可靠性工程師器件選型知識、經(jīng)驗總結(jié)

1、可靠性工程師器件選型知識、經(jīng)驗總結(jié)器件選型是可靠性工程師經(jīng)常要開展的工作，器件選型思考的深度和廣度，非常能考驗可靠性工程師的功力，也暴露了你的可靠性功底。作為產(chǎn)品可靠性工程師，你應(yīng)該了解以下知識，這也是提升可靠性功力的重要方面。一、易產(chǎn)生應(yīng)用可靠性問題的器件對外界應(yīng)力敏感的器件CMOS電路：對靜電、閂鎖、浪涌敏感小信號放大器：對過電壓、噪聲、干擾敏感塑料封裝器件：對濕氣、熱沖擊、溫度循環(huán)敏感工作應(yīng)力接近電路最大應(yīng)力的器件功率器件：功率接近極限值高壓器件：電壓接近極限值電源電路：電壓和電流接近極限值高頻器件：頻率接近極限值超大規(guī)模芯片：功耗接近極限值頻率與功率都大的器件時鐘輸出電路：在整個電路中

2、頻率最高，且要驅(qū)動幾乎所有數(shù)字電路模塊總線控制與驅(qū)動電路：驅(qū)動能力強(qiáng)，頻率高無線收發(fā)電路中的發(fā)射機(jī)：功率和頻率接近極限值二、選用元器件要考慮的十大要素1、電特性：元器件除了滿足裝備功能要求之外，要能經(jīng)受最大施加的電應(yīng)力2.工作溫度范圍：元器件的額定工作溫度范圍應(yīng)等于或?qū)捰谒?jīng)受的工作溫度范圍3.工藝質(zhì)量與可制造性：元器件工藝成熟且穩(wěn)定可控，成品率應(yīng)高于規(guī)定值，封裝應(yīng)能與設(shè)備組裝工藝條件相容4.穩(wěn)定性：在溫度、濕度、頻率、老化等變化的情況下，參數(shù)變化在允許的范圍內(nèi)5.壽命：工作壽命或貯存壽命應(yīng)不短于使用它們的設(shè)備的預(yù)計壽命6.環(huán)境適應(yīng)性：應(yīng)能良好地工作于各種使用環(huán)境，特別是如潮熱、鹽霧、沙塵、

3、酸雨、霉菌、輻射、高海拔等特殊環(huán)境7.失效模式：對元器件的典型失效模式和失效機(jī)理應(yīng)有充分了解8.可維修性：應(yīng)考慮安裝、拆卸、更換是否方便以及所需要的工具和熟練等級9.可用性：供貨商多于1個，供貨周期滿足設(shè)備制造計劃進(jìn)度，能保證元器件失效時的及時更換要求等10.成本：在能同時滿足所要求的性能、壽命和環(huán)境制約條件下，考慮采用性價比高的元器件三、失效模式及其分布失效模式：元器件的失效形式，即是怎么樣失效的？失效機(jī)理：元器件的失效原因，即是為什么失效的？元器件的使用者即使不能了解失效機(jī)理，也應(yīng)該了解失效模式失效模式分布：如果元器件有多種失效模式，則各種失效模式發(fā)生的概率是進(jìn)行失效分析的前提。四、高可靠

4、元器件的特征制造商認(rèn)證：生產(chǎn)廠商通過了權(quán)威部門的合格認(rèn)證生產(chǎn)線認(rèn)證：產(chǎn)品只能在認(rèn)證合格的專用生產(chǎn)線上生產(chǎn)可靠性檢驗：產(chǎn)品進(jìn)行并通過了一系列的性能和可靠性試驗，100%篩選和質(zhì)量一致性檢驗工藝控制水平：產(chǎn)品的生產(chǎn)過程得到了嚴(yán)格的控制，成品率高標(biāo)準(zhǔn)化程度：產(chǎn)品的生產(chǎn)和檢驗符合國際、國家或行業(yè)通用規(guī)范及詳細(xì)規(guī)范要求五、品種型號的優(yōu)先選用規(guī)則優(yōu)先選用標(biāo)準(zhǔn)的、通用的、系列化的元器件，慎重選用新品種和非標(biāo)準(zhǔn)器件，最大限度地壓縮元器件的品種規(guī)格和承制單位的數(shù)量優(yōu)先選用列入元器件優(yōu)選目錄優(yōu)先選用器件制造技術(shù)成熟的產(chǎn)品，選用能長期、連續(xù)、穩(wěn)定、大批量供貨且成品率高的定點供貨單位優(yōu)先選用能提供完善的工藝控制數(shù)據(jù)、可靠性應(yīng)用指南或使用規(guī)范的廠家產(chǎn)品在質(zhì)量等級相當(dāng)?shù)那疤嵯?，?yōu)先選用集成度高的器件，少選用分立器件六、供貨商應(yīng)提供的可靠性信息詳細(xì)規(guī)范及符合的標(biāo)準(zhǔn)：國軍標(biāo)、國標(biāo)、行標(biāo)、企標(biāo)認(rèn)證情況：QPL、QML、PPL、IECQ等質(zhì)量等級與可靠性水平：失效率、壽命（MTTF）、抗靜電強(qiáng)度、抗輻照水平等可靠性試驗數(shù)據(jù)：加速與現(xiàn)場，環(huán)境與壽命，近期及以往，所采用的試驗方法與數(shù)據(jù)處理方法成品率數(shù)據(jù)：中測（裸片）、總測（封裝后）等質(zhì)量一致性數(shù)據(jù)：批次間，晶圓間，芯片間，平均值、方差、分布工藝穩(wěn)定性數(shù)