磁阻法測厚儀操作說明書

1、磁阻法測厚儀 操作說明書HCC-24磁阻法測厚儀1概述HCC-24磁阻法測厚儀是一種用電池供電的便攜式測量儀器，可快速 無損地測量導(dǎo)磁材料表面上非導(dǎo)磁覆蓋層厚度。例如：鐵和鋼上的銅、鋅、鎘、銘鍍層和油漆層等。由于集成電路和微處理器的應(yīng)用，使本儀器具有 操作簡單、使用方便、穩(wěn)定性好、測量精度高的優(yōu)點(diǎn)。儀器具有數(shù)理統(tǒng)計(jì) 功能，可直接顯示測量次數(shù)、平均值、最大值及最小值。本儀器采用電磁感應(yīng)原理進(jìn)行測量，符合國際標(biāo)準(zhǔn)ISO2178和國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T4956。當(dāng)探頭與覆蓋層接觸時(shí)，探頭和磁性基體構(gòu)成一閉合磁回路， 由于非磁性覆蓋層存在，使磁路磁阻增加，磁阻的大小正比于覆蓋層的厚 度。通過對(duì)磁阻的測量，經(jīng)

2、電腦進(jìn)行分析處理，由液晶顯示器直接顯示出 測量值。2技術(shù)參數(shù)1、測量范圍：0dm1200dm。2、示值誤差：土(13)%H+1 m) H為被測涂層厚度。3、分辨率：1dm。4、最小測量面的直徑：小10 mm。5、顯示：4位LCD顯示測量的次數(shù)、平均值、最大值、最小值，同時(shí) 指示儀器的工作狀態(tài)及電池使用情況6、電源：一節(jié) 6F22型9V電池。7、外形尺寸：160 mm X 80 mm x30 mm。8、質(zhì)量：約250g。9、使用環(huán)境：溫度0c40 C；相對(duì)濕度不大于90%03儀器外型4按鍵說明1、“開/關(guān)”：儀器的開關(guān)鍵。2、“統(tǒng)計(jì)RES:數(shù)理統(tǒng)計(jì)鍵，對(duì)測量結(jié)果進(jìn)行數(shù)理統(tǒng)計(jì)，并順序顯示 下述數(shù)據(jù)

3、，即測量的次數(shù)（N）、平均值（MEAN）、最大值（MAX）、最小 值（MIN）。3、“清除DEL:從統(tǒng)計(jì)中消除當(dāng)前測量值的鍵。4、“校正CAL:用于校正儀器的鍵。5、“人”：處在校正方式時(shí)，遞增顯示數(shù)值的鍵；在正常測試時(shí)，用 于普通模式與連續(xù)測量模式轉(zhuǎn)換。6、處在校正方式時(shí)，遞減顯示數(shù)值的鍵；在正常測試時(shí)，用 于普通模式與連續(xù)測量模式轉(zhuǎn)換。5儀器的基本使用方法用本儀器進(jìn)行測試使用起來非常簡單：首先用螺絲刀撬開儀器背面的電池盒蓋，裝入電池。然后按“開 /關(guān)”鍵開機(jī)，儀器顯示“ -”，2秒鐘 后顯示“ 0m”，儀器便進(jìn)入測量狀態(tài)。此時(shí)，用戶只要將儀器的探頭垂 直壓在被測面上（如圖1）。注意，探頭按

4、下時(shí)，探頭的尾部會(huì)抬起，手不要碰到探頭的金屬部分，以免影響保持探頭內(nèi)體自由上下活動(dòng)。保持探頭放輅穩(wěn)定，儀器顯示器上會(huì)出現(xiàn)一個(gè)標(biāo)志，并顯示測試結(jié)果。如果要再測一次，往上提探頭使其離開被測面，然后再按下探頭，儀器隨后就會(huì)顯示新的測試結(jié)果。如果被測面是弧形的，按圖 2的方式，使探頭下端的三角開叉跨在被測件上，這樣便能穩(wěn)固地放輅探頭，保證測試結(jié)果準(zhǔn)確。圖1圖2為了保證儀器正常工作并獲得最佳工作狀態(tài)，請(qǐng)注意以下2個(gè)使用細(xì)節(jié)：.在儀器開機(jī)時(shí)，使探頭遠(yuǎn)離被測件和其它鐵磁性物體 （10cm以上），直到儀器顯示 “0m”為止。2.每次測試后，盡量上提探頭，使其遠(yuǎn)離被測件，這樣會(huì)使儀器處于良好的環(huán)境適應(yīng)狀態(tài)。6正

5、式測試前的準(zhǔn)備工作用戶購買后的新儀器在進(jìn)行實(shí)際使用前，都必須要進(jìn)行儀器的校正，這是保證儀器達(dá)到標(biāo)稱精度的重要保證，請(qǐng)務(wù)必重視。儀器有多種校正方法，使用很靈活，用戶可根據(jù)實(shí)際需要選擇如下一種方式：1）全范圍高準(zhǔn)確度的傳統(tǒng)校正法用戶通過隨機(jī)配備的三個(gè)不同厚度的試片和裸基體完成校正，具體步驟如下：步驟一在儀器處于開機(jī)后的狀態(tài)時(shí)，按一下“校正CAL鍵，儀器屏上會(huì)出現(xiàn)“CAL,同時(shí)會(huì)顯示一個(gè)數(shù)值，該數(shù)值如果不為“0，按“鍵，直到該數(shù)值由大到小變到“ 0”為止。然后將探頭放在裸基體的測試面上 進(jìn)行測試（注意，這里的裸基體一定要和實(shí)際被測物的材料和形狀完全相 同。不要使用隨機(jī)配備的標(biāo)準(zhǔn)金屬基塊，那只能用來驗(yàn)

6、證儀器本身工作是 否正常，不能用來校正儀器）?？梢詼y試幾下，待儀器上顯示的數(shù)值基本 穩(wěn)定后，按一下 “校正CAL鍵，儀器的零點(diǎn)便校正完畢，它會(huì)顯示一個(gè) 新的數(shù)值。步驟二接上一步驟，用第一個(gè)試片來校正?？匆幌聝x器上顯示的數(shù)值和隨機(jī) 配備最薄的試片的實(shí)際厚度是否一致， 該片所標(biāo)注的實(shí)際厚度在 20 dm左 右。用“人”或鍵，使儀器上顯示的數(shù)值和該試片的實(shí)際厚度值一 致。然后將該試片平放在裸基體上，探頭再壓在上面進(jìn)行測試，可以重復(fù) 幾次。待儀器顯示的測量值穩(wěn)定后，按一下“校正CAL鍵，第一個(gè)試片的校正結(jié)束，儀器又顯示下一個(gè)校正片的厚度值。步驟三用步驟二相同的方法，只是所用試片要換成厚度200醫(yī)m左右

7、的那一片。步驟四依然和步驟二相同，但所用的試片要換成1200醫(yī)m左右的那一片。到 這個(gè)步驟的最后階段，按一下“校正CAL”鍵，儀器屏上還會(huì)繼續(xù)顯示一個(gè)校正片的厚度值，如“1999”，不用再做下去了，再按一下“校正CAL 鍵，校正便全部結(jié)束了。這時(shí)的儀器便可以進(jìn)行高準(zhǔn)確度的實(shí)際測量了。在以后使用時(shí)，如果有必要，可以再次做上面四個(gè)步驟的校正。儀器會(huì)記住了上次的零點(diǎn)和每個(gè)試片的厚度值，這樣就可以根據(jù)儀器提示，不 用再修正試片厚度值，便能輕松完成各個(gè)步驟。2）上下限校正法在大多數(shù)情況下，用戶使用本儀器測試的對(duì)象有一定的共性，如材料 和形狀相同，涂層厚度也局限在某個(gè)范圍內(nèi)，此時(shí)用戶關(guān)心的也許是被測 對(duì)象

8、的涂層是否超差。如果這些條件成立，那么就沒有必要使用上面多步 驟的傳統(tǒng)校正法，而只需要運(yùn)用上下限校正便能很好地完成使命。本方法只需要兩個(gè)步驟校正兩點(diǎn)，當(dāng)然，這兩點(diǎn)最好直接選用用戶被 測件涂層允許范圍中的最小和最大厚度。這樣校正的結(jié)果，儀器在這兩個(gè) 校正點(diǎn)上的精度非常高，甚至比上面?zhèn)鹘y(tǒng)的校正還要好。要實(shí)現(xiàn)這一點(diǎn)， 用戶首先要設(shè)法獲得符合這兩個(gè)校正點(diǎn)厚度的試片，可以向本公司提出購 買特殊試片的要求，也可以自行尋找符合條件的樣品。不必過于苛求試片 或樣品的厚度值與理想的校正點(diǎn)完全相符。有了這兩個(gè)厚度片或?qū)嶋H樣品 后，校正便可按如下步驟進(jìn)行：步驟一先校正兩者中較小的那個(gè)厚度值。在儀器開機(jī)后的狀態(tài)下，按

9、一下“校 正CAL鍵，用/或”鍵調(diào)整儀器顯示的厚度值，使其和兩點(diǎn)中 較小的那個(gè)厚度值一致。然后，在裸基體上平放對(duì)應(yīng)厚度的試片，探頭再 壓上進(jìn)行測試。如果是樣品，那么直接測試該樣品。可以重復(fù)幾次測試， 待儀器顯示的測試值穩(wěn)定后， 按一下“校正CAL鍵，該點(diǎn)的校正便完成， 儀器進(jìn)入下一點(diǎn)校正。步驟二接上一步驟，用“人” 、“”鍵調(diào)整儀器顯示的厚度值，使其和兩點(diǎn)中較大的那個(gè)厚度值一致。按步驟一同樣的方法，用另一塊對(duì)應(yīng)的試片或樣品進(jìn)行測試，待儀器顯示的測量值穩(wěn)定后，按兩次“校正CAL鍵（后一次按鍵使儀器退出校正過程），上下限的校正便完成了。如果以后還要做同樣的上下限校正，借助儀器已經(jīng)記住的兩個(gè)校正點(diǎn)厚

10、度值，能進(jìn)一步讓用戶省去上面 兩個(gè)步驟中調(diào)整厚度的那部分操作，使用將更加便捷。3）單點(diǎn)校正法有時(shí)候，受條件限制，譬如被測體是個(gè)凹面，無法使用很難彎曲的厚 試片進(jìn)行校正；或者用戶接觸到的涂層厚度局限在一個(gè)相對(duì)較小的范圍內(nèi)。此時(shí)，只能或只需要用一個(gè)校正點(diǎn)。這個(gè)校正點(diǎn)可以是裸基體（零點(diǎn)），也可以是某個(gè)任意涂層厚度的樣品。如果用戶的接觸到的被測件涂層厚度在某個(gè)較小范圍內(nèi)，如100dm左右，那么這個(gè)校正點(diǎn)選 100dm是最合適的。校正點(diǎn)定好以后就可以開始校正了，只有如下一個(gè)步驟：在儀器開機(jī)后的狀態(tài)下，按一下“校正CAL”鍵，用 “/或鍵調(diào)整儀器顯示的厚度值，使其為“0”或與樣品的厚度值一致。然后，將探頭

11、直接放在裸基體上進(jìn)行測試。如果是樣品，那么直接測試該樣品?？梢灾貜?fù)測幾次，待儀器顯示的測試值穩(wěn)定后， 按兩下“校正CAL鍵（后 一次按鍵使儀器退出校正過程），單點(diǎn)校正便完成了。同樣，如果以后還要做同樣的單點(diǎn)校正，借助儀器已經(jīng)記住的校正點(diǎn)厚度值，能進(jìn)一步讓用戶省去上面步驟中調(diào)整厚度的那部分操作，使用將 更加便捷。相對(duì)于上面的幾種方法，本校正法的操作最簡單。但代價(jià)是儀器的測 試精度在遠(yuǎn)離校正點(diǎn)處可能會(huì)有所降低。用戶可以不妨試用一下本校正法， 以便判斷它能否滿足實(shí)際的測試要求。4）任意多個(gè)校正點(diǎn)校正法如果用戶接觸到的被測物件形狀比較特殊，而且涂層厚度的范圍也比 較大，同時(shí)精度又有更高的要求，那么用戶

12、可以自行挑選多個(gè)校正點(diǎn)（最 多10個(gè)）進(jìn)行校正，儀器允許的校正點(diǎn)厚度為01999dm。有一點(diǎn)請(qǐng)注意，在實(shí)際進(jìn)行校正的過程中，多個(gè)厚度執(zhí)行順序必須由小到大依次進(jìn) 行。具體的操作步驟和上面的傳統(tǒng)校正法類似，此處就不再重復(fù)了。7儀器的其它操作說明1、通過多次測量后，按“統(tǒng)計(jì) RES鍵可依次顯示出測量次數(shù)、測量 結(jié)果的平均值、最大值、最小值。按了 “統(tǒng)計(jì) RES鍵后，如再次測量， 儀器會(huì)清除原有的測量值，并存儲(chǔ)新的測量值，并重新計(jì)算各個(gè)統(tǒng)計(jì)值。如果在測量中，因探頭放輅不穩(wěn)，顯示出一個(gè)明顯錯(cuò)誤測量值，可按 “清除DEL鍵消除該測量值，以免影響統(tǒng)計(jì)結(jié)果的準(zhǔn)確性。2、儀器使用完畢后，按“開/關(guān)”鍵，關(guān)閉電源。本儀器還有自動(dòng)關(guān) 機(jī)功能，如不進(jìn)行任何操作，顯示屏上也沒有顯示，儀器會(huì)在大約五分鐘 后自動(dòng)關(guān)機(jī)。3、本儀器有電源狀態(tài)指示功能，當(dāng)電源電壓不足時(shí)，顯示器左上角 顯示“BAT。此后，儀器雖仍能工作約二小時(shí)，但建議用戶此時(shí)應(yīng)更換電 池。4、除上述常規(guī)的工作模式外，本儀器還有一種連續(xù)顯示模式。在常規(guī)工作模式下，按或鍵即可進(jìn)入連續(xù)顯示模式，這時(shí)顯示器右上角出現(xiàn)“ FREE標(biāo)志。在該狀態(tài)下，測量值不儲(chǔ)存，每次測量完成后，探頭不必提離被測物，測量和顯示仍繼續(xù)進(jìn)行。這樣，通過探頭在被測物 表面移動(dòng)，可觀察到測量值的連續(xù)變化。再次按/或鍵可退回到常規(guī)工作模式，這時(shí)“ FREE標(biāo)志 消失。測量值的變化