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文檔簡介

1、2.1 概述2.2 晶體與非晶體2.3 晶體的結(jié)構(gòu)與性能2.4 晶體缺陷及其對性能的影響2.5 非晶態(tài)材料的結(jié)構(gòu)與性能2.6 材料結(jié)構(gòu)的表征12.3 晶體的結(jié)構(gòu)和性質(zhì)1規(guī)則的幾何外形2晶面角守恒3有固定的熔點4物理性質(zhì)的各向異性2.3.1 晶體的宏觀特性2石英晶體的若干外形圖石英晶體的不同樣品中,a、c晶面間夾角總是113o08,b、c晶面夾角總是120o00,所以晶面角才是晶體外形的特征因素。這個普遍的規(guī)律被概括為晶面角守恒定律:屬于同一晶種的晶體,兩個對應(yīng)晶面間的夾角恒定不變,晶面角守恒表明同一種晶體,其內(nèi)部結(jié)構(gòu)的規(guī)則性是相同的。32.3.2 布拉格點陣與晶系格子的結(jié)點:點陣結(jié)構(gòu)點陣的質(zhì)點

2、:原子、分子、離子、原子團每個結(jié)點有完全想同的周圍環(huán)境(1) 布拉格點陣4NaCl的晶體結(jié)構(gòu)晶體的晶胞參數(shù)晶胞參數(shù)a、b、c、5晶體結(jié)構(gòu)點陣+結(jié)構(gòu)基元基元點陣圖6(2) 晶系7晶面指數(shù)82.4 晶體缺陷及對其性能的影響2.4.1 缺陷的分類2.4.2 缺陷對晶體性質(zhì)的影響2.4.3 非整比化合物92.4 晶體缺陷及對其性能的影響理想晶體?1011所謂平移對稱性就是指對空間點陣,任選一個最小的基本單元,在空間三維方向進行平移,這個單元能夠無一遺漏的完全復(fù)制所有空間格點。由于局部地方格點的破壞導致平移操作無法完整地復(fù)制全部的二維點陣。這樣的晶體,我們就稱之為含缺陷的晶體,對稱性破壞的局部區(qū)域稱為晶

3、體缺陷。122.4 .1 晶體缺陷的分類結(jié)構(gòu)缺陷(本征缺陷)點缺陷面缺陷線缺陷體缺陷13點缺陷:發(fā)生在晶格中一個原子尺寸范圍內(nèi)的一類缺陷,亦稱零維缺陷,例如空位、間隙原子等線缺陷:缺陷只在一個方向上延伸,或稱一維缺陷,主要是各種形式的“位錯”,例如晶格中缺少一列原子即形成線缺陷面缺陷:晶體內(nèi)一個晶面不按規(guī)定的方式來堆積,部偏離周期性點陣結(jié)構(gòu)的二維缺陷,即在堆積過程中偶爾有一個晶面不按規(guī)定的方式來堆積,于是這一層之間就產(chǎn)生了面缺陷。體缺陷:指在三維方向上相對尺寸較大的缺陷,例如完整的晶格中可能存在著空洞或夾雜有包裹物等,使得晶體內(nèi)部的空間點陣結(jié)構(gòu)整體中出現(xiàn)了異性形式的缺陷142.4 .1.1 點

4、缺陷(1) 概念空位間隙原子15六十年代Kroger等建立了比較完整的缺陷研究理論,主要用于研究晶體內(nèi)的點缺陷。缺陷化學的基本假設(shè):將晶體看作稀溶液,將缺陷看成溶質(zhì),用熱力學的方法研究各種缺陷在一定條件下的平衡。也就是將缺陷看作是一種化學物質(zhì),他們可以參與化學反應(yīng)準化學反應(yīng),一定條件下,這種反應(yīng)達到平衡狀態(tài)。1617在晶體中,位于點陣結(jié)點上的原子并非靜止的,而是以平衡位置為中心作熱振動。原子的振動能是按幾率分布,有起伏漲落的。當某一原子具有足夠大的震動能而使振幅增大到一定限度時,就可能克服周圍原子對它的制約作用,跳離其原來的位置,使點陣中形成空結(jié)點,稱為空位。18離開平衡位置的原子有三個去處:

5、一是遷移到晶體表面或內(nèi)表面的正常結(jié)點位置上;使晶體內(nèi)部留下空位,稱為Schottky空位二是擠入點陣的間隙位置,在晶體中同時形成數(shù)目相等的空位和間隙原子,稱為Frenkel缺陷;三是跑到其他空位中,使空位消失或空位遷移;四是一定條件下,晶體表面的原子也可能跑到晶體內(nèi)部的間隙位置形成間隙原子;對于高分子晶體除了上述的空位、間隙原子和雜質(zhì)原子等點缺陷外,還有其特有的點缺陷。19 晶體中的原子正是由于空位和間隙原子不斷的產(chǎn)生與復(fù)合才不聽地由一處向另一處做無規(guī)則的布朗運動,這就是晶體中原子的自擴散,是固體相變、表面化學熱處理、蠕變、燒結(jié)等物理化學過程的基礎(chǔ)。2021熱致缺陷摻雜造成缺陷與環(huán)境雜質(zhì)交換引

6、起缺陷外部作用引起缺陷(2) 成因22(3) 缺陷對晶體性質(zhì)的影響23(3) 缺陷對晶體性質(zhì)的影響(1) 對力學性質(zhì)的影響(2)對催化性能影響(3)對電化學性質(zhì)的影響(4)對光學性質(zhì)的影響(5)對晶體顏色的影響241對力學性質(zhì)的影響由于結(jié)構(gòu)缺陷的存在,使得晶體的機械強度大大降低。2. 對光學性質(zhì)的影響晶體缺陷對晶體的光學性質(zhì)有很大影響。如雜質(zhì)原子就會對閃爍晶體材料的性能產(chǎn)生重大影響。BGO是化合物Bi4Ge3O4的簡稱。BGO晶體無色透明,室溫時在光和X射線輻照下有很強的發(fā)光性質(zhì),是性能優(yōu)異的新一代閃爍晶體材料,可以用于探測X射線、Y射線、正電子和帶電粒子等,在核物理,高能物理,核醫(yī)學和石油勘

7、探等有廣泛應(yīng)用,但如果含千分之幾的雜質(zhì),發(fā)光新能就會受到嚴重的影響。25 3對電學性質(zhì)的影響 由于晶格中空位缺陷的存在,對各類晶體的電導率產(chǎn)生不同的影響。 因為在電場作用下,離子會通過空位而移動,從而增高了離子晶體的電導率; 但對電子導電的金屬體而言,則因其內(nèi)部缺陷濃度的增加而導致了電阻率的增高。 雜質(zhì)對于晶體,特別是對半導體材料的電學性質(zhì)的影響十分顯著。這主要是由于雜質(zhì)元素的引入改變了半導體的能帶結(jié)構(gòu)。因此許多半導體原料在制成器件前都要“摻雜”,控制摻雜元素的種類和濃度,即可得到不同類型的、電阻率范圍不同的半導體材料。264對晶體顏色的影響晶體的顏色與晶體缺陷密切相關(guān)。如Cr2O3本身是綠色

8、,當摻入Al2O3即變成紅色。5對催化性能的影響固相催化刑的催化性能與晶體表面有關(guān)。272.4 .1.2 位錯28從滑移的角度看,位錯是滑移面上上已滑移和未滑移部分的交界,即晶體中某處有一列或若干列原子發(fā)生有規(guī)律的錯排現(xiàn)象。晶體中的線缺陷是各種類型的位錯,其特點是原子發(fā)生錯排的范圍,在一個方向上尺寸較大,而在另外兩個方向上尺寸較小,是一個直徑約在3-5個原子間距、長幾百到幾萬個原子間距的管狀原子畸變區(qū)2930刃型位錯線可理解為晶體中已滑移區(qū)與未滑移區(qū)的邊界線。它可以是直線、折現(xiàn)或曲線,但必須與滑移方向垂直,也垂直于滑移矢量?;泼姹囟ㄊ峭瑫r包含有位錯線和滑移矢量的平面,在其他面上不能滑移。由于

9、在刃型位錯中,位錯線和滑移矢量相互垂直,因此他們所構(gòu)成的平面只有一個。對于高分子晶體除了上述的空位、間隙原子和雜質(zhì)原子等點缺陷外,還有其特有的點缺陷。313233由于剪應(yīng)力的作用使晶體互相滑移,晶體中滑移部分的相交位錯線是和滑移面方向平行的,因為位錯線周圍的一組原子面形成了一個連續(xù)的螺旋形坡面,古稱為螺旋位錯。342.4 .1.3 面缺陷35材料的表面是最顯而易見的面缺陷。在垂直于表面方向上,平移對稱性被破壞了。由于材料是通過表面與環(huán)境及其他材料發(fā)生相互作用,所以表面的存在對材料的物理性能有重要的影響。常見的氧化、腐蝕、磨損等自然現(xiàn)象都與表面狀態(tài)有關(guān)。36原子偏離周期排列的三維缺陷。一般指材料

10、中的空洞、夾雜物等,這種體缺陷對材料性能的影響一方面與它的幾何尺寸的大小有關(guān);另一方面也與其數(shù)量、分布有關(guān);它們的存在常常是有害的2.4 .2 體缺陷372.4 .3 非整比化合物產(chǎn)生原因一種原子的一部分從有規(guī)則的結(jié)構(gòu)位置中失去;存在著超過結(jié)構(gòu)所需數(shù)量的原子被另一種原子所取代38高溫超導材料392.5 非晶體的結(jié)構(gòu)和性質(zhì)2.5.1 非晶體的結(jié)構(gòu)特點402.5.2 非晶體材料的性能412.6 材料結(jié)構(gòu)的表征2.6.1 材料化學組成的表征化學分析法儀器分析法422.6.2 材料結(jié)構(gòu)的表征(1)晶體結(jié)構(gòu)的研究和表征(2)材料顯微結(jié)構(gòu)的研究43形貌的觀察及物相(組成、含量)分析;固體結(jié)構(gòu)(類型、點陣常數(shù))的測定;固體結(jié)合鍵的類型;雜質(zhì)含量及分布情況晶粒形態(tài)、大小、取向及分布特征;晶粒中的晶格畸變相缺陷情況;晶體結(jié)構(gòu)和相結(jié)構(gòu)及分布特征;材料的應(yīng)力狀態(tài)及應(yīng)變。442.6.3 材料結(jié)構(gòu)的表征的幾種方法4546透射電子- -透射電子顯微鏡(TEM

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