèi)波動76.1.3 輸入端口駐波比86.1.4 輸入端口反射互調(diào)86.2 耦合器96.2.1 耦合度偏差96.2.2 插入損耗及帶內(nèi)

3、波動106.2.3 駐波比116.2.4 隔離度116.2.5 輸入口反射互調(diào)126.3 3dB電橋136.3.1 插入損耗和帶內(nèi)波動136.3.2 駐波比146.3.3 隔離度156.3.4 反射互調(diào)166.4 衰減器176.4.1 衰減度誤差和帶內(nèi)波動176.4.2 駐波比186.4.3 輸入端口反射互調(diào)186.5 負載196.5.1 駐波比196.5.2 反射互調(diào)206.6 功率容量檢測要求217 工藝和材料簡易檢測方法228 環(huán)境與可靠性試驗檢測要求238.1 高溫試驗248.2 低溫試驗258.3 振動試驗258.4 恒定濕熱試驗（選做）258.5 鹽霧試驗（選做）26附 錄 A （

4、規(guī)范性附錄） 測量設備要求27A.1 試驗負載27A.2 矢量網(wǎng)絡分析儀27A.3 校準27A.4 電纜標準測試件27A.5 互調(diào)測試儀27A.6 高低濕溫箱28A.7 調(diào)溫調(diào)濕箱28A.8 振動試驗臺28A.9 鹽霧試驗箱2828前言本標準依據(jù)相關國家標準和行業(yè)標準，結合中國鐵塔股份有限公司（以下均簡稱為“中國鐵塔”）的實際情況，細化和明確了無源分布系統(tǒng)無源器件的檢測規(guī)范，滿足多系統(tǒng)共享室內(nèi)分布系統(tǒng)的應用需求，并為入網(wǎng)檢測和無源分布系統(tǒng)建設提供技術依據(jù)。本標準主要包含無源器件產(chǎn)品的檢測項目和檢測要求，適用于無源器件產(chǎn)品的質(zhì)量檢測，適用于送檢和抽檢產(chǎn)品的檢測。本標準應和同期發(fā)布的Q/ZTT 3

5、003-2016無源分布系統(tǒng)無源器件技術要求配套使用。本標準代替Q/ZTT 1003.3-2014無源分布系統(tǒng)無源器件技術要求和測試方法（V1.0）-試行中測試方法相關的內(nèi)容。自本標準發(fā)布之日起，原標準同時廢止。本標準由中國鐵塔通信技術研究院負責解釋和監(jiān)督執(zhí)行。本標準主編單位：中國鐵塔通信技術研究院。無源分布系統(tǒng)無源器件檢測規(guī)范1 范圍本標準規(guī)定了無源器件產(chǎn)品的檢測項目和檢測要求。本標準適用于中國鐵塔股份有限公司規(guī)定的無源器件產(chǎn)品的質(zhì)量檢測，適用于送檢和抽檢產(chǎn)品的檢測。2 規(guī)范性引用文件下列國家及行業(yè)標準對于本標準的應用必不可少。凡是注日期的，僅注日期的版本適用于本標準。凡是不注日期的，其最新

6、版本適用于本標準。GB/T 2423.1 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫GB/T 2423.2 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫GB/T 2423.3 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Cab：恒定濕熱試驗GB/T 2423.4 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2 部分:試驗方法 試驗Db:交變濕熱 （12h+12h 循環(huán)）GB/T 2423.5 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Ea和導則：沖擊GB/T 2423.6 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Eb和導則：碰撞GB/T 2423.10 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方

7、法 試驗Fc：振動（正弦）GB/T 2423.17 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2 部分:試驗方法 試驗Ka:鹽霧GB/T 3873-1983 通信設備產(chǎn)品包裝通用技術條件GB/T 191-2008 包裝儲運圖示標志GB 4208 外殼防護等級（IP 代碼）YD/T 2740.5-2014 無線通信室內(nèi)信號分布系統(tǒng) 第5部分：無源器件技術要求和測試方法3 術語和定義以下術語和定義適用于本標準。3.1 插入損耗Insertion Loss發(fā)射機輸出功率和接收機輸入功率通過無源器件在有效工作帶寬內(nèi)引入的傳輸損耗，包括功率分配損耗、導體損耗、介質(zhì)損耗、反射損耗等。3.2 電壓駐波比Voltage Sta

8、nding-wave Ratio (VSWR)無源器件或有源器件中，除信源的輸入端（或輸出端）以外的其他端口與標稱阻抗負載相連接，信源的輸入端（或輸出端）電壓的波峰和波谷的比值。3.3 帶內(nèi)波動（紋波）Inband Ripple無源器件輸入至輸出端口在通帶范圍內(nèi)信號的波峰與波谷的差值。3.4 耦合度Coupling Degree耦合器耦合支路與通路信號強度的差值。3.5 功率容量Power Capacity無源器件由消耗產(chǎn)生熱能，不會導致器件的老化、變形以及電壓飛弧現(xiàn)象出現(xiàn)時，所允許的最大功率負荷。3.6 無源互調(diào)Passive Intermodulation由于器件機械結構接觸不良、虛焊和表

9、面氧化、材質(zhì)磁性導體和射頻傳導面的污染、工藝及設計因素引起的非線性，在兩個或更多的頻率混合在一起產(chǎn)生的寄生雜散信號。4 檢測項目14.1 功分器表1 功分器檢測項目明細表序號分類指標備注1電氣性能指標平均功率容量2插入損耗3帶內(nèi)波動4輸入端口電壓駐波比5輸入端口反射互調(diào)包含三階互調(diào)和五階互調(diào)6環(huán)境與可靠性試驗項目振動試驗7高溫試驗8低溫試驗9恒定濕熱試驗選做10鹽霧試驗選做11工藝和材料檢測項目內(nèi)導體、腔體和蓋板材料12內(nèi)導體和腔體表面鍍層13表面工藝、結構件和焊點工藝14接頭外導體和內(nèi)導體材料4.2 耦合器表2 耦合器檢測項目明細表序號分類指標備注1電氣性能指標平均功率容量2耦合度偏差3插入

10、損耗4帶內(nèi)波動5輸入端口電壓駐波比6最小隔離度7輸入端口反射互調(diào)包含三階互調(diào)和五階互調(diào)8環(huán)境與可靠性試驗項目振動試驗9高溫試驗10低溫試驗11恒定濕熱試驗選做12鹽霧試驗選做13工藝和材料檢測項目內(nèi)導體、腔體和蓋板材料14內(nèi)導體和腔體表面鍍層15表面工藝、結構件和焊點工藝16接頭外導體和內(nèi)導體材料4.3 3dB電橋表3 3dB電橋檢測項目明細表序號分類指標備注1電氣性能指標平均功率容量2插入損耗3帶內(nèi)波動4輸入端口電壓駐波比5隔離度6輸入端口反射互調(diào)包含三階互調(diào)和五階互調(diào)7環(huán)境與可靠性試驗項目振動試驗8高溫試驗9低溫試驗10恒定濕熱試驗選做11鹽霧試驗選做12工藝和材料檢測項目內(nèi)導體、腔體和蓋

11、板材料13內(nèi)導體和腔體表面鍍層14表面工藝、結構件和焊點工藝15接頭外導體和內(nèi)導體材料4.4 衰減器（選做）表4 衰減器檢測項目明細表序號分類指標備注1電氣性能指標平均功率容量2衰減度誤差3帶內(nèi)波動4輸入端口電壓駐波比5輸入端口反射互調(diào)包含三階互調(diào)和五階互調(diào)6環(huán)境與可靠性試驗項目振動試驗7高溫試驗8低溫試驗9恒定濕熱試驗選做10鹽霧試驗選做11工藝和材料檢測項目內(nèi)置安裝管、衰減片、接頭和繞線線纜材料12內(nèi)置安裝管和結構表面鍍層13結構件穩(wěn)固度4.5 負載表5 負載檢測項目明細表序號分類指標備注1電氣性能指標平均功率容量2輸入端口電壓駐波比3輸入端口反射互調(diào)包含三階互調(diào)和五階互調(diào)4環(huán)境與可靠性試

12、驗項目振動試驗5高溫試驗6低溫試驗7恒定濕熱試驗選做8鹽霧試驗選做9工藝和材料檢測項目內(nèi)置安裝管、吸收負載、接頭和繞線線纜材料10內(nèi)置安裝管和結構表面鍍層11結構件穩(wěn)固度5 基本測試環(huán)境5.1 常規(guī)測試條件除特殊規(guī)定外，所有測試均應在下列條件下進行： 溫度：+15+35； 相對濕度：45%75%； 大氣壓：70kPa106kPa。5.2 極限測試條件極限測試條件參考第7節(jié)中環(huán)境試驗要求。5.3 不確定度及判斷依據(jù)Q/ZTT 3003-2016無源分布系統(tǒng)無源器件技術要求(V2.0)所定義的所有指標，均已包含測試系統(tǒng)不確定度影響，所有指標測試判斷均按照定義指標要求判斷。6 電氣性能檢測要求6.1

13、 功分器6.1.1 網(wǎng)絡分析儀校準網(wǎng)絡分析儀的校準可以采用電子校準件進行校準，也可以使用機械校準件進行校準，本標準首選采用附帶電子校準件的網(wǎng)絡分析儀進行雙端口校準。6.1.1.1 電子校準件校準a) 設置網(wǎng)絡分析儀的中頻帶寬為1KHz，POWER為0dBm，掃描點數(shù)最低為801，可以設置更多的掃描點數(shù)，對測試儀表進行雙端口校準；b) 網(wǎng)絡分析儀按圖1連接電子校準件，網(wǎng)絡分析儀的校準方式選擇電子校準雙端口校準。圖1 電子校準件校準6.1.1.2 機械校準件校準a) 在網(wǎng)絡分析儀port2口加裝10dB衰減器（要求衰減器駐波比低于1.1，帶內(nèi)平坦度0.1dB，按照校準及測試需求可適當添加轉接頭），

14、設置網(wǎng)絡分析儀的中頻帶寬為1KHz，POWER為0dBm；b) 網(wǎng)絡分析儀按圖2連接機械校準件對網(wǎng)絡分析儀雙端口校準。圖2 機械校準件校準6.1.2 插入損耗和帶內(nèi)波動a) 按圖3或圖4示連接測試系統(tǒng)，除待測OUT口外，在功分器的其他輸出端口加匹配負載；圖3 電子校準件校準后功分器插入損耗和帶內(nèi)波動測試圖4 機械校準件校準后功分器插入損耗和帶內(nèi)波動測試b) 設置矢量網(wǎng)絡分析儀的工作頻段為800-2700MHz，顯示參數(shù)為S21；c) 讀取S21曲線上的最大值和最小值；d) 用最小值的絕對值減去最大值的絕對值即為功分器的帶內(nèi)波動；e) 最小值的絕對值即為功分器的總插損；f) 更換其它輸出端口，重

15、復步驟b-f；g) 比較所有端口測試值，將最大值（最差值）記錄為功分器的差損和帶內(nèi)波動。6.1.3 輸入端口駐波比a) 設置網(wǎng)絡分析儀的中頻帶寬為1KHz，POWER為0dBm，掃描點數(shù)最低為801，可以設置更多的掃描點數(shù)，對測試儀表進行雙端口校準；b) 按圖5所示連接測試系統(tǒng)，在功分器的所有輸出端口加匹配負載；c) 設置網(wǎng)絡分析儀的工作頻段為800-2700MHz，測試輸入端口S11參數(shù)；d) 讀取曲線上的最大值即為輸入端口駐波比。圖5 功分器駐波比測試6.1.4 輸入端口反射互調(diào)圖6 功分器輸入端口反射互調(diào)測試a) 對互調(diào)測試儀進行校準，測試環(huán)境要滿足附錄A.5要求；b) 按照圖6連接測試

16、系統(tǒng)，功分器輸入端口接儀表REV端口(2載波功率輸出端口)，其余輸出端口接低互調(diào)測試負載；各接口均使用力矩扳手按規(guī)定力矩（N頭：1015N；DIN頭：1520N）擰緊，測試完畢前不得再次接觸測試電纜和被測件；c) 設置互調(diào)測試儀載波頻率和無源互調(diào)階數(shù)(3/5)，頻率配置為儀表默認配置，互調(diào)階數(shù)為3階；d) 設置互調(diào)測試儀輸出功率，兩載波均為43dBm；e) 設置互調(diào)測試儀測試模式，要求為反向(Rerverse)模式；f) 設置互調(diào)測試儀掃描方式，要求為掃頻方式；g) 執(zhí)行測試；h) 讀取儀表所顯示的電平值；i) 取最大電平值即為該次測試3階互調(diào)值；j) 重復步驟c-i，測試5階互調(diào)值；k) 更

17、換其他頻段互調(diào)測試儀，重復步驟b-j，測試功分器在其他頻段的3階，5階互調(diào)值；l) 分別選取多個頻段測試的3階和5階測試值的最大值（最差值），記為該功分器的互調(diào)抑制值；m) 第一次測試中發(fā)現(xiàn)器件互調(diào)指標測試不合格時，重新連接所有接頭（連接要求與步驟b中一致），再進行一次測試。單個器件的單個端口最多允許測試3 次，在3次測試結果中取最優(yōu)值記為該端口的反射互調(diào)結果。6.2 耦合器6.2.1 耦合度偏差a) 設置網(wǎng)絡分析儀的中頻帶寬為1KHz，POWER為0dBm，掃描點數(shù)最低為801，可以設置更多的掃描點數(shù)，對測試儀表進行雙端口校準；b) 按圖7所示連接測試系統(tǒng)，在耦合器的輸出端口加匹配負載；圖7

18、 耦合器耦合度偏差測試c) 設置網(wǎng)絡分析儀的工作頻段為800-2700MHz，顯示參數(shù)為S21；d) 讀取S21曲線上的最小值和最大值；e) 用最小值的絕對值減去耦合度設計值，再用最大值的絕對值減去耦合度設計值，比較兩個差值的絕對值，取其中大的一個值，即為耦合度偏差。6.2.2 插入損耗及帶內(nèi)波動a) 設置網(wǎng)絡分析儀的中頻帶寬為1KHz，POWER為0dBm，掃描點數(shù)最低為801，可以設置更多的掃描點數(shù)，對測試儀表進行雙端口校準；b) 按圖8所示連接測試系統(tǒng)，在耦合端口加匹配負載；c) 設置網(wǎng)絡分析儀的工作頻段為800-2700MHz，顯示參數(shù)為S21；d) 讀取S21曲線上的最小值；e) 最

19、小值的絕對值即為耦合器的總插入損耗；f) 用最小值的絕對值減去最大值的絕對值即為耦合器的帶內(nèi)波動。圖8 耦合器插入損耗及帶內(nèi)波動測試6.2.3 駐波比a) 設置網(wǎng)絡分析儀的中頻帶寬為1KHz，POWER為0dBm，掃描點數(shù)最低為801，可以設置更多的掃描點數(shù)，對測試儀表進行雙端口校準；b) 按圖9所示連接測試系統(tǒng)，在輸出端口和耦合端口加匹配負載；圖9 耦合器駐波比測試c) 設置網(wǎng)絡分析儀的工作頻段為800-2700MHz，顯示參數(shù)為S11；d) 讀取曲線上的最大值即為輸入端的駐波比；e) 更換端口重復上述操作；f) 比較所測的輸入端、輸出端、耦合端的值，最大值（最差值）即耦合器的端口駐波比。6

20、.2.4 隔離度a) 設置網(wǎng)絡分析儀的中頻帶寬為1KHz，POWER為0dBm，掃描點數(shù)最低為801，可以設置更多的掃描點數(shù)，對測試儀表進行雙端口校準；b) 按圖10所示連接測試系統(tǒng)，在輸入端口加匹配負載；c) 設置網(wǎng)絡分析儀的工作頻段為800-2700MHz，顯示參數(shù)為S21；d) 讀取曲線上的最大值（最差值），對其取絕對值即為其隔離度。圖10 耦合器隔離度測試6.2.5 輸入口反射互調(diào)圖11 耦合器輸入口反射互調(diào)測試a) 對互調(diào)測試儀進行校準，測試環(huán)境要滿足附錄A.5要求；b) 按照圖11連接測試系統(tǒng)，耦合器輸入端口接儀表REV端口(2載波功率輸出端口)，輸出及耦合端口接低互調(diào)測試負載；各

21、接口均使用力矩扳手按規(guī)定力矩（N頭：1015N；DIN頭：1520N）擰緊，測試完畢前不得再次接觸測試電纜和被測件；c) 設置互調(diào)測試儀載波頻率和無源互調(diào)階數(shù)(3/5)，頻率配置為儀表默認配置，互調(diào)階數(shù)為3階；d) 設置互調(diào)測試儀輸出功率，兩載波均為43dBm；e) 設置互調(diào)測試儀測試模式，要求為反向(Rerverse)模式；f) 設置互調(diào)測試儀掃描方式，要求為掃頻方式；g) 執(zhí)行測試；h) 讀取儀表所顯示的電平值；i) 取最大電平值即為該次測試3階互調(diào)值；j) 重復步驟c-i，測試5階互調(diào)值；k) 更換其他頻段互調(diào)測試儀，重復步驟2-10，測試耦合器在其他頻段的3階，5階互調(diào)值；l) 分別選

22、取多個頻段測試的3階和5階測試值的最大值（最差值），記為該耦合器的互調(diào)抑制值；m) 第一次測試中發(fā)現(xiàn)器件互調(diào)指標測試不合格時，重新連接所有接頭（連接要求與步驟b中一致），再進行一次測試。單個器件的單個端口最多允許測試3 次，在3次測試結果中取最優(yōu)值記為該端口的反射互調(diào)結果。6.3 3dB電橋6.3.1 插入損耗和帶內(nèi)波動a) 設置網(wǎng)絡分析儀的中頻帶寬為1KHz，POWER為0dBm，掃描點數(shù)最低為801，可以設置更多的掃描點數(shù)，對測試儀表進行雙端口校準；b) 按圖12所示連接測試系統(tǒng)，在端口IN2和OUT2加匹配負載；c) 設置網(wǎng)絡分析儀的工作頻段為800-2700MHz，顯示參數(shù)為S21；d

23、) 讀取S21曲線上的最大值和最小值；e) 用最小值的絕對值減去最大值的絕對值即為3dB電橋的帶內(nèi)波動；f) 曲線上的最大值即為端口IN1和OUT1的插入損耗；g) 測試端口IN1和OUT2；IN2和OUT2；IN2和OUT1的插入損耗和帶內(nèi)波動方法同上；h) 分別取四組連接方式下的差損和帶內(nèi)波動的最大值（最差值）記錄下來，即為該電橋的差損和帶內(nèi)波動；i) 只有一個OUT口的電橋，則只測試IN1和OUT及IN2和OUT兩組連接方式的差損和帶內(nèi)波動，取最大值（最差值），即為該電橋的差損和帶內(nèi)波動。圖12 3dB電橋插入損耗和帶內(nèi)波動測試6.3.2 駐波比a) 設置網(wǎng)絡分析儀的中頻帶寬為1KHz，

24、POWER為0dBm，掃描點數(shù)最低為801，可以設置更多的掃描點數(shù)，對測試儀表進行雙端口校準；b) 按圖13所示連接測試系統(tǒng)，在端口IN2、OUT1和OUT2加匹配負載；c) 設置網(wǎng)絡分析儀的工作頻段為800-2700MHz，輸出功率為3dB電橋功率范圍內(nèi)，顯示參數(shù)為S11；d) 讀取曲線上的最大值即為該端口駐波比；e) 更換端口其余的in和out口重復上述操作；f) 比較所測端口的值，最大值（最差值）即為3dB電橋的端口駐波比。圖13 3dB電橋駐波比測試6.3.3 隔離度a) 設置網(wǎng)絡分析儀的中頻帶寬為1KHz，POWER為0dBm，掃描點數(shù)最低為801，可以設置更多的掃描點數(shù)，對測試儀表

25、進行雙端口校準；b) 按圖14所示連接測試系統(tǒng)，在端口OUT1和OUT2加匹配負載；c) 設置網(wǎng)絡分析儀的工作頻段為800-2700MHz，輸出功率為3dB電橋功率范圍內(nèi)，顯示參數(shù)為S21；d) 讀取曲線上的最大值（最差值），對其取絕對值即為輸入端口隔離度；e) 更換輸入輸出端口連接，將網(wǎng)絡分析儀的兩個端口分別連接電橋的OUT1和OUT2，兩個IN端口加匹配負載，重復上述操作，可以得到輸出端口隔離度；f) 在輸入端口隔離度和輸出端口隔離度中取最小值（最差值），即隔離度測試結果；g) 只有一個OUT口的電橋，則僅測試IN1和IN2之間輸入端口隔離度。圖14 3dB電橋隔離度測試6.3.4 反射互

26、調(diào)圖15 3dB電橋反射互調(diào)測試a) 對互調(diào)測試儀進行校準，測試環(huán)境要滿足附錄A.5要求；b) 按照圖15連接測試系統(tǒng)，將電橋的輸入口IN1接儀表REV端口(2載波功率輸出端口)，其余三個端口接低互調(diào)測試負載；各接口均使用力矩扳手按規(guī)定力矩（N頭：1015N；DIN頭：1520N）擰緊，測試完畢前不得再次接觸測試電纜和被測件；c) 設置互調(diào)測試儀載波頻率和無源互調(diào)階數(shù)(3/5)，頻率配置為儀表默認配置，互調(diào)階數(shù)為3階；d) 設置互調(diào)測試儀輸出功率，兩載波均為43dBm；e) 設置互調(diào)測試儀測試模式，要求為反向(Rerverse)模式；f) 設置互調(diào)測試儀掃描方式，要求為掃頻方式；g) 執(zhí)行測試

27、；h) 讀取儀表所顯示的電平值；i) 取最大電平值即為該次測試3階互調(diào)值；j) 重復步驟c-i，測試5階互調(diào)值；k) 更換端口，將電橋的另一個輸入端口IN2接儀表REV端口，重復2-10，測試電橋的另一個輸入端口IN2的輸入反射互調(diào)；l) 更換其他頻段互調(diào)測試儀，重復步驟2-11，測試電橋的IN1和IN2兩個輸入口在其他頻段的3階，5階反射互調(diào)值；m) 所有3階測試值中的最大值（最差值）記為該電橋的3階互調(diào)值，5階互調(diào)值同樣記錄最大值；n) 第一次測試中發(fā)現(xiàn)器件互調(diào)指標測試不合格時，重新連接所有接頭（連接要求與步驟b中一致），再進行一次測試。單個器件的單個端口最多允許測試3 次，在3次測試結果

28、中取最優(yōu)值記為該端口的反射互調(diào)結果。6.4 衰減器6.4.1 衰減度誤差和帶內(nèi)波動a) 設置網(wǎng)絡分析儀的中頻帶寬為1KHz，POWER為0dBm，掃描點數(shù)最低為801，可以設置更多的掃描點數(shù)，對測試儀表進行雙端口校準；b) 按圖16所示連接測試系統(tǒng)；圖16 衰減器衰減度和帶內(nèi)波動測試c) 設置網(wǎng)絡分析儀的工作頻段為800-3000MHz，顯示參數(shù)為S21；d) 讀取S21曲線上的最大值和最小值；e) 最小值的絕對值減去最大值的絕對值的差值即為衰減器的帶內(nèi)波動；f) 用最小值的絕對值減去衰減值規(guī)格，差值取絕對值得到max；再用最大值的絕對值減去衰減值規(guī)格，差值取絕對值得到min，比較max和mi

29、n，取其中較大的一個值，即為衰減度誤差。6.4.2 駐波比a) 設置網(wǎng)絡分析儀的中頻帶寬為1KHz，POWER為0dBm，掃描點數(shù)最低為801，可以設置更多的掃描點數(shù)，對測試儀表進行雙端口校準；b) 按圖17所示連接測試系統(tǒng)，在輸出端口加匹配負載；圖17 衰減器駐波比測試c) 設置網(wǎng)絡分析儀的工作頻段為800-3000MHz，顯示參數(shù)為S11；d) 讀取曲線上的最大值即為該端口駐波比；e) 更換測試輸出端口，重復上述步驟，可測得輸出端口駐波比，比較兩端口測試值，取最大值（最差值）即為衰減器的駐波。6.4.3 輸入端口反射互調(diào)圖18 衰減器三階互調(diào)測試a) 對互調(diào)測試儀進行校準，測試環(huán)境要滿足附

30、錄A.5要求；b) 按照圖18連接測試系統(tǒng)，衰減器輸入端口接儀表REV端口(2載波功率輸出端口)，輸出端口接低互調(diào)測試負載；各接口均使用力矩扳手按規(guī)定力矩（N頭：1015N；DIN頭：1520N）擰緊，測試完畢前不得再次接觸測試電纜和被測件；c) 設置互調(diào)測試儀載波頻率和無源互調(diào)階數(shù)(3/5)，頻率配置為儀表默認配置，互調(diào)階數(shù)為3階；d) 設置互調(diào)測試儀輸出功率，兩載波均為43dBm或33dBm(50W及以上規(guī)格的衰減器測試互調(diào)時，兩載波均為43dBm；50W以下規(guī)格的衰減器測試互調(diào)時，兩載波均為33dBm)；e) 設置互調(diào)測試儀測試模式，要求為反向(Rerverse)模式；f) 設置互調(diào)測試

31、儀掃描方式，要求為掃頻方式；g) 執(zhí)行測試；h) 讀取儀表所顯示的電平值；i) 取最大電平值即為該次測試3階互調(diào)值；j) 重復步驟c-i，測試5階互調(diào)值；k) 更換其他頻段互調(diào)測試儀，重復步驟b-j，測試衰減器在其他頻段的3階，5階互調(diào)值；l) 分別選取兩個頻段測試的3階和5階測試值的最大值（最差值），記為該衰減器的互調(diào)抑制值；m) 第一次測試中發(fā)現(xiàn)器件互調(diào)指標測試不合格時，重新連接所有接頭（連接要求與步驟b中一致），再進行一次測試。單個器件的單個端口最多允許測試3 次，在3次測試結果中取最優(yōu)值記為該端口的反射互調(diào)結果。6.5 負載6.5.1 駐波比a) 設置網(wǎng)絡分析儀的中頻帶寬為1KHz，P

32、OWER為0dBm，掃描點數(shù)最低為801，可以設置更多的掃描點數(shù)，對測試儀表進行雙端口校準；b) 按圖19所示連接測試系統(tǒng)；圖19 負載駐波比測試c) 設置網(wǎng)絡分析儀的工作頻段為800-3000MHz，顯示參數(shù)為S11；d) 讀取曲線上的最大值即為該負載端口駐波比。6.5.2 反射互調(diào)圖20 衰減器三階互調(diào)測試a) 對互調(diào)測試儀進行校準，測試環(huán)境要滿足附錄A.5要求；b) 按照圖20連接測試系統(tǒng)，負載輸入端口接儀表REV端口(2載波功率輸出端口)；各接口均使用力矩扳手按規(guī)定力矩（N頭：1015N；DIN頭：1520N）擰緊，測試完畢前不得再次接觸測試電纜和被測件；c) 設置互調(diào)測試儀載波頻率和

33、無源互調(diào)階數(shù)(3/5)，頻率配置為儀表默認配置，互調(diào)階數(shù)為3階；d) 設置互調(diào)測試儀輸出功率，兩載波均為43dBm或33dBm(50W及以上規(guī)格的衰減器測試互調(diào)時，兩載波均為43dBm；50W以下規(guī)格的衰減器測試互調(diào)時，兩載波均為33dBm)；e) 設置互調(diào)測試儀測試模式，要求為反向(Rerverse)模式；f) 設置互調(diào)測試儀掃描方式，要求為掃頻方式；g) 執(zhí)行測試；h) 讀取儀表所顯示的電平值；i) 取最大電平值即為該次測試3階互調(diào)值；j) 重復步驟c-i，測試5階互調(diào)值；k) 更換其他頻段互調(diào)測試儀，重復步驟b-j，測試功分器在其他頻段的3階，5階互調(diào)值；l) 分別選取多個頻段測試的3階

34、和5階測試值的最大值（最差值），記為該負載的互調(diào)抑制值；m) 第一次測試中發(fā)現(xiàn)器件互調(diào)指標測試不合格時，重新連接所有接頭（連接要求與步驟b中一致），再進行一次測試。單個器件的單個端口最多允許測試3 次，在3次測試結果中取最優(yōu)值記為該端口的反射互調(diào)結果。6.6 功率容量檢測要求功率容量是指由于最大輸入信號功率所引起的熱能不會導致器件的老化、變形以及電壓飛狐現(xiàn)象，功率容量指標是驗證被測器件承受最大功率負荷的限度。圖21 功率容量測試連接方框圖a) 環(huán)境溫度控制在+35環(huán)境以下，連接饋線使用大功率低互調(diào)饋線。驗證時需將被測器件省略，直通跨過，信號源和功放按照測試要求去配置載波和發(fā)射功率，將1#頻譜儀

35、設置為maxhold模式（需保證：測試場地不受手機等外界信號干擾，測試過程中，大功率設備（如電源、功放）不對頻譜儀的測試結果造成干擾）。試驗5分鐘，要求1#頻譜儀上觀察到雙工器 RX帶內(nèi)無飛弧現(xiàn)象，且寬帶噪聲-113dBm/100KHz，2#頻譜儀觀察到的信號幅度變化不得大于1dB；b) 如果被測件為多端口器件，測試時將空閑端口接大功率匹配負載；c) 將信號發(fā)生器產(chǎn)生規(guī)定的調(diào)制載波（測試時產(chǎn)生EDGE 信號），將按規(guī)定4載波，測試頻點建議設置為工作頻帶內(nèi)高端頻點，以GSM頻段為例，載波頻率設置為944、944.6、953、953.6MHz，載波頻率選擇應避開三階交調(diào)和五階交調(diào)調(diào)落到接收頻段內(nèi)。

36、其他測試頻段按照相同原則執(zhí)行；d) 調(diào)整信號發(fā)生器工作電平，使其被測器件端口的最大總載波平均有效功率為規(guī)定的功率容量值；e) 當采用常溫狀態(tài)下進行測試時，加測試信號連續(xù)試驗 0.5h，當采用高溫狀態(tài)下進行測試時，將器件放置+55 度高溫箱內(nèi)，不加測試信號保持2 小時后，加測試信號連續(xù)試驗10min；f) 設置頻譜儀 1#為接收頻段，采用maxhold 工作模式觀察其接收頻段內(nèi)噪聲頻譜顯現(xiàn)情況；且寬帶噪聲抬升不得超出-107dBm/100kHz，隨機突發(fā)脈沖噪聲不得超出5 個，即無飛弧現(xiàn)象；g) 設置頻譜儀 2#設置為發(fā)射頻段，觀察載波信號的幅度變化不得大于3dB，甚至消失等異?，F(xiàn)象；h) 測試

37、過程中駐波數(shù)值顯示不得超出 1.5；i) 試驗結束后器件，被測器件應滿足以下要求： 各項電氣性能應能滿足要求； 各端口駐波比測試變化應小于 10% (與常溫狀態(tài)相比)； 打開內(nèi)部結構不應有損壞、變形、打火痕跡及介質(zhì)擊穿現(xiàn)象。7 工藝和材料簡易檢測方法無源器件工藝和材料的簡易檢測方法見表6。表6 工藝和材料的簡易檢測方法項目檢測方法材料1、通過對內(nèi)導體進行用砂紙進行摩擦，若粉末為黃色為黃銅，白色為鋁材或合金；2、PCB微帶板和腔體的設計方案可直接通過觀察判別。微帶電橋 腔體電橋 表面處理1、銅材可以直接在表面進行鍍銀；2、鋁合金材質(zhì)則需要先在表面進行鍍銅后才可以鍍銀處理；3、鍍銀表面呈銀白色，鍍

38、銅表面呈黃色，不做任何電鍍處理的為金屬原色；4、在腔體內(nèi)表面通過用銼刀打磨，如打磨后顯示出鋁材的金屬原色可判斷是否鍍銀。工藝要求1、表面工藝明顯毛刺點等可以通過觀察判斷，另可以選工藝優(yōu)秀樣品做為基準對比；2、焊點光亮、整潔、無虛焊，無松香殘留。接頭1、接頭外導體材質(zhì)可以通過砂紙等進行摩擦，若粉末為黃色為黃銅，白色為鋁材或合金；2、內(nèi)導體插拔次數(shù)滿足200次后，電氣性能指標依然合格。其它1、厚膜陶瓷電阻與貼片電阻有明顯區(qū)別，可以肉眼判斷。貼片電阻 厚膜陶瓷電阻 8 環(huán)境與可靠性試驗檢測要求環(huán)境與可靠性試驗應按照Q/ZTT 3003-2016無源分布系統(tǒng)無源器件技術要求(V2.0)中第11節(jié)中規(guī)定

39、的溫濕度范圍進行試驗。不同的器件在環(huán)境與可靠性實驗時，進行不同電性能指標的測試，具體見表7和表8（可根據(jù)實際需求選擇全部或者部分檢測項目）。表7 無源器件高溫、低溫、恒定濕熱試驗檢測項目器件名稱高、低溫試驗檢測項目在線測試恢復常溫后測試功分器插入損耗、電壓駐波比、帶內(nèi)波動外觀檢查定向耦合器耦合度偏差、最小隔離度、插入損耗、電壓駐波比外觀檢查3dB電橋插入損耗、帶內(nèi)波動、隔離度、電壓駐波比外觀檢查衰減器衰減值精度、帶內(nèi)波動度、輸入電壓駐波比外觀檢查負載輸入電壓駐波比外觀檢查表8 無源器件振動試驗檢測項目器件名稱完成振動后測試項目功分器外觀檢查、互調(diào)定向耦合器外觀檢查、互調(diào)3dB電橋外觀檢查、互調(diào)

40、衰減器外觀檢查、互調(diào)負載外觀檢查、互調(diào)8.1 高溫試驗試驗條件：+55；試驗儀表：高低溫箱、網(wǎng)絡分析儀；試驗方法： 將器件放入高低溫箱中，在溫度穩(wěn)定后恒溫保持2小時，保持器件在高溫環(huán)境中進行表7中要求的電氣性能指標測試；要求： 須符合本技術要求中各器件電氣性能要求； 恢復常溫后，取出，檢查器件外觀是否符合要求（外表面是否有變色或脫漆現(xiàn)象，如出現(xiàn)脆化、開裂、粘度增大和固化、機械強度降低、物理性收縮、絕緣損壞、密封失效等肉眼可識別的物理損壞）。8.2 低溫試驗試驗條件：-40；試驗儀表：高低溫箱、網(wǎng)絡分析儀；試驗方法： 將器件放入高低溫箱中，在溫度穩(wěn)定后恒溫保持2小時，保持器件在高溫環(huán)境中進行表7中要求的電氣性能指標測試；要求： 須符合本技術要求中各器件電氣性能要求； 恢復常溫后，取出，檢查器件外觀是否符合要求（外表面是否有變色或脫漆現(xiàn)象，如出現(xiàn)脆化、結冰、開裂、粘度增大和固化、機械強度降低、物理性收縮、絕緣損壞、密封失