變頻器熱測試規(guī)范標(biāo)準(zhǔn)[詳]_第1頁
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文檔簡介

1、測試規(guī)文件編碼:RD-CRT-T01英威聘電氣股份版 本:V 2.0密級:保密測試部生效日期:2010. 05頁數(shù):21頁變頻器熱測試規(guī)0 期:2010. 04. 290期:日期:擬 制: 建平審 核:批 準(zhǔn):貞腳 !/*深圳市英威騰電氣股份有限公司I W WV . SHENZHEN INVT tLECTHIC CO. LFD.測試部測試規(guī)范第21頁共21頁 !/*深圳市英威騰電氣股份有限公司I W WV . SHENZHEN INVT tLECTHIC CO. LFD.測試部測試規(guī)范第21頁共21頁更改信息登記表文件名稱:變頻器熱測試規(guī)文件編碼:版本更改原因更改說明更改人更改時間VI. 0擬

2、制新規(guī)蜜瑞勇2007. 10. 16V2. 0規(guī)升級建平2010. 05. 28評審會簽區(qū):人員簽名意見日期 TOC o 1-5 h z HYPERLINK l bookmark10 o Current Document 1、目的42、4 HYPERLINK l bookmark14 o Current Document 3、定義4 HYPERLINK l bookmark16 o Current Document 4、引用標(biāo)準(zhǔn)和參考資料4 HYPERLINK l bookmark18 o Current Document 5、測試環(huán)境5 HYPERLINK l bookmark20 o Cu

3、rrent Document 6、測試設(shè)備5 HYPERLINK l bookmark22 o Current Document 7、熱電偶測試點5 HYPERLINK l bookmark24 o Current Document 驅(qū)動電源板測試點選取5 HYPERLINK l bookmark26 o Current Document 整機的測試點選取6 HYPERLINK l bookmark28 o Current Document 環(huán)境溫度測試點位置選取6 HYPERLINK l bookmark30 o Current Document 測試點的布置7 HYPERLINK l bo

4、okmark32 o Current Document 熱電偶的固定9 HYPERLINK l bookmark34 o Current Document 8、測試項目11 HYPERLINK l bookmark36 o Current Document 9、測試方法11 HYPERLINK l bookmark38 o Current Document 驅(qū)動電源板溫升測試11 HYPERLINK l bookmark40 o Current Document 額定運行溫升測試12 HYPERLINK l bookmark42 o Current Document 交變式負(fù)載溫升測試 13

5、HYPERLINK l bookmark44 o Current Document 過溫保護測試14 HYPERLINK l bookmark46 o Current Document 輸入缺相測試14 HYPERLINK l bookmark48 o Current Document 緩沖電阻溫升測試14 HYPERLINK l bookmark50 o Current Document 10、判定標(biāo)準(zhǔn)15 HYPERLINK l bookmark52 o Current Document 11、關(guān)鍵騫件溫升限值要求15 HYPERLINK l bookmark54 o Current Do

6、cument 12、測試數(shù)據(jù)及測試報告16 HYPERLINK l bookmark56 o Current Document 附件1.熱測試報告模板17 HYPERLINK l bookmark58 o Current Document 附件2溫升數(shù)據(jù)表格模板17 HYPERLINK l bookmark60 o Current Document 附件3紅外熱像儀(Ti20)操作指導(dǎo)書17 HYPERLINK l bookmark62 o Current Document 附件4.安捷倫34972A數(shù)據(jù)采集儀操作指導(dǎo)書17 HYPERLINK l bookmark64 o Current D

7、ocument 附錄A.溫升與環(huán)境溫度之間的推算關(guān)系18 HYPERLINK l bookmark66 o Current Document 附錄B紅外熱像儀使用注意事項19 附錄 C. 刃 表格20 !/*深圳市英威騰電氣股份有限公司I W WV . SHENZHEN INVT tLECTHIC CO. LFD.測試部測試規(guī)范第21頁共21頁 !/*深圳市英威騰電氣股份有限公司I W WV . SHENZHEN INVT tLECTHIC CO. LFD.測試部測試規(guī)范第21頁共21頁 IWt蜜吃卻之吃需啰測試部測試規(guī)范第21頁共21頁英威騰電氣股份測試技術(shù)規(guī)變頻器熱測試規(guī)1、目的檢驗我司變

8、頻器產(chǎn)品的熱設(shè)計是否合理,驗證器件應(yīng)用在熱應(yīng)力方面是否滿足器件的 熱應(yīng)力降額要求。2、圍本規(guī)規(guī)定了樣機的熱測試方法,適用于英威騰電氣股份開發(fā)的所有變頻器產(chǎn)品。3、定義變頻器額定運行:是指變頻器工作在額定輸入電壓和缺省載頻下,驅(qū)動適配電機50Hz 運行,輸出額定電流。變頻器通常工況:是指變頻器用戶現(xiàn)場常的運行工況,若規(guī)格書中無明確界定則為額 定運行。適配電機:與變頻器同功率或者是大一功率,小一功率的電機。(不包括電機并聯(lián))4、引用標(biāo)準(zhǔn)和參考資料(1) GB/T 12992-91電子設(shè)備強迫風(fēng)冷熱特性測試方法(2) GB/T 12993-91電子設(shè)備熱性能評定GB 2421電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗

9、規(guī)程 總則GB 2423電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗方法5、測試環(huán)境常溫實驗室環(huán)境環(huán)境試驗箱6、測試設(shè)備34972A型數(shù)據(jù)采集儀(Agilent安捷倫)DR230型混合記錄儀(YOKOGAWA橫河)/*深圳市英威騰電氣股份有限公司 I F SHENZHEN INVT ELECTRIC CO., LTD.測試部測試規(guī)范第21頁共21頁整機的測試點選取主回路功率器件:整流橋、逆變模塊、母線電容及電容均壓電阻、上電緩沖電阻、 變壓器線圈(大功率變頻器中)、接觸器主觸點、銅皮和銅排、交/直流電抗器(置)、輸出 電流檢測電阻/霍爾、功率模塊的溫度檢測點等。如果被測樣機是新設(shè)計的產(chǎn)品,或者機器的驅(qū)動

10、電源板和其它單板是新板(未轉(zhuǎn)產(chǎn) 或硬件升級)時,在整機測試時還要對7.1.1 , 7.1.2、7.1.3中的關(guān)鍵器件進行選取測 試。對于同一電路中實現(xiàn)相同功能的一類器件(如多個電阻或電容串并聯(lián)),應(yīng)選取散熱 條件相對差、裕量相對小的器件進行測量,選取數(shù)量為2個。熱電偶粘點前,先使用Ti20紅外熱像儀進行預(yù)測試,找出除7.2.1、7.2.2以外的 溫度較高器件,以及找出各被測器件的溫度最高點,再進行熱電偶粘點測試。環(huán)境溫度測試點位置選取按照用戶手冊中確定的變頻器安裝方式擺放樣機,環(huán)境溫度的測試點選取在距離被測 樣機某一側(cè)面幾何中心點的80mm處,如下圖所示。環(huán)境溫度測試點位置(圖中紅色圓點)以上

11、是GB/T 12992-91標(biāo)準(zhǔn)中所規(guī)定的環(huán)境溫度測試點布置方法。在實際測試環(huán)境中, 將熱電偶直接放置在空氣中時,溫度會容易出現(xiàn)波動的現(xiàn)象,因此:a)在常溫環(huán)境下進行溫升測試時,將環(huán)境溫度測試點熱電偶用溫升膠固定在一個小 型的專用散熱器上,并將散熱器固定在溫度測試設(shè)備上(現(xiàn)公司所使用的測溫儀 都已將環(huán)境測試點熱電偶連接到1號通道上)。在測試時,可將溫度測試設(shè)備按以 上標(biāo)準(zhǔn)大致的位置放置溫度測試設(shè)備,但要注意溫度測試設(shè)備的放置不能影響被 測樣機的散熱風(fēng)道(例如,不能太貼近變頻器箱體側(cè)面設(shè)計的百葉窗)。b)當(dāng)在環(huán)境試驗箱進行高溫環(huán)境溫升測試時,將環(huán)境溫度測試點熱電偶工作端點上 少量的溫升膠(如下圖

12、),覆蓋工作端裸露部分即可,將該熱電偶直接放入環(huán)境試 驗箱,放置位置要盡量避開風(fēng)口。環(huán)境溫度測試點熱電偶(環(huán)境試驗箱使用)測試點的布置功率模塊(整流橋、IGBT)的測試點應(yīng)粘在模塊的散熱基板上,且盡量靠近模塊中 的功率結(jié)點。4.2對于母線電解電容至少選擇兩個散熱條件差的電容進行測試,母線電解電容的測試 點要布置在電容的鋁外殼上和芯包中心點處。使用1.5mm或1.7mm規(guī)格的鉆頭在電容頂部 接線端子面的中心點處打孔,將熱電偶工作端放入到電容芯包的中心點位置進行測試。測 電容鋁外殼溫度時,要將測試點位置上的電容外層絕緣套管刮開,刮開大小比熱電偶工作 端大一點即可。半導(dǎo)體功率晶體管管殼溫度測試點,應(yīng)

13、設(shè)置在距管芯最近的熱點位置上。集成器件的表面溫度測試點,應(yīng)設(shè)置在器件表面的中心點(晶圓位置)上。垂直放置的功率電阻器,表面溫度測試點應(yīng)設(shè)置在垂直高度的三分之二處;水平放 置的功率電阻器,測試點應(yīng)設(shè)置在中間位置。4.6溫度臨界或?qū)囟让舾械脑骷砻鏈囟龋话銘?yīng)在其熱點附近布設(shè)兩個測試點, 其值應(yīng)取大者。銅排的溫度測試點,應(yīng)選取在截面積最?。ㄍ汇~排上)的位置,以及兩銅排的連 接點上。所有的整機溫度檢測點上,都要布置熱電偶測試點,用于溫度檢測精度測試。 !/*深圳市英威騰電氣股份有限公司 SHENZHEN INVT ELECTRIC CO. LTD.測試部測試規(guī)范第21頁共21頁 !/*深圳市英

14、威騰電氣股份有限公司 SHENZHEN INVT ELECTRIC CO. LTD.測試部測試規(guī)范第21頁共21頁7. 4.9其它元器件表面溫度測試點的位置,應(yīng)視其熱點情況而定。以下為部分器件的測試點布置示圖,圖中紅色圓點為熱電偶粘點測試位置單橋臂整流模塊測試點布置9LPIM模塊測試點布置單橋臂IGBT模塊測試點布置|深圳市英威騰電氣股份有限公司 I SHENZHEN INVT ELECTRIC CO. LTD.測試部測試規(guī)范第21頁共21頁|深圳市英威騰電氣股份有限公司 I SHENZHEN INVT ELECTRIC CO. LTD.測試部測試規(guī)范第21頁共21頁 !/*深圳市英威騰電氣股

15、份有限公司I W WV . SHENZHEN INVT tLECTHIC CO. LFD.測試部測試規(guī)范第21頁共21頁電解電容測試點布置溫度檢測點的測試點布置注意事項:a)測試元件表面溫度的測點布置的原則,就是將測點布置在元器件溫度最高或較高 的熱點上,這些點通常在距離元件部發(fā)熱點最近或散熱條件最差的地方。b)電解電容打孔放入熱電偶后,必須用溫升膠將孔口密封。C)電解電容打孔要注意力度,以免鉆頭絞到芯包中的隔離紙或電極箔片而損壞電容。d)體積小的電解電容,如同江海CD293系列產(chǎn)品,從電容頂部接線端子面中點打孔 時很容易碰到電容部的電極引出線,所以要從底部的中心點打入。底部鋁殼的厚 度約為0

16、.5mm,鋁殼到芯包的距離約1mm,使用手持電鉆打孔,轉(zhuǎn)速盡量控制到最 小,慢慢磨穿電容鋁外殼,注意要緊握電鉆,避免孔打穿時由于慣力使電鉆再往 前沖而損壞電容。熱電偶的固定將熱電偶工作端焊接成一個圓焊球,焊球表面要光滑、無嚴(yán)重的氧化層,工作端的 導(dǎo)線裸露部分控制在2 mm以。熱電偶工作端的焊接測試表面溫度時,應(yīng)保證熱電偶工作端與被測表面間緊密接觸,使接觸熱陽最小, 以減小測試誤差。而且兩者之間是點接觸,避免面接觸。5.3固定的方法:將熱電偶工作端緊貼被測表面后,用satlonD-3溫升膠滴在熱電偶工 作端上,再用satlon-606催化劑進行固化。溫升膠的用量不能太多,能覆蓋熱電偶工作端 裸露

17、部分,并能起到固定的作用即可,溫升膠的用量太多可能會影響元器件的正常散熱, 特別是對于被測表面較小的元器件。:KT4IGBT模塊上熱電偶工作端的固定5.4對于被測表面帶電的元器件(如銅排),熱電偶工作端不能與其直接接觸,否則會使 測試數(shù)據(jù)嚴(yán)重不準(zhǔn)確,或損壞測溫設(shè)備,應(yīng)該與被測表面保持絕緣。絕緣方法:先滴一滴 satlonD-3溫升膠在測試點上,直接用溫升膠的瓶嘴將其攪勻、平整,使溫升膠厚度最小, 用satlon-606催化劑固化,再用溫升膠將熱電偶工作端固定在先前已固化的溫升膠上,使 熱電偶工作端不與帶電表面相接觸。要注意先鋪的一層溫升膠的厚度和面積,盡量最小, 以減小溫升誤差。5.5在將熱電

18、偶導(dǎo)線引出機箱/柜的路徑中,用高溫膠紙在一些合適的位置將其固定,防 止意外拉扯使熱電偶探頭松動,影響測量精度。同時還要盡量避免熱電耦從風(fēng)道進氣口或 出氣口引出。注意事項:a) SatlonD-3溫升膠的軟化點是130C,熔點是1750c。當(dāng)被測表面的溫度到達130( 以上時,溫升膠就會因軟化而變形、松動或脫落,對測試結(jié)果帶來一定的誤差。 因此,在對于溫度高于130(的情況下,測試結(jié)果不能直接作為判定依據(jù),只能 做為參考依據(jù)。b)使用satlon-606催化劑的時候,不需要太用力按壓噴頭,噴噴導(dǎo)管不要太靠近溫 升膠,否則噴射壓力會將溫開股吹走或吹起,使溫升膠固化后部形成氣泡,熱電 1/深圳市英威

19、騰電氣股份有限公司 I W,SHENZHEN INVT ELtCTRIC CO., LTD.測試部測試規(guī)范第21頁共21頁 1/深圳市英威騰電氣股份有限公司 I W,SHENZHEN INVT ELtCTRIC CO., LTD.測試部測試規(guī)范第21頁共21頁偶固定不牢,影響測試精度。8、測試項目驅(qū)動電源板溫升測試額定運行溫升測試交變式負(fù)載溫升測試過溫保護測試輸入缺相測試緩沖電阻溫升測試9、測試方法驅(qū)動電源板溫升測試常溫實驗室環(huán)境1.1. 1在常溫實驗室環(huán)境下,被測單板的擺放位置要避開氣流,如空調(diào)的循環(huán)風(fēng)等。1.1.2根據(jù)7選取好測試點,用溫升膠將熱電偶固定好,并以照片的形式記錄各測試 點位置

20、。將熱電偶參考端連接至測溫儀,記錄下測試點與熱電耦測試通道的對應(yīng)關(guān)系。1.1.3將開關(guān)電源副邊各路輸出連接至電子負(fù)載設(shè)備,并根據(jù)開發(fā)設(shè)計人員提供的開關(guān) 電源技術(shù)參數(shù)規(guī)格,設(shè)置電子負(fù)載設(shè)備的輸出參數(shù)。1.1.4設(shè)置測溫儀的各通道配置,注意要正確設(shè)置熱電偶的類型(目前使用的都是K型), 電源板輸入Uinnom電壓,滿載輸出,開始溫升測試。觀察各測試點測量的溫度是否正常。 如發(fā)現(xiàn)壞點或溫度異常測試點,掉電后重新處理好后再進行測試。9. 1.1.5測溫儀設(shè)置為自動溫度掃描(打?。?,間隔時間為2分鐘。9. 1.1.6溫度曲線沒有上升的趨勢后則認(rèn)為各測試點的溫度已達穩(wěn)定值,使用Ti20紅外熱 像儀對被測單

21、板進行熱成像測試,并保存熱成像圖,熱成像數(shù)據(jù)中必須包含單板的整體溫 度分布,以及各測試點的熱成像數(shù)據(jù)。9. 1.1.7溫升穩(wěn)定后要再持續(xù)測試20分鐘,但溫升測試時間不能小于90分鐘。9. 1.1.8測溫儀再掃描(打?。┮唤M數(shù)據(jù)后,結(jié)束測試。9. 1.1.9被測電源板輸入分別調(diào)至Uinmin和Uinmax電壓,再進行滿載溫升測試,并記錄 兩種狀態(tài)下溫定穩(wěn)定后的溫升數(shù)據(jù)和熱成像數(shù)據(jù)。9. 1.2試驗箱高溫環(huán)境9. 1.2. 1被測電源板置入QTT-80L可程式濕熱箱,電源板開關(guān)電源副邊各路輸出連接至電 子負(fù)載設(shè)備。9. 1.2.2濕熱箱溫度設(shè)置為4(rc,顯示溫度到達4(rc,再經(jīng)20分鐘后,給被

22、測電源板輸 入Uinnom電壓,滿載輸出,開始溫升測試。9. 1.2.3測溫儀設(shè)置為自動溫度掃描(打?。?,間隔時間為2分鐘。9. 1.2.4溫升穩(wěn).定后要再持續(xù)測試20分鐘,但溫升測試時間不能小于2小時。1.2.5測溫儀再掃描(打?。┮唤M數(shù)據(jù)后,結(jié)束測試。注意事項:溫升測試結(jié)束后,不要立即停止運行,要讓電機空載運行30分鐘左右,以免勵磁電機 過熱損壞。定運行溫升測試1常溫實驗室環(huán)境1. 1將被測樣機按工程應(yīng)用安裝方式放置。對于壁掛式機器,樣機必須安裝在專用的 變頻器測試安裝架上;對于立柜式機器,樣機必須直立放置在木棧板上,木棧板上要墊一 層紙皮;對于功率單元(低壓),被測單元必須按照整機上的單

23、元安裝方向放置。1.2根據(jù)7. 2選取好整機測試點,用溫升膠將熱電偶固定好,并以照片的形式記錄各 測試點位置。將熱電偶參考端連接至測溫儀,記錄下測試點與熱電耦測試通道的對應(yīng)關(guān)系。1.3設(shè)置測溫儀的各通道配置,注意要正確設(shè)置熱電偶的類型(目前使用的都是K型), 被測樣機連接上適配電機,輸入額定電壓,缺省參數(shù)運行,調(diào)節(jié)勵磁電機電壓或?qū)ν蠙C組 的運行參數(shù),使被測樣機輸出額定電流并保持穩(wěn)定,開始溫升測試;觀察各測試點測量的 溫度是否正常,如發(fā)現(xiàn)壞點或異常測試點,掉電后重新處理好后再進行測試。1.4測溫儀設(shè)置為自動溫度掃描(打印),間隔時間為2分鐘。同時,要記錄被測樣機 的鍵盤顯示溫度。1.5溫度曲線沒

24、有上升的趨勢后則認(rèn)為各測試點的溫度已達穩(wěn)定值,溫升穩(wěn)定后要再 持續(xù)測試20分鐘,但溫升測試時間不能小于2小時。2.1.6測溫儀再掃描(打?。┮唤M溫升數(shù)據(jù)后,停止掃描(打印)。1.7使用Ti20紅外熱像儀對被測樣機進行熱成像測試,并保存熱成像圖。先對從樣機 外圍可見的器件進行熱成像測試(如電抗器、母線電解電容等);然后掉電并使用放電電阻 對被測樣機進行放電,快速將樣機的面蓋板或其它擋板取下(時間越短,樣機溫度下降越 少),再上電加滿載運行,溫升穩(wěn)定后,使用紅外熱像儀對樣機單板及主回路的各元器件進 行熱成像測試。1.8如果被測樣機是G/P合一的機型,將樣機設(shè)置為P型機,加載使樣機輸出(P型) 額定

25、電流,再按9. 2. 1.49. 2. 1.7步.驟,測試并記錄P型機的溫升。9.2.2試驗箱高溫環(huán)境9.2.2. 1被測樣機放入KMHT000RL5可程式快速溫變濕熱箱,濕熱箱溫度設(shè)置為409,顯 示溫度到達4(rc,再經(jīng)30分鐘后,開始溫升測試。9. 2. 2. 2連接上適配電機,輸入標(biāo)準(zhǔn)電壓,缺省參數(shù)運行,調(diào)節(jié)勵磁電機電壓或?qū)ν蠙C組 的運行參數(shù),使被測樣機輸出額定電流并保持穩(wěn)定。9. 2. 2. 3測溫儀設(shè)置為自動溫度掃描(打?。?,間隔時間為2分鐘。同時,要記錄被測樣機 的鍵盤顯示溫度。9. 2. 2. 4溫升穩(wěn)定后要再持續(xù)測試20分鐘,但溫升測試時間不能小于2小時。2. 2. 5測溫儀

26、再掃描(打?。┮唤M溫升數(shù)據(jù)后,結(jié)束溫升測試。交變式負(fù)載溫升測試3.1在常溫實驗室環(huán)境下,將被測樣機按工程應(yīng)用安裝方式放置。對于壁掛式機器,樣 機必須安裝在專用的變頻器測試安裝架上;對于立柜式機器,樣機必須直立放置在木棧板 上,木棧板上要墊一層紙皮;對于功率單元(低壓),被測單元必須按照整機上的單元安裝 方向放置。.2根據(jù)7. 2選取好整機測試點,用溫升膠將熱電偶固定好,并以照片的形式記錄各測 試點位置。將熱電偶參考端連接至測溫儀,記錄下測試點與熱電耦測試通道的對應(yīng)關(guān)系。.3使用兩個直流電源設(shè)備交替給機組的勵磁電機提供定值直流電壓,用PLC (或變頻 器的繼電器輸出功能)對直流電源設(shè)備的輸出進行

27、通斷控制,使勵磁電機電流交變,實現(xiàn) 被測樣機的負(fù)載交變。3. 4設(shè)置測溫儀的各通道配置,注意要正確設(shè)置熱電偶的類型(目前使用的都是K型), 被測樣機連接上適配電機,輸入額定電壓,缺省參數(shù)運行,設(shè)置PLC或(控制用的)變頻 器繼電器輸出參數(shù),使交變間隔時間為10秒,分別調(diào)節(jié)兩個直流電源設(shè)備的輸出電壓, 使被測樣機100%與120%額定輸出交變(平均負(fù)載率為110%),開始溫升測試;觀察各測 試點測量的溫度是否正常,如發(fā)現(xiàn)壞點或異常測試點,掉電后重新處理好后再進行測試。3.5測溫儀設(shè)置為自動溫度掃描(打?。g隔時間為2分鐘。同時,要記錄被測樣機的 鍵盤顯不溫度O3.6溫度曲線沒有上升的趨勢后則認(rèn)

28、為各測試點的溫度已達穩(wěn)定值,溫升穩(wěn)定后要再持 續(xù)測試20分鐘,但溫升測試時間不能小于3小時。3.7測溫儀再掃描(打印)一組溫升數(shù)據(jù)后,結(jié)束溫升測試。過溫保護測試9. 4.1在9. 2額定運行溫升測試完成后,在常溫實驗室環(huán)境下進行過溫保護試驗。9. 4.2將被測樣機散熱風(fēng)扇的電源線插座拔開(自然冷卻式被測樣機可將其放置在密閉容 器),輕載運行,使被測樣機溫升緩慢上升直至過溫保護。9. 4.3反復(fù)進行3次過溫保護試驗,每次過溫保護時要用測溫儀掃描(打?。┮唤M溫升數(shù) 據(jù),并記錄被測樣機的鍵盤顯示溫度。9. 5輸入缺相測試9. 5.1在9. 2額定運行溫升測試完成后,在常溫實險室環(huán)境下進行輸入缺相測試

29、。9. 5.2設(shè)置功能碼將被測樣機的輸入缺相保護功能屏蔽,被測樣機輸入端只接線R、S、T 中的任意兩相,連接上適配電機,輸出額定負(fù)載,缺省參數(shù)運行測試。9. 5.3測溫儀設(shè)置為自動溫度掃描(打印),間隔時間為2分鐘。同時,要記錄被測樣機的 顯不溫度。5.4持續(xù)運行3小時,測溫儀再掃描(打?。┮唤M溫升數(shù)據(jù)后,結(jié)束溫升測試。9.6緩沖電阻溫升測試9. 6.1在常溫實驗室環(huán)境下,進行反復(fù)上下電試驗,測試緩沖電阻的溫升。9. 6.2采用反復(fù)上下電測試工裝是進行測試,上電時間設(shè)為10秒,放電時間設(shè)為50秒(測 試工裝帶放電電阻),被測樣機設(shè)置上電自動運行,不需要帶負(fù)載。9. 6. 3對被測樣機主回路緩沖

30、電阻進行熱電偶粘點測試溫升。9. 6.4測試時間為4小時,測試結(jié)束前用測溫儀掃描(打?。┚彌_電阻的溫升數(shù)據(jù)。10、判定標(biāo)準(zhǔn)額定負(fù)載和交變負(fù)載工作條件下測試,器件的溫度或者溫升降額應(yīng)滿足器件使用要 求。過溫保護動作點在設(shè)計誤差圍,器件的溫度或溫升降額滿足器件使用要求,且過溫保 護測試后應(yīng)無器件損壞。輸入缺相工作條件下測試,被測樣機應(yīng)無故障、無器件損壞。反復(fù)上下電測試,被測樣機應(yīng)無故障,緩沖電阻自身不能損壞且不能導(dǎo)致周邊異常。11、關(guān)鍵器件溫升限值要求在變頻器部存在很多種類型的器件,由于不同的器件其所能承受的溫度上限不同,因而在 實際溫升測試時,應(yīng)該設(shè)置不同的溫度限值。序號器件名稱溫度限值異常溫度

31、限值備注1IGBT模塊40度結(jié)溫計算不超過120度只有超過40度后才計算結(jié)溫具 體計算方法參見器件手冊2整流橋模塊40度結(jié)溫計算不超過120度同上3大電解電容 (母線電容)25度(85度電容)40度(105度電容)25度(85度電容)45度(105度電容)該電容溫升以其芯包溫度為準(zhǔn), 超出限值時要計算電容壽命。4小電解電容40度40度該溫度為電容外殼溫度5插件電阻60度60度6貼片電阻、電容50度50度7IC40度40度為IC表面最熱點溫度8M0S管50度50度MOS管最熱點9變壓器40度50度(正常過裁)80度(安規(guī)過莪)無論是線包還是磁芯都不能超 過10賽爾25度25度最熱點溫度11電抗器

32、/電感40度(機箱部)50度(正常過裁)80度(安規(guī)過裁溫度)最熱點溫度12銅排和銅皮40度(與模塊連接 點)60度(其它銅排和 銅皮)40度(與模塊連接點)60度(其它銅排和銅皮)最熱點溫度 !/*深圳市英威騰電氣股份有限公司I W WV . SHENZHEN INVT tLECTHIC CO. LFD.測試部測試規(guī)范第21頁共21頁 !/*深圳市英威騰電氣股份有限公司I W WV . SHENZHEN INVT tLECTHIC CO. LFD.測試部測試規(guī)范第21頁共21頁12、測試數(shù)據(jù)及測試報告熱成像數(shù)據(jù)在測試報告中要求有經(jīng)過處理的熱成像圖片,包括在圖像中標(biāo)出溫度最高點和對應(yīng)發(fā) 熱嚴(yán)重

33、區(qū)的平均溫度值,以圖像格式導(dǎo)出熱成像。原始的熱成像集合要求作為附件歸檔。測溫儀數(shù)據(jù)各熱電偶測試點的分布位置圖。測試點的分布位置要以照片的形式記錄,無法拍照 的位置,要以畫圖的方式標(biāo)示測試點的分布位置。元器件溫升數(shù)據(jù)。各測試點的溫升數(shù)據(jù)結(jié)果要以統(tǒng)一的表格形式呈現(xiàn)。元器件溫升曲線圖。根據(jù)安捷倫34972A型數(shù)據(jù)采集儀的溫度測試數(shù)據(jù),在其上位 機軟件中制作并導(dǎo)出溫升曲線圖。(熱測試報告格式請參見附件1.熱測試報告模板溫升數(shù)據(jù)記錄表格格式請參見附件2.溫升數(shù)據(jù)表模板)附件1.熱測試報告模板附件2.溫升數(shù)據(jù)表格模板B溫升數(shù)據(jù)表模板.do附件3.紅外熱像儀(Ti20)操作指導(dǎo)書Ti20熱像儀操作指導(dǎo)書 _

34、080508一VLO.附件4.安捷倫34972A數(shù)據(jù)采集儀操作指導(dǎo)書安捷倫溫升儀操作指導(dǎo)書.pdf 1/深圳市英威騰電氣股份有限公司 SHENZHEN INVT ELECTRIC CO. LTD.測試部測試規(guī)范第21頁共21頁 !/*深圳市英威騰電氣股份有限公司I W WV . SHENZHEN INVT tLECTHIC CO. LFD.測試部測試規(guī)范第21頁共21頁七一150一一 二44。30MBE-120一, ,r-ioo4:70L. 一祖“娛附錄A.溫升與環(huán)境溫度之間的推算關(guān)系由于在進行變頻器溫升試驗時,基本上都是在常溫實驗室環(huán)境下進行測試,其實際換算到40t環(huán)境溫度時,其對應(yīng)的元器件

35、的實際溫度不能簡單地只加上4CTC與室溫的差,而應(yīng)通過以下的圖表換算得來。-160一- 14。一130,一120一-110一100一90 匕-807060so-401-30TU一10JT.試驗樣品表函.度)示例:若在+2(TC自由空氣中,物體耗散一定功率后表面溫度達到+70(時,在+55(的環(huán)境溫 度中,其耗散相同的功率時,表面溫度是多少?從工、(周圍溫度)尺上的+20C到R (試驗樣品表面溫度)尺上的+70t之間畫一條直 線,記下其與樞軸線的交點,然后從,尺上+55(點到樞軸線上記錄下的交點畫一條直線, 并延長至R尺上,得出新交點為+98C,這就是所求+55(環(huán)境溫度中的物體表面溫度。附錄B.紅外熱像儀使用注意事項1:所有物體都反射、透射和輻射能量。只有發(fā)射的能量表示物體的溫度。使用紅外熱 像儀

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