XPS原理使用分析

1、X射線光電子能譜分析XPSXPSX-rays Photoelectron SpectroscopyESCAElectron Spectroscopy for Chemical Analysis1.X射線光電子能譜儀發(fā)展歷史愛因斯坦：光電效應(yīng) 50年代，K.Siegbahn研制成功XPS譜儀 60年代，發(fā)展成為商用儀器 主要：PHI公司，VG公司，Karatos 公司 發(fā)展方向：單色化，小面積，成像XPS一、概述2.儀器功能與特點(diǎn)：（1）定性分析-根據(jù)測得的光電子動(dòng)能可以確定表面存在哪些元素。靈敏度約0.1at%。（2）定量分析-根據(jù)具有某種能量的光電子的強(qiáng)度可知某種元素在表面的含量。誤差約20

2、%。（3）根據(jù)某元素光電子動(dòng)能的位移可了解該元素所處的化學(xué)狀態(tài)，有很強(qiáng)的化學(xué)狀態(tài)分析功能有很強(qiáng)的化學(xué)狀態(tài)分析功能。（4）由于只有距離表面幾個(gè)納米范圍的光電子可逸出表面，因此信息反映材料表面幾個(gè)納米厚度層的狀態(tài)。（5）結(jié)合離子濺射可以進(jìn)行深度分析。（6）對(duì)材料無破壞性。（7）由于X射線不易聚焦, 照射面積大,不適于微區(qū)分析。一、概述1.XPS的產(chǎn)生當(dāng)單色的X射線照射樣品,具有一定能量的入射光子同樣品原子相互作用：（1）光致電離產(chǎn)生光電子； （2）電子從產(chǎn)生之處遷移到表面；（3）電子克服逸出功而發(fā)射。 用能量分析器分析光電子的動(dòng)能,得到的就是X射線光電子能譜。二、XPS的測量原理2.能量關(guān)系能量關(guān)

3、系：H = Eb+s+Ek+ErEb-電子結(jié)合能（以費(fèi)米能級(jí)為零點(diǎn)）s-樣品材料的功函數(shù)Ek-電子剛逸出表面時(shí)具有的動(dòng)能Er 出射電子的反沖能由于樣品與能譜儀接觸，產(chǎn)生接觸電勢差，而在樣品表面與能譜儀之間產(chǎn)生電場，使光電子射出后在此電場中加速或減速，動(dòng)能發(fā)生改變，測量到的動(dòng)能與原始能量不一致。平衡時(shí)，有關(guān)系 Ek = Ek -(sp- s)因此可得（忽略反沖能） H = Eb+sp+ Ek或 Ek = h Eb sp紫外光電子能譜分析UPSUltra-violet photoelectron Spectroscopy XPS分析使用的光源陽極是Mg或Al，其能量分別是1487和1254eV。

4、UPS的光源為氦放電燈，能量為21.2或40.8eV，其能量只能夠激發(fā)出價(jià)帶電子，因此主要用于價(jià)帶分析。3.深度剖面分析用離子束濺射剝蝕表面,用X射線光電子譜進(jìn)行分析,兩者交替進(jìn)行, 可以得到元素及其化學(xué)狀態(tài)的深度分布。4.光電子能量損失機(jī)制光電子在射出表面的同時(shí)，可能激發(fā)固體中某些過程從而自身能量發(fā)生損失：（1）聲子激發(fā)或點(diǎn)陣振動(dòng) 能量為幾十meV，只能在高分辨譜中觀察到。（2）等離子激發(fā)（3）各種單、雙粒子激發(fā)XPS能譜儀的構(gòu)成能譜儀的構(gòu)成主要：超高真空系統(tǒng)；X射線源；能量分析系統(tǒng)電子控制系統(tǒng)數(shù)據(jù)采集和處理系統(tǒng)進(jìn)樣室分析室X 光槍真空系統(tǒng)能量分析器計(jì)算機(jī)系統(tǒng)離子槍X射線光電子能譜儀結(jié)構(gòu)框圖

5、 三、儀器結(jié)構(gòu)1.X射線源射線源X射線的產(chǎn)生射線的產(chǎn)生X射線源的結(jié)構(gòu)射線源的結(jié)構(gòu)X射線的單色化射線的單色化X射線的聚焦和掃描射線的聚焦和掃描Mg/Al雙陽極雙陽極X射線源射線源 能量范圍適中（Mg：1253.7，Al：1486.7eV） X射線的能量范圍窄（0.7和0.85 eV） 能激發(fā)幾乎所有的元素產(chǎn)生光電子； 靶材穩(wěn)定，容易保存以及具有較高的壽命X射線的產(chǎn)生：陰極發(fā)射電子，直流高壓電場對(duì)電子加速，高速碰撞陽極， 產(chǎn)生特征X射線其中，ExX射線半寬度 Ee光電子自然能量分布，與樣品材料有關(guān)（不確定關(guān)系） Es固態(tài)寬化效應(yīng)，激發(fā)光電子時(shí)產(chǎn)生晶格振動(dòng)，即聲 子對(duì)譜的影響 Esp譜儀的固有分辨率

6、提高分辨率主要辦法是減小X射線寬度，即提高單色性。 要求X射線的自然線寬小，分辨率才高 測得光電子能譜的半寬度為122222xesspEEEEE 2dsin=n 2.電子能量分析器 3.超高真空系統(tǒng) 4.控制電路 5.樣品臺(tái)6.樣品準(zhǔn)備 樣品尺寸不宜過大，一般應(yīng)不大于10 x10 x1mm； 樣品表面應(yīng)大體上平整； 樣品最好能夠?qū)щ姡?表面應(yīng)作脫脂處理，絕對(duì)避免用手觸摸； 原始表面應(yīng)盡可能盡快測試，避免長時(shí)間在空氣中存放； 粉末樣品可以壓成塊狀，或撒布在膠帶上；也可以將粉末溶解在適當(dāng)溶劑中做成溶液，屠宰樣品臺(tái)上，再使溶劑揮發(fā)即成樣品； 氣體、液體樣品多用冷卻法令其凝固。四、譜圖分析 定性分析

7、定量分析 深度分析 化學(xué)狀態(tài)分析6005004003002001000Binding Energy eVCounts a.u.Al 2pAl 2sC 1sN 1sTi 2pO 1sTi(CN)x/ Al film是高純Al基片上沉積的Ti(CN)x薄膜的XPS譜圖，激發(fā)源為Mg K譜圖解析標(biāo)志介紹元素鑒別消除電荷效應(yīng) 光電子被激發(fā)出以后，非導(dǎo)電樣品上會(huì)逐漸積累正電荷，導(dǎo)致測量的光電子動(dòng)能減小，表觀結(jié)合能正移，從而影響分析結(jié)果。 辦法：（1）電子槍發(fā)射電子中和；（2）樣品表面鍍金，厚度1nm；（3）在導(dǎo)電樣品托上制備超薄樣品；（4）外標(biāo)法：樣品上C1s的結(jié)合能為284.8eV。能量定標(biāo)（1）利用已知特征譜：C 1s-284.3 eV（2）利用兩條譜線，如： Cu 2p3/2-932.8 eV，Cu 3s-122.9 eV Au 4f7/2-83.8 eV， Cu 2p3/2-932.8 eV（3）已知能量的兩種光子激發(fā)同一樣品的某一能級(jí)，則兩次測量的能量差即為光子能量差。Mg與Al陽極的能量差是233.01 eV。不