海思終端芯片ATE技術(shù)手冊

1、文檔說明：本文參照業(yè)界通用做法，定義了海思終端芯片類COT的推薦ATE測試策略，以及此類芯片在測試程序開發(fā)及量產(chǎn)時各版本的的測試規(guī)范及測試項(xiàng)目要求。因技術(shù)和芯片規(guī)格持續(xù)發(fā)展，各IP的測試規(guī)范不斷添加和完善。對于成熟IP，程序開發(fā)時需要遵守該規(guī)范，新IP測試規(guī)范建立時可參考對應(yīng)的測試規(guī)范。文檔目的：支撐終端芯片媒體類產(chǎn)品達(dá)成HcDa測試芯片斶出管咻拉狀態(tài)下漏電DCJOZL.PlTODHcD0測試芯片輸出管腳上拉狀態(tài)下漏電PLLPLL.FREQc冽試JLL的時鐘箍出管腳跖率及:口口信號是否正常通NJTA喳波PLL工作將PLL的輸出口rv分頻以后，引到芯片PA粒行測試，卷蓋PLL頻率輸出和Loci:

2、借三PLLFREQLOCK口e.RTCRTC_HAS00a測優(yōu)E.TC題字道輯漏電通過ITA喳匿RTC,RTC_X1Nrtc_xoutH驚量測RrC_K0UT電流RTCJREQc*.oc測成LTC輸出時鐘是否正常通過IT丹嚙匿RTCsRT_7roUT輸入爰.而8K時鐘在RTC_CLKpad進(jìn)行觀測-DDRDDR4_BIST_IKT_AGHigiiSpeed)DDR二ADDRChlDTJATA內(nèi)環(huán)回E151蓋,由于Pnjflfi已由卬環(huán)覆未，內(nèi)環(huán)只測試最高速DDR4_BIST_IKT_DXi：HigiiSpeed)DD：R4_BIST_MID_AC(Pr0Hr)y*ocUDRuADDR.ChlD

3、.DATA中環(huán)回BIS1差蓋，同時整反DURPiofik算點(diǎn)根據(jù)項(xiàng)目實(shí)際需求選口加34036&節(jié)為6619601333MH2J,品終根據(jù)量產(chǎn)顫據(jù)筑計情況進(jìn)行精簡DDR4_BIST_MID_DXi；pEoflE00DDR4_BIST_EXT_AC(MilSpeed*D0DR二.4口DR.CMD.口ATA外環(huán)回EEST建蓋，考慮到外環(huán)回對測試環(huán)境（阻抗匹配太敏感，口環(huán)只考慮測試卬低速5如果CP上有更好的匹配（如管腳懸空則可以考慮在CP上覆蓋外環(huán)高速DDR4_BIST_EXT_DX(MilSpeed*00EDR4_BI5T_EEiAJ.*/j外掛DDR痢粒進(jìn)行DRAMBIW測試DDR3_0IST_I

4、NT_AC(High.Spieed)yEDJ!_ADDR.CblirDATA內(nèi)環(huán)回月EST差蓋，由于Prcflr已由中環(huán)覆差？內(nèi)以二測認(rèn)品高速DDR3_BIST_1NT_DS；HigkSpeed.)J*DDR3_BIST_L11D_AC(Ppffc)DaDDKADDfLChUXDATA中環(huán)回BIS1差蓋，同時覆蓋DDAPiofik頻點(diǎn)DDR3_BIST_L11D_DX(pEffc)JDaDDR3_BIST_EXT_AC*0aDDRJADDRCMDDATA外環(huán)回BI6T覆蓋，考慮到外環(huán)回對測試環(huán)境印且抗匹配本地感,外弁Q考慮測試中衽速J如果B上有更好的匹配1如管加懸空）則可以考慮在up上覆蓋外弁

5、DDR3_BIST_EXT_DX*0aDDR3_BIST_DRAM*外掛DDR3顆粒進(jìn)行DRAM日1ST測記USB3.DUSB3_BSIBEKT*/J誤的溫EI5T測試USB3_BST_INT_LPBKj*ocIk-io-Rx內(nèi)環(huán)回汨iUSB2.0USB2_BIST_HSJUSBHS(highsp=d)模式7的印缸測試USB2_BEIFS*/USBFS(Fullspeed)模式下的BIST測試PCIEPCIE_B1ST_BERT隆碼理El”測試PCE_B1ST_INT_LPBKTk-gRE內(nèi)環(huán)回再！ISPCIE_IOj*./JPCIEREFCLK輸出頻率測試VideoDACINLc*/j測試V

6、ideciDAC靜態(tài)參數(shù)：出分非線性口yrc*./J測試VidfoDAC靜態(tài)變數(shù)：差分非線性O(shè)FFSETERRORc*/J測甫血eWAC靜態(tài)參數(shù)：IfiSFSRc*./J測試VideWAC靜態(tài)變教：病用范圍GAINERROR0/l測ifividmDAC靜態(tài)曼數(shù)：知益誤差KFCTOtOHK0*/l.用iTYideDAC描您攀數(shù)：里調(diào)性Mhmafth0*/l制式VideDAC靜態(tài)曼數(shù)：一致性SNR0*/l.用iTVideDAC動感攀數(shù)：信噪比THD0*/l洲港VidmDAC動態(tài)曼數(shù)：諧波失百SFDR0e/測試YidkOA匚動態(tài)餐數(shù)：無金故幼至范圍SINAD0e/范試VideDA匚動芯整頓：信號噪聲

7、失直比AurfioDACINL0e/測試AmboDAt熟態(tài)禁敕：積分非線性XL0e/測優(yōu).4iKboDAt粉芯替觸：差分非線性SNR0e/測試AndioDAC動態(tài)禁敕：信啤比SFDR口*測試人研cDA動態(tài)琴敷：無雜散動冬三國IHDc測試工面出可？動態(tài)堡題：諧避失真QAM_ADCINLc*測忒4亡靜態(tài)參勘二雙分非線性DNLc測試5靜態(tài)參制|二差分非線性GNRc*測忒AD亡動態(tài)參獨(dú);信噪比SFDRc/測試5亡動態(tài)冬制!二無雜散動態(tài)范圍IHDc*/J測試ADC動態(tài)嬖蜀!：諧激失具HDLnHDM1_TX0/測試HDMITXPHYJJ謊罡舌正常需要后速扳卡captureHDfl_RXc測試HDMIRXP

8、H丫功能是否正常需要外接1%調(diào)遂人原始信號LVDSLVDS_TK0*/測優(yōu)IV口51?勘能是否正常需要圖速樞卡captureMPMIPIRXc測試MIPI艮俎就是否正常需.要高速板卡情人相應(yīng)碼型VBOVBO_TXc*/J測試VBOTX功能是否正常需要高速扳卡captureE叫mtorDA.CINL0./測試EuqaErDA.匚態(tài)荽蟻；積分非線性：I?；L.0e/測優(yōu)EuqatornA.匚態(tài)荽蚣：差分非線性SNR0./測試EuqaErDA匚動態(tài)荽蟻；倡喔比SFDR0e/測優(yōu)EuqatornA.匚動態(tài)荽蚣：無雜觸動態(tài)范圍GAINERXOR0./測試EuqaErDA.匚態(tài)荽徽；熠益誤差OUTSETE

9、RRORc測施uq的rEiAC酬態(tài)夢做二8Llisinjjtch.c測力在uqaJxrDAC靜態(tài)繁極:一軟性INLc測guqaLorADC前二爹數(shù)：積=E線1性u:，_c浙拉uqaJxrADC靜工禁極二差線性5NRc測句讓uqULorADC動態(tài)井做二信噪比SFDRc.!測試LijqamrAJDC動態(tài)夢覲二無雜散動態(tài)苑圍GAINERRORc*/J測血曄mrADC靜態(tài)夢數(shù)：相益誤差OFFSETIRKORc./J測ijtEuqMarADC靜態(tài)夢數(shù)：ffiHCBUSCBUSc*oc測試CEU$模坡，用于支持期HL捌格AJICARCc.oc測試ARC模塊，用于音痂回傳IIPHYFEPtHLBBTc*oc測施EFHT功能罡否正常DIE_IDDIE_ID_IRC0*.東道TrstFlDW測試之前叨始談職完全FadLow-啟動條件（需同時滿足條件1和2,或滿足條件3，投入產(chǎn)出比要合算）：1、發(fā)貨總量超過XXK，且最新測試程序版本連續(xù)XXlot測試良率波動Xsigma2、FDPPM連續(xù)XX月維持低水準(zhǔn)（降成本策略：整體策略：RTP前期以快速質(zhì)量達(dá)標(biāo)為優(yōu)先，逐步進(jìn)行測試降成本。1、根據(jù)AP/BB降成本路標(biāo)和規(guī)劃，在項(xiàng)目前期