激光芯片測試

1、激光芯片測試:測試系統(tǒng)設備:CCD（2個）：上方用于俯視芯片位置，后方用于后視芯片和透鏡之間的距離。電流源（80-123mA）:經(jīng)過測試電流在這個范圍內，測試出來的光功率相對較大。給芯片提供電流。放置于芯片的兩側。透鏡（LENS）一對：用于將芯片發(fā)出的光進行匯聚到功率計的探頭上。透鏡有兩端，小端為進光口，大端為出光口。TEC（半導體制冷器）：DC=1v在溫度為15°C時，光功率最高。TEC的溫度通過調節(jié)供電電壓來調節(jié)，可以用萬用表的溫度檔檢測功率計(81618A/81533B):20mw注意事項：平時探頭不用時需要蓋上防塵帽，定期保養(yǎng)，用無塵布和酒精擦拭。光源：波長1310測試882

2、芯片波長1550測試871芯片光譜分析儀準直器：準直器型號（接頭）：APC（接頭為斜8度）-FC（金屬外殼）PC（平角）-FCSC（塑料外殼）TC（金屬外殼）測試參數(shù)：出光功率：P1P2（P1/P2如下圖）飽和光功率：Psat（測試條件：Pin=-3dbm）增益GainP（測試條件：Pin：-25dbm,入=1310nm）影響芯片出光的因素:熱敏電阻1,芯片的尺寸大小：例如820um和670um花匕王全錫捏赳走向幸存<57金錫焊料（導電）金錫焊料芯片電壓為0.68v芯片上（有導光槽）P1出光口一廣P2出光口測試系統(tǒng)平臺搭建:上（垂直方向）CCD鏡頭支架（上下左右前后可調），后（縱向）CC

3、D鏡頭支架（上下左右前后可調），供電探針支架正負極（2個上下左右前后可調），透鏡支架（2個上下左右前后可調），TEC托盤，功率計探頭支架（2個上下左右前后可調）設備儀器相關信息：電流源：E-TEKEA-3010LASERPOWERSUPPLY&STABILIZER功率計：Agilent8163ALightwaveMultimeter電壓源：HPE3620A0-25V0-1ADUALOUTPUTDCPOWERSUPPLY光譜分析儀（OSA）:HP70004A光源:HP8167BTUNABLELASERSOURSEF1310nm衰減器：Agilent8156AOpticalAttenuat

4、or待解決的疑惑：1 .電流源設置為123mA未加芯片默認值為101mA,加上芯片為123mA后來默認值為-0.05mA,加上芯片后為123mA,-0.05應該為正常值，需將未加芯片時的默認值校正為0mA電流源設置為80mA未加芯片默認值為80mA,加上芯片為80mA待測試2 .芯片導光槽出光角度，平面還是三維？3 .測試探頭的參數(shù)指標（性能）要求4 .如何保證測試平臺和環(huán)境的穩(wěn)定，及測試數(shù)據(jù)的穩(wěn)定與可靠。由于目前測試平臺和條件的限制，測試數(shù)據(jù)會出現(xiàn)不穩(wěn)定和較大的誤差。5 .出光功率P1和P2理論上應該時相等的，但實際相差很大，原因？理論上P1=P2，但是實際值是由于誤差和測試條件的限制，會有

5、一定的差距。6 .電流源上的LD和PD的作用？其和芯片LD和PD有何關系？LD為激光器發(fā)射芯片，PD為監(jiān)控芯片7 .激光芯片尺寸白定義？如882/871待查飽和光功率測試Psat:測試芯片：1550nm的激光器芯片測試設備：功率計和光源，光纖（一端是連接頭，另一端是準直器）將光源的輸出波長設置為1550nm,功率為-3dBm目前的測試方式是：,然后去掉一端的功率計探頭換成帶有將測試平臺的出光功率調試到最佳狀態(tài)（功率最大）準直器的光纖（光纖的另一端接光源）（光源）一1（光纖連接頭）一一_18a1550nm，直器fc*人-3dBm（光纖）-八八功率計探頭00增益測試P:目前的測試方式：如果光源不能直接提供需要的輸出功率（例如-25dBm），那就需