開關(guān)電源可靠度測試

1、可 靠 度 測 試 規(guī) 范可 靠 度 測 試 規(guī) 范Reliability Test SpecificationNo.WI7308修訂日期Amendment Date版本VerV.01頁次Page3日期Release Date90.11.12溫度Derating 率NO 組件名稱溫度判定標(biāo)準(zhǔn)備注 電阻電阻最高耐溫之電容電容最高耐溫減熱暴走高溫短路測試Ta :55 Load :100Schotty Diode 取Tj 之Ta :65 Load :70半導(dǎo)體 2. 其它半導(dǎo)體（晶體管 MOSFET 取Input :85V/265V 時(shí)Tj 之）（Tj*80）+5為判定基礎(chǔ)1. FR-4: 1152

2、. CEM-3: 110基板3. CEM-1: 100與基板板厚無關(guān)4. XPC-FR : 1005. 判定：PCB 最大耐溫減絕緣區(qū)分： A 種種 種變壓器標(biāo)準(zhǔn)溫度： 105 120 130（含電熱偶式 ：90 105110感）Abnormal :150 165 175可 靠 度 測 試 規(guī) 范Reliability Test SpecificationNo.WI7308修訂日期Amendment Date版本VerV.01頁次Page日期Release Date90.11.12可 靠 度 測 試 規(guī) 范Reliability Test SpecificationNo.WI7308修訂日期A

3、mendment Date版本VerV.01頁次Component temperature rise 組件溫度上升：目的：確保待測物之可靠度，確認(rèn)各組件均在溫度規(guī)格內(nèi)使用。適用：所有機(jī)種適用。測試條件：a.輸入電壓：規(guī)格范圍之最小、額定、最大。 b.負(fù)載：規(guī)格范圍之最大。c.輸出電壓：額定。 d.周圍溫度：常溫。 e.接線圖：INPUT待測物負(fù)載SOURCE溫度記錄器測試方法：依測試條件設(shè)定，當(dāng)溫度達(dá)到熱平衡后，以熱電偶測定組件溫度，基板上之元件焊點(diǎn)需測量溫度。參考溫度 Derating計(jì)算出最大規(guī)格值t.(i.e. Derating Curve 在 100% Load 100% 下最高至 5

4、0，則以附表Derating 率之溫度減去 50 得 100%之LOAD 下之t.；60時(shí)，Derating 率為 70%，則減去 60 得到 70%之t.) 實(shí)際負(fù)載在 100%時(shí)依減 50之t.為規(guī)格值。組件之選擇以R-1 溫度分布測得之發(fā)熱較多組件做測定。組件實(shí)際過計(jì)算得出之t.?？?靠 度 測 試 規(guī) 范No.WI7308修訂日期Amendment DatePage日期Release Date90.11.12Parts derating 組件度：目的：確保待測物之可靠度，確認(rèn)組件實(shí)際使用時(shí)能在絕對最大額定下之 Derating率范圍內(nèi)。適用：所有機(jī)種適用。測試條件：測試待測物在下列條件

5、下一次測和二次測主回路波形（電流波形和電壓波形）輸入和輸出低壓起動(dòng) 短路開機(jī) 開機(jī)后短路滿載關(guān)機(jī)（不做）各回路波形和組件耐壓請參考組件Derating c.接線圖：INPUT待測物負(fù)載SOURCESCOPEReliability Test Specification版本VerV.01頁次Page日期Release Date90.11.123.4 組件DeratingNO組件名稱溫度判定標(biāo)準(zhǔn)備注80電阻最高耐壓之 90電阻Surge 取耐壓之 95電容最高耐壓之 85（AC 輸入電容取耐壓之 95）電容Ripple 電流取 100鉭質(zhì)電容取耐壓之 80VRMVRSMISFMSurgeSCR809

6、59090TRIAC80959090二極管Bridge-Diode80959090（Diode）Diode80959090Surge：I2tScotty Diode90959090Zener Diode9090 LED80959090VDSS/VCE :取規(guī)格之 95 VGSS/VBE :取規(guī)格之 95晶體管ID/IC:取規(guī)格之 95 MOSFETIB:取規(guī)格之 95取額定電流之 70FuseSurge : 65可 靠 度 測 試 規(guī) 范Reliability Test SpecificationNo.WI7308修訂日期Amendment Date版本VerV.01頁次Page7日期Rele

7、ase Date90.11.12可 靠 度 測 試 規(guī) 范Reliability Test SpecificationNo.WI7308修訂日期Amendment Date版本VerV.01頁次Thermal runaway 熱暴走：目的：確認(rèn)過負(fù)載、出力短路下，保護(hù)之度。適用：所有機(jī)種適用。測試條件：a.輸入電壓：規(guī)格之輸入電壓范圍最小、最大值，（例 85V/265V）。 b.負(fù)載：100% 及 70%(例 55為 100， 65為 70)。c.周圍溫度：最高動(dòng)作溫度5，輸出Derating Curve 100%下溫度上限5。 d.輸出電壓：額定。e.接線圖：恒溫槽INPUT待測物負(fù)載SOU

8、RCE電流電壓溫度記錄器測試方法：參照部品溫度上升結(jié)果確定待測部品，以熱電偶量測。電源輸入后，連續(xù)觀測繪出溫度上升值，確認(rèn)飽和點(diǎn)。若有 FAN 裝置測物，需實(shí)際仿真安裝于系統(tǒng)之情形進(jìn)試?？?靠 度 測 試 規(guī) 范Reliability Test SpecificationNo.WI7308修訂日期Amendment Date版本V 01Page8日期Release Date90.11.12High temperature shoty circuit 高溫短路：目的：確認(rèn)輸出短路放置后，待測物之可靠度。適用：除未加短路保護(hù)機(jī)種外所有機(jī)種適用。測試條件：a.輸入電壓：規(guī)格范圍之最大輸入電壓。(實(shí)測

9、取最大，例 265V) b.輸出電壓：額定值。c.周圍溫度：動(dòng)作溫度上限5(例 65)。 d.接線圖：INPUT待測物負(fù)載SOURCE示波器測試方法：待測物在設(shè)定測試條件下，輸出短路 2 小時(shí)以上。溫度上升之情形，參照溫度Derating，過規(guī)定溫度。解除短路狀態(tài)后確認(rèn)輸出仍正常，部品不能有損壞。頁次Page9Ver日期Release Date90.11.12Life of electrolytic capacitor 電解電容算出：目的：推定待測物之 ，并確認(rèn)其可靠度。適用：所有機(jī)種適用。測試條件：a.輸入電壓：額定值。 b.輸出電壓：額定值。 c.負(fù)載：額定。d.周圍溫度：40。 e.接線

10、圖：INPUT待測物負(fù)載SOURCE示波器實(shí)效值測試方法：額定之輸出、輸入時(shí)，在規(guī)定之周圍溫度下，依下式計(jì)算：T1 T210L1=LS2L1:實(shí)際之有效LS:部品使用溫度范圍上限下之有效 T1:部品之使用溫度范圍上限T2:實(shí)際使用溫度。算出之時(shí)間應(yīng)規(guī)格所示?？?靠 度 測 試 規(guī) 范Reliability Test SpecificationNo.WI7308修訂日期Amendment Date版本VerV.01頁次Page10日期Release Date90.11.12NoiseImmuuity 噪聲免疫力：目的：確保待測產(chǎn)品之可靠度，確認(rèn)輸入對加入脈沖之耐受程度。適用：所有機(jī)種。測試條件：

11、a.規(guī)格上有規(guī)定者，依規(guī)格實(shí)施。 b.周圍溫度：常溫、常濕。c.輸入電壓：115V d.輸出電壓：額定。負(fù)載電流：100%。脈沖規(guī)格：規(guī)格書所列值*110%(50 Termination)如規(guī)格為2.2KV 則脈沖以2.2KV*110%=2.2KV 施加脈波寬為。 100nS,500nS,1000nS，時(shí)間。接線圖：INPUT待測物電阻負(fù)載SOURCE示波器7.4 測試方法：a. 依條件施加脈沖于輸入輸入間，輸入Ground 間，應(yīng)無動(dòng)作異常(含突入電流限制回路、異常振蕩等)保護(hù)回路誤動(dòng)作及組件損壞發(fā)生，測試時(shí)，輸出電壓之安定度應(yīng)在總和變動(dòng)規(guī)格范圍內(nèi)?？?靠 度 測 試 規(guī) 范Reliabil

12、ity Test SpecificationNo.WI7308修訂日期Amendment Date版本VerV.01頁次Page11日期Release Date90.11.12可 靠 度 測 試 規(guī) 范Reliability Test SpecificationNo.WI7308修訂日期Amendment Date版本VerV.01頁次Electro sic discharge 靜電破壞：目的：確保待測產(chǎn)品之可靠度，確認(rèn)產(chǎn)品對靜電氣之耐受程度。適用：規(guī)格書上規(guī)定之機(jī)種。測試條件：周圍環(huán)境：常溫、常濕。輸入電壓：額定(實(shí)測AC115V) c.輸出電壓：額定負(fù)載：額定 100%施加電壓：規(guī)格書之?dāng)?shù)

13、值X 110% Charge Capacitor 500pF-Series Resistor 100，時(shí)間 10 sec .接線圖：INPUT待測物電阻負(fù)載SOURCE示波器DMM4.1.8.4 測試方法：a. 待測物Ground 部位，依條件施加脈沖電壓分接觸外殼及放電實(shí)施；不能有保護(hù)回路誤動(dòng)作，組件破損之異常發(fā)生?？?靠 度 測 試 規(guī) 范Reliability Test SpecificationNo.WI7308修訂日期Amendment Date版本VerV.01頁次Page12日期Release Date90.11.12Lightning Surge 雷擊：目的：確認(rèn)輸入端加入Li

14、ghtning Surge 之耐受能力。適用：規(guī)格有規(guī)定之機(jī)種。測試條件：規(guī)格書有規(guī)定依規(guī)格條件。輸入電壓：額定(實(shí)測AC115V) c.輸出電壓：額定負(fù)載：額定周圍環(huán)境：常溫、常濕施加波形：JEC 212 規(guī)定，波頭長 1.2s,50s 之電壓，波形 3KV*110%(限流電阻 100)。 g.接線圖：4.1.9.4 測試方法：a. 依規(guī)定測試條件，施加 Surge 電壓于輸入輸入，輸入Ground 極各 3 回確認(rèn)組件無破損，無絕緣破壞，F(xiàn)lashover Arc 及保護(hù)回路誤動(dòng)作情形發(fā)生。INPUT SOURCE待測物電阻負(fù)載可 靠 度 測 試 規(guī) 范WI7308修訂日期Amendmen

15、t DatePage13日期Release Date90.11.12Input ON/Ot high temperature 高溫輸入 ON/OFF :目的：高溫時(shí)輸入電壓ON/OFF 重復(fù)施加，確認(rèn)產(chǎn)品之信賴性。適用：所有機(jī)種適用。測試條件：a.輸入電壓：規(guī)格之輸入電壓范圍最大值(例：265V)。 b.負(fù)載：額定 100% LOADc.輸出電壓：額定d.周圍溫度：動(dòng)作可能溫度范圍5(例：65)。 e.接線圖：INPUT待測物負(fù)載SOURCEON/OFF恆溫槽DVM4.1.10.4 測試方法：a. 待測物置于恒溫槽內(nèi)，依條件之溫度設(shè)定，到達(dá)設(shè)定溫度后放置 12 小時(shí)，同時(shí)電源ON/OFF 至少

16、 500 cycle 于輸入端，結(jié)束后確認(rèn)組件無破損，輸出電壓與機(jī)能正常（ON 5S，OFF 30S）。Reliability Test SpecificationNo.版本VerV.01頁次Page14日期Release Date90.11.12Low temperature operation 低溫動(dòng)作確認(rèn)：目的：為確保待測產(chǎn)品可靠度，確認(rèn)周圍溫度下限之動(dòng)作度。適用：所有機(jī)種適用。測試條件：a.輸入電壓：規(guī)格范圍之最小、最大值(實(shí)測最小值)。 b.輸出電壓：額定。c.負(fù)載：最小、最大值(實(shí)測最大值)。d.周圍溫度：動(dòng)作可能溫度下限10。 e.接線圖：11.4 測試方法：a. 待測物在測試溫

17、度條件下設(shè)定為關(guān)機(jī)狀態(tài)充份放置(至少 1 小時(shí))關(guān)機(jī)狀態(tài)，重新加入電源，確定可激活?？?靠 度 測 試 規(guī) 范Reliability Test SpecificationNo.WI7308修訂日期Amendment Date版本VerV.01頁次Page15日期Release Date90.11.12Dynamic source effect 動(dòng)的輸入變動(dòng)：目的：確認(rèn)待測產(chǎn)品在動(dòng)的輸入變動(dòng)下能正常動(dòng)作。適用：交流輸入之所有機(jī)種。測試條件：a.規(guī)格書有規(guī)定者，依規(guī)格條件。 b.負(fù)荷：額定 100%。c.周圍溫度：常溫。 d.輸出電壓：額定。e.輸入變動(dòng)條件：額定最小，額定最大。最大電壓 t t=

18、0.5sec t 最小電壓額定電壓頻率：60Hz12.4 測試方法：在基準(zhǔn)動(dòng)作狀態(tài)下(額定輸入電壓 100%Load)，測定輸出電壓值VS。計(jì)算電壓變動(dòng)率： VH VSVS VL VSx 100%VSx 100%c.計(jì)算之變動(dòng)率，應(yīng)在總和變動(dòng)之規(guī)格范圍內(nèi)。修訂日期Amendment DateWI7308No.版本Ver可 靠 度 測 試 規(guī) 范Reliability Test SpecificationV.01頁次Page16日期Release Date90.11.12Fan abnormal operation FAN 異常動(dòng)作：目的：待測產(chǎn)品在自然冷卻使用情形下，確認(rèn) FAN 停止運(yùn)轉(zhuǎn)，轉(zhuǎn)

19、數(shù)變慢時(shí)，保護(hù)機(jī)能正常。13.2 適用：產(chǎn)品因需風(fēng)扇冷卻而裝設(shè)之機(jī)種。13.3 測試條件：a.輸入電壓：規(guī)格范圍內(nèi)之最小、最大值。 b.負(fù)載：最大 100%。c.周圍溫度：感熱組件部份，依動(dòng)作可能溫度范圍上限5，25及下限5共 3 點(diǎn)實(shí)施測試。其它部份則以動(dòng)作可能溫度范圍上限5，下限-5實(shí)施量測。d.輸出電壓：額定。INPUTSOURCE負(fù)載待測物恆溫槽溫度熱電藕記錄器釋波器INPUT SOURCE待測物負(fù)載13.4 測試方法：主要晶體管、變壓器、CHOKE 等重要組件，以熱電藕量測其結(jié)果。Fan 異常動(dòng)作發(fā)生時(shí)觀測組件溫度上升應(yīng)其結(jié)果。Open Frame 之產(chǎn)品與系統(tǒng)產(chǎn)品搭配測試。確定在測

20、試條件下，無保護(hù)回路之誤動(dòng)作發(fā)生，組件上升溫度過規(guī)格值?？?靠 度 測 試 規(guī) 范Reliability Test SpecificationNo.WI7308修訂日期Amendment Date版本VerV.01頁次Page17日期Release Date90.11.12Vibration 振動(dòng)：目的：為確保產(chǎn)品之信賴性，產(chǎn)品在制造時(shí)及運(yùn)送時(shí)對振動(dòng)之耐受程度需加以確認(rèn)。適用：所有機(jī)種適用。測試條件：周圍溫度：常溫。動(dòng)作狀態(tài)：-Operating振動(dòng)頻率：5 10 Hz全振幅10 10 200Hz加速度 21.6m/sec2 (2.2G)Sp Time:10 Min 依對數(shù)變化。振動(dòng)方向：X,

21、Y,Z 軸各 1 小時(shí)。沖擊試驗(yàn)程序：試驗(yàn)系統(tǒng)圖供試電源試驗(yàn)方向試驗(yàn)方向試驗(yàn)方向4.1.14.4 測試方法：依測試條件或產(chǎn)品規(guī)格所列條件進(jìn)試。測試完成后，以目視檢查(必要時(shí)用顯微鏡)待測物之外殼、基板、零件、配線有無異常；確認(rèn)后，通電并確認(rèn)輸出電壓及電氣特性有無異常?？?靠 度 測 試 規(guī) 范Reliability Test SpecificationNo.WI7308修訂日期Amendment Date版本VerV.01頁次XZy可 靠 度 測 試 規(guī) 范No.WI7308修訂日期Amendment DatePage18日期Release Date90.11.12Shock 沖擊：目的：為確

22、保待測物之可靠度，在制造時(shí)及運(yùn)送時(shí)對沖擊之耐受程度需予以確認(rèn)。適用：所有機(jī)種適用。測試條件：沖擊加速度：588m/sec2(60G)沖擊時(shí)間：115m sec半波正弦波。振動(dòng)方向：X(X),Y(Y),Z,5 方向，各 3 回。周圍溫度：常溫。Operating測試方法：依測試條件進(jìn)試。測試完成后，以目視檢查(必要時(shí)用顯微鏡)待測物之外殼、基板、零件、配線有無異常;確認(rèn)后通電并確認(rèn)輸出電壓及電氣特性有無異常。沖擊測試程序：測試系統(tǒng)圖：供試電源試驗(yàn)方向試驗(yàn)方向試驗(yàn)方向a.待測物需設(shè)計(jì)治具以固定之。(電木板及鋁板) b.依測試條件施加予待測物。c.加速度 588m/sec2(60G)各方向 3 回。

23、d.試驗(yàn)條件及結(jié)果。XXZ ZY YReliability Test Specification版本VerV.01頁次Page19日期Release Date90.11.12Abnormal Ripple 異常Ripple 確認(rèn)：目的：確保待測產(chǎn)品之可靠度;由周圍溫度、輸入電壓、輸出電流之各條件組合下，確認(rèn)其動(dòng)作之安定性。適用：所有機(jī)種適用。測試條件：a.負(fù)載：0% 100% (連續(xù))。b.周圍溫度：動(dòng)作溫度范圍(i.e. 2060 20/25/60)。c.輸入電壓：規(guī)格范圍最小最大(連續(xù))。 d.輸出電壓：額定。e.接線圖：負(fù)載用治具INPUT待測物負(fù)載SOURCE恆溫槽釋波器4.1.16.

24、4 測試方法：待測物在不通電之狀態(tài)下，依測試之組合條件，在設(shè)定之溫度下放置 1 小時(shí)。連續(xù)調(diào)整輸入電壓及負(fù)載電流，并觀察有無異常Ripple 之發(fā)生，如振蕩、間歇振蕩、ACRipple 導(dǎo)致之微小異常振蕩?？?靠 度 測 試 規(guī) 范Reliability Test SpecificationNo.WI7308修訂日期Amendment Date版本VerV.01頁次Page20日期Release Date90.11.12High Temperature Test 高溫測試：目的：確認(rèn)產(chǎn)品在高溫置放后，維持正常功能之特性。適用：所有機(jī)種適用。測試條件：溫度：TH70Temp(deg C) 25f

25、unctional inspection012747576Time (hour)TH:產(chǎn)品規(guī)格所列之溫度上限輸入電壓：額定。 c.輸入頻率：50HZ。d.負(fù)載：100% LOAD。 e.接線圖：17.4 測試方法：產(chǎn)品置于恒溫槽內(nèi)，依上述之條件進(jìn)試。溫度在達(dá)到預(yù)定之高溫TH 前后一小時(shí)之前于常溫下，須先進(jìn)行功能測試，確認(rèn)產(chǎn)品之功能；測試后產(chǎn)品須無任何損傷?？?靠 度 測 試 規(guī) 范Reliability Test SpecificationNo.WI7308修訂日期Amendment Date版本VerV.01頁次Page21日期Release Date90.11.12Low Temperat

26、ure Test 低溫測試：目的：確認(rèn)產(chǎn)品在低溫置放后，維持正常功能之特性。適用：所有機(jī)種適用。測試條件：溫度：25Temp(deg C) -40TLfunctional inspectionTime (hour)012747576負(fù)載：100% LOAD。 c.輸入電壓：額定。 d.頻率：50HZ。e.TL：規(guī)格所列之溫度下限。f.接線圖：18.4 測試方法：產(chǎn)品置于恒溫槽內(nèi)，依上述之溫度設(shè)定及接線圖進(jìn)試。溫度到達(dá)預(yù)訂之低溫，前后一小時(shí)前須進(jìn)行功能測試，確認(rèn)產(chǎn)品能正常動(dòng)作；且無任何損傷?？?靠 度 測 試 規(guī) 范Reliability Test SpecificationNo.WI7308修

27、訂日期Amendment Date版本VerV.01頁次Page22日期Release Date90.11.12Temperature/Humidity Test 溫、濕度循環(huán)測試：目的：確認(rèn)產(chǎn)品對周圍溫、濕度之適應(yīng)能力。適用：所有機(jī)種適用。測試條件：條件依下圖設(shè)定：65Temp 40259080Relative Humidity(%) 50Function test er on6072 7478 80 82 84108負(fù)載：100% LOAD。Time (hour)輸入電壓：額定。頻率：接線圖：4.1.19.4 測試方法：依上所列之測試條件及接線方式，執(zhí)試。測試結(jié)束后，待測物需功能正常，零件

28、無損壞情形?？?靠 度 測 試 規(guī) 范Reliability Test SpecificationNo.WI7308修訂日期Amendment Date版本VerV.01頁次Page23日期Release DateStrife Test 極限測試：目的：確認(rèn)待測產(chǎn)品的耐受高溫之極限。適用：依需求規(guī)格列出之機(jī)種。測試條件：a.輸入電壓：額定。(110V/220V)e. 負(fù)載：額定 100% LOAD。f. 溫度：70(1hr)80(1hr)90(1hr)100(1hr)至產(chǎn)品失效。d.接線圖：20.4 測試方法：產(chǎn)品置于恒溫槽內(nèi)，依接線圖及條件設(shè)定。當(dāng)溫度到達(dá)默認(rèn)值后，停留一小時(shí)，開始執(zhí)行功能測

29、試。產(chǎn)品若功能正常，將溫度每次升高 10，進(jìn)試，至產(chǎn)品失效為止，失效之溫度。產(chǎn)品失效時(shí)，不能發(fā)生冒煙、起火等狀況?？?靠 度 測 試 規(guī) 范Reliability Test SpecificationNo.WI7308修訂日期Amendment Date版本VerV.01頁次Page24日期Release DatePLD test(輸入瞬斷測試)：An undervoltage of 25% below the minimum inputvoltage, appd for two seconds,repeated 10 times:error free wi10% duty cycle.An

30、undervoltage of 35% below the minimum nominalinput voltage, but not lessn 68V,appd for 30:errorfree cycles of the input frequency,repeated 10 times witha 10% duty cycle.An undervoltage of 100% below the minimum nominal input voltage,appd for 20 milli-seconds repeated 10 times:error free wi10% duty c

31、ycle.An overvoltage of 20% above theum nominal inputvoltage appd for two seconds,repeated 10 times with:error free a 10% duty cycle.When either of the following waveforms are appd to eitholarity peak of the input voltage waveform.The waveforms shall consist of 400HZ50HZ or 800HZ100HZ exponentially d

32、ecaying sinusoid wipeak voltage equal to the peak nominal line volage:error free and decay time constant sucht the fifth half-cycleof the disturbance is betn 15 and 25% of the half-cycle. The total duration of the disturbance shall not exceed one cycle of the line voltage.This test shall be repeated

33、 320 times (80itive rings and 80 negative rings at 400HZ;80itive rings and80 negative rings at 800HZ) a three(3) secondervals.F.Differential mine-to-line) and common mode(line-to-ground) voltage surges with open circuit voltages of 2.5KV peak10% and 2KV peak10% respectively.The source impedance of t

34、he surge generator shall be:error free 2 ohm20%.The surge wave shall be defined in ANSI/IEEEC62.41(1980) and IEC 60-2(1973).threeitive and three negative surges shall be appd at 0,90,180, and 270 degrees(24 total). The timeerval betn surges shall be 18 seconds.可 靠 度 測 試 規(guī) 范Reliability Test Specifica

35、tionNo.WI7308修訂日期Amendment Date版本VerV.01頁次Page25日期Release Date90.11.12A 100 nanosecond pulse winlitude of 400volts shall be superimed on the peak of the:error free nominal input voltage and repeated at the linefrequency for ten(10) minutes.Theer supply shall suffer no physical damage under the follo

36、wing disurbanin AC line voltage.Repeat each test five times,returning theer supply : damage free to its normal running conditions betn tests.Acompleine outage for any duration.Theer supply shall suffer no physical damage under the following disturbanin AC line voltage.Repeat each test five times,returning theer supply :dama