探槽地質(zhì)編錄規(guī)范

1、固體礦產(chǎn)勘查原始地質(zhì)編錄之一探槽（井）原始地質(zhì)編錄黃 與 能二八年四月重 點(diǎn) 提 示1編錄壁的選取及繪圖方向： 東西向探槽： 編北壁北高、南低或相近； 編南壁南高、北低。南北向探槽： 編東壁東高、西低或相近；編西壁西高東低。2分層：（1）分層單元：復(fù)雜礦體小于填圖單元；一般礦體同于填圖單元。（2）分層厚度及夾石剔除厚度：按工業(yè)指標(biāo)。（3）分層主要對(duì)象：不同礦體、不同礦石類型、不同工業(yè)品級(jí)、不同巖石類型、斷層上下盤礦體。3布樣：（1）沿厚度方向連續(xù)控制礦體及直接頂?shù)装濉＃?）布樣“三不”原則：不跨礦石類型、品級(jí)；不跨礦種（斷層）；樣長真厚不超過工業(yè)可采厚度。（3）巖石（脈巖）剔除原則：以工業(yè)指標(biāo)

2、的剔除厚度為準(zhǔn)、夾石薄時(shí)與低品位礦石合采貧化。（4）樣品編號(hào)：以任何時(shí)候都不至引起錯(cuò)混為準(zhǔn)。（5）布樣后應(yīng)及時(shí)采樣，特別是刻槽樣。4投影作圖：（1）主要地質(zhì)編錄要素：界線、產(chǎn)狀、樣品及標(biāo)本位置、導(dǎo)線點(diǎn)等按與基線的相對(duì)位置，按比例縮小描繪于坐標(biāo)紙上。（2）地質(zhì)體的取舍：圖上大于1mm的應(yīng)繪，特殊意義的不足1mm放大繪。（3）探槽拐彎處理：編錄壁及基線以及槽底與編錄壁的共用邊，在任何時(shí)候都應(yīng)連續(xù)繪制。方向變大時(shí)：在拐彎處裂開槽底的非共用邊（內(nèi)側(cè)邊），裂開夾角等于拐彎角度。方向變小時(shí)：在拐彎處斷開非共用邊，并切去一塊同于拐彎角度大小的重疊面后，與前一導(dǎo)線槽底相連接。5投影作圖原理：（1）面向編錄壁，

3、在坐標(biāo)紙上選擇合適位置，繪出第一基點(diǎn)及第一導(dǎo)線，每一導(dǎo)線起點(diǎn)均為0。（2）槽壁投影：每個(gè)要素點(diǎn)有兩個(gè)投影要素導(dǎo)線讀數(shù)及與導(dǎo)線的垂直距離。（3）槽底投影：先將各要素點(diǎn)按地質(zhì)走向投到壁底共用邊，然后按槽壁投影方法投影。（4）連圖：分類、分地質(zhì)體、分地質(zhì)界線相連成圖。6描述紀(jì)錄：（1）以基線為準(zhǔn)，依次逐一記錄。（2）巖性、礦體按分層為單元描述記錄：在基線中間分層時(shí)，分段描述記錄；跨導(dǎo)線分層時(shí)，將所跨導(dǎo)線內(nèi)的同一分層統(tǒng)一描述。7小園井編錄：編錄時(shí)特別注意安全！文圖合一。（1）左：投影面為規(guī)則的理想化的條形立面圖，基線垂直布置，各點(diǎn)按槽壁投影原理繪成柱狀圖。（2）右：地質(zhì)現(xiàn)象記錄于表右側(cè)。8淺井編錄：（

4、1）務(wù)必?fù)?jù)施工進(jìn)度及時(shí)分段編錄、采樣,并繪制井底掌子面圖。（2）首選壁：與勘查線方向有關(guān)。 南北勘查線北壁或正東壁； 東西勘查線北壁或正東壁； 北西、北東勘查線北西壁或北東壁。（3）基點(diǎn)只有一個(gè)，布于首選壁的左上角，基線下垂，多次編錄反復(fù)使用。（4）素描圖：四壁展開，各點(diǎn)依次水平投影到基線或它的平行邊上基線；井底正投影，同井多次編錄須投繪多個(gè)相應(yīng)的井底圖。（5）淺井編錄特別注意安全！9資料：巖相、基點(diǎn)基線、地質(zhì)、采樣等原始記錄及測試成果、實(shí)物、素描圖。目 錄1 槽井工程布置及施工管理11.1槽探11.1.1布置原則11.1.2施工管理11.2小園井21.2.1布置原則21.2.2施工管理21.

5、3淺井31.3.1布置原則32 編錄準(zhǔn)備工作43 確定探槽編錄壁及繪圖方向53.1東西向探槽53.1.1方向范圍53.1.2東西向探槽編錄壁及繪圖方向的確定63.2南北向探槽編錄壁及繪圖方向的確定83.2.1方向范圍83.2.2南北向探槽編錄壁及繪圖方向的確定94 探槽觀察、分層、布樣114.1觀察114.2分層124.3刻槽樣的布樣124.3.1刻槽樣位置124.3.2刻槽樣布置的三不原則134.3.3礦層中夾石（脈巖）剔除原則145 探槽編錄基線的設(shè)置166 探槽投影作圖176.1素描圖的基本原理176.2注意素描圖的真實(shí)性196.3地質(zhì)體的取舍196.4探槽拐點(diǎn)的處理206.5大坡度探槽

6、的槽壁素描226.6作圖基本步驟236.6.1合理布圖236.6.2標(biāo)繪基點(diǎn)基線。236.6.3 槽壁素描246.6.4槽底素描256.6.5標(biāo)注產(chǎn)狀、標(biāo)本、樣品位置267 探槽地質(zhì)描述記錄268 小園井地質(zhì)編錄。288.1投影面及基點(diǎn)、基線定位288.2地質(zhì)要素點(diǎn)的投影取值298.3地質(zhì)記錄及繪圖309 淺井地質(zhì)編錄319.1地質(zhì)編錄要求319.2淺井壁展開要求及方法329.2.1 確定首選壁（第一壁）329.2.2井壁展開方法339.2.3基點(diǎn)、基線布設(shè)349.2.4投影方法359.2.5素描圖內(nèi)容及要求409.2.6分段編錄及基線布置419.2.7野外編錄步驟419.2.8安全工作441

7、0 質(zhì)量檢查及資料整理4410.1質(zhì)量檢查4410.2資料整理4510.2.1記錄表4510.2.2素描圖整飾修改4511 槽井探工程原始地質(zhì)編錄應(yīng)提交的資料46探槽（井）原始地質(zhì)編錄1 槽井工程布置及施工管理槽井工程包括槽探,小園井及淺井 1.1槽探 1.1.1布置原則適合浮土深度不超過3米的地表；a.預(yù)查階段，大致垂直于礦（化）體，礦致異常，稀疏布置，長度以控制礦（化）體及異常為準(zhǔn)；b.普查階段，基本垂直于礦體走向，按控制333資源量的間距系統(tǒng)布置，必要時(shí)還應(yīng)較深部工程間距加密一倍。1.1.2施工管理確保施工及編錄人員安全，探槽垂深不準(zhǔn)超過3米；槽壁的傾角隨其穩(wěn)定性調(diào)整，槽底寬度一般不小于

8、0.6米，槽底應(yīng)揭露至基巖以下0.3米。1.2小園井1.2.1布置原則小園井主要是在地質(zhì)填圖中遇到大片浮土，而槽探又達(dá)不到地質(zhì)目的時(shí)，用以探索第四系厚度及了解下伏基巖巖性，因其施工方便，在礦區(qū)勘查中常用。 1.2.2施工管理小園井橫截面為園形，一般直徑0.81米。施工深度不超過5米。如果第四系穩(wěn)定性好、井下不充或少水，經(jīng)安全人員實(shí)地查看批準(zhǔn)，在有預(yù)防措施的條件下，園井深度可適當(dāng)加深施工。小園井揭露至基巖0.30.6米深度即視為達(dá)到地質(zhì)目的。當(dāng)施工條件有利而且礦層厚度較小，在允許施工深度可以揭穿礦層時(shí)，小園井也可起到淺井的探礦作用。這時(shí)，小園井也要求刻槽取樣。1.3淺井1.3.1布置原則淺井主要

9、用在掩蓋區(qū)揭露礦化、蝕變帶、礦層和物化探、重砂異常。一般為斷面較大的方井,井壁穩(wěn)定性差，己漸被取樣鉆等工程代替。1.3.2 淺井施工（含編錄采樣）過程中的安全工作應(yīng)引起足夠的重視。其中防垮塌，防掉塊尤其重要，因此及時(shí)編錄、采樣和及時(shí)架箱支護(hù)是防止井壁垮塌的主要措施。另外在編錄、采樣過程中，應(yīng)安排專人留守井口，防止掉塊、掉物傷人。配齊井下作業(yè)所需的安全裝備如安全帽等。2 編錄準(zhǔn)備工作探槽編錄組一般由23人組成：組長、作圖員，測手（可兼任）。 組長：一般由工程師或熟悉探槽編錄工作的技術(shù)人員擔(dān)任。 職責(zé)：全面負(fù)責(zé)編錄工作，主要分工地質(zhì)觀察、分層、布樣、文字紀(jì)錄。要求掌握有關(guān)規(guī)范，設(shè)計(jì)及工作細(xì)則，熟悉

10、探槽周圍地質(zhì)情況。 作圖員：一般由熟悉探槽編錄繪圖工作的技術(shù)人員擔(dān)任。 職責(zé)：協(xié)助組長工作，主要分工素描圖及其它適合兼任的工作。 測手：一般由技術(shù)人員或熟練的地質(zhì)工擔(dān)任。 職責(zé)：主要分工編號(hào)、打樁，基線布置、測量各類數(shù)據(jù)、采集標(biāo)本及各種揀塊樣（有時(shí)可由組長或作圖員、采樣工兼任）。3 確定探槽編錄壁及繪圖方向探槽方向總體可以歸為兩類: 近東西走向（以下簡稱東西向）和近南北走向（以下簡稱南北向）。3.1東西向探槽3.1.1方向范圍東西向探槽的西端在225°315°方向范圍內(nèi)，東端在45°135°方向范圍內(nèi)（圖1）rp圖1 探槽方向判定示意圖3.1.2東西向探

11、槽編錄壁及繪圖方向的確定 a.編錄北壁:北壁明顯高于南壁（這時(shí)，在北壁揭露出的基巖較南壁完整）或南北壁高低相近時(shí)：編錄壁首選北壁，繪圖方向:編錄人面向北壁素描作圖。探槽的西端（南西端北西端）放圖的左側(cè)，東端（北東端南東端）放圖的右側(cè)，探槽起點(diǎn)在西時(shí)，自西往東編錄，則自左往右作圖（如圖2a）；探槽起點(diǎn)在東時(shí)，自東往西編錄，則自右往左作圖（如圖2b）。圖2 東西向編北壁的繪圖方向示意圖編錄壁（北壁）繪于槽底平面圖的上方，如遇某段北壁基巖揭露不好，而剛好其對(duì)應(yīng)的南壁段基巖揭露較好的特殊情況時(shí)，可臨時(shí)將該段改為編錄南壁段（這時(shí)，北壁不作圖）將南壁的素描圖向下展開一-倒繪于槽底平面圖的下方（與北壁成鏡像

12、），此時(shí)應(yīng)特別注意界線位置及產(chǎn)狀。b.編錄南壁:當(dāng)南壁明顯高于北壁（這時(shí)，在南壁揭露出的基巖較北壁完整），編錄壁首選南壁，編錄人面向南素描作圖，探槽的東端放圖的左側(cè)，西端放圖的右側(cè)。當(dāng)探槽起點(diǎn)在東端時(shí)，自東往西編錄，則自左往右作圖（如圖3a）；探槽起點(diǎn)在西時(shí)，自西往東編錄，則自右往左作圖（如圖3b）。編錄壁（南壁）繪于槽底平面圖的上方，如遇壁上基巖揭露不好的特殊情況，處理原則同上。圖3 探槽方向判定示意圖3.2南北向探槽編錄壁及繪圖方向的確定3.2.1方向范圍南北向探槽的北端在315°45°方向范圍內(nèi)，南端在135°225°范圍內(nèi)（圖4b）。圖4 東西向

13、編南壁的繪圖方向示意圖3.2.2南北向探槽編錄壁及繪圖方向的確定a.編錄東壁:當(dāng)東壁明顯高于西壁（這時(shí)，在東壁揭露出的基巖較南壁完整）或東西壁高低相近時(shí)，編錄壁首選東壁。編錄人面向東素描作圖。探槽的北端放圖的左側(cè)，南端放圖的右側(cè)。探槽起點(diǎn)在北時(shí)，自北往南編錄，則自左往右作圖（如圖5a）；探槽起點(diǎn)在南時(shí)，自南往北編錄，則自右往左作圖（如圖5b）。編錄壁（東壁）位于槽底平面圖的上方，如遇壁上基巖揭露不好的特殊情況時(shí)，處理原則同前。b.編錄西壁；當(dāng)西壁明顯高于東壁（這時(shí)，在西壁上揭露出的基巖較西壁完整），編錄壁首選西壁，編錄人面向西素描作圖。探槽的南端放圖的左側(cè)，西端放圖的右側(cè)。當(dāng)探槽的起點(diǎn)在南端時(shí)

14、，自南往北編錄則自左往右作圖（如圖6a）；探槽起點(diǎn)在北時(shí)，自北往南編錄，則自右往左作圖（如圖6b）。圖6 南北向編西壁的繪圖方向示意圖編錄壁（西壁）位于槽底平面圖的上方，如遇壁上基巖揭露不好的特殊情況時(shí)，處理原則同前。當(dāng)西壁明顯高于東壁（這時(shí)，在西壁上揭露出的基巖較西壁完整），編錄壁首選西壁，編錄人面向西素描作圖。探槽的南端放圖的左側(cè)，西端放圖的右側(cè)。當(dāng)探槽的起點(diǎn)在南端時(shí)，自南往北編錄則自左往右作圖（如圖6a）；探槽起點(diǎn)在北時(shí)，自北往南編錄，則自右往左作圖（如圖6b）。編錄壁（西壁）位于槽底平面圖的上方，如遇壁上基巖揭露不好的特殊情況時(shí)，處理原則同前。4 探槽觀察、分層、布樣 4.1觀察由組長

15、帶領(lǐng)編錄人員共同觀察擬編錄探槽中的地質(zhì)現(xiàn)象（必要時(shí)還應(yīng)觀察探槽附近有關(guān)地質(zhì)現(xiàn)象），確定基巖面、分層并布樣。有兩壁一底探槽，一般情況下，只作一壁一底展開圖。確定基巖面：壁上的基巖高度應(yīng)不小于30cm，通過觀察，正確判斷殘坡積物與風(fēng)化基巖的界線。4.2分層分層單元視礦體復(fù)雜程度而定，復(fù)雜的礦體分層單元應(yīng)小于礦區(qū)填圖單元，一般礦體同礦區(qū)填圖單元一致，分層厚度及夾石剔除厚度按工業(yè)指標(biāo)或設(shè)計(jì)要求，不同礦（化）體層，不同礦石類型和工業(yè)品級(jí)、不同巖石類型和較大構(gòu)造應(yīng)分開。 4.3刻槽樣的布樣4.3.1刻槽樣位置布樣應(yīng)在觀察、分層的基礎(chǔ)上進(jìn)行。樣品應(yīng)沿礦體厚度方向、分段連續(xù)布置于探槽中靠近編錄壁的槽底或編錄壁

16、的下部，4.3.2刻槽樣布置的三不原則a.同一件樣不得跨越不同礦石類型、品級(jí)b.同一件樣不得跨越不同礦種或不同礦層，見圖7、8。圖7 不同礦種（層）分開取樣示意圖圖8 不同自然類型及工業(yè)品級(jí)應(yīng)單獨(dú)取樣c.單樣樣長代表的真厚度一般不應(yīng)超過該礦種的工業(yè)可采厚度，如圖47a中，銅礦一般工業(yè)可采厚度12m，而現(xiàn)在布樣長度代表真厚度達(dá)4m，樣品過長，應(yīng)分為2件樣，見圖9b。圖9 單樣樣長所代表的真厚度一般不超過該礦種的工業(yè)可采厚度當(dāng)?shù)V體與圍巖有明顯的區(qū)別，礦體厚度較大，礦石類型比較簡單，礦化均勻，則樣長可以適當(dāng)放大。4.3.3礦層中夾石（脈巖）剔除原則a.礦層中夾石（脈巖）厚度工業(yè)指標(biāo)的剔除厚度（礦區(qū)設(shè)

17、計(jì)中應(yīng)確定）時(shí)，礦石與夾石分別采樣；見圖10。b.礦層中夾石（脈巖）厚度小于剔除厚度時(shí)，應(yīng)合并到相鄰低品級(jí)礦石樣中自然貧化，見圖10、11。圖10 夾石與礦層采樣示意圖圖11 脈巖剔除原則4.3.4礦層的頂?shù)装灞仨毟饔幸患刂茦悠?.3.5樣品編號(hào)原則：化學(xué)樣編號(hào)為化學(xué)分析樣代號(hào)H+工程編號(hào)+該工程中本類樣品順序號(hào)組成（其他手標(biāo)本、薄片、光片、大小體重等樣品號(hào)原則類似）。在實(shí)際工作時(shí)，同一探槽中，第一件樣及最后一件樣編號(hào)保持完整，而中間的樣品編號(hào)可省略工程號(hào)。樣品布好后，應(yīng)及時(shí)打上編號(hào)的樣樁，每件樣的起止端，都應(yīng)打上樣樁。樣品編號(hào)及樣樁布設(shè)如圖12：圖12 樣樁布設(shè)圖5 探槽編錄基線的設(shè)置基線

18、布置在編錄壁上?；€位置宜選擇在基巖與浮土的分界線附近，但工程起、止兩個(gè)端點(diǎn)宜布在地表以便定測及照顧素描。當(dāng)探槽過長或有拐彎時(shí)，應(yīng)分段設(shè)置基點(diǎn)及基線（如圖13）。圖13 基線布設(shè)圖操作方法：在基點(diǎn)處打上編好號(hào)的基線樁，然后用皮尺拉緊固定在兩個(gè)基線樁上部就成為基線，第一條基線起點(diǎn)為零。測量方位角及坡度角：組長及測手分別作為前、后測手，用羅盤測定皮尺的方位角和坡度角，二者的讀數(shù)誤差在3°之內(nèi)時(shí)，取平均值作為基線的方位角和坡角。6 探槽投影作圖6.1素描圖的基本原理 通過測量槽壁及槽底上的各地質(zhì)編錄要素（界線、產(chǎn)狀、標(biāo)本及樣品位置等）與基線的相對(duì)位置，按比例縮小后描繪到坐標(biāo)紙上，成為一張真

19、實(shí)地反映探槽中各種地質(zhì)現(xiàn)象的槽壁、槽底展開圖。 槽壁、槽底在素描圖上的位置：編錄壁按比例縮小后繪于素描圖的上方，槽底繪于圖的下方，與槽壁之間應(yīng)留1cm以上間隔（以便標(biāo)注產(chǎn)狀、樣號(hào)等），槽底按正投影繪成等寬的條帶狀，其寬度一般為11.5cm；局部地段遇特殊情況，需加繪另一槽壁時(shí)，則展開投繪在槽底的下方（見圖14）。圖14 槽壁、槽底位置示意圖6.2注意素描圖的真實(shí)性作圖時(shí)須根據(jù)有限的特征點(diǎn)，參看地質(zhì)體實(shí)際形態(tài)勾繪成圖（如透鏡狀、波狀、分枝狀等）。6.3地質(zhì)體的取舍按比例縮小后的寬度大于1mm的地質(zhì)體均應(yīng)素描到圖上；有特殊意義的小礦體或地質(zhì)現(xiàn)象雖不足1mm，也應(yīng)適當(dāng)放大比例尺表示，其方法一般是從該

20、點(diǎn)引出圖外作一小幅放大的素描圖（見圖15）。圖15 特殊地質(zhì)現(xiàn)象放大素描圖6.4探槽拐點(diǎn)的處理 6.4.1拐彎小于15度時(shí)，連續(xù)繪圖。探槽方向變化的方位差小于15度時(shí)，應(yīng)在拐點(diǎn)處設(shè)基點(diǎn)，槽壁及槽底均可連續(xù)繪圖。6.4.2拐彎大于15度時(shí)，采用裂開或重疊法繪圖。a.注意：編錄壁在任何時(shí)候仍都應(yīng)該連續(xù)繪制（因?yàn)榫庝洷诩盎€始終是連續(xù)的），槽底與編錄壁的共用邊也是連續(xù)的，只是槽底裂開或重疊。b.當(dāng)拐彎方向背離前一編錄導(dǎo)線方向時(shí)（前進(jìn)方向變大），裂開槽底非共用邊線，其裂開角度等于導(dǎo)線拐彎方位差，而槽壁連續(xù)繪圖，見圖16。圖16 方向增大15°以上探槽底、壁繪制示意圖c.當(dāng)拐彎方向較前一編錄導(dǎo)

21、線方向變小時(shí)，斷開槽底非共用邊線，將槽底重疊，其重疊夾角等于拐彎方位差，而槽壁連續(xù)繪圖，見圖17。圖17 方向減小15°以上探槽底、壁繪制示意圖6.5大坡度探槽的槽壁素描 大坡度探槽的槽壁可分段垂直上下移動(dòng)成鋸齒狀（槽底仍然連續(xù)。這時(shí)要注意各段之間的地質(zhì)要素應(yīng)嚴(yán)格扣合）圖18。 圖18 上下移動(dòng)槽壁示意圖6.6作圖基本步驟 作圖員面向編錄壁操作：6.6.1合理布圖首先根據(jù)探槽的長度，高差等計(jì)劃好圖名、比例尺、基線起點(diǎn)、槽壁、槽底、責(zé)任表及樣品分析結(jié)果表在坐標(biāo)紙上的相應(yīng)位置，要求布局合理，整齊美觀。使用礦區(qū)統(tǒng)一圖例。6.6.2標(biāo)繪基點(diǎn)基線。圖上確定的第一條基線起點(diǎn)編號(hào)為0（基點(diǎn)位置畫2

22、mm直徑的圓圈、圓心加點(diǎn)），以0點(diǎn)開始，用測出的坡度角在坐標(biāo)紙上畫出基線并按比例尺確定該基線在圖上的長度、該基線的終點(diǎn)為基點(diǎn)。以次類推標(biāo)繪其他基點(diǎn)基線。6.6.3 槽壁素描各導(dǎo)線起點(diǎn)讀數(shù)均為0m，測手測量并報(bào)出各地質(zhì)要素特征點(diǎn)相對(duì)于基線的坐標(biāo)位置。設(shè)各點(diǎn)鉛垂投影到基線上的位置為Xm，即皮尺上的讀數(shù)，該點(diǎn)距基線的鉛垂距離為Y米（分基線上或基線下，用標(biāo)桿丈量出數(shù)據(jù)），作圖員便可據(jù)此將各點(diǎn)位置投到圖上、并分類聯(lián)接成圖。如圖，地表點(diǎn)a垂直投在導(dǎo)線上的點(diǎn)為a，a在皮尺（導(dǎo)線）上的讀數(shù)為5.5m。a點(diǎn)距導(dǎo)線的垂距a-a為1.9m（讀成基上1.9m），則a點(diǎn)的X坐標(biāo)=5.5m。Y坐標(biāo)=基上1.9m，據(jù)此即可

23、在圖上確定出a點(diǎn)位置，再依次確定出地表b點(diǎn)的位置。這樣依次連接o、a、b點(diǎn)即成地形線（地表線）。將c、d、e點(diǎn)相聯(lián)為基巖線；將f、q、j點(diǎn)相聯(lián)為槽底線；將k、i點(diǎn)相聯(lián)為礦體頂界；將n、m點(diǎn)相聯(lián)為礦體底界。6.6.4槽底素描測手將槽底上的各編錄要素點(diǎn)先按地質(zhì)走向投到槽底與槽壁交界處，然后再垂直投到基線上報(bào)出該點(diǎn)在基線上的一個(gè)讀數(shù)點(diǎn)（X坐標(biāo)），作圖員即可將該點(diǎn)自基線上投影到槽底圖上將地質(zhì)體、樣品等繪出（因槽底為平面圖，故無Y坐標(biāo)點(diǎn)）。破碎帶控制點(diǎn)a、b及樣槽控制點(diǎn)c、d、e、f各點(diǎn)在基線上的投影點(diǎn)分別為a、b、c、d及f，據(jù)其在導(dǎo)線上的讀數(shù)在圖上反投影到槽底上，然后根據(jù)走向素描成圖（見圖19）。圖

24、19 槽底投影素描示意圖6.6.5標(biāo)注產(chǎn)狀、標(biāo)本、樣品位置測量產(chǎn)狀、標(biāo)本、樣品的位置并用符號(hào)標(biāo)注在圖上（方法同上）7 探槽地質(zhì)描述記錄 文字記錄要求采用DZ/T007893表A5坑探工程原始地質(zhì)記錄表。記錄順序以編錄基線為單位，從01基線開始一段接一段依次進(jìn)行。巖層分層界線位置、斷層線位置、標(biāo)本采集位置、產(chǎn)狀測量位置等都應(yīng)以投影時(shí)在基線上的交點(diǎn)距離為準(zhǔn)。 巖性描述與礦層（體）描述要求分層進(jìn)行，如一條基線包涵了兩種巖性層時(shí)，應(yīng)分段進(jìn)行描述，如果幾條基線只控制了一種巖性層時(shí)，則將幾條基線距離合并作一次性描述。 表中“地質(zhì)描述”一欄，主要是：巖石名稱，巖石特征（顏色、風(fēng)化特征、成分、結(jié)構(gòu)構(gòu)造）；巖礦

25、石名稱、礦化特征、穿插關(guān)系、厚度；地質(zhì)體及地質(zhì)構(gòu)造特征、產(chǎn)狀等。 表中“補(bǔ)充描述”是古生物及遺跡化石、蝕變及礦化現(xiàn)象。 坡度、分層位置、斷層位置、礦體（層）頂?shù)装逦恢?，產(chǎn)狀及手標(biāo)本、揀塊樣等位置數(shù)據(jù)都要求素描圖和文字記錄完全一致。8 小園井地質(zhì)編錄。8.1投影面及基點(diǎn)、基線定位小園井一般在浮土（或強(qiáng)風(fēng)化）區(qū)起代替地質(zhì)點(diǎn)的作用，編錄簡單。基點(diǎn)定位：將小園井在地表與勘探線方向交北點(diǎn)作為基點(diǎn)（選擇正北、北西、北東、正東方位點(diǎn)），導(dǎo)線自基點(diǎn)往下自然下垂（如圖24中的a、b、c、d）?；€自基點(diǎn)用皮尺鉛直布設(shè)到井底，基線通過的一壁為編錄壁。投影面定位：繪制通過基點(diǎn)并垂直勘探線方向的一個(gè)理想化的規(guī)則矩形圖

26、作為投影面，投影面的寬度為小園井的直徑，高度為小園井深（均按比例繪制）如小園井投影面及基點(diǎn)定位示意圖20。圖20 小園井投影面及基點(diǎn)定位示意圖8.2地質(zhì)要素點(diǎn)的投影取值通過基點(diǎn)沿投影面的水平方向?yàn)閄坐標(biāo)，各點(diǎn)的X坐標(biāo)為該點(diǎn)至基線的直距，在基線左側(cè)為負(fù)值，在基線右側(cè)取正值；Y坐標(biāo)為該點(diǎn)垂直投影于基線上的讀數(shù)，投影取值如圖21：基巖界線ab的a點(diǎn)、b點(diǎn)坐標(biāo)分別為：a點(diǎn) x=aa-0.5m b點(diǎn)xbb0.50m y=ya3.65m y=yb4.00m圖21 投影取值示意圖8.3地質(zhì)記錄及繪圖由于小園井范圍小，所揭示的地質(zhì)現(xiàn)象有限，在編錄時(shí)可以作簡單的素描圖和文字記錄于“小園井地質(zhì)記錄表”中。在素描圖

27、中，編錄壁繪成一柱狀圖格式，依次將基線通過的地質(zhì)界線、產(chǎn)狀、樣品的位置記錄在表中，并展繪到柱狀圖上。將觀察到的地質(zhì)現(xiàn)象記錄在相應(yīng)欄目中，即成小園井地質(zhì)記錄表（圖22）。圖22 小園井地質(zhì)記錄表9 淺井地質(zhì)編錄9.1地質(zhì)編錄要求編錄及時(shí)性：由于淺井施工中常常需要進(jìn)行井壁支護(hù)，從而遮蓋了所揭露的地質(zhì)現(xiàn)象。因此在施工過程中，編錄人員經(jīng)常與施工人員取得聯(lián)系，掌握工程進(jìn)度，及時(shí)進(jìn)行編錄和采樣。素描圖比例尺：淺井用于揭露礦層（體）或地質(zhì)界線時(shí)，素描圖比例尺一般為1100，而對(duì)某些有特殊要求的礦種和地質(zhì)現(xiàn)象，可在設(shè)計(jì)書中規(guī)定放大到150。9.2淺井壁展開要求及方法淺井素描圖繪兩壁及底或四壁及底（等距離或不等

28、距離的井底掌子面）。9.2.1 確定首選壁（第一壁）a.勘查線方向呈南北向時(shí)，可選擇正北壁為第一壁，也可選擇正東壁為第一壁；b.勘查線方向呈東西向時(shí)，可選擇正北壁為第一壁，也可選擇正東壁為第一壁。c.勘查線方向呈北西南東向時(shí)，可選擇北西壁為第一壁，也可選擇北東壁為第一壁；d.勘查線方向呈北東南西向時(shí)，可選擇北西壁為第一壁，也可選擇北東壁為第一壁。9.2.2井壁展開方法淺井形態(tài)有正方形和長方形兩種，四壁展開應(yīng)根據(jù)淺井長、寬規(guī)格作展開輪廓圖。四壁展開作圖法（見圖23）。圖23 四壁展開平面示意圖選北壁作第一壁后，北壁不動(dòng)，從北壁與西壁結(jié)核菌處斷開，將西、南、東三個(gè)壁同時(shí)作逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)，直至與第一壁構(gòu)

29、成一個(gè)平面，則為四壁展開圖（見圖24）。圖24 井壁展開剖面示意圖9.2.3基點(diǎn)、基線布設(shè)基點(diǎn)要求布設(shè)在第一壁的左上角處，基點(diǎn)又是淺井定位時(shí)的坐標(biāo)點(diǎn)?；€自基點(diǎn)O米呈鉛直往井底布設(shè)（見圖25）。 圖25 基點(diǎn)基線布設(shè)圖淺井中點(diǎn)的投影圖9.2.4投影方法a.井壁投影作圖法井壁上各地質(zhì)要素采用垂直投影方法，基線作鉛垂坐標(biāo)，鋼卷尺作水平坐標(biāo)進(jìn)行投影作圖。點(diǎn)的投影方法：點(diǎn)的投影方法如圖26所示，在淺井第一壁和第二壁上分別采了薄片標(biāo)本b1、b2兩塊（見圖26）。b1位置投影，用鋼卷尺自b1點(diǎn)呈水平狀交于基線1.5mA點(diǎn)處，A點(diǎn)至b1水平距1.4m，即b1坐標(biāo)為基線1.5m，水平1.4m。b2位置投影，用

30、鋼卷尺自b2點(diǎn)呈水平狀交于第一壁與第二壁交線上B點(diǎn)，再自B點(diǎn)水平延長交于基線上B點(diǎn)2.3m處，b2至B水平距1.5m，即b2坐標(biāo)（第二壁上）為基線上2.3m，水平1.5m。 圖26 淺井中點(diǎn)的投影圖最后利用b1、b2坐標(biāo)數(shù)值展繪于淺井展開圖的第一壁和第二壁上。b.界線投影方法：圖27a的淺井立體圖中選北西壁為第一壁，它垂直勘查線方向，因此第一壁和第三壁上反映了鐵礦層的走向方向，第二壁和第四壁平行勘查線方向，壁上表現(xiàn)是鐵礦層的傾斜方向。淺井立體圖中，ABCD及EFGH分別為鐵礦層的頂、底界面，投影素描鐵礦界線時(shí)，只需要投影A、B、C、D、E、E、G、H 8個(gè)點(diǎn)的垂直坐標(biāo)即可，因?yàn)樗鼈兎謩e位于淺井

31、四壁的交線上，它們的水平坐標(biāo)均可視為零值。用點(diǎn)的投影方法，A、B、C、D四點(diǎn)的坐標(biāo)為：A點(diǎn)鉛直坐標(biāo)數(shù)1.8m；B點(diǎn)鉛直坐標(biāo)數(shù)1.8m；C點(diǎn)鉛直坐標(biāo)數(shù)4.8m；D點(diǎn)鉛直坐標(biāo)數(shù)4.8m。最后將各點(diǎn)的鉛直坐標(biāo)，在展開圖每兩壁交線上分別找到A、B、C、D點(diǎn)的位置，隨手連接相鄰?fù)队包c(diǎn)構(gòu)成一條較園滑的曲線（絕不能勾成折線），即為淺井展開圖上四個(gè)壁的鐵礦層頂界線，按此方法再依次投影E、F、G、H 4個(gè)鐵礦層底界線點(diǎn)（見圖27b）。圖27 界線投影示意圖c.淺井底的投影作圖方法如圖24中淺井底按正投影繪制。淺井底呈水平的正方形或長方形，底上繪制的各類界線均為相關(guān)地質(zhì)體走向線。點(diǎn)投影方法與作圖：淺井底面任一投影

32、點(diǎn)，可向井底任意一邊作垂直投影交于底邊上一點(diǎn)，則該交點(diǎn)到底邊端點(diǎn)距離和該交點(diǎn)到投影點(diǎn)距離即為投影點(diǎn)的兩個(gè)平面坐標(biāo)數(shù)值（見圖28a）。b為井底一投影點(diǎn)。自b點(diǎn)向一壁底邊AB垂直投影交點(diǎn)O，鋼卷尺直接丈量AO距離0.9m，Ob距離1.0m。作圖方法見淺井展開圖中基線2.5m的井底圖，自一壁基線2.5（A1點(diǎn)位置）沿底邊按比例尺量0.9m為O點(diǎn)，自O(shè)點(diǎn)垂直AO線量1.0m得b點(diǎn)。界線投影與作圖：由淺井立體圖可見，2.5米處井底面ABCD與巖層分界面ABCD交于淺井2壁和4壁底線上F、E兩點(diǎn)，EF為井底分界線（見圖28b）。從立體圖可見，求E、F兩點(diǎn)位置無須投影，直接丈量A-E和B-F距離即可。AE、

33、BF均為0.7m。作圖方法：在淺井展開圖的井底圖中，自A點(diǎn)沿4壁底邊量0.7m長為E點(diǎn)，再自B點(diǎn)沿2壁底邊量0.7m長為F點(diǎn)，連接EF即為井底面上分層界線。也可從E點(diǎn)或F點(diǎn)按界線走向直接繪制。圖28 井底投影示意圖9.2.5素描圖內(nèi)容及要求a.野外繪制素描圖要求真實(shí)、準(zhǔn)確，內(nèi)容包括有巖性分層界線、礦層（體）界線、蝕變帶，斷層及破碎帶、樣品位置及編號(hào)、產(chǎn)狀等等。b.素描的精度要求是：凡地質(zhì)體或地質(zhì)現(xiàn)象在不同比例尺的素描圖上寬（厚）度1mm，長度3mm者，都屬于素描對(duì)象，圖上必須反映。如素描圖是150，實(shí)際地質(zhì)體寬（厚）度5cm，長度15cm都要求反映到圖上。9.2.6分段編錄及基線布置a.要求分

34、段編錄:淺井在施工進(jìn)程中為防止松散層垮塌，往往需要架箱支護(hù)，因此地質(zhì)編錄應(yīng)隨著施工進(jìn)度分段進(jìn)行。b.在分段編錄的全過程中，要求每次編錄的基線布置都應(yīng)從井口基點(diǎn)處統(tǒng)一從零米開始懸掛皮尺，以保證上次編錄末端井深與這次編錄的開始井深數(shù)據(jù)完全吻合，避免重新布設(shè)基點(diǎn)出現(xiàn)井深誤差。9.2.7野外編錄步驟a.確定第一壁：按照礦區(qū)的統(tǒng)一規(guī)定，在淺井工程實(shí)地位置確定第一壁及其方位，同時(shí)丈量淺井四壁規(guī)格。b.布設(shè)基點(diǎn)（木樁）、基線：在第一壁和第四壁交線井口處，打入編有淺井編號(hào)的木樁即為基點(diǎn)，基點(diǎn)亦是淺井的坐標(biāo)點(diǎn)?；€是用皮尺的零米點(diǎn)固定在木樁（基點(diǎn)）上，并沿第一壁和第四壁鉛垂懸掛而成。c.繪制淺井空白圖作圖人員在進(jìn)入井下之前，在方格米厘紙上照1、2、3、4壁的實(shí)際規(guī)格或平均規(guī)格，按比例尺依次展開，同時(shí)繪上基點(diǎn)，基線和第一壁方向，即為淺井空白圖，作井下編錄使用。d.投影作圖編繪淺井素描草圖按照點(diǎn)投影、線投影的方法和要求，對(duì)淺井編錄壁（兩壁或四壁）上各分層界線、礦層（體）界線，