CPK培訓(xùn)教材 (2)ppt課件

1、CpK基礎(chǔ)培訓(xùn)教材.目錄第一部分根本概念與公式介紹第二部分提高過程才干指數(shù)的途徑第三部分過程才干的調(diào)查第四部分Cpk的應(yīng)用.第一部分根本概念與公式介紹.何謂統(tǒng)計？統(tǒng)計:-搜集的數(shù)據(jù)經(jīng)過計算從而得到有意義的情報的活動何謂有意義的情報？ 至少應(yīng)包括：集中趨勢 + 離中(離散)趨勢 .“集中趨勢 “平均值.平均值概念: 表示數(shù)據(jù)集中位置，數(shù)據(jù)算術(shù)平均數(shù)， 常用符號 表示。 N:表示樣本數(shù) 例:有統(tǒng)計數(shù)據(jù)2,3,4,5,6五個數(shù)據(jù)，那么其平均數(shù)據(jù)為： 2+3+4+5+6 X = =4_ x5_ X = xN.“離中(離散)趨勢 全距&極差 R 標(biāo)準(zhǔn)差 .全距極差概念: 將樣本資料按大小順序陳列，數(shù)列中

2、最大值Xmax與最小資料Xmin之差 稱爲(wèi)樣本的極差。常用符號 R 表示，其計算公式爲(wèi)：式中 Xmax 表示一組數(shù)據(jù)中的最大值， Xmin 表示一組數(shù)據(jù)中的最小值例如：有3，6，7，8，10五個資料組成一組，則極差R=10-3=7 R=Xmax Xmin.Sigma (規(guī)范偏向) 由此可見 Sigma ()即是-變異,學(xué)術(shù)名詞叫規(guī)范偏向Sigma ()表示數(shù)據(jù)的離散程度 ( X - X )i-1=n1 2n什么是標(biāo)準(zhǔn)差?.(7)(1)(3)(5)A槍手b槍手7531107531C槍手飛標(biāo)圖解.母 體樣本 S=樣本標(biāo)準(zhǔn)差( X - X )S =n-11 2ni-1 因為標(biāo)準(zhǔn)差是用數(shù)據(jù)整體計算，所

3、以當(dāng)數(shù)據(jù)量大太時，就不便以操作,而且不符合現(xiàn)場需求。所以普通情況下, 會用樣本標(biāo)準(zhǔn)差S來替代S樣本標(biāo)準(zhǔn)差 S樣本:從總體中隨機抽取的假設(shè)干個個體的總和稱爲(wèi)樣本。 組成樣本的每個個體稱爲(wèi)樣品。 R/ d2S=另一種計算公式.過程才干分析 Cpk 、 Cp、 Ca.A: 每件産品的尺寸與別的都不同 數(shù)據(jù)的分布B:但它們構(gòu)成一個模型，假設(shè)穩(wěn)定，可以描畫爲(wèi)一個分佈 C:數(shù)據(jù)會有不同的分布型態(tài)，正態(tài)分布為 鐘型.CP Capability of Precision精確度： 是衡量工序才干對産品規(guī)格要求滿足程度的數(shù)量值，記爲(wèi)Cp。通常以規(guī)格範(fàn)圍T與工序才干 6* 的比值來表示。即： 不精細(xì)精細(xì)Cp=T/6

4、=規(guī)格公差/6*標(biāo)準(zhǔn)差規(guī)格公差=USL-LSL=規(guī)格上線-規(guī)格下線.精細(xì)度表示什麼 1. 製程精細(xì)度，其值越高表示製程實際值間的離散程度越小，亦即表示製程穩(wěn)定而變異小離中趨勢，與有關(guān)。 2. 當(dāng)公差範(fàn)圍內(nèi)能納入愈多的個數(shù)，則此製程表現(xiàn)愈好，其本身是一種製程固有的已決定的特性值，代表一種潛在的才干 Cp=T/6=規(guī)格公差/6*標(biāo)準(zhǔn)差規(guī)格公差=USL-LSL=規(guī)格上線-規(guī)格下線.精細(xì)度評價Cp 值製程等級圖 例說 明Cp 1.67較佳表示:工序能力過分充裕，有很大的貯備不合格品率p0.00006%1.67 Cp 1.33A(合格)對精密加工而言，工序能力適宜；對一般加來說工序能力仍比較充裕，有一定

5、貯備 不合格品率0.00006%p0.006% 1.33 Cp 1.00B(警告)對一般加工而言，工序能力適宜不合格品率0.006%p0.27% 1.00 Cp 0.67C(不足)工序能力不足，不合格品率較高不合格品率0.27%p4.55%.CaCapability of Accuracy準(zhǔn)確度: 代表製程平均值偏離規(guī)格中心值之程度。假設(shè)其值越小，表示製程平均值越接近規(guī)格中心值，亦即品質(zhì)越接近規(guī)格要求之水準(zhǔn)集中趨勢，與 有關(guān)，值越大，表示製程平均值愈偏離規(guī)格中心值，所呵斥的不良率將愈大 _ x準(zhǔn)確度好準(zhǔn)確度差LSL USLMMUSL= 規(guī)格上限 LSL= 規(guī)格下限 M = 規(guī)格中心LSL US

6、L.CaCapability of Accuracy準(zhǔn)確度USL=規(guī)格上限 LSL=規(guī)格下限 T=規(guī)格允差. ，T =ULS - LSl 制程平均值-規(guī)格中心值規(guī)格允差之半=Ca =* 100%X - MT/2* 100%即偏移系數(shù)( k ) =Ca.偏移係數(shù)USL=規(guī)格上限 LSL=規(guī)格下限 T= 規(guī)格允差. ，T = USL - LSLLSLUSLT = USL - LSLK偏移量=_ xM=T/2M - _ x偏移係數(shù) K M - _ x.Ca 等級評定后處理原則:A: 作業(yè)員依作業(yè)標(biāo)準(zhǔn).繼續(xù)維持.B: 尚可，有必要時.盡能夠改為A級C: 作業(yè)員能夠看錯規(guī)格或未照作業(yè)標(biāo)準(zhǔn)操作,應(yīng)加強訓(xùn)練

7、, 檢討規(guī)格及作業(yè)標(biāo)準(zhǔn).D: 應(yīng)采取緊急措施.全面檢討能夠影響要素.必要時停產(chǎn).實績實績實績XXXA級B級C級D級規(guī)格中心值規(guī)格上限下限12.5%25%50%100%等級之講解.讓我們回憶下 Cp與 Ca 的關(guān)係不精細(xì) 精細(xì)準(zhǔn)確 不準(zhǔn)確 .CPK製程才干指數(shù) 一種用以量度某一特性的變化趨勢及概率的統(tǒng)計指標(biāo). CPK=CP*(1- Ca ) =T/6*【1- 2(M-X)/T 】 : 標(biāo)準(zhǔn)差 M : 規(guī)格中心公式一 公式二 Cpk=min( ， )即取兩者最小值，但不論采用那種方式，結(jié)果都是一樣的。.僅給出規(guī)格上限Su 各種規(guī)格型態(tài)下的CpkfxSLx- SLfxSUx僅給出規(guī)格下限SL Su

8、-單邊公差時：由於沒有規(guī)格中心值，故Ca =N/A，故定義Cpk=Cp .Cpk制程才干指數(shù)等級評定后處置原那么Cpk等級之處置級：制程才干足夠級：制程才干尚可，應(yīng)再努力級：制程應(yīng)加以改善等級Cpk值1.33 Cpk1.00 Cpk 1.33Cpk 1.00.CpK籠統(tǒng)比喻Cpk好像開車過小橋1.車身的太小好像Cp好壞(固有的品質(zhì)特性)2.橋好像工程規(guī)格大小2.開車的技術(shù)好像Ca好壞TIME.第二部分提高過程才干指數(shù)的途徑.當(dāng)Cp及Cpk都較小且二者差別不大時(比如Cp=0.72, Cpk=0.69),說明過程的主要問題是太大,改進(jìn)過程應(yīng)首先著眼于降低過程的波動。假設(shè)Cp較大,而Cpk很小(比

9、如Cp=1.43, Cpk=0.72),二者差別較大,說明過程的主要問題是平均值偏離中心值太多,改進(jìn)過程應(yīng)首先著眼于移動平均值,使之更接近中心值。假設(shè),Cp本不夠好,Cpk更小(比如Cp=0.84, Cpk=0.35),二者差別較大時,說明過程的及都有問題,通常改進(jìn)過程應(yīng)首先移動值,使之更接近M,然後設(shè)法降低過程的波動。留意,不要單獨運用這兩個之中的一個。Cp及Cpk值解讀.提高過程才干指數(shù)的途徑根據(jù)公式可知，影響過程才干指數(shù)有3個變量：1.過程加工的分布中心與公差中心的偏移量 K Ca；2.過程加工的質(zhì)量特性分散程度，即規(guī)范偏向 。3.產(chǎn)質(zhì)量量規(guī)范公差范圍T CPK=CP*(1- Ca )C

10、p=T/6.1.調(diào)整過程加工的分布中心，減少中心偏移量。經(jīng)過搜集數(shù)據(jù)，進(jìn)展統(tǒng)計分析，找出大量延續(xù)消費過程中由于工具磨損、加工條件隨時間逐漸變化而產(chǎn)生偏移的規(guī)律，及時進(jìn)展中心調(diào)整，或采取設(shè)備自動補償偏移或刀具自動調(diào)整和補償?shù)?；根?jù)中心偏移量，經(jīng)過首件檢驗，可調(diào)整設(shè)備、刀具等的加工定位安裝；改動操作者的孔加工偏向下差及軸加工偏向上差大那大傾向性加工習(xí)慣，以公差中心值為加工根據(jù)；配置更為準(zhǔn)確的量規(guī)，或采用高一等級的量具檢測。.提高過程才干，減少離中程度。修訂工序，改良工藝方法，修訂操作規(guī)程，優(yōu)化工藝參數(shù)，補充增添中間工序，推行運用新資料、新工藝、新技術(shù)；檢修、改造或更新設(shè)備，改造、增添與公差要求相順

11、應(yīng)的精度較高的設(shè)備；增添工具工裝，提高工具工裝的精度；改動資料的進(jìn)貨周期，盡能夠減少由于資料進(jìn)貨批次的不同而呵斥的質(zhì)量動搖；改造現(xiàn)有的現(xiàn)場條件，以滿足產(chǎn)品對現(xiàn)場環(huán)境的特殊要求；對關(guān)鍵工序、特種工藝的操作者進(jìn)展技術(shù)培訓(xùn)；加強現(xiàn)場的質(zhì)量控制，設(shè)置過程質(zhì)量控制點或推行控制圖管理，開展QC小組活動；加強質(zhì)檢任務(wù)。.修訂公差范圍修訂公差范圍，其前提條件是必需保證放寬公差范圍不會影響產(chǎn)質(zhì)量量。在這個前提條件下，可以對不真實踐的過高的公差要求進(jìn)展修訂，以提高過程才干指數(shù)。在工序加工分析時，減少中心偏移量的防誤措施，在技術(shù)上、操作上比較容易實現(xiàn)，同時也不用為此破費太多的人力、物力和財力，因此把它作為提高過程才

12、干指數(shù)的首要措施。只需當(dāng)中心偏移量K0，而CP值依然小于1時，才思索提高過程才干，減少過程加工的分散程度或思索能否有能夠放寬公差范圍。放寬公差范圍必需不影響產(chǎn)質(zhì)量量，不影響用戶運用效果。.Cpk的改善的方向Ca 準(zhǔn)確度差Cp 精確度差.第三部分過程才干的調(diào)查.過程才干調(diào)查過程才干調(diào)查的意義 過程才干調(diào)查了解和掌握過程才干的活動。 經(jīng)過工序規(guī)范化，消除工序中的異常要素，發(fā)現(xiàn)和處理質(zhì)量問題，經(jīng)濟合理地選擇和確定工藝規(guī)范和操作規(guī)范。.過程才干調(diào)查過程才干調(diào)查的方法 直方圖法：可以經(jīng)過直方圖的分散范圍同公差范圍比較，簡單而直觀地判別過程才干能否滿足質(zhì)量要求；簡便計算出過程才干指數(shù)CPK ，為分析過程中

13、系統(tǒng)要素的影響提供根據(jù)。但直方圖不能看出質(zhì)量特性值隨時間變化的情況，有時由于在樣本中包含特性值特大和特小的樣本，使 較大，過程才干指數(shù)偏低。 控制圖法：可反映較長時間內(nèi)過程處于穩(wěn)定形狀的質(zhì)量動搖情況，排除了系統(tǒng)要素的影響，因此其分布的較小，比較準(zhǔn)確可靠。 普通情況，多用直方圖法進(jìn)展過程才干調(diào)查，并輔以控制圖法。.過程才干調(diào)查過程才干調(diào)查的程序明確調(diào)查目的；選擇調(diào)查對象；確定調(diào)查方法；工序的規(guī)范化；嚴(yán)厲按照各項規(guī)范進(jìn)展作業(yè)；搜集數(shù)據(jù)；畫直方圖或分析用的控制圖；判別過程能否處于控制形狀；計算過程才干指數(shù)；處置。.明確調(diào)查目的質(zhì)量信息設(shè)計、市場質(zhì)量、檢查的搜集確定調(diào)查方法工序規(guī)范化確定測試與抽樣檢查

14、方法確定調(diào)查方案運作并搜集數(shù)據(jù)分析數(shù)據(jù)穩(wěn)定形狀過程才干分析過程才干非常富余設(shè)法降低本錢采取措施決議調(diào)查范圍、分層方法、調(diào)查方法、調(diào)查期間取樣方法、樣本含量等5M1E規(guī)范確實定明確必要性與目的落實：擔(dān)任單位、完成期限、責(zé)任者、方法按方案作業(yè)，防止過失，記錄條件變化作直方圖、控制圖并斷定穩(wěn)定性不穩(wěn)定形狀清查不穩(wěn)定緣由計算并分析CP過程才干缺乏過程才干充分清查緣由緣由不明或因技術(shù)、經(jīng)濟緣由無法采取措施研討修正規(guī)范公差或確定全檢思索簡化檢查方法，確認(rèn)過程才干，進(jìn)展過程控制確定報告書PDCA.第四部分Cpk的應(yīng)用工程 製程.著火啦工程: 資料:承認(rèn)作業(yè)要求Cpk達(dá)到B級1.00 Cpk 1.33才承認(rèn)。從源頭進(jìn)行品質(zhì)管理，承認(rèn)時就確保資料的制程才干，改變過去有了問題再來分析的撲火做法，從預(yù)防入手。新機種導(dǎo)入亦然。Spc的焦點: 制程(process)Cpk在工程任務(wù)中的應(yīng)用.時間大小預(yù) 測?制程應(yīng)用Cpk 制程應(yīng)用Cpk，監(jiān)控及預(yù)測製程才干的發(fā)展趨勢，及時修正異常，控制產(chǎn)品品質(zhì)的變化。可預(yù)測的未來關(guān)注 制程(process).Cpk範(fàn)例.本教材參考中國質(zhì)量協(xié)會六西格瑪黑帶注冊考試指定輔導(dǎo)教材 主編:馬林.附：Cp與Cpk所代表的合格品率 Cp0.330.671