ASME標準射線檢驗

1、ASME標準第卷第二部分：射線檢驗第一章、適用范圍 （C）（B）鑄件和焊縫的射線照相檢驗方法鑄件和焊縫的射線照相檢驗方法 第二章、一般要求1.檢測文件 （B）（1）射線照相檢驗應按書面規(guī)程進行。射線照相檢驗應按書面規(guī)程進行。每個規(guī)程至少包括下列內(nèi)容： a) 材料類型及厚度范圍； b) 使用的同位素或最高X射線管電壓； c) 射線至工件的最小距離； d) 工件的源側(cè)至膠片的最大距離； e) 最大射線源尺寸； f) 膠片牌子及名稱； g) 所用的增感屏。 (2)規(guī)程的演示：按照書面規(guī)程在生產(chǎn)上按照書面規(guī)程在生產(chǎn)上或工藝上所攝制的底片，其黑度和透度或工藝上所攝制的底片，其黑度和透度計成像要求達到規(guī)程

2、要求，應作為與規(guī)計成像要求達到規(guī)程要求，應作為與規(guī)程符合的滿意憑證。程符合的滿意憑證。2.表面準備 （B）（B）(1)材料（包括鑄件） 表面的不規(guī)則不至于遮蔽或者混淆任何不連續(xù)性的成像。(2)焊縫 應當采用任何適當?shù)姆椒ㄏ齼?nèi)壁（可靠近時）和外壁的焊波或焊縫表面高低不平，直至他們在射線照片上形成的圖射線照片上形成的圖像不至于遮蔽任何缺陷的圖像或是與他像不至于遮蔽任何缺陷的圖像或是與他們混淆。們混淆。 3.背散射的控制 （C）（C） 將一個高度不小于13mm和厚度不小于1.6mm的鉛字在曝光時貼到每個膠片暗盒的背面。 4.底片上的標識 （B）（B） 底片上標識應用合同號、零件號、焊縫或焊接接頭號

3、或部件號、制造廠的標記符合或名稱、照相日期、定位標記。在在任何情況下，上述標識都不能遮蔽被檢任何情況下，上述標識都不能遮蔽被檢的區(qū)域。的區(qū)域。 5.黑度范圍的檢查 （B） 判定底片黑度，采用黑度計成階梯黑度比較片。 6.報告 （B） 至少包括以下內(nèi)容： a) 標識，即工件/合同號和爐號； b) 標記放置的尺寸圖； c) 底片（曝光）數(shù)量； d) X射線管電壓或所用同位素類型； e) 焦點尺寸； f) 母材類型和厚度、焊縫厚度、焊縫余高； g) 源至工件的最小距離； h) 工件源側(cè)至膠片的最大距離； i) 膠片制造廠和制造廠的類型和名稱； j) 暗盒中的膠片數(shù)量（單、雙片）； k) 單壁或雙壁曝

4、光（透照技術(shù)）； l) 單壁或雙壁觀察。第三章、檢測設備與材料 1.膠片的選用和處理 （C）（B） (1)膠片的選用。按照SE-1815工業(yè)射線照相膠片體系的標準試驗方法。允許使用的膠片體系級別是：特殊級、和W-A和W-B級。膠片的貯存原則：先購入者先使用。膠片的貯存原則：先購入者先使用。 (2)膠片處理 按照SE999工業(yè)射線照相膠片處理質(zhì)量控制的標準方法指南或SE94射線照相試驗標準方法指南第部分作為處理膠片的參考依據(jù)。 顯定、水洗的溫度和時間應遵循膠片生產(chǎn)廠的推薦。2.增感屏的使用 （B） 按本規(guī)程進行射線照相檢驗時，可以使用金屬增感屏。SE94：采用采用Ir192前屏最小厚度前屏最小厚

5、度 0.13mm Co60前屏最小厚度前屏最小厚度0.25mm 3.像質(zhì)計的規(guī)格 （B）（B） ASME標準像質(zhì)計指示器應由表T233.1和T233.2所組成。 T233.1孔型像質(zhì)指示器孔型像質(zhì)指示器 T233.2線型像質(zhì)指示器線型像質(zhì)指示器 4.底片的觀察設施（觀片燈） 應能提供柔和背景亮度，而不會在應能提供柔和背景亮度，而不會在底片上引起討厭的反射、陰影或眩光。底片上引起討厭的反射、陰影或眩光。應具有一個足夠強的可變光源。觀看的條件，應能使來自底片邊緣以外的光線，或來自底片低黑度部位的光線不至于干擾對底片作出解釋。第四章、黑度計和階梯黑度比較片 （B） 1.黑度計：在使用期間應至少每在使

6、用期間應至少每90天進行如天進行如下校驗：下校驗： a) 標準黑度底片至少應有標準黑度底片至少應有5個階梯，個階梯，其黑度至少自1.0到4.0。標準黑度片應在標定有效期內(nèi)； b) 應遵守黑度計制造商規(guī)定的操作說明； c) 應該讀出標準黑度片或階梯校驗黑度片上最接近黑度1.0、2.0、3.0和4.0的讀數(shù)。 d) 實際讀數(shù)與標準黑度片的誤差不超過實際讀數(shù)與標準黑度片的誤差不超過0.05。 2.階梯黑度比較片。第一次使用前應進行下列驗證： a) 在檢驗合格的黑度計上進行驗證； b) 實際讀數(shù)與階梯黑度比較比較片上標明的黑度誤差不超過0.1，階梯黑度比階梯黑度比較片每年進行一次驗證。較片每年進行一次

7、驗證。第五章 檢測 1.射線照相技術(shù) （A）（A） 在任何可以實施的情況下，應當采用單在任何可以實施的情況下，應當采用單壁透照技術(shù)。壁透照技術(shù)。當單壁透照技術(shù)無法實施時，應采用雙壁透照技術(shù)。為了能證實充分覆蓋，應進行足夠次數(shù)的曝光。 (1)單壁透照技術(shù)。射線只通過焊縫（材料）的單層壁照到膠片上成像。（單壁單影） (2)雙壁透照技術(shù) 單壁觀察：（雙壁單影）至少進行三次互成120o的曝光。 雙壁觀察：注意像質(zhì)計放在源側(cè)，要滿足注意像質(zhì)計放在源側(cè)，要滿足Ug要求要求 a) 橢圓成像：至少要進行二次互成至少要進行二次互成90o的曝光；的曝光； b) 重疊成像：至少要進行三次互成至少要進行三次互成60o

8、或或120o的的曝光。曝光。 2.輻射能量的選擇 （B） 使用的輻射能量必須達到黑度何像質(zhì)計的要求。 一般來說，對于一般來說，對于100kV到到500kV的的X射線源，通常在厚度范圍為射線源，通常在厚度范圍為2.5到到10個半個半價層時，可獲得滿意的照相效果。價層時，可獲得滿意的照相效果。 3.輻射方向的選擇 （B） 在任何可行的情況下，應使射線束在任何可行的情況下，應使射線束的中心對準受檢區(qū)域的中心。的中心對準受檢區(qū)域的中心。4.幾何不清晰度的計算 （B）Ug=Fd/DUg幾何不清晰度F射線源尺寸（有效焦點大?。ヾ被檢焊縫或工件的射線源側(cè)到膠片距離D射源到被檢焊縫或工件的距離規(guī)定：材料厚度

9、50.8 Ug0.51 材料厚度50.876.2 Ug0.76 材料厚度76.2101.6 Ug1.02 材料厚度101.6 Ug1.785.位置標記的放置 （B）（B）位置標記（定位標記）的放置見圖T275 5.1源側(cè)標記：適用于外透法，適用于外透法，F(xiàn)R的的偏心法。偏心法。 5.2片側(cè)標記：適用于環(huán)縫適用于環(huán)縫“雙單法雙單法”，F(xiàn)R的偏心法，直縫的偏心法，直縫“雙單法雙單法”要另加要另加附加長度。附加長度。 5.3源片兩側(cè)均可標記：適用于內(nèi)透中心法適用于內(nèi)透中心法 6.像質(zhì)計 （C）（B） 6.1材料：與被透材料相同組別或級別或與被透材料相同組別或級別或比被透照材料射線吸收性低的組別或級比

10、被透照材料射線吸收性低的組別或級別的合金材料制作。別的合金材料制作。 6.2型號選用：選用應符合表T276的規(guī)定。 不管哪種透照方式，均須按照單壁焊縫不管哪種透照方式，均須按照單壁焊縫透照厚度選。透照厚度選。像質(zhì)計放在膠片側(cè)，應顯示絲、孔徑應比源側(cè)減小一檔，并放“F”標記。襯環(huán)和襯帶不作為厚度的一部分襯環(huán)和襯帶不作為厚度的一部分考慮?？紤]。 6.3放置的數(shù)量 (1)通常：一般每張底片上至少有1個像質(zhì)計。若底片上有效評定區(qū)內(nèi)任一點的黑度大于像質(zhì)若底片上有效評定區(qū)內(nèi)任一點的黑度大于像質(zhì)計附近的黑度計附近的黑度30，或小于像質(zhì)計附件的黑，或小于像質(zhì)計附件的黑度度15，則超差區(qū)域必須增放像質(zhì)計重新拍，

11、則超差區(qū)域必須增放像質(zhì)計重新拍片。片。 (2)周向一次曝光：至少放3個，相隔120o，與環(huán)焊縫垂直相交的縱焊縫同時透照時，要在被透縱縫遠端增放一個像質(zhì)計。 (3)球形容器周曝：用中心法周曝時，要求每條環(huán)縫各放3個相隔120o，其余焊縫放置1個。 (4)多工件全景曝光：多工件圍繞射線源一周全景曝光時，要求每個工件都放一個像質(zhì)計。 6.4墊片尺寸 使用平板孔型像質(zhì)計時，要在平板下放置1塊同材質(zhì)，尺寸略大于像質(zhì)計面積的墊板，期厚度等于被檢焊縫余高，在底在底片上應使像質(zhì)計至少有三條輪廓可見。片上應使像質(zhì)計至少有三條輪廓可見。例題： （1）問答：簡述ASME規(guī)范所用的無損檢測方法及英文縮寫。 （2）問答

12、：ASME規(guī)范第V卷包括無損檢驗方法及驗收標準。 （3）判斷：對焊縫進行射線照相檢驗，焊縫的內(nèi)外表面必須打磨與母材齊平。（ ） （4）選擇：判定底片黑度，應采用（ ） A黑度計 B階梯黑度比較片 C憑經(jīng)驗肉眼觀察 D A和B （5）判斷：ASME規(guī)范中規(guī)定，在射線照片上，識別系統(tǒng)必須要以射線照相影像的方式顯示，且不能遮蔽被檢區(qū)域。（ ） （6）判斷：ASME規(guī)范第V卷無損檢驗是方法標準，這些方法的驗收標準亦包括在內(nèi)。（ ） （7）判斷：ASME規(guī)范中規(guī)定，材料厚度小于50.8mm的情況下，幾何不清晰度的最大值為0.51mm。（ ） （8）判斷：ASME 規(guī)范中規(guī)定，在任何可以實施的情況下應當采

13、用單壁透照技術(shù)。（ ） （9）判斷：ASME規(guī)范中規(guī)定，雙壁透照雙壁觀察的情況下，可以適當降低幾何不清晰度的要求。（ ） （10）判斷：ASME 規(guī)范中規(guī)定，對于IQI的要求，射線底片上亦應有顯示像質(zhì)指示器的數(shù)字和字母。（ ） （11）判斷：ASME 規(guī)范中規(guī)定，所謂靈敏度就是在射線照相圖象中最小可見細節(jié)或反差變化。（ ） （12）判斷：ASME規(guī)范中，無損檢測（NDE）的定義-檢驗材料和/或部組件的技術(shù)方法的開發(fā)和應用。在這些方法中對缺陷的探測、定位、測量、評定和評價不會破壞其以后的有用性和使用性。（ ） （13）判斷：ASME規(guī)范中規(guī)定，在射線照片上，識別系統(tǒng)必須要求以射線照相影象的方式顯

14、示。且不能遮蔽被檢區(qū)域。（ ） （14）判斷：ASME規(guī)范中規(guī)定，標準黑度片至少應有6各階梯.（ ） （15）判斷：ASME規(guī)范中規(guī)定，在任何可行情況下，應使射線束的中心對準受檢區(qū)域的中心。（ ） （16）判斷：膠片貯存的原則是先購入者先使用。（ ） （17）判斷：ASME規(guī)范中規(guī)定，雙壁透照雙壁觀察的情況下，像質(zhì)指示器可以放在膠片側(cè)。（ ） （18）判斷：ASME規(guī)范中，給出幾何不清晰度的公式的目的在于說明和指導工作，并且僅限于一定的使用范圍內(nèi)有效。（ ） （19）判斷：ASME規(guī)范中，曝光圖表應按各X射線裝置編制，并且在每次主要元件替換時進行校正，例如X射線管或高壓變壓器。（ ） （20）

15、ASME 規(guī)范中規(guī)定，在單壁觀察的情況下，曲面或球面形部件，其凸面一側(cè)對著射線源時，應在（ ）。 A.射線源一側(cè)加標記 B膠片一側(cè)加標記 C A、B D以上都不對 （21）選擇：ASME 規(guī)范中規(guī)定，采用雙壁透照技術(shù)，單壁觀察的情況下當要求環(huán)縫（材料）全部覆蓋時，至少進行（ ）次互成（ ）度的曝光。 A4、90 B3、120 C2、180 D以上都不對。 （22）選擇：ASME 規(guī)范中規(guī)定，像質(zhì)指示器應是（ ） A孔型 B線型 C孔型或線型 D槽型。 （23）選擇：ASME規(guī)范中，黑度計在使用期間應至少每（ ）天進行校驗。 A90 B120 C150 D60 （24）選擇：ASME規(guī)范中使用濾

16、板的目的：（ ） A減少散射輻射，從而提高對比度。 B減少邊蝕，從而提高對比度。 C減少厚度變化部分的對比度。 D以上全是。 （25）選擇：ASME 規(guī)范中規(guī)定，采用Ir-192放射源作射線照相時，前鉛增感屏的最小厚度：（ ）。 A.0.2mm B0.25 C0.13mm D0.05mm （26）選擇：以下參數(shù)，在曝光曲線中不是必要參數(shù)的是那一個：（ ）。 A.材料厚度 B定影時間 C曝光時間 D增感屏類 型及厚度 （28） 簡述ASME規(guī)范所用的無損檢測方法及縮寫。第六章、評定 1.底片的質(zhì)量要求 （B） 所有底片，都不應有機械、化學或其他的污損，以避免對被透照工件的受檢區(qū)域產(chǎn)生遮蔽或混淆任何缺陷的影像。 所謂污損包括下列各種但不限于這些： a) 灰霧； b) 處理時產(chǎn)生的缺陷，如條文、水跡或化學污斑等； c) 劃痕、指紋、摺紋、靜電痕跡、黑點