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1、LOGOinstrument 目錄 1、定義 2、發(fā)展和趨勢(shì) 3、分類 4、通用分析儀器 instrument 儀器儀表是用以檢出、測(cè)量、觀察、計(jì)算各種物理儀器儀表是用以檢出、測(cè)量、觀察、計(jì)算各種物理量、物質(zhì)成分、物性參數(shù)等的器具或設(shè)備。量、物質(zhì)成分、物性參數(shù)等的器具或設(shè)備。 廣義來說,儀器儀表也可具有自動(dòng)控制、報(bào)警、信號(hào)傳遞和數(shù)據(jù)處理等功能。 儀器儀表能改善、擴(kuò)展或補(bǔ)充人的官能。 instrument 儀器儀表發(fā)展已有悠久的歷史。據(jù)韓非子有度記載,中國(guó)在戰(zhàn)國(guó)時(shí)期已有了利用天然磁鐵制成的指南儀器,稱為司南。古代的儀器在很長(zhǎng)的歷史時(shí)期中多屬用以定向、計(jì)時(shí)或供度量衡用的簡(jiǎn)單儀器。instrumen

2、t 1718世紀(jì),歐洲的一些物理學(xué)家開始利用電流與磁場(chǎng)作用力的原理制成簡(jiǎn)單的檢流計(jì);利用光學(xué)透鏡制成的望遠(yuǎn)鏡,奠定了電學(xué)和光學(xué)儀器的基礎(chǔ)。 instrument 19世紀(jì)到20世紀(jì),工業(yè)革命和現(xiàn)代化大規(guī)模生產(chǎn)促進(jìn)了新學(xué)科和新技術(shù)的發(fā)展,后來又出現(xiàn)了電子計(jì)算機(jī)和空間技術(shù)等,儀器儀表因而也得到迅速的發(fā)展?,F(xiàn)代儀器儀表已成為測(cè)量、控制和實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化必不可少的技術(shù)工具。 instrument 發(fā)展趨勢(shì):1、新工作原理、新材料、新元器件;2、小型化,減輕重量、降低生產(chǎn)成本和更便于使用與維修; 3、提高自動(dòng)化、智能化程度和數(shù)據(jù)處理能力。 instrument 如何區(qū)分儀器和儀表??jī)x器一種組合意義上的機(jī)器,里

3、面一般會(huì)至少含有幾種儀表。 儀表一般只是用來指示數(shù)據(jù)用。instrument 儀表儀器的分類:通用分析儀器在線檢測(cè)儀器 環(huán)境檢測(cè)儀器實(shí)驗(yàn)室設(shè)備物性測(cè)試儀器instrument 包含:色譜儀質(zhì)譜儀光譜儀元素分析儀顯微鏡熱分析儀instrument 色譜法:又稱色譜分析、色譜分析法、層析法,是一種分離和分析方法,色譜法利用不同物質(zhì)在不同相態(tài)的選擇性分配,以流動(dòng)相對(duì)固定相中的混合物進(jìn)行洗脫,混合物中不同的物質(zhì)會(huì)以不同的速度沿固定相移動(dòng),最終達(dá)到分離的效果。 氣相色譜(IC):氣-固分離,流動(dòng)相為載氣液相色譜(HPLC):液-固分離,流動(dòng)相為液體毛細(xì)管電泳薄層分離instrument 工作過程:ins

4、trument 構(gòu)成:1. 載氣系統(tǒng)2. 進(jìn)樣系統(tǒng)3. 色譜柱4. 檢測(cè)器5. 記錄系統(tǒng)6. 溫度控制系統(tǒng)instrument 特點(diǎn):高靈敏度。高選擇性。高效能。速度快。應(yīng)用范圍廣。所需試樣量少。設(shè)備和操作比較簡(jiǎn)單。局限性:僅適用于分析蒸氣壓低、沸點(diǎn)低的樣品,而不能分析熱穩(wěn)定性差的化合物以及生物活性物質(zhì)。instrument 應(yīng)用舉例:冶金行業(yè)中的煉鐵過程中,高爐爐頂煤氣中 含量22HCOCO和、GC推薦品牌:安捷倫(安捷倫(AglientAglient),), WatersWaters,島津(,島津(Shimadzu)Shimadzu),瓦里安,瓦里安(Varian Varian ),資生堂

5、),資生堂(Shiseido(Shiseido)。)。 國(guó)產(chǎn)品牌:上海天美,大連依立特上海天美,大連依立特 ,北京東西電子,北京東西電子instrument LC推薦品牌:安捷倫(安捷倫(Aglient),), Waters,島津(,島津(Shimadzu),瓦里安,瓦里安(Varian ),資生堂),資生堂(Shiseido),戴安),戴安DIONEX 。國(guó)產(chǎn)品牌:上海天美,北分,上分上海天美,北分,上分, ,上??苿?chuàng)上海科創(chuàng)instrument 類類 型型優(yōu)優(yōu) 點(diǎn)點(diǎn)缺缺 點(diǎn)點(diǎn)氣相色譜氣相色譜儀儀分析低分子量低沸點(diǎn)樣品;選擇性高、分離效率高、靈敏度高、分析速度快等。僅適用于分析蒸氣壓低、沸點(diǎn)

6、低的樣品,而不能分析熱穩(wěn)定性差的化合物以及生物活性物質(zhì)。液相色譜液相色譜儀儀高沸點(diǎn)、中分子、高分子有機(jī)化合物(包括極性、非極性);離子型化合物;熱不穩(wěn)定,具有生物活性的生物分子。并且他的分離效能、選擇性、靈敏度也非常的高。分析成本高于氣相色譜,流動(dòng)相也容易引起環(huán)境污染。instrument 離子態(tài)物質(zhì):在水溶液中電離,具有+或-電荷的元素。離子色譜儀(IC):利用色譜技術(shù)測(cè)定離子型物質(zhì)的方法叫做離子色譜法,所采用的儀器叫做離子色譜儀。例如:陰離子:陽離子:24242,CrOSONOCl324,FeCaNHNainstrument instrument 質(zhì)譜儀:利用電磁力將被電離的混合物試樣按質(zhì)

7、荷比分離進(jìn)行定性和定量分析的儀器。離子的質(zhì)量與電荷之比稱為質(zhì)荷比質(zhì)荷比。Mass Spectrometerinstrument 樣品離子束偏轉(zhuǎn)不同聚焦位置不同質(zhì)量譜加速聚焦氣化電離電壓磁場(chǎng)真空質(zhì)量譜輸出Mass Spectrometerinstrument 組成:進(jìn)樣系統(tǒng)離子源質(zhì)量分析器檢測(cè)器質(zhì)譜儀廣泛應(yīng)用于物質(zhì)成分分析,同位素分離和測(cè)量,原子量和分子量測(cè)量。 Mass Spectrometerinstrument 無機(jī)質(zhì)譜分析:主要用于冶金工業(yè)、半導(dǎo)體和原子能工業(yè)中高純物質(zhì)中的雜質(zhì)分析,在生物、環(huán)保和池質(zhì)領(lǐng)域中的固體、粉末、液體和超純氣體如氫、氬和氦中的痕量雜質(zhì)測(cè)定等方面,無機(jī)質(zhì)譜都發(fā)揮了重

8、要作用,該方法鑒定金屬中的雜質(zhì)多達(dá)70余種,可作半定量分析。分類(按應(yīng)用范圍):同位素質(zhì)譜儀無機(jī)質(zhì)譜儀有機(jī)質(zhì)譜儀instrument 色譜和質(zhì)譜的區(qū)別:色譜:分離混合物,分析能力弱;質(zhì)譜:分析能力強(qiáng)。MS品牌推薦:安捷倫,伯金埃爾默PE,熱電,耶拿,瓦里安instrument 光譜儀:通過區(qū)分不同物質(zhì)的光譜特征和強(qiáng)弱來定性定量分析以及結(jié)構(gòu)分析的儀器。instrument 將被分析的樣品,置于電弧、火花或其他光源中間,由光源對(duì)它進(jìn)行激發(fā)使之發(fā)光,然后使該光分光色散成光譜,最后用光敏元件檢測(cè)以得出被測(cè)樣品的成分。樣品發(fā)光樣品成分輸出光源(電弧、火花、ICP等)光敏元件光譜 Spectrometer

9、 instrument X熒光射線光譜儀:一種射線式分析儀器,是X射線分析儀器的一種常用形式。X射線熒光光譜儀能分析原子序數(shù) 1292的所有元素,選擇性高,分析微量組分時(shí)受基體的影響小,在地質(zhì)、采礦和冶金等部門應(yīng)用很廣。 Spectrometer instrument 工作原理:X射線熒光光譜儀的主要組成部分是一次X射線源(X光管)和樣品室、分光晶體和平行光管、檢測(cè)器和記錄顯示儀器(見圖)。 Spectrometer instrument 應(yīng)用:X射線熒光分析儀一般用來分析精礦粉、石灰、青石、白云石、爐渣、熔劑等不導(dǎo)電的試樣,但也可進(jìn)行金屬材料等導(dǎo)電試樣的分析。還可用于測(cè)定涂層和金屬薄膜的厚度

10、和組成以及動(dòng)態(tài)分析等。 XRF品牌推薦:日本理學(xué),荷蘭帕納柯,美國(guó)熱電,英國(guó)牛津,德國(guó)布魯克BRUKE,instrument ICP發(fā)射光譜儀(ICP-AES):電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀,采用ICP(電感耦合等離子體)做為光源的光譜儀。instrument 等離子體炬管ICPICP:由高頻發(fā)生器和等離子體炬管組成。高頻發(fā)生器:通過工作線圈給等離子體輸送能量,維持ICP光源穩(wěn)定放電。自激式高頻發(fā)生器,用于中、低檔儀器;晶體控制高頻發(fā)生器,輸出功率和頻率穩(wěn)定性高,可利用同軸電纜遠(yuǎn)距離傳送。二、結(jié)構(gòu)主要部分有:高頻發(fā)生器、等離子體炬管、試樣霧化器、光譜系統(tǒng)等 Spectrometer instru

11、ment 炬管與霧化器: 三層同心石英玻璃炬管置于高頻感應(yīng)線圈中,等離子體工作氣體從管內(nèi)通過,試樣在霧化器中霧化后,由中心管進(jìn)入火焰; 外層Ar(惰性氣體氬氣)從切線方向進(jìn)入,保護(hù)石英管不被燒熔,中層Ar用來點(diǎn)燃等離子體; Spectrometer instrument 三、主要特點(diǎn)高效穩(wěn)定 可以連續(xù)快速多元素測(cè)定 精確度高。中心氣化溫度高達(dá)10000K可以使樣品充分氣化 有很高的準(zhǔn)確度。工作曲線具有很好的線性關(guān)系 并且線性范圍廣。 與計(jì)算機(jī)軟件結(jié)合全譜直讀結(jié)果,方便快捷。 Spectrometer instrument ICP品牌推薦:伯金埃爾默PE,熱電,瓦里安,島津四、應(yīng)用高純物質(zhì)中的雜

12、質(zhì)分析、稀土產(chǎn)品的雜質(zhì)分析、合金純度中的雜質(zhì)分析等;水中的微量元素的分析測(cè)試。如自來水、礦泉水、純凈水、水污染程度等;食品及頭發(fā)分析instrument ICP :Inductive Coupled Plasma Emission Spectrometer 電感偶合等離子體發(fā)射光譜儀 ICP :Inductively Coupled Plasma 感應(yīng)耦合等離子體 GCMS :Gas Chromatography and Mass Spectrometry 氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀 AAS :atomic absorption spectroscopy 原子吸收光譜 HPLC :High-Perfo

13、rmance Liquid Chromatography高效液相色譜 HPCE(High Performance Capillary Electrophor_esis)高效毛細(xì)管電泳instrument 主要用途: 適用于鋼鐵、有色金屬、水泥、礦石、玻璃、陶瓷及其它金屬、非金屬材料中碳硫兩元素質(zhì)量分?jǐn)?shù)的測(cè)定。本儀器采用高頻感應(yīng)加熱爐燃燒樣品,紅外線吸收法測(cè)試樣品中碳硫兩元素質(zhì)量分?jǐn)?shù)。instrument 樣品(C,S)硫檢測(cè)池CO2,SO3碳檢測(cè)池CO2COSO2室外燃燒爐高溫O2除塵除水氧化催化劑爐分析器除硫試劑管instrument 分析儀主機(jī)分析儀主機(jī)組成打印機(jī)電子天平計(jì)算機(jī)instru

14、ment instrument 主要技術(shù)性能 Performance測(cè)量范圍碳0.0001%-10.0000%(可擴(kuò)至99.999%)硫0.0001%-0.3500%(可擴(kuò)至99.999%)分析誤差碳符合ISO9556-89標(biāo)準(zhǔn)硫ISO4935-89標(biāo)準(zhǔn)分析時(shí)間25-60秒可調(diào),一般在35秒左右電子天平稱量范圍0-300g讀數(shù)精度0.001g(可配萬分之一天平)高頻爐參數(shù)功率:2.5KVA 頻率:18MHzinstrument 品牌推薦:美國(guó)力可,德國(guó)耶拿(美),(日)崛場(chǎng)HORIBAinstrument 金相顯微鏡:是專門用于觀察金屬和礦物等不透明物體金相組織的顯微鏡。金相顯微分析:利用金相

15、顯微鏡觀察金屬材料的組織和缺陷的方法。它可以觀察研究金屬材料的組織形貌、晶粒大小、非金屬夾雜物等問題。用途:可廣泛地應(yīng)用在工廠或?qū)嶒?yàn)室進(jìn)行鑄件質(zhì)量的鑒定,原材料的檢驗(yàn)或?qū)Σ牧咸幚砗蠼鹣嘟M織的研究分析等工作Metallurgical Microscopy 帶有裂紋的黃銅試樣 硫化礦石instrument 物鏡物鏡載物臺(tái)載物臺(tái) 正置式 (或直立式)倒置式分類(按光路形式分):Metallurgical Microscopy instrument 類類 型型優(yōu)優(yōu) 點(diǎn)點(diǎn)缺缺 點(diǎn)點(diǎn)應(yīng)應(yīng) 用用正置式正置式容易將試樣中感興趣的部位放入視場(chǎng)試樣必須用壓平器壓平,使試樣的觀察面垂直于物鏡的光軸適宜于微小和不方便

16、倒置的試樣,及需要尋找特定或廣域范圍內(nèi)目標(biāo)的觀察研究和分析倒置式倒置式試樣可直接放置在載物臺(tái)上而無須使用壓平器不容易將試樣中感興趣的部位放入視場(chǎng)適合于外形不規(guī)則或較大的試樣Metallurgical Microscopy instrument 圖象信號(hào)輸出光源(照亮視場(chǎng))人眼觀察區(qū)Metallurgical Microscopy instrument 調(diào)焦機(jī)構(gòu)載物臺(tái)計(jì)算機(jī)系統(tǒng)目鏡機(jī)構(gòu)物鏡機(jī)構(gòu)光源照相系統(tǒng)(或攝象系統(tǒng))Metallurgical Microscopy instrument (2)電腦型:)電腦型:1、顯微鏡 2、適配鏡 3、攝像頭(CCD) 4、圖像采集卡 5、計(jì)算機(jī) (1)電視

17、型:)電視型:1、顯微鏡 2、適配鏡 3、攝像頭(CCD) 4、普通電視機(jī)(或監(jiān)視器)(3)數(shù)碼相機(jī)型:)數(shù)碼相機(jī)型: 1、顯微鏡 2、數(shù)碼適配鏡 3、數(shù)碼相機(jī)類型配置:各部件功能介紹: 適配鏡:適配鏡:連接顯微鏡和攝像頭的連接鏡頭。攝像頭:攝像頭:將光學(xué)圖象轉(zhuǎn)換為電子圖象導(dǎo)入監(jiān)視器等圖象顯示設(shè)備。圖象采集卡:圖象采集卡:圖象信號(hào)A/D轉(zhuǎn)換,使之與計(jì)算機(jī)相連進(jìn)行數(shù)據(jù)通訊。視頻盒:視頻盒:無須通過圖象卡或計(jì)算機(jī)直接與顯示器連接。Metallurgical Microscopy instrument 1、顯微鏡的放大倍數(shù)顯微鏡的放大倍數(shù)等于物鏡和目鏡單獨(dú)放大倍數(shù)的乘積。顯微鏡的放大倍數(shù)等于物鏡和目

18、鏡單獨(dú)放大倍數(shù)的乘積。物鏡和目鏡的放大倍數(shù)刻在嵌圈上物鏡和目鏡的放大倍數(shù)刻在嵌圈上,例如:10X、20X、45X分別表示放大10倍、20倍、45倍。2、顯微鏡的鑒別率顯微鏡能清晰地分辨試樣上兩點(diǎn)間最小距離d的能力,d值越小,鑒別率越高。當(dāng)光波波長(zhǎng)一定時(shí),可改變物鏡數(shù)值孔徑調(diào)節(jié)顯微鏡的鑒別率3、物鏡的數(shù)值孔徑數(shù)值孔徑表示物鏡的集光能力數(shù)值孔徑表示物鏡的集光能力物鏡上都刻有物鏡上都刻有A值值,如0.25,0.65等。Metallurgical Microscopy instrument 明場(chǎng)暗場(chǎng)DIC不同顯微方法下的效果圖: 偏振光 熒光instrument 現(xiàn)代金相顯微鏡現(xiàn)代金相顯微鏡 傳統(tǒng)金相顯微鏡傳統(tǒng)金相顯微鏡特特 點(diǎn)點(diǎn)優(yōu)優(yōu) 點(diǎn)點(diǎn) 與現(xiàn)代金相顯微鏡比較與現(xiàn)代金相顯微鏡比較無限光學(xué)系統(tǒng)成象光束免受光學(xué)附件干擾有限光學(xué)系統(tǒng),成象光束易受光學(xué)附件干擾同焦面性設(shè)計(jì)更換目鏡與物鏡后無須重新調(diào)焦更換目鏡和物鏡后須重新調(diào)焦平場(chǎng)消色差物鏡初次放大實(shí)象直徑28mm初次放大實(shí)象直徑18mm20mm高倍干物鏡更高的放大倍數(shù);試

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