電容器檢驗作業(yè)指導(dǎo)書0

1、中標(biāo)電子工業(yè)有限公司電腦電玩廠BBK ELECTRONICS CORP., LTD作 業(yè) 指 導(dǎo) 書文 件 編 號版 本 號標(biāo) 題電容器檢驗作業(yè)指導(dǎo)生 效 日 期年 月 日頁 次第 頁 共 頁1 目的：掌握電容器檢驗標(biāo)準(zhǔn)，使來料質(zhì)量更好的符合我公司的品質(zhì)要求。2 適用范圍：電腦電玩廠所使用的電容器。3 檢驗儀器和設(shè)備：LCR測試儀、漏電流測試儀、錫爐、游標(biāo)卡尺、絕緣電阻測試儀。4 檢驗項目及技術(shù)要求：4.1 外觀:4.1.1 表面無臟污、破損，無混料,電容標(biāo)識清晰、正確，電解電容器須有極性及額定電壓標(biāo)識，引線腳無氧化、彎曲、變形，瓷片電容器引線腳覆蓋瓷粉不超過1.5mm。4.1.2 瓷片電容溫

2、度特性范圍為-2585.4.2 結(jié)構(gòu)尺寸：電容器主體尺寸、引線腳尺寸應(yīng)符合裝配或樣品要求。4.3 引線腳抗折性：經(jīng)抗折后，引線腳無松動、脫落。4.4 電氣性能：4.4.1 電容量在標(biāo)稱容量允許偏差范圍以內(nèi)。4.4.2 損耗角正切值(D):4.4.2.1瓷片電容:C0.01F 則D0.1; C<0.01F 則D0.05.4.4.2.2滌淪電容:D0.014.4.2.3電解電容D值參見電解電容損耗角正切值一覽表.4.4.3.1電解電容漏電流(IR)應(yīng)符合:充電時間t1分鐘 IR0.01CV或3A(二者取大值) (注:C是電容量,V是電容的耐壓值)4.4.3.2瓷片電容絕緣電阻(R絕):在額定

3、電壓下測試 C221 則 R絕104M 221<C223 則 R絕103M C>223 則 R絕102M4.4.3.3滌淪電容絕緣電阻(R絕): R絕104M4.5 可焊性：經(jīng)可焊性后，引線腳浸錫部分上錫面應(yīng)在98%以上。4.6 絲印耐磨性:瓷片電容經(jīng)耐磨測試后,絲印應(yīng)清晰.4.7 瓷片電容瓷粉耐熱性:耐熱試驗后,瓷片電容無起泡,絲印無脫落、模糊。擬制審核批準(zhǔn)中標(biāo)電子工業(yè)有限公司電腦電玩廠BBK ELECTRONICS CORP., LTD作 業(yè) 指 導(dǎo) 書文 件 編 號版 本 號標(biāo) 題電容器檢驗作業(yè)指導(dǎo)生 效 日 期年 月 日頁 次第 頁 共 頁檢驗項目抽樣方案檢查水平判別水平A

4、QLRQL判定數(shù)組5.1，5.4，GB2828-87正常檢查一次抽樣IIB=0.1C=1.05.2，5.3，5.5，5.6，5.7GB2829-87一次抽樣IIB=15n=10，Ac=0，Re=1C=30n=10，Ac=1，Re=2 5 檢驗方法5.1 外觀:目測法（瓷片電容用游標(biāo)卡尺度量引線腳覆蓋瓷粉長度）5.2 結(jié)構(gòu)尺寸:試裝或用游標(biāo)卡尺測量。5.3 引線腳抗折性：從引線腳根部折引線腳900，來回折五次。5.4 電氣性能：用LCR測試儀、漏電流測試儀和絕緣電阻測試儀測量。5.5 可焊性:將電容引線腳在錫爐中浸錫3-4秒后取出，錫爐溫度245±5。5.6 絲印耐磨性：用白布沾少量酒

5、精往瓷片電容絲印處擦10次。5.7 瓷粉耐熱性：把瓷片電容引腳放入錫爐中浸錫10S后取出，錫爐溫度為245±5。6 缺陷分類(見附表)7 抽樣方案:8 處理方法:按進(jìn)貨檢驗標(biāo)準(zhǔn)總則執(zhí)行。擬制審核批準(zhǔn)中標(biāo)電子工業(yè)有限公司電腦電玩廠BBK ELECTRONICS CORP., LTD作 業(yè) 指 導(dǎo) 書文 件 編 號版 本 號標(biāo) 題電容器檢驗作業(yè)指導(dǎo)生 效 日 期年 月 日頁 次第 頁 共 頁序 號檢驗項目缺 陷 內(nèi) 容判 定1外觀表面破損，電容量標(biāo)識錯、漏，混料，引線腳嚴(yán)重氧化，電解電容器極性標(biāo)識錯、漏，引線腳覆蓋瓷粉大于1.5mm，溫度特性不符樣品要求B表面臟污，標(biāo)識不清晰，引線腳輕微氧化、變形C2結(jié)構(gòu)尺寸主體尺寸超差，引線腳直徑超差且影響裝配B主體尺寸超差，引線腳直徑超差但不影響裝配C3引線腳抗折性經(jīng)抗折后引線腳松動或脫落B4電氣性能電容量超出技術(shù)規(guī)格范圍B電解電容的漏電流超出技術(shù)規(guī)格范圍B損耗因素超出技術(shù)規(guī)格范圍B瓷片、滌淪電容絕緣電阻超出技術(shù)規(guī)格范圍B5可焊性經(jīng)焊