儀器、探頭和試塊

1、儀器、探頭和試塊第二章2.1 超聲波檢測儀 2.1.1 概述 超聲波檢測儀按其所指示參量可分為如下三類：指示穿透能量。多用于穿透法，使用范圍有限。（簡介穿透法，P44，圖2-1）指示頻率可變的超聲連續(xù)波在試件中形成駐波的情況。（基本不用，略）指示反射的能量和運行時間。 多用于脈沖反射法，使用范圍最為廣泛。（詳細介紹脈沖反射法）2.1.2 A型顯示儀器的工作作原理 A型顯示儀器的分類（P45，表2-1）表2-1 脈沖反射法三種類型類型顯示方式主要顯示內(nèi)容A型顯示示波器B型顯示示波器C型顯示示波器或記錄儀 A型脈沖反射式超聲波檢測儀的電路框圖 A型脈沖反射式超聲波檢測儀的工作原理同步電路（儀器的心

2、臟）產(chǎn)生同步脈沖信號，一方面觸發(fā)發(fā)射電路，產(chǎn)生一個持續(xù)時間極短的電脈沖加到探頭上，激勵（探頭內(nèi)）晶片產(chǎn)生脈沖超聲波；另一方面，同步脈沖信號觸發(fā)時基電路，時基電路（掃描延遲、掃描發(fā)生器、軸放大器）產(chǎn)生線性較好的鋸齒波，經(jīng)軸放大器放大后加到示波管軸偏轉(zhuǎn)板上，使光點從左到右隨時間作線性地移動。當探頭接收到反射或透射的超聲波（由于正壓電原理）轉(zhuǎn)變成電脈沖輸入接收電路（高頻放大器、檢波電路、視頻放大器），加到示波管的Y軸偏轉(zhuǎn)板上，從而在掃描線上就出現(xiàn)了波形。波的位置與轉(zhuǎn)輸時間成正比，既與缺陷距離成正比；波的幅度與缺陷的大小成正比。重復頻率與工作頻率 同步脈沖的產(chǎn)生頻率為重復頻率；工作頻率是指探頭（電聲換

3、能器）經(jīng)同步脈沖激勵產(chǎn)生振動的頻率。（工作頻率由探頭中晶片的厚度所決定，晶片厚度厚的頻率較低，厚度薄的頻率較高。）2.1.3 A型顯示超聲儀的基本組成及各部份功能1、發(fā)射部分 發(fā)射部分能產(chǎn)生約500V以上的高壓電脈沖，這個電脈沖加到（探頭的）壓電晶片上（使晶片產(chǎn)生振蕩，其振蕩頻率超過20KHz）能使晶片發(fā)出超聲波。2、接收部分 發(fā)射部分的電脈沖電壓有500V以上，但是由（缺陷）回波信號引起壓電晶片產(chǎn)生的射頻電壓不過幾十毫伏，要把這樣小的信號顯示在熒光屏上，就必須加以放大。接收部分就是由衰減器、高頻放大器、檢波電路及視頻放大電路構(gòu)成的。另外，還有抑制電路，抑制電路是供抑制雜波用的。抑制電路抑制雜

4、波的同時，將會破壞線性，故須慎用。 在以單換能器脈沖反射方式工作的情況下，電壓很高的發(fā)射電脈沖在激勵換能器的同時也直接進入接收部分。在短時間內(nèi)放大器的放大倍數(shù)會降低，甚至沒有放大作用，這種現(xiàn)象稱為阻塞，這段范圍內(nèi)所要求發(fā)現(xiàn)的缺陷往往不能被發(fā)現(xiàn)，這段距離稱為盲區(qū)。3、時間軸部分和同步部分時間軸部分能產(chǎn)生使示波管的電子束在水平方向自左向右作等速移動的電壓，改變電子束的移動速度（即掃描速度）就能將來自試件中不同深度處的回波顯示在刻度板上。 在儀器的面板有關(guān)測量范圍有關(guān)“測量范圍”、“聲速”、“掃描延遲”都是時間軸的調(diào)節(jié)旋鈕?！皽y量范圍”是改變時間電路輸出鋸齒波電壓的的斜率的，而“聲速”旋鈕則按照試件

5、材料的聲速來校正這個斜率。所以“測量范圍”旋鈕用于粗調(diào)，而“聲速”旋鈕則用于細調(diào)。 同步電路是儀器的心臟，發(fā)射電路、接收電路及掃描電路均由它控制 3、時間軸部分和同步部分 時間軸部分能產(chǎn)生使示波管的電子束在水平方向自左向右作等速移動的電壓，改變電子束的移動速度（即掃描速度）就能將來自試件中不同深度處的回波顯示在刻度板上。 在儀器的面板有關(guān)測量范圍有關(guān)“測量范圍”、“聲速”、“掃描延遲”都是時間軸的調(diào)節(jié)旋鈕?！皽y量范圍”是改變時間電路輸出鋸齒波電壓的的斜率的，而“聲速”旋鈕則按照試件材料的聲速來校正這個斜率。所以“測量范圍”旋鈕用于粗調(diào)，而“聲速”旋鈕則用于細調(diào)。2.1.4 B型顯示和C型顯示A

6、型顯示可確定缺陷在試件中的埋藏深度（可根據(jù)聲波的傳播時間及聲速所決定，圖示。）及缺陷的反射聲壓。（反射聲壓波幅高或低判定缺陷的大?。?1、B型顯示 2、C型顯示數(shù)字化A型顯示超聲檢測儀模擬探傷儀：得到的是模擬信號，不能直接進行處理，但真實。數(shù)字探傷儀：探傷信號、數(shù)據(jù)已數(shù)字化，可進行各種處理，技術(shù)先進，能夠設(shè)計多種功能，如波形存貯、回放、比較等，代表著發(fā)展方向。 但二者的探傷能力幾乎是一樣的，數(shù)字探傷儀并不占優(yōu)勢，多的只是功能。 數(shù)字式探傷儀性能指標能基本與模擬探傷儀相同，同時還要求采樣頻率應(yīng)能滿足所用探傷頻率的需要和具有如下功能： a)儀器自檢功能； b)探傷圖形存儲、回放和打印功能； c)探

7、傷工藝參數(shù)存儲功能； d)峰值搜索功能： e)距離波福曲線繪制功能； f)選用功能：距離補償功能，探傷圖形局部放大功能，探頭和儀器技術(shù)指標測試功能。 數(shù)字化A型顯示超聲波檢測儀有多種形式： 1、峰值采樣法2、全波采樣法 3、模擬數(shù)字混合方式2.2超聲波探頭凡是能將其它任何形式能量轉(zhuǎn)換成超音頻振動形式能量的元件均可用來產(chǎn)生超聲波，本教材中僅敘述壓電換能器和電磁聲換能器。2.2.1 壓電換能器探頭(以下簡稱探頭)的基本結(jié)構(gòu)和各部分的作用探頭的作用 探頭的主要部件之一是壓電晶片，它是一種電聲換能器，也可將聲能變成電能，是可逆的。當探傷儀產(chǎn)生的電脈沖電壓加在壓電晶片兩端時，晶片將產(chǎn)生持續(xù)時間很短的高頻

8、脈沖應(yīng)力波（超聲波），當超聲波射入試件遇到缺陷反射回來時，探頭晶片又將這種應(yīng)力波轉(zhuǎn)換成電信號，通過探傷儀放大在熒光屏上顯示出來。探頭在探傷設(shè)備中的功能是起發(fā)射和接收超聲波的作用。探頭是由壓電晶片、楔塊、阻尼塊、調(diào)諧線圈及保護膜組成。1. 壓電晶片 壓電晶片是具有壓電效應(yīng)的晶體材料。這種材料受壓時會產(chǎn)生電場，在外加電場的作用下可產(chǎn)生應(yīng)力的應(yīng)變。壓電效應(yīng)是可逆的，是一種物理現(xiàn)象，電聲轉(zhuǎn)換所需要的過度時間很短，可忽略不計。用于探傷的壓電晶片有單晶（如石英，硫酸鋰，碘酸鉀等）材料和多晶陶瓷（如鈦酸鋇鋯鈦酸鉛，鈦酸鉛等）材料。由于鋯鈦酸鉛具有較高靈敏度和成本低等優(yōu)點，被廣泛采用。 壓電晶片具有頻率響應(yīng)特

9、性，這是造成探頭具有頻率響應(yīng)特性的原因。 當探頭中壓電晶片受到發(fā)射電脈沖激勵后，即可發(fā)射聲脈沖是為逆壓電效應(yīng)（超過兩萬Hz即超聲波）。當超聲波作用于晶片時，晶片受迫振動引起形變可轉(zhuǎn)換成相應(yīng)的電信號，是為正逆壓電效應(yīng)（超聲波的接收），前者是超聲波的發(fā)射，后者為超聲波的接收。2、保護膜、斜楔保護膜 保護膜可分為兩類：一是硬保護膜，主要作用是保護晶片，增加適應(yīng)性；二是軟保護膜，主要作用是增加與工件的耦合性。斜楔 斜楔的主要作用是固定晶片控制超聲波的發(fā)射方向，一般用有機玻璃制作。 3、阻尼塊 阻尼塊的主要作用是增加晶片背面振動的阻尼及吸收噪聲。一般用環(huán)氧樹脂、鎢粉制作。 4、調(diào)諧線圈 調(diào)諧線圈也叫作匹

10、配線圈，其主要作用是使探頭諧振頻率能與儀器發(fā)出的電脈沖激勵頻率達到最佳匹配。2.2.2 探頭的主要種類探頭由于其結(jié)構(gòu)的不同，可分為直探頭（縱波）、斜探頭、（橫波，表面波，板波）、小角度探頭、聯(lián)合雙晶片探頭（一個晶片發(fā)射，另一個晶片接收），聚焦探頭（將聲波聚焦為一細束，有點聚焦、線聚焦探頭、接觸式聚焦探頭和液浸式聚焦探頭），液浸探頭（可浸在液體中）以及其它專用探頭等。 1、接觸式縱波直探頭（圖2-13a，P56）超聲波垂直于發(fā)射面發(fā)出，用于探測基本平行于探測面的平面或立方體型缺陷。2、接觸式斜探頭（圖2-13b，P56）斜探頭有橫波斜探頭、瑞利波斜探頭（表面波）、縱波斜探頭（小角度）、藍姆波斜探

11、頭（板波）接觸式及可變角斜探頭等多種形式，這里僅介紹一般橫波斜探頭。橫波斜探頭主要用于探測與探測面成一定角度的平面型及立方體型缺陷，應(yīng)用廣泛。3、聯(lián)合雙晶探頭（分割型探頭）（圖2-14，P59）聯(lián)合雙晶探頭一般可為兩類：接觸式縱波聯(lián)合雙晶探頭使用接觸式縱波聯(lián)合雙晶探頭時，發(fā)射電脈沖在激勵壓電晶片的同時也進入儀器的接收電路。同于儀器放大器的阻塞，無法探測近探測面的缺陷縱波聯(lián)合雙探頭的結(jié)構(gòu)就是二個縱波單探頭的組合，一個用于發(fā)射一個用于接收，收發(fā)探頭都有各自的延遲塊，而且兩延遲塊聲束入射平面均帶一傾角，傾角的大小（決定F焦距大小，傾角越小，焦距越大）則取決于要探測區(qū)域距探測面的深度。 接觸式橫波聯(lián)合

12、雙探頭橫波聯(lián)合雙探頭是將二個橫波斜探頭向中偏一個內(nèi)傾角構(gòu)成的（指聲程較近者，遠則無須），從而提高信噪比。 4、液浸探頭、液浸聚焦探頭（圖2-15，P60）液浸探頭用于水（液體）浸法探傷，多用于自動、半自動探傷（敘特點?。┰谝航筋^的晶片平面上加上聲透鏡即可成為液浸聚焦探頭，其性能是聲強增加，靈敏度提高。5、接觸式聚焦探頭接觸式聚焦探頭可分為三類：透鏡式、反射式和曲面晶片式。（祥見圖2-16，P61）2.2.3 探頭的型號標識1、探頭型號組成項目及排列順序基本頻率： 用阿拉伯數(shù)字表示，單位為MHz（也可省略） 晶片材料： 用材料的縮寫符號表示晶片尺寸： 用阿拉伯數(shù)字表示，單位為mm，其中圓晶片用

13、直徑表示，方晶片用長寬表示，聯(lián)合雙探頭（分割探頭）晶片為為兩半圓形的用分割前的直徑表示，兩塊方晶片用長寬2；探頭種類： 用漢語拼音縮寫字母表示，直探頭也可不標特征： 斜探頭鋼中折射角正切值（K值）用阿拉伯數(shù)字表示。鋼中折射角用阿拉伯數(shù)字表示，單位為度；聯(lián)合雙探頭（分割探頭）鋼中中心聲束相交點深度用阿拉伯數(shù)字表示，單位為mm（前面多加FG，如FG30），水浸探頭水中焦距用阿拉伯數(shù)字表示，單位為mm，DJ表示點聚焦，XJ表示線聚焦。 2.2.4 探頭與儀器的連接 為了消除外來電波對探頭的激勵脈沖及回波脈沖產(chǎn)生影響，探頭須用同軸高頻電纜。注意事項如下：對于用石英、硫酸鋰等壓電晶片所制成的探頭，不能任

14、意配用非規(guī)定的（長度、種類）電纜。用鋯鈦酸鉛、鈦酸鋇等壓電晶片所制成的探頭時，電纜的種類、長度影響不大。電纜接口的表示方法 螺扣：用“L”表示，后面數(shù)字表示直徑；卡扣：用“Q”表示，后面數(shù)字表示直徑；插扣：用“C”表示，后面數(shù)字表示直徑。2.3.1試塊分類和作用1、試塊分類 試塊可分為標準試塊和對比試塊兩種 標準試塊 標準試塊是指材質(zhì)、形狀、尺寸及表面狀態(tài)等均由某權(quán)威機關(guān)制定并討論通過的試塊，國際權(quán)威機關(guān)討論通過的試塊為國際標準試塊；國家權(quán)威機關(guān)討論通過的試塊為國家標準試塊；行業(yè)、部門權(quán)威機關(guān)討論通過的試塊為行業(yè)、部門標準試塊。對比試塊對比試塊是指以特定的方法檢測特定試件時所用的試塊。對比試塊

15、常用所檢測的實物制做，所以又叫作實物（對比）試塊，試塊具有各種已知的特性，如尺寸、聲性能，并常有某些已知的孔、槽等，實際使用中常用這些已知的量與檢測配件時未知的量作比較，所以，試塊在超聲波檢測工作中占有很重要的地位。 2、試塊的作用試塊的作用有測試測試儀器、探頭的性能；標定探傷系統(tǒng)；評價缺陷的當量及保證檢驗結(jié)果的再現(xiàn)。2.3.2 IIW試塊（CSK-IA）1、IIW試塊（CSK-IA）的幾何尺寸（圖2-2021，P6566） 2、IIW試塊（CSK-IA）的作用 IIW試塊為國際標準化組織推薦使用的標準試塊，超標準號為ISO2400-1972，它的主要作用是：校驗超聲波儀的時間基線線性（水平線

16、性）及垂直偏轉(zhuǎn)線性；調(diào)整探測范圍；測定縱波遠距離分辨力；測定斜探頭的入射點，斜楔中的聲程長度，在鋼試件中的折射角及聲束指向性，分辨力。估計盲區(qū)大小；估計最大穿透力；調(diào)整檢測靈敏度。 2.3.4 CS-1-5(70225 mm，)（或DB-P-Z20-2，10080225） 1、 CS-1-5和DB-P-Z20-2的幾何尺寸 CS-1-5試塊：70225 mm，底部 有一2平底孔，深25mm； DB-P-Z20-2試塊：10080225 mm，底部有一2平底孔，深25mm 2、CS-1-5和DB-P-Z20-2的作用校驗超聲波儀的靈敏度余量、垂直線性及動態(tài)范圍；調(diào)整探測范圍；校驗超聲波探頭的靈敏

17、度余量；估計最大穿透力調(diào)整檢測靈敏度及確定缺陷的當量。2.3.5 TS-1標準試塊（鐵標TB/T1618-2001）1、 TS-1標準試塊的幾何尺寸 36362402、TS-1標準試塊的金相組織及結(jié)構(gòu) 試塊鍛件進行正火或正火再退火處理。退火后做金相檢驗，組織為珠光體+鐵素體，晶粒度為5級。在TS-1標準試塊的36240的四個面上，刻滿深槽，在槽上涂有吸聲材料。3、TS-1標準試塊的作用校驗超聲波儀的最大探測范圍；整探測范圍；調(diào)整檢測靈敏度及確定缺陷的當量。2.4 儀器、探頭及其組合的性能測定 一、超聲波探傷儀主要性能測試方法1、靈敏度余量測量 a)使用2.5MHz、20直探頭和CS15或DB-

18、PZ2020型標準試塊。 b)連接探頭并將儀器靈敏度置最大，即發(fā)射置強，抑制置零或關(guān)，增益置最大。若此時儀器和探頭的噪聲電平(不含始脈沖處的多次聲反射)高于滿輻的10，則調(diào)節(jié)衰減器或增益，使噪音電平等于滿輻度的10記下此時衰減器的讀數(shù)S0。 c)將探頭置于試塊端面上探測200mm處的2平底孔。移動探頭使中2平底孔反射波輻最高，并用衰減器將它調(diào)至滿輻度的50，記下此時衰減器的Sl，則該探頭及儀器的探傷靈敏度余量S為：S=S1-S0(dB) (13)2垂直線性誤差測量(1)連接探頭并在試塊上探測任一反射波(一般聲程大于50mm)作為參照波，如圖2所示。調(diào)節(jié)探傷儀靈敏度，使參照波的輻度恰為垂直刻度的

19、100，且衰減器至少有30dB的余量。測試時允許使用探頭壓塊。(2)用衰減器降低參照波的輻度，并依次記下每衰減2dB時參照波輻度的讀數(shù)，直至衰減26dB以上。然后將反射波輻度實測值與表l中的理論值相比較，取最大正偏差d(+)與最大負偏差d(-)，則垂直線性誤差d用式(1)計算：d=d(+)+d(-)(1)(3)在工作頻率范圍內(nèi)，改用不同頻率的探頭，重復(1)和(2)的測試。 3動態(tài)范圍的測量 (1)連接探頭并在試塊上探測任一反射波 (一般聲程大于50mm)作為參照波。 (2)調(diào)節(jié)衰減器降低參照波，并讀取參照波輻度自垂直刻度的100下降至剛能辨認之最小值(一般約為35)時衰減器的調(diào)節(jié)量，此調(diào)節(jié)量

20、則定為該探傷儀在給定頻率下的動態(tài)范圍。 (3)按(1)和(2)條方法，測試不同頻率不同回波時的動態(tài)范圍。4水平線性誤差測量 (1)連接探頭，并根據(jù)被測探傷議中掃描范圍檔級將探頭置于適當厚度的試塊上，如DBD1，DBPz20-2，CSK-1A試塊等，如圖3所示。再調(diào)節(jié)探傷儀使之顯示多次無干擾底波。 (2)在不具有“掃描延遲”功能的探傷儀中，在分別將底波調(diào)到相同輻度的條件下，使第一次底波B1的前沿對準水平刻度“2”第五次底波B5的前沿對準水平刻度“10”，然后依次將每次底波調(diào)到上述相同輻度，分別讀取第二、三四次底波前沿與水平刻度“4”、“6”、“8”的偏差Ln，如圖4所示，然后取其最大偏差Lmax

21、按式(2)計算水平線性誤差L： 式中：L：水平線性誤差，； B：水平全刻度讀數(shù)。 (3)在具有“掃描延遲”功能的探傷儀中，按(2) 條的方法，將底波以前沿對準水平刻度 “O”，底波B6前沿對準水平刻度“O”，然 后讀取第二至第五次底波中之最大偏差 值Lmax，再按式(3)計算水平線性誤差L(4)在探傷儀掃描范圍的各檔級，至少應(yīng)測 試一種掃描速度下的水平線性誤差。 (3)在具有“掃描延遲”功能的探傷儀中，按(2)條的方法，將底波以前沿對準水平刻度“O”，底波B6前沿對準水平刻度“O”，然后讀取第二至第五次底波中之最大偏差值Lmax，再按式(3)計算水平線性誤差L (4)在探傷儀掃描范圍的各檔級，

22、至少應(yīng)測試一種掃描速度下的水平線性誤差。5分辨力測量(1)直探頭分辨力的測量 a)儀器抑制置零或關(guān)，其它旋鈕置適當位置，連接探頭并置于CSK-IA標準試塊上，探測聲程分別為85mm和91mm反射面的反射波，移動探頭使兩波等高；分辨力的測量 b)改變靈敏度使兩次波輻同時達到滿輻度的100，然后測量波谷高度h，則該探頭的分辨力R用下式計算：R=20lg(100h) (1)若h=0或兩波能完全分開，則取R30dB。 (2)斜探頭分辨力的測量 a)如圖lO所示，探頭置于CSK一1A試塊的K值測量位置，耦合良好，探測試塊上A(50)、B(44)兩孔的反射波，移動探頭使兩波等高； b)調(diào)節(jié)衰減器和增益，使

23、A、B西波波輻同時達到滿輻度的100，然后測量波谷高度h，則該探頭的分辨力R用式(8)計算； c)若h=0或兩波能完全分開，則取R30dB。二、超聲探頭的測試方法1探頭回波頻率及頻率誤差測量 (1)直探頭回波頻率的測試 a)連接被測探頭并置于l號標準試塊25mm厚度處，使第一次底波環(huán)最高。 b)用示波器在探傷儀的接收輸入端觀察底波B1的擴展波形，如圖8，在此波形中，以峰值點P為基準，讀出在其前一周期、后兩個周期共計三個周期的時間T3，根據(jù)fe=3T3計算回波頻率fe，再按下式計算回波頻率誤差：fe=(fe-f0)f0100(7) 式中：fe回波頻率誤差，；f0探頭的標稱頻率。 探頭回波頻率測量

24、 (2)斜探頭回波頻率的測量 儀器連接及調(diào)節(jié)度與直探頭相同，將探頭置于1號試塊上探測R100圓弧面的最高回波。其余步驟與直探頭相同。2分辨力(縱向)測量 (1)直探頭分辨力的測量 a)儀器抑制置零或關(guān)，其它旋鈕置適當位置，連接探頭并置于CSK-IA標準試塊上，探測聲程分別為85mm和91mm反射面的反射波(如圖9所示)，移動探頭使兩波等高； (方法同儀器分辨力的測量) b)改變靈敏度使兩次波輻同時達到滿輻度的100，然后測量波谷高度h，則該探頭的分辨力R用下式計算：R=20 lg(100h) (1)若h=0或兩波能完全分開，則取R30dB。 (2)斜探頭分辨力的測量 a)如圖10所示，探頭置于

25、CSK一1A試塊的K值測量位置，耦合良好，探測試塊上A(50)、B(44)兩孔的反射波，移動探頭使兩波等高； b)調(diào)節(jié)衰減器和增益，使A、B兩波波輻同時達到滿輻度的100，然后測量波谷高度h，則該探頭的分辨力R用式(8)計算； c)若h=0或兩波能完全分開，則取R30dB。斜探頭分辨力的測量 3直探頭聲軸偏斜角的測量 (1)在DB-H1試塊上選取深度約為2倍被測探頭近場長度的橫通孔。 (2)標出探頭的參考方向，將探頭幾何中心軸對準橫通孔中心軸，然后使探頭沿x方向在試塊中心線上移動，測出到孔波最高點時探頭的移動距離D、，其中孔波輻度最高點在+x方向時加上(+)號，在-x方向時加上(-)號 (3)

26、繼續(xù)沿x方向移動探頭，分別測出孔波輻度最高點至孔波輻度下降6dB時探頭的移動距離W+x和w-x。(4)使探頭沿y方向?qū)试噳K中心線移動，按上兩條的方法測出Dy、W+y和W-y。(5)Dx、Dy。表示了聲軸的偏移，W+x、W-x、W+y和Wy表示了聲束寬度，讀數(shù)精確到1mm。按下式計算聲軸的偏斜角：4斜探頭人射點的測定 (1)橫波斜探頭 連接被測探頭并置于CSK一1A型標準或CSKI型標準試塊上探測試塊R100圓弧面。前后移動探頭并保持探頭與試塊側(cè)面平行，使R100圓弧面的回波輻度達到最高，則此時R100圓心刻線所對應(yīng)的探頭側(cè)棱上的點的即為探頭的入射點。 5斜探頭折射角的測量 a)一般平面斜探頭

27、使用CSK-IA標準試塊，首先測定探頭的入射點并測量前沿距離(L)。斜探頭K值和的測量 b)儀器顯示和靈敏度調(diào)整適當，連接被測斜探頭并把探頭置于標準試塊相應(yīng)的位置上，探測試塊上直徑為50mm孔的回波。耦合良好，前后移動探頭并注意保持聲束方向與試塊側(cè)面平行，直至孔的回波輻度為最高時，從試塊上讀出此時入射點所對應(yīng)的角度刻度，此刻度即為該探頭的K值(tg ,折射角)。6相對靈敏度 (1)直探頭(等同于探傷靈敏度余量) a)使用2.5MHz、20直探頭和CS15或DB-PZ2020型標準試塊。 b)連接探頭并將儀器靈敏度置最大，即發(fā)射置強，抑制置零或關(guān)，增益置最大。若此時儀器和探頭的噪聲電平(不含始脈沖處的多次聲反射)高于滿輻的10，則調(diào)節(jié)衰減或增益，使噪聲電平滿輻度的10記下此時衰減器的讀數(shù)S0。c)將探頭置于試塊端面上探測200mm處的2平底孔。移動探頭使中2平底孔反射波輻最高，并用衰減器將它調(diào)至滿輻度的50，記下此時衰減器的微Sl，則該探頭及儀器的探傷靈敏度余量S為：S=S1-S0(dB)(13)(2)斜探頭相對靈敏度測試連接好被測試斜探頭并按直探頭的方法測量噪聲電平S0，然后將探頭并置于CSK-1A標準試塊上探測R100圓弧面(如圖18)，耦合良好并保持聲束方向與試塊側(cè)面平行，前后移動探頭，使R100圓弧