TRI-518訓(xùn)練教材

1、電腦主機(jī)箱高壓氣管接口探棒接口排線TR-518FE測試主機(jī)壓床控制接口EMERGENCYSTOP 按鈕TEST按鈕 RETEST按鈕ACCEPTDOWN按鈕REJECTABORT按鈕 A調(diào)壓而凡 B壓力表 E光電開關(guān) C凝結(jié)排泄栓 D阻擋器F1上沖程可調(diào)式端點(diǎn)位置緩沖之調(diào)整螺絲G1上沖程可調(diào)式流量控制閥之調(diào)整螺絲H手動(dòng)上升和手動(dòng)下壓按鈕G2下沖程可調(diào)式流量控制閥之調(diào)整螺絲F2下沖程可調(diào)式端點(diǎn)位置緩沖之調(diào)整螺絲 AC板DC板控制電路板高壓量測電路板SWB如果選真空式壓床，則要設(shè)定是否啟動(dòng)定位感測器。本選項(xiàng)是依據(jù)治具上是否安裝定位感測器而設(shè)定。如果沒有安裝，必需選擇關(guān)閉；如果有安裝，則應(yīng)選擇啟動(dòng)設(shè)

2、定使用單壓床或雙壓床如果使用雙壓床，則要輸入多少測試針歸第一壓床使用，其餘的測試針就屬於第二壓床使用開始測試前的延遲時(shí)間如果設(shè)定真空式壓床，並且不使用定位感測器，則要設(shè)定開始測試前的延遲時(shí)間，單位是千分之一秒2.2.1.1 治具設(shè)定治具設(shè)定選擇是否有安裝網(wǎng)路及資料庫伺服器。若選擇無安裝網(wǎng)路，本項(xiàng)其他設(shè)定不允許輸入設(shè)定用來存取資料的目錄在網(wǎng)路上的工作路徑，如果不確定有何路徑可用，可以選擇來查看。如果沒有看到網(wǎng)路伺服器，則代表網(wǎng)路並未連線。請(qǐng)先退出TR-518FE系統(tǒng)，將網(wǎng)路連線後再重新進(jìn)行TR-518FE的網(wǎng)路型態(tài)設(shè)定設(shè)定是否將不良報(bào)表傳送到網(wǎng)路。若選擇“否”，僅將索引檔(*.IDX)和日?qǐng)?bào)表檔

3、(*.DAY)傳送到網(wǎng)路。若選擇“是”，請(qǐng)?jiān)谝韵氯齻€(gè)選項(xiàng)逐一設(shè)定該檔案是否傳送到網(wǎng)路設(shè)定ICT將資料傳送到網(wǎng)路的頻率由於網(wǎng)路上可能有很多ICT，因此每一臺(tái)都要有自己的代碼。在此設(shè)定本機(jī)的代碼編號(hào)如果待測板有使用條碼，則在此設(shè)定條碼長度。在測試時(shí)，條碼可用Bar Code Reader或鍵盤輸入。如果待測板未使用條碼，則將此欄設(shè)為0選擇在統(tǒng)計(jì)報(bào)告中將IC空銲不良視為零件不良或是開路不良選擇統(tǒng)計(jì)是以每日為基礎(chǔ)還是以每批生產(chǎn)為基礎(chǔ)如果選擇以每日為基礎(chǔ)，可在此設(shè)定每日各工作班次的起迄時(shí)間，以便了解各班次的表現(xiàn)。如果無班次時(shí)間設(shè)定，可在報(bào)告時(shí)程1設(shè)定 00:00 To 23:59如果設(shè)定統(tǒng)計(jì)是以每批生產(chǎn)

4、為基礎(chǔ)，則在此輸入批次號(hào)碼統(tǒng)計(jì)結(jié)果的二種設(shè)定當(dāng)連續(xù)幾次測試都出現(xiàn)相同不良時(shí)，系統(tǒng)會(huì)顯示連續(xù)測試不良視窗，提醒操作員向ICT管理人員反應(yīng)在測試程式過程中測試時(shí)間是否包含SWB切換和壓床反應(yīng)時(shí)間多聯(lián)片自動(dòng)SKIP 功能是否開啟選擇印表機(jī)型號(hào)選擇印表機(jī)型號(hào)若印表機(jī)型號(hào)選擇若印表機(jī)型號(hào)選擇“250 VFI”或或“900 VFI”時(shí)，需設(shè)定其所使用時(shí)，需設(shè)定其所使用 RS-232連接埠為連接埠為“COM1”或或“COM2”顯示此待測板為單片電路板或多聯(lián)片電路板如是多聯(lián)片需設(shè)定顯示此待測板為單片電路板或多聯(lián)片電路板如是多聯(lián)片需設(shè)定片數(shù)片數(shù)測試順序標(biāo)準(zhǔn)為測試順序標(biāo)準(zhǔn)為開路開路-短路短路-零件零件-IC開路開

5、路-高壓測試高壓測試，以滑鼠左鍵點(diǎn)選小方格可設(shè)定是否進(jìn)行該項(xiàng)測試以滑鼠左鍵點(diǎn)選小方格可設(shè)定是否進(jìn)行該項(xiàng)測試在測試中，測試統(tǒng)計(jì)資料隨時(shí)更新並保留在記憶體。為避免在測試中，測試統(tǒng)計(jì)資料隨時(shí)更新並保留在記憶體。為避免不正常關(guān)機(jī)時(shí)會(huì)喪失測試統(tǒng)計(jì)資料，可設(shè)定每測幾片電路板不正常關(guān)機(jī)時(shí)會(huì)喪失測試統(tǒng)計(jì)資料，可設(shè)定每測幾片電路板後將統(tǒng)計(jì)資料存檔於硬碟。通常設(shè)定值在後將統(tǒng)計(jì)資料存檔於硬碟。通常設(shè)定值在20到到100之間。設(shè)之間。設(shè)定值為定值為0表示不進(jìn)行自動(dòng)存檔；但在正常關(guān)機(jī)時(shí)，統(tǒng)計(jì)資料表示不進(jìn)行自動(dòng)存檔；但在正常關(guān)機(jī)時(shí)，統(tǒng)計(jì)資料會(huì)在關(guān)機(jī)時(shí)存檔於硬碟會(huì)在關(guān)機(jī)時(shí)存檔於硬碟在測試時(shí)可能會(huì)發(fā)生待測板與治具的接觸不良，

6、造成測試時(shí)產(chǎn)在測試時(shí)可能會(huì)發(fā)生待測板與治具的接觸不良，造成測試時(shí)產(chǎn)生開路生開路/零件測試結(jié)果不良。此時(shí)可以設(shè)定讓壓床上升後再下壓，零件測試結(jié)果不良。此時(shí)可以設(shè)定讓壓床上升後再下壓，然後針對(duì)原先測試不良的部分重測。如果設(shè)定然後針對(duì)原先測試不良的部分重測。如果設(shè)定0，則表示不重測。，則表示不重測。系統(tǒng)可容許的最大設(shè)定值是系統(tǒng)可容許的最大設(shè)定值是5。當(dāng)設(shè)定此一功能時(shí)請(qǐng)?zhí)貏e注意操。當(dāng)設(shè)定此一功能時(shí)請(qǐng)?zhí)貏e注意操作安全。因?yàn)閴捍驳纳仙c下壓是全自動(dòng)進(jìn)行，如果作業(yè)員不作安全。因?yàn)閴捍驳纳仙c下壓是全自動(dòng)進(jìn)行，如果作業(yè)員不了解設(shè)定，壓床一上升就伸手取機(jī)板，則當(dāng)壓床下壓時(shí)可能會(huì)了解設(shè)定，壓床一上升就伸手取機(jī)板，

7、則當(dāng)壓床下壓時(shí)可能會(huì)發(fā)生危險(xiǎn)。請(qǐng)確實(shí)告知操作員發(fā)生危險(xiǎn)。請(qǐng)確實(shí)告知操作員當(dāng)待測板本身有短當(dāng)待測板本身有短/開路不良時(shí)，可能會(huì)使相關(guān)聯(lián)的零件測試也開路不良時(shí)，可能會(huì)使相關(guān)聯(lián)的零件測試也產(chǎn)生測試不良。因此可設(shè)定系統(tǒng)一旦發(fā)現(xiàn)有短產(chǎn)生測試不良。因此可設(shè)定系統(tǒng)一旦發(fā)現(xiàn)有短/開路不良時(shí)就結(jié)開路不良時(shí)就結(jié)束該待測板的測試束該待測板的測試短路測試量測標(biāo)準(zhǔn)可分為三短路測試量測標(biāo)準(zhǔn)可分為三類類 :1. 5,25,552. 15,55,853. 5,20,80請(qǐng)輸入治具上第請(qǐng)輸入治具上第1支測試針編號(hào)支測試針編號(hào)請(qǐng)輸入治具上最後請(qǐng)輸入治具上最後1支測試針編號(hào)，以便在開支測試針編號(hào)，以便在開/短路短路測試時(shí)，系統(tǒng)有所

8、遵循。如果此一部份設(shè)定錯(cuò)誤，測試時(shí)，系統(tǒng)有所遵循。如果此一部份設(shè)定錯(cuò)誤，則系統(tǒng)可能在開則系統(tǒng)可能在開/短路測試時(shí)浪費(fèi)太多的時(shí)間在原本短路測試時(shí)浪費(fèi)太多的時(shí)間在原本沒有用到的測試針號(hào)碼；或是原本應(yīng)該要測的測試沒有用到的測試針號(hào)碼；或是原本應(yīng)該要測的測試針被遺漏而沒有測到針被遺漏而沒有測到鍵入的針號(hào)在開鍵入的針號(hào)在開/短路測試時(shí)會(huì)被刪略，短路測試時(shí)會(huì)被刪略，但在零件測試時(shí)仍會(huì)執(zhí)行但在零件測試時(shí)仍會(huì)執(zhí)行當(dāng)測試不良時(shí)，不良報(bào)告可以選擇自動(dòng)由印當(dāng)測試不良時(shí)，不良報(bào)告可以選擇自動(dòng)由印表機(jī)列印出來，或是由操作員按下鍵盤上的表機(jī)列印出來，或是由操作員按下鍵盤上的F12 啟動(dòng)印表機(jī)進(jìn)行列印啟動(dòng)印表機(jī)進(jìn)行列印當(dāng)待

9、測板有很多不良時(shí)，例如有許多缺件，則當(dāng)待測板有很多不良時(shí)，例如有許多缺件，則印出的不良報(bào)告會(huì)很長?？上拗屏杏〉拈L度，印出的不良報(bào)告會(huì)很長?？上拗屏杏〉拈L度，容許的設(shè)定值是在容許的設(shè)定值是在1與與120之間之間當(dāng)有開路當(dāng)有開路/短路測試不良時(shí)，系統(tǒng)提供三種列印短路測試不良時(shí)，系統(tǒng)提供三種列印模式：模式：(1) 列印測試點(diǎn)號(hào)碼列印測試點(diǎn)號(hào)碼(2) 列印測試點(diǎn)號(hào)碼、列印測試點(diǎn)號(hào)碼、位置及相連零件名稱位置及相連零件名稱(3) 列印測試點(diǎn)號(hào)碼及並聯(lián)列印測試點(diǎn)號(hào)碼及並聯(lián)零件名稱零件名稱可將待測板畫分為許多小格，每個(gè)零件可設(shè)定其位可將待測板畫分為許多小格，每個(gè)零件可設(shè)定其位置，在編輯測試程式或測試時(shí)方便尋找

10、特定零件。置，在編輯測試程式或測試時(shí)方便尋找特定零件。不良零件位置圖橫列數(shù)不良零件位置圖橫列數(shù):設(shè)定待測板要區(qū)分為多少橫設(shè)定待測板要區(qū)分為多少橫列。最大的設(shè)定值是列。最大的設(shè)定值是8。由上到下或由下到上由上到下或由下到上:橫行的編碼是使用數(shù)字。在橫行的編碼是使用數(shù)字。在此可調(diào)整此可調(diào)整1234的順序是由上到下或由下到上。的順序是由上到下或由下到上。不良零件位置圖縱行數(shù)不良零件位置圖縱行數(shù):設(shè)定待測板要區(qū)分為多少設(shè)定待測板要區(qū)分為多少縱行。最大的設(shè)定值是縱行。最大的設(shè)定值是8。由左到右或由右到左由左到右或由右到左:橫列的編碼是使用英文字。橫列的編碼是使用英文字。在此可調(diào)整在此可調(diào)整ABCD的順序

11、是由左到右或由右到左的順序是由左到右或由右到左當(dāng)有選購自動(dòng)蓋章設(shè)備時(shí)，可選擇測試良品當(dāng)有選購自動(dòng)蓋章設(shè)備時(shí)，可選擇測試良品蓋章或測試不良蓋章。如果沒有選購自動(dòng)蓋蓋章或測試不良蓋章。如果沒有選購自動(dòng)蓋章設(shè)備，則應(yīng)選擇不蓋章章設(shè)備，則應(yīng)選擇不蓋章設(shè)定是否要執(zhí)行外接測試功能。設(shè)定是否要執(zhí)行外接測試功能?？稍O(shè)定需可設(shè)定需ICT測試為良品時(shí)才進(jìn)行外接測試功能或不考慮測試為良品時(shí)才進(jìn)行外接測試功能或不考慮ICT測試結(jié)果一律進(jìn)行外接測試功能。一般若要執(zhí)行動(dòng)態(tài)測試結(jié)果一律進(jìn)行外接測試功能。一般若要執(zhí)行動(dòng)態(tài)測試時(shí)需測試時(shí)需ICT測試為良品時(shí)才可執(zhí)行動(dòng)態(tài)測試測試為良品時(shí)才可執(zhí)行動(dòng)態(tài)測試執(zhí)行外接功能測試結(jié)束後外接測

12、試儀器需通知本系統(tǒng)其外接測執(zhí)行外接功能測試結(jié)束後外接測試儀器需通知本系統(tǒng)其外接測試已完成。但若外接功能測試發(fā)生問題時(shí)，本系統(tǒng)可以在特定試已完成。但若外接功能測試發(fā)生問題時(shí)，本系統(tǒng)可以在特定的的Time Out時(shí)間內(nèi)自動(dòng)結(jié)束外接功能測試，以免系統(tǒng)暫停時(shí)間內(nèi)自動(dòng)結(jié)束外接功能測試，以免系統(tǒng)暫停編輯資料區(qū)編輯資料區(qū)測試值圖表測試值圖表:位於左下角。橫軸座標(biāo)位於左下角。橫軸座標(biāo)為次數(shù)座標(biāo)為次數(shù)座標(biāo)(1-500),縱軸座標(biāo)是量測值縱軸座標(biāo)是量測值座標(biāo)座標(biāo),以標(biāo)準(zhǔn)值為中心以標(biāo)準(zhǔn)值為中心,上限值在最上上限值在最上方方,下限值在最下方下限值在最下方.紫色點(diǎn)表示測試紫色點(diǎn)表示測試值值,當(dāng)連續(xù)測試某一步驟時(shí)紫色點(diǎn)即

13、成當(dāng)連續(xù)測試某一步驟時(shí)紫色點(diǎn)即成量測曲線量測曲線(最多顯示最多顯示500次次)。若超過。若超過500次時(shí)量測曲線向右移動(dòng)次時(shí)量測曲線向右移動(dòng)下拉菜單下拉菜單使用者可儲(chǔ)存在短路學(xué)習(xí)功能所得到的使用者可儲(chǔ)存在短路學(xué)習(xí)功能所得到的短路點(diǎn)資料。當(dāng)使用者離開本視窗時(shí)，短路點(diǎn)資料。當(dāng)使用者離開本視窗時(shí)，系統(tǒng)亦會(huì)詢問是否儲(chǔ)存短路點(diǎn)資料系統(tǒng)亦會(huì)詢問是否儲(chǔ)存短路點(diǎn)資料表示這些針點(diǎn)同屬于一個(gè)短路群表示這些針點(diǎn)同屬于一個(gè)短路群在短路群中插入一個(gè)新的腳位，初值為在短路群中插入一個(gè)新的腳位，初值為1刪除游標(biāo)所在的腳位刪除游標(biāo)所在的腳位插入一個(gè)新的短路群，初值為插入一個(gè)新的短路群，初值為1刪除游標(biāo)所在的短路群刪除游標(biāo)所在

14、的短路群顯示每個(gè)顯示每個(gè) IC 腳位對(duì)應(yīng)的測試針腳位對(duì)應(yīng)的測試針號(hào)碼，使用者可以直接輸入每個(gè)號(hào)碼，使用者可以直接輸入每個(gè)IC腳位的對(duì)應(yīng)測試針號(hào)碼或者腳位的對(duì)應(yīng)測試針號(hào)碼或者用探棒自動(dòng)輸入用探棒自動(dòng)輸入IC腳位的對(duì)應(yīng)腳位的對(duì)應(yīng)測試針號(hào)碼。將空的電路板放在測試針號(hào)碼。將空的電路板放在治具上，壓床壓下後，以探棒直治具上，壓床壓下後，以探棒直接接觸游標(biāo)所在位置的接接觸游標(biāo)所在位置的IC腳後腳後該該IC腳的測試針號(hào)碼會(huì)自動(dòng)輸腳的測試針號(hào)碼會(huì)自動(dòng)輸入到螢?zāi)簧?。若測試針編號(hào)以紅入到螢?zāi)簧?。若測試針編號(hào)以紅色顯示，表示該點(diǎn)為電源腳；若色顯示，表示該點(diǎn)為電源腳；若測試針編號(hào)以綠色顯示，表示該測試針編號(hào)以綠色顯示

15、，表示該點(diǎn)為接地腳點(diǎn)為接地腳設(shè)定開始及結(jié)束編號(hào)，列印目標(biāo)區(qū)內(nèi)的設(shè)定開始及結(jié)束編號(hào)，列印目標(biāo)區(qū)內(nèi)的測試點(diǎn)資料測試點(diǎn)資料將測試點(diǎn)的資料存到硬碟中。將測試點(diǎn)的資料存到硬碟中。系統(tǒng)自動(dòng)產(chǎn)生測試點(diǎn)資料和該測試點(diǎn)系統(tǒng)自動(dòng)產(chǎn)生測試點(diǎn)資料和該測試點(diǎn)包含的測試步驟包含的測試步驟.當(dāng)有一個(gè)以上的零件當(dāng)有一個(gè)以上的零件相連時(shí)相連時(shí),系統(tǒng)會(huì)優(yōu)先選擇系統(tǒng)會(huì)優(yōu)先選擇IC腳位。腳位。將系統(tǒng)自動(dòng)產(chǎn)生的資料清除。將系統(tǒng)自動(dòng)產(chǎn)生的資料清除。在自動(dòng)產(chǎn)生測試點(diǎn)資料時(shí)在自動(dòng)產(chǎn)生測試點(diǎn)資料時(shí),當(dāng)有一個(gè)以當(dāng)有一個(gè)以上的零件相連時(shí)上的零件相連時(shí),系統(tǒng)會(huì)優(yōu)先選擇系統(tǒng)會(huì)優(yōu)先選擇IC腳腳位位.使用者可以選取測試點(diǎn)資料中的相使用者可以選取測試點(diǎn)資料

16、中的相連零件連零件設(shè)定測試針編號(hào)設(shè)定測試針編號(hào)學(xué)習(xí)結(jié)果學(xué)習(xí)結(jié)果短路測試功能是根據(jù)在短路學(xué)習(xí)功能短路測試功能是根據(jù)在短路學(xué)習(xí)功能所得到的短路點(diǎn)資料執(zhí)行短路測試。所得到的短路點(diǎn)資料執(zhí)行短路測試?？稍诖蓑?yàn)證學(xué)習(xí)短路所得到的短路點(diǎn)可在此驗(yàn)證學(xué)習(xí)短路所得到的短路點(diǎn)資料是否正確。測試結(jié)果會(huì)顯示在視資料是否正確。測試結(jié)果會(huì)顯示在視中。中。開路測試功能是根據(jù)在短路學(xué)習(xí)功能所開路測試功能是根據(jù)在短路學(xué)習(xí)功能所得到的短路點(diǎn)測試資料執(zhí)行開路測試。得到的短路點(diǎn)測試資料執(zhí)行開路測試?？稍诖蓑?yàn)證短路學(xué)習(xí)所得到的短路點(diǎn)資可在此驗(yàn)證短路學(xué)習(xí)所得到的短路點(diǎn)資料是否正確。測試結(jié)果會(huì)顯示在視中。料是否正確。測試結(jié)果會(huì)顯示在視中。學(xué)

17、習(xí)進(jìn)度比率學(xué)習(xí)進(jìn)度比率可修改在短路學(xué)習(xí)功能所得到的短路點(diǎn)資料可修改在短路學(xué)習(xí)功能所得到的短路點(diǎn)資料.編輯編輯IC腳位資料腳位資料進(jìn)入編輯器編輯學(xué)習(xí)到的進(jìn)入編輯器編輯學(xué)習(xí)到的測試程式測試程式.學(xué)習(xí)過程得到的學(xué)習(xí)過程得到的測試程式可能無法完全正確測試程式可能無法完全正確,可利用編輯器逕行修改可利用編輯器逕行修改刪除在學(xué)習(xí)功能下得到的刪除在學(xué)習(xí)功能下得到的IC保護(hù)二極體測試程式保護(hù)二極體測試程式顯示在學(xué)習(xí)中所得到的顯示在學(xué)習(xí)中所得到的 IC 保護(hù)二極體測試資料。保護(hù)二極體測試資料。例如顯示例如顯示Step_191：U2_1_14 表示測試程式的步驟表示測試程式的步驟191是是IC保護(hù)二極體測試步驟，

18、保護(hù)二極體測試步驟，U2 的第的第1腳與第腳與第14腳之間有保護(hù)二極體。又如腳之間有保護(hù)二極體。又如Step_192：U2_10_14 U3_8_14表示測試程式的步驟表示測試程式的步驟192是是IC保護(hù)二極體測保護(hù)二極體測試步驟，而且試步驟，而且 U2 的第的第10腳、第腳、第14腳與腳與 U3 的第的第8腳、腳、第第14腳有相同的測試針號(hào)碼。此時(shí)只測試腳有相同的測試針號(hào)碼。此時(shí)只測試 U2 的第的第10腳與第腳與第14腳之間是否有保護(hù)二極體存在，以節(jié)省腳之間是否有保護(hù)二極體存在，以節(jié)省測試時(shí)間。測試時(shí)間。Step_193顯示為顯示為U2_12_14/，/表示此表示此IC保護(hù)二極體與其他保護(hù)

19、二極體與其他IC有並聯(lián)之狀況有並聯(lián)之狀況學(xué) 習(xí) 逕 程學(xué) 習(xí) 逕 程訊息說明訊息說明學(xué)習(xí)學(xué)習(xí)進(jìn)度進(jìn)度學(xué)習(xí)後的測試學(xué)習(xí)後的測試資料資料編輯編輯 IC 腳位資料腳位資料進(jìn)入編輯器編輯學(xué)習(xí)到的測試程進(jìn)入編輯器編輯學(xué)習(xí)到的測試程式。學(xué)習(xí)過程所得到的測試程式式。學(xué)習(xí)過程所得到的測試程式可能無法完全正確，使用者在完可能無法完全正確，使用者在完成學(xué)習(xí)後，可在編輯器檢查所學(xué)成學(xué)習(xí)後，可在編輯器檢查所學(xué)習(xí)到的測試程式。若有某顆習(xí)到的測試程式。若有某顆 IC所所屬腳位學(xué)習(xí)到的測試值很多都低屬腳位學(xué)習(xí)到的測試值很多都低於於30fF，則表示學(xué)習(xí)到的資料有，則表示學(xué)習(xí)到的資料有問題，請(qǐng)檢查對(duì)應(yīng)之探測棒是否問題，請(qǐng)檢查對(duì)

20、應(yīng)之探測棒是否裝置正確，探測棒編號(hào)是否正確裝置正確，探測棒編號(hào)是否正確及探測棒是否與及探測棒是否與 IC 表面接觸不良表面接觸不良等問題。若在等問題。若在 IC空焊測試過程中空焊測試過程中有不穩(wěn)定或誤判之情形產(chǎn)生，可有不穩(wěn)定或誤判之情形產(chǎn)生，可適當(dāng)放寬編輯適當(dāng)放寬編輯IC腳位資料裏的上腳位資料裏的上下限百分比，再重新做一次學(xué)習(xí)。下限百分比，再重新做一次學(xué)習(xí)。刪除在學(xué)習(xí)功能下所得到的刪除在學(xué)習(xí)功能下所得到的 IC 空空焊測試程式焊測試程式顯示每個(gè)顯示每個(gè) IC 的測試狀況，包含的測試狀況，包含 IC量測值狀態(tài)圖、量測值狀態(tài)圖、IC 腳位測試值分佈圖、可測率分析表、腳位測腳位測試值分佈圖、可測率分

21、析表、腳位測試資料等試資料等學(xué)習(xí)後的測試學(xué)習(xí)後的測試資料資料測試程序測試程序測試時(shí)間統(tǒng)計(jì)測試時(shí)間統(tǒng)計(jì)系統(tǒng)測試狀態(tài)及測系統(tǒng)測試狀態(tài)及測試結(jié)果試結(jié)果附屬功能附屬功能測試結(jié)果:藍(lán)色表示正常;紅色表示不良檢測報(bào)告0,1,2,3;開短路區(qū)間 5,25,550,0,1,3;開短路區(qū)間 15,55,85若非此二值,表示開短路檢測不良設(shè)定檢測編號(hào)當(dāng)切換電路板檢測正常時(shí)，狀態(tài)欄顯示藍(lán)色 OK；切換電路板檢測不良時(shí)，狀態(tài)欄顯示紅色 Bad並顯示切換電路板的不良測試針號(hào)碼當(dāng)檢測不到切換電路板時(shí)顯示N/AOK良品NG不良綠燈:良品紅燈:不良輸入所接DEBUGBOX的編號(hào)測試功能選擇量測模式選擇量測結(jié)果圖表顯示量測結(jié)果

22、數(shù)值顯示進(jìn)入編輯器，使用者可編輯巨集指令的檔案。開啟巨集指令的檔案，將該檔案內(nèi)容放入命令盒，並在指令啟始處加入 BEGIN，指令結(jié)束處加入 END。執(zhí)行開啟的巨集指令檔案。儲(chǔ)存命令盒內(nèi)的巨集指令。使用者可先在命令盒內(nèi)輸入巨集指令，執(zhí)行的結(jié)果會(huì)一步一步顯示。再將這些巨集指令儲(chǔ)存於檔案內(nèi)供以後使用。64:64 Pins Switching Board128:128 Pins Switching BoardH32:HVM BoardV64:Punctional boardOT:HP Testjet Board檢測的測試針編號(hào)為 1 ，該針屬於第一塊切換電路板測試針1 的對(duì)應(yīng)位置32128顯示的編號(hào)為

23、第幾塊 IC空焊控制板的第幾個(gè)探測棒系統(tǒng)內(nèi)有幾個(gè) IC空焊控制板，此治具上有多少個(gè)探測棒設(shè)定執(zhí)行穩(wěn)定度測試的測試步驟、測試次數(shù)和上下限百分比。以折線圖顯示量測值的變化狀況。若分佈曲線超過上下限百分比，表示此步驟之測試不穩(wěn)，可增加重測次數(shù)或延遲時(shí)間。以文字表示量測值的變化狀況，並計(jì)算最大量測值及最小量測值 設(shè)定本報(bào)表統(tǒng)計(jì)日期區(qū)間每日良率分佈圖:以綠色柱狀圖顯示每日的良率百分比，使用者可以很容易的看出那一天的良率較低，作為改進(jìn)製程的參考。柱狀圖自設(shè)定區(qū)間的啟始日開始顯示。在每日良率分佈圖中有一個(gè)黑色柱狀游標(biāo)，其所對(duì)應(yīng)之特定日期的測試統(tǒng)計(jì)資料顯示。包含日期、測試次數(shù)、良品數(shù)、開路不良數(shù)、短路不良數(shù)和零件不良數(shù)等資料。利用“”和“”兩個(gè)按鍵可以移動(dòng)游標(biāo)，選擇欲顯示的特定日期，“” 顯示前一天的資料，“”顯示下一天的資料。單日不良率分佈圖內(nèi)不良率百分比的定義和單日測試資料統(tǒng)計(jì)內(nèi)不良率百分比的定義不同