粉體學(xué)基礎(chǔ)知識(shí)一粒徑和粒度分布

1、粉體學(xué)基礎(chǔ)知識(shí)一:粒徑和粒度分布粉體學(xué)(micromeritics)是研究無數(shù)個(gè)固體粒子集合體的基本性質(zhì)及其應(yīng) 用的科學(xué)。通常100pm的粒子叫粉，容易產(chǎn)生粒子間的相互作用而流動(dòng)性 較差；100pm的粒子叫粒，較難產(chǎn)生粒子間的相互作用而流動(dòng)性較好。單 體粒子叫一級(jí)粒子(primary particles)；團(tuán)聚粒子叫二級(jí)粒子(second particle)。粉體的物態(tài)特征：具有與液體相類似的流動(dòng)性；具有與氣體相類似的壓縮性；具有固體的抗變形能力。粉體粒子的物理性質(zhì)主要有：粒子與粒度分布、粒子形態(tài)、比表面積等。粒子徑與粒度分布粉體的粒子大小也稱粒度，含有粒子大小和粒子分布雙重含義，是粉體的基

2、礎(chǔ)性質(zhì)。對(duì)于一個(gè)不規(guī)則粒子，其粒子徑的測(cè)定方法不同，其物理意義不同，測(cè)定值也不 同。粒徑的表示方法有以下兩種：1、幾何學(xué)粒子徑：根據(jù)幾何學(xué)尺寸定義的粒子徑，一般用圖像法測(cè)定。三軸徑：在粒子的平面投影圖上測(cè)定長徑l與短徑b，在投影平面的垂直方向測(cè)定粒子的厚度允反映粒子的實(shí)際尺寸。定向徑（投影徑）：Feret徑（或Green徑）：定方向接線徑，即一定方 向的平行線將粒子的投影面外接時(shí)平行線間的距離。Krummbein徑：定方向最大徑，即在一定方向上分割粒子投影面的最大 長度。Martin徑：定方向等分徑，即一定方向的線將粒子投影面積等份分割時(shí)的 長度。2、等效粒徑等效粒徑的定義：當(dāng)一個(gè)不規(guī)則體粒子

3、的某種物理行為或者物理參量與材 質(zhì)相同的某球體相同或者近似時(shí)，我們把該球體的直徑稱為為此不規(guī)則粒子的某 種等效粒徑。當(dāng)參考的物理行為或者物理參量不同時(shí)，測(cè)量同一個(gè)不規(guī)則體粒子 可能會(huì)得到多個(gè)等效粒徑值。常見的等效方法有以下幾種：光散射等效：光波在傳導(dǎo)過程中遇到障礙物顆粒會(huì)發(fā)生偏轉(zhuǎn)，光波偏轉(zhuǎn)的角 度跟顆粒的粒徑成反比關(guān)系。當(dāng)某顆粒引起的光波偏轉(zhuǎn)量等于某同質(zhì)球體的偏轉(zhuǎn) 量時(shí)，我們認(rèn)為該球直徑即為該顆粒的光散射等效粒徑。Heywood徑：投影面積圓相當(dāng)徑，即與粒子的投影面積相同圓的直徑， 常用DH表示。體積等價(jià)徑（equivalent volume diameter）：與粒子的體積相同的球體直徑，

4、也叫球相當(dāng)徑。用庫爾特計(jì)數(shù)器測(cè)得。沉降速度等效粒徑：粒徑相當(dāng)于在液相中具有相同沉降速度的球形顆粒的 直徑。該粒經(jīng)根據(jù)Stocks方程計(jì)算所得，因此有叫Stocks徑，記作DStk. 比表面積等價(jià)徑(equivalent specific surface diameter):與欲測(cè)粒子具有 等比表面積的球的直徑，記作DSV。采用透過法、吸附法測(cè)得比表面積后計(jì)算 求得。這種方法求得的粒徑為平均徑，不能求粒度分布。粒度分布粒度分布(particles size distribution)表示不同粒徑的粒子群在粉體中所 分布的情況，反映粒子大小的均勻程度。簡單的說，粒度分布就是不同大小的顆 粒在總體中

5、所占比例的數(shù)值集合。粉體的粒度分布表訴方法有列表法、圖示法和函數(shù)法等。粒度分布的圖示法又分為頻率分布(微分分布)與累積分布。頻率分布(frequncy size distribution)表示與各個(gè)粒徑相對(duì)應(yīng)得粒子在全粒子群中所 占的百分?jǐn)?shù)(微分型)。累積分布(cumulative size distribution)表示小于(pass)或大于(on)某粒徑的粒子在全粒子群中所占的百分?jǐn)?shù)(積分型)。 百分?jǐn)?shù)的基準(zhǔn)可用個(gè)數(shù)基準(zhǔn)(count basis)、質(zhì)量基準(zhǔn)(mass basis)、面 積基準(zhǔn)(surface basis)、體積基準(zhǔn)(v olumn basis)、長度基準(zhǔn)(l ength b

6、asis) 等表示。表示粒度分布時(shí)必須注明測(cè)定基準(zhǔn)，不同的測(cè)定基準(zhǔn)，所獲得的粒度分布曲線也 不一樣。不同基準(zhǔn)的粒度分布理論上可以互相換算。實(shí)際應(yīng)用較多的是質(zhì)量和個(gè)數(shù)基準(zhǔn)分 布。粒度分布測(cè)試當(dāng)前主流的粒度分布測(cè)試儀有以下幾種：激光粒度儀(光散射等效原理)， 庫爾特顆粒計(jì)數(shù)器(小孔電阻等效原理)，圖像粒度分析儀(投影面積等效原理)， 沉降儀(沉降速度Stocks原理)。激光粒度儀量程范圍一般可達(dá)0.1-1000微米。且其測(cè)量動(dòng)態(tài)范圍大，是應(yīng)用最普及的粒度儀。庫爾特顆粒計(jì)數(shù)器檢測(cè)精度高，量程范圍一般為1-250微米，由于其測(cè)量 動(dòng)態(tài)范圍小，測(cè)量上限和下限也不足。主要應(yīng)用在樣品為窄分布的粉體行業(yè)。圖像粒度分析儀，量程跟配置的顯微鏡性能直接相關(guān)。其同樣存在動(dòng)態(tài)范 圍小，不適合測(cè)試寬分布樣品的不足之處。但是它可以進(jìn)行顆粒