常用無(wú)損檢測(cè)方法介紹課件

常用無(wú)損檢測(cè)方法介紹無(wú)損檢測(cè)監(jiān)督檢查關(guān)注的重點(diǎn)總站質(zhì)量大檢查中經(jīng)常發(fā)現(xiàn)的問(wèn)題第1頁(yè)/共42頁(yè)第1頁(yè)/共42頁(yè)1常用無(wú)損檢測(cè)方法介紹１.射線檢測(cè)２.超聲波檢測(cè)３.磁粉檢測(cè)４.滲透檢測(cè)５.TOFD檢測(cè)６.各種檢測(cè)方法比較第2頁(yè)/共42頁(yè)常用無(wú)損檢測(cè)方法介紹１.射線檢測(cè)第2頁(yè)/共42頁(yè)2１.射線檢測(cè)１.１射線檢測(cè)原理

１.２射線檢測(cè)靈敏度

１.３安全防護(hù)第3頁(yè)/共42頁(yè)１.射線檢測(cè)第3頁(yè)/共42頁(yè)3１.１射線檢測(cè)原理射線能穿透物質(zhì)，并能使膠片感光，射線強(qiáng)度越大，感光的膠片沖洗后黑度越大，反之則黑度小。射線透照布置見(jiàn)圖１.射線在穿透物質(zhì)時(shí)呈指數(shù)規(guī)律被吸收衰減，當(dāng)物質(zhì)內(nèi)存在異物或表面不均勻時(shí)，在異物或不均勻表面所在的部位會(huì)形成對(duì)射線衰減的不均衡，其不均衡的程度與所透過(guò)物質(zhì)的厚度差成正比。將透過(guò)工件的射線用膠片進(jìn)行記錄，經(jīng)暗室處理后形成底片，其底片黑度不均勻程度與工件內(nèi)部組織狀況和異物的吸收系數(shù)密切相關(guān)。第4頁(yè)/共42頁(yè)１.１射線檢測(cè)原理射線能穿透物質(zhì)，并能使膠片感光，射線強(qiáng)度越4１.１射線檢測(cè)原理將透過(guò)工件的射線用膠片進(jìn)行記錄，經(jīng)暗室處理后形成底片，其底片黑度不均勻程度與工件內(nèi)部組織狀況和異物的吸收系數(shù)密切相關(guān)。如焊縫中存在氣孔、夾渣、未焊透、未熔合、裂紋、內(nèi)凹、咬邊等在底片上呈黑色。焊瘤、焊縫余高過(guò)高等在底片上呈較白的影像。夾鎢缺陷由于其吸收系數(shù)比鋼材大的多，其在底片上的影像呈亮的白點(diǎn)。第5頁(yè)/共42頁(yè)１.１射線檢測(cè)原理將透過(guò)工件的射線用膠片進(jìn)行記錄，經(jīng)暗室處理5１.１射線檢測(cè)原理圖１射線檢測(cè)原理圖工件膠片增感屏暗袋第6頁(yè)/共42頁(yè)１.１射線檢測(cè)原理工件膠片增感屏暗袋第6頁(yè)/共42頁(yè)6１.１射線檢測(cè)原理射線檢測(cè)能識(shí)別缺陷的性質(zhì)和準(zhǔn)確測(cè)量缺陷尺寸，是目前公認(rèn)較好的檢測(cè)方法。第7頁(yè)/共42頁(yè)１.１射線檢測(cè)原理射線檢測(cè)能識(shí)別缺陷的性質(zhì)和準(zhǔn)確測(cè)量缺陷尺寸7１.２射線檢測(cè)靈敏度射線檢測(cè)靈敏度用“像質(zhì)計(jì)”來(lái)測(cè)定，標(biāo)準(zhǔn)對(duì)不同厚度的工件規(guī)定了應(yīng)觀察到的鋼絲直徑。工件越厚所需的射線能量越高，不然透過(guò)工件時(shí)衰減過(guò)多底片黑度達(dá)不到要求。射線能量越高檢測(cè)靈敏度越低。射線對(duì)體積狀缺陷敏感，對(duì)面狀缺陷不敏感，沒(méi)有厚度差的缺陷是無(wú)法檢測(cè)出來(lái)的。相對(duì)靈敏度在１~２%左右。第8頁(yè)/共42頁(yè)１.２射線檢測(cè)靈敏度射線檢測(cè)靈敏度用“像質(zhì)計(jì)”來(lái)測(cè)定，標(biāo)準(zhǔn)對(duì)8１.３安全防護(hù)X射線和γ射線的本質(zhì)都是電磁波，其波長(zhǎng)非常短，能穿透物質(zhì)，能殺傷人體細(xì)胞，波長(zhǎng)越短殺傷力越強(qiáng)?？茖W(xué)控制受照劑量，檢測(cè)人員在不超過(guò)20mSv/年時(shí)不會(huì)對(duì)人體產(chǎn)生傷害。第9頁(yè)/共42頁(yè)１.３安全防護(hù)X射線和γ射線的本質(zhì)都是電磁波，其波長(zhǎng)非常短，9１.３安全防護(hù)X/γ射線的衰減呈與距離的平方成正比關(guān)系，距離越遠(yuǎn)，射線衰減越多。X射線機(jī)具有方向性，單向X射線機(jī)輻射角為４０度圓錐角，其它方向射線很少，如圖２所示；周向X光機(jī)用于環(huán)縫周向透照，X射線呈２５度的扇面３６０輻射，如圖３所示，射線透過(guò)工件后衰減了大部分射線。X射線機(jī)不接電源或接通電源不送高電壓不產(chǎn)生X射線。第10頁(yè)/共42頁(yè)１.３安全防護(hù)X/γ射線的衰減呈與距離的平方成正比關(guān)系，距離10１.３安全防護(hù)γ射線機(jī)在透照時(shí)呈360度球面輻射，如圖４所示，射線透過(guò)工件后衰減了大部分射線，沒(méi)有透過(guò)工件的射線強(qiáng)度較大。如果有需要可以采用定向器限制γ射線的輻射角度。也可以在射線源背面蓋一層較厚的鉛板，以減弱背面射線的強(qiáng)度。這樣工作效率會(huì)有所降低。第11頁(yè)/共42頁(yè)１.３安全防護(hù)γ射線機(jī)在透照時(shí)呈360度球面輻射，如圖４所示11１.３安全防護(hù)Ir192射線源相當(dāng)于４００KV

X射線機(jī)的能量，Ir192源的半衰期是７５天，出廠活度為１００Ci的源約使用１５０天后還剩２５Ci。只能透照厚度和直徑較小的管子。Se75射線源相當(dāng)于２００KV

X射線機(jī)的能量，Se75源的半衰期是１２０天，出廠活度為１００Ci的源約使用１２０天后還剩５０Ci，只能透照簿壁管。第12頁(yè)/共42頁(yè)１.３安全防護(hù)Ir192射線源相當(dāng)于４００KVX射線機(jī)的能12１.３安全防護(hù)安全防護(hù)標(biāo)準(zhǔn)：GBZ132—2008《工業(yè)γ射線探傷放射防護(hù)標(biāo)準(zhǔn)》GBZ117—2006《工業(yè)X射線探傷放射衛(wèi)生防護(hù)標(biāo)準(zhǔn)》這兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)均規(guī)定控制區(qū)邊界線的劑量率為15μGy/h

。X透照、加定向器或背面用鉛板屏蔽的γ透照，若每張片曝光時(shí)間按3~5分鐘計(jì)，安全距離約為40~50米，如果γ透照時(shí)不加定向器、背面也不用鉛板屏蔽，則安全距離要達(dá)到100米，甚至更遠(yuǎn)，要視源的活度而異。第13頁(yè)/共42頁(yè)１.３安全防護(hù)安全防護(hù)標(biāo)準(zhǔn)：第13頁(yè)/共42頁(yè)13圖２X射線機(jī)透照示意圖機(jī)頭控制箱鉛板管子第14頁(yè)/共42頁(yè)圖２X射線機(jī)透照示意圖機(jī)頭控制箱鉛板管子第14頁(yè)/共4214圖３X射線機(jī)透照示意圖機(jī)頭控制箱管壁焊縫第15頁(yè)/共42頁(yè)圖３X射線機(jī)透照示意圖機(jī)頭控制箱管壁焊縫第15頁(yè)/共4215圖４γ射線透照示意圖第16頁(yè)/共42頁(yè)圖４γ射線透照示意圖第16頁(yè)/共42頁(yè)16２.超聲波檢測(cè)２.１超聲波檢測(cè)原理２.２超聲波檢測(cè)程序２.３超聲波檢測(cè)靈敏度第17頁(yè)/共42頁(yè)２.超聲波檢測(cè)２.１超聲波檢測(cè)原理第17頁(yè)/共42頁(yè)17２.１超聲波檢測(cè)原理超聲波檢測(cè)也叫脈沖反射法超聲波檢測(cè)，其原理是利用換能器（探頭）將高頻電脈沖轉(zhuǎn)換為高頻機(jī)械波（超聲波），超聲波通過(guò)耦合劑傳入工件，超聲波在傳播過(guò)程中遇到異質(zhì)界面時(shí)會(huì)發(fā)生反射、折射和波形轉(zhuǎn)換，反射回來(lái)的聲波再通過(guò)耦合劑被探頭接收、放大后在熒光屏上顯示，根據(jù)反射回波位置判斷是否根據(jù)回波高度判斷缺陷反射面的當(dāng)量大小。第18頁(yè)/共42頁(yè)２.１超聲波檢測(cè)原理超聲波檢測(cè)也叫脈沖反射法超聲波檢測(cè)，其原18圖４超聲波檢測(cè)原理圖１FT2TO第19頁(yè)/共42頁(yè)圖４超聲波檢測(cè)原理圖１FT2TO第19頁(yè)/共42頁(yè)19２.２超聲波檢測(cè)程序１）儀器調(diào)校２）現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)３）缺陷等級(jí)評(píng)判第20頁(yè)/共42頁(yè)２.２超聲波檢測(cè)程序１）儀器調(diào)校第20頁(yè)/共42頁(yè)20２.２超聲波檢測(cè)程序１）儀器調(diào)校超聲波檢測(cè)前應(yīng)根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)要求用與被檢工件材質(zhì)相同或相近的標(biāo)準(zhǔn)試塊對(duì)儀器進(jìn)行調(diào)校，其目的是：確定檢測(cè)靈敏度：能夠發(fā)現(xiàn)缺陷的當(dāng)量尺寸；確定熒光屏水平刻度所代表的回波比例：即判回波所在的位置，用于判斷該回波是否缺陷波。第21頁(yè)/共42頁(yè)２.２超聲波檢測(cè)程序１）儀器調(diào)校第21頁(yè)/共42頁(yè)21２.２超聲波檢測(cè)程序２）現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)發(fā)現(xiàn)的回波后應(yīng)先根據(jù)其回波位置判斷其是否缺陷波；確認(rèn)是缺陷波后，根據(jù)波的高度判斷其大當(dāng)量大小；再按標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的方法測(cè)其長(zhǎng)度。然后根據(jù)規(guī)定的尺寸判定級(jí)別。第22頁(yè)/共42頁(yè)２.２超聲波檢測(cè)程序２）現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)第22頁(yè)/共42頁(yè)22２.２超聲波檢測(cè)程序２）現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)管道焊縫是單面焊接，根部未焊透、未熔合缺陷易與焊瘤反射波相混淆，造成缺陷漏檢或誤判，因此管道焊縫超聲波檢測(cè)人員必須經(jīng)過(guò)專業(yè)培訓(xùn)，合格后方可獨(dú)立進(jìn)行工作。

第23頁(yè)/共42頁(yè)２.２超聲波檢測(cè)程序２）現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)第23頁(yè)/共42頁(yè)23２.２超聲波檢測(cè)程序３）缺陷等級(jí)評(píng)判根據(jù)測(cè)定的缺陷尺寸按標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行判定級(jí)別。第24頁(yè)/共42頁(yè)２.２超聲波檢測(cè)程序３）缺陷等級(jí)評(píng)判第24頁(yè)/共42頁(yè)24２.３超聲波檢測(cè)靈敏度超聲波檢測(cè)效果受缺陷反射面積和其與聲束所成的角度有關(guān)，當(dāng)聲束與缺陷反射面垂直時(shí)，反射回波最強(qiáng)，最易發(fā)現(xiàn)缺陷，當(dāng)缺陷的反射面與聲束平行時(shí)，反射面極小，易造成漏檢。因此，在超聲波檢測(cè)前應(yīng)按標(biāo)準(zhǔn)要求制定檢測(cè)工藝，選擇符合要求的探頭和檢測(cè)靈敏度。檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)不同，檢測(cè)厚度不同，檢測(cè)靈敏度有所差異。第25頁(yè)/共42頁(yè)２.３超聲波檢測(cè)靈敏度超聲波檢測(cè)效果受缺陷反射面積和其與聲束25超聲波檢測(cè)典型試塊CSK-ⅢA超聲波試塊第26頁(yè)/共42頁(yè)超聲波檢測(cè)典型試塊第26頁(yè)/共42頁(yè)26３.磁粉檢測(cè)３.１磁粉檢測(cè)原理３.２磁粉檢測(cè)靈敏度及試片３.３磁粉檢測(cè)工藝第27頁(yè)/共42頁(yè)３.磁粉檢測(cè)３.１磁粉檢測(cè)原理第27頁(yè)/共42頁(yè)27３.１磁粉檢測(cè)原理只能對(duì)鐵磁性材料進(jìn)行磁粉檢測(cè)；磁化時(shí)在工件表面施加較強(qiáng)的磁場(chǎng)，則在材料中所產(chǎn)生密集分布的磁力線，若工件表面或近表面存在缺陷，則磁力線傳播受到阻礙，致使磁力線彎曲溢出工件表面，形成漏磁場(chǎng)，漏磁場(chǎng)吸附工件表面的磁粉形成磁粉堆積（磁痕），從而得以觀察發(fā)現(xiàn)缺陷。原理見(jiàn)圖５.第28頁(yè)/共42頁(yè)３.１磁粉檢測(cè)原理只能對(duì)鐵磁性材料進(jìn)行磁粉檢測(cè)；第28頁(yè)/共28圖５磁粉檢測(cè)原理圖第29頁(yè)/共42頁(yè)圖５磁粉檢測(cè)原理圖第29頁(yè)/共42頁(yè)29３.２磁粉檢測(cè)靈敏度及試片磁粉檢測(cè)的靈敏度用標(biāo)準(zhǔn)靈敏度試片驗(yàn)證。靈敏度試片有多種，常用A型靈敏度試片，其分15/100,

30/100,

60/100三種規(guī)格。試片厚度為100μｍ，槽深分別為15、30、60μｍ，靈敏度依次降低。其中30/100為最常用的試片。第30頁(yè)/共42頁(yè)３.２磁粉檢測(cè)靈敏度及試片磁粉檢測(cè)的靈敏度用標(biāo)準(zhǔn)靈敏度試片驗(yàn)30３.３磁粉檢測(cè)工藝由原是可知，磁粉檢測(cè)只能檢測(cè)出表面和近表面缺陷。為防止漏檢，每一檢測(cè)部位應(yīng)進(jìn)行兩次接近相互垂直的磁化檢測(cè)。不然會(huì)有一個(gè)方向的缺陷漏檢。為了提高靈敏度，可以采用反差增強(qiáng)劑提高工件表面與磁粉之間的色差，易于觀察磁痕。要求更高靈敏度時(shí)，可采用熒光磁粉檢測(cè)。第31頁(yè)/共42頁(yè)３.３磁粉檢測(cè)工藝由原是可知，磁粉檢測(cè)只能檢測(cè)出表面和近表面31４.滲透檢測(cè)４.１滲透檢測(cè)原理４.２滲透檢測(cè)靈敏度試片第32頁(yè)/共42頁(yè)４.滲透檢測(cè)４.１滲透檢測(cè)原理第32頁(yè)/共42頁(yè)32４.１滲透檢測(cè)原理滲透檢測(cè)是利用毛細(xì)管吸附原理。操作程序如下：將工件表面均勻涂覆含有染料的滲透液，在毛細(xì)作用下，滲透液將滲入表面開(kāi)口缺陷，滲透時(shí)間完成后，用布或紙去除表面滲透液（缺陷內(nèi)的滲透液影響不大），在工件表面噴施顯像劑后在毛細(xì)作用下，缺陷中的滲透液又回滲到顯像劑中，并擴(kuò)散形成肉眼或放大鏡即可發(fā)現(xiàn)的缺陷顯示。第33頁(yè)/共42頁(yè)４.１滲透檢測(cè)原理滲透檢測(cè)是利用毛細(xì)管吸附原理。第33頁(yè)/共33４.２滲透檢測(cè)靈敏度試片靈敏度試片用于驗(yàn)證檢測(cè)工藝圖5-11鍍鉻輻射狀裂紋試片1.鍍硬鉻表面；2.打硬度表面第34頁(yè)/共42頁(yè)４.２滲透檢測(cè)靈敏度試片圖5-11鍍鉻輻射狀裂紋試片第334５.TOFD檢測(cè)５.１檢測(cè)原理５.２應(yīng)用方法５.３數(shù)據(jù)判定第35頁(yè)/共42頁(yè)５.TOFD檢測(cè)５.１檢測(cè)原理第35頁(yè)/共42頁(yè)35５.TOFD檢測(cè)超聲波衍射時(shí)差法（TimeofFlightDiffraction），是采用一發(fā)一收探頭工作模式、利用缺陷端點(diǎn)的衍射波信號(hào)探測(cè)和測(cè)定缺陷尺寸的一種自動(dòng)超聲檢測(cè)方法。國(guó)家《固定式壓力容安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程》已將TOFD檢測(cè)列入與射線檢測(cè)同等的方法，可以替代射線檢測(cè)。第36頁(yè)/共42頁(yè)５.TOFD檢測(cè)超聲波衍射時(shí)差法（TimeofFligh36５.１TOFD檢測(cè)原理發(fā)射探頭接收探頭橫向波LW上端點(diǎn)下端點(diǎn)內(nèi)壁反射波BW第37頁(yè)/共42頁(yè)５.１TOFD檢測(cè)原理發(fā)射探頭接收探頭橫向波LW上端點(diǎn)下端點(diǎn)37５.１TOFD檢測(cè)原理探頭架接收探頭發(fā)射探頭焊縫探頭移動(dòng)方向計(jì)數(shù)器第38頁(yè)/共42頁(yè)５.１TOFD檢測(cè)原理探頭架接收探頭發(fā)射探頭焊縫38５.２使用方法該法使用２個(gè)探頭，一發(fā)一收，分別位于焊縫兩側(cè)，要保證良好耦合。因此，對(duì)于直管或壓力容器適用。對(duì)于直管與彎頭、直管與法蘭等管件對(duì)接或管件與管件對(duì)接的焊縫，如果不能滿足焊縫兩側(cè)探頭良好耦合，則不能采用此法檢測(cè)。TOFD檢測(cè)靈敏度高，有人在球罐檢測(cè)與射線作過(guò)對(duì)比，射線檢測(cè)合格率很高，TOFD檢測(cè)較射線法要多返修不少部位。第39頁(yè)/共42頁(yè)５.２使用方法該法使用２個(gè)探頭，一發(fā)一收，分別位于焊縫兩側(cè)39５.３數(shù)據(jù)判定

B掃上表面下表面A掃LWBW第40頁(yè)/共42頁(yè)５.３數(shù)據(jù)判定B掃上表面下表面A掃LWBW第40頁(yè)/共4240６.各種檢測(cè)方法的對(duì)比比較內(nèi)容檢測(cè)靈敏度主要檢測(cè)對(duì)象局限性射線檢測(cè)１——２%內(nèi)部或表面的體積狀缺陷沒(méi)有透照厚度差的缺陷不能檢出（如小裂紋）超聲波檢測(cè)φ２平底孔內(nèi)部和表面缺陷其反射面與聲束平行的裂紋類面狀缺陷檢測(cè)出率很低，容易漏檢磁粉檢測(cè)１μm鐵磁性材料表面和近表面缺陷裂紋方向與磁力線平行容易漏檢滲透檢測(cè)３－５μm非多孔性材料表面開(kāi)口缺陷TOFD高于射線內(nèi)部和表面缺陷其反射面與聲束平行的裂紋類面狀缺陷檢測(cè)出率很低，容易漏檢第41頁(yè)/共42頁(yè)６.各種檢測(cè)方法的對(duì)比比較內(nèi)容檢測(cè)靈敏度主要檢測(cè)對(duì)象局限性射41感謝您的欣賞！第42頁(yè)/共42頁(yè)感謝您的欣賞！第42頁(yè)/共42頁(yè)42常用無(wú)損檢測(cè)方法介紹無(wú)損檢測(cè)監(jiān)督檢查關(guān)注的重點(diǎn)總站質(zhì)量大檢查中經(jīng)常發(fā)現(xiàn)的問(wèn)題第1頁(yè)/共42頁(yè)第1頁(yè)/共42頁(yè)43常用無(wú)損檢測(cè)方法介紹１.射線檢測(cè)２.超聲波檢測(cè)３.磁粉檢測(cè)４.滲透檢測(cè)５.TOFD檢測(cè)６.各種檢測(cè)方法比較第2頁(yè)/共42頁(yè)常用無(wú)損檢測(cè)方法介紹１.射線檢測(cè)第2頁(yè)/共42頁(yè)44１.射線檢測(cè)１.１射線檢測(cè)原理

１.２射線檢測(cè)靈敏度

１.３安全防護(hù)第3頁(yè)/共42頁(yè)１.射線檢測(cè)第3頁(yè)/共42頁(yè)45１.１射線檢測(cè)原理射線能穿透物質(zhì)，并能使膠片感光，射線強(qiáng)度越大，感光的膠片沖洗后黑度越大，反之則黑度小。射線透照布置見(jiàn)圖１.射線在穿透物質(zhì)時(shí)呈指數(shù)規(guī)律被吸收衰減，當(dāng)物質(zhì)內(nèi)存在異物或表面不均勻時(shí)，在異物或不均勻表面所在的部位會(huì)形成對(duì)射線衰減的不均衡，其不均衡的程度與所透過(guò)物質(zhì)的厚度差成正比。將透過(guò)工件的射線用膠片進(jìn)行記錄，經(jīng)暗室處理后形成底片，其底片黑度不均勻程度與工件內(nèi)部組織狀況和異物的吸收系數(shù)密切相關(guān)。第4頁(yè)/共42頁(yè)１.１射線檢測(cè)原理射線能穿透物質(zhì)，并能使膠片感光，射線強(qiáng)度越46１.１射線檢測(cè)原理將透過(guò)工件的射線用膠片進(jìn)行記錄，經(jīng)暗室處理后形成底片，其底片黑度不均勻程度與工件內(nèi)部組織狀況和異物的吸收系數(shù)密切相關(guān)。如焊縫中存在氣孔、夾渣、未焊透、未熔合、裂紋、內(nèi)凹、咬邊等在底片上呈黑色。焊瘤、焊縫余高過(guò)高等在底片上呈較白的影像。夾鎢缺陷由于其吸收系數(shù)比鋼材大的多，其在底片上的影像呈亮的白點(diǎn)。第5頁(yè)/共42頁(yè)１.１射線檢測(cè)原理將透過(guò)工件的射線用膠片進(jìn)行記錄，經(jīng)暗室處理47１.１射線檢測(cè)原理圖１射線檢測(cè)原理圖工件膠片增感屏暗袋第6頁(yè)/共42頁(yè)１.１射線檢測(cè)原理工件膠片增感屏暗袋第6頁(yè)/共42頁(yè)48１.１射線檢測(cè)原理射線檢測(cè)能識(shí)別缺陷的性質(zhì)和準(zhǔn)確測(cè)量缺陷尺寸，是目前公認(rèn)較好的檢測(cè)方法。第7頁(yè)/共42頁(yè)１.１射線檢測(cè)原理射線檢測(cè)能識(shí)別缺陷的性質(zhì)和準(zhǔn)確測(cè)量缺陷尺寸49１.２射線檢測(cè)靈敏度射線檢測(cè)靈敏度用“像質(zhì)計(jì)”來(lái)測(cè)定，標(biāo)準(zhǔn)對(duì)不同厚度的工件規(guī)定了應(yīng)觀察到的鋼絲直徑。工件越厚所需的射線能量越高，不然透過(guò)工件時(shí)衰減過(guò)多底片黑度達(dá)不到要求。射線能量越高檢測(cè)靈敏度越低。射線對(duì)體積狀缺陷敏感，對(duì)面狀缺陷不敏感，沒(méi)有厚度差的缺陷是無(wú)法檢測(cè)出來(lái)的。相對(duì)靈敏度在１~２%左右。第8頁(yè)/共42頁(yè)１.２射線檢測(cè)靈敏度射線檢測(cè)靈敏度用“像質(zhì)計(jì)”來(lái)測(cè)定，標(biāo)準(zhǔn)對(duì)50１.３安全防護(hù)X射線和γ射線的本質(zhì)都是電磁波，其波長(zhǎng)非常短，能穿透物質(zhì)，能殺傷人體細(xì)胞，波長(zhǎng)越短殺傷力越強(qiáng)?？茖W(xué)控制受照劑量，檢測(cè)人員在不超過(guò)20mSv/年時(shí)不會(huì)對(duì)人體產(chǎn)生傷害。第9頁(yè)/共42頁(yè)１.３安全防護(hù)X射線和γ射線的本質(zhì)都是電磁波，其波長(zhǎng)非常短，51１.３安全防護(hù)X/γ射線的衰減呈與距離的平方成正比關(guān)系，距離越遠(yuǎn)，射線衰減越多。X射線機(jī)具有方向性，單向X射線機(jī)輻射角為４０度圓錐角，其它方向射線很少，如圖２所示；周向X光機(jī)用于環(huán)縫周向透照，X射線呈２５度的扇面３６０輻射，如圖３所示，射線透過(guò)工件后衰減了大部分射線。X射線機(jī)不接電源或接通電源不送高電壓不產(chǎn)生X射線。第10頁(yè)/共42頁(yè)１.３安全防護(hù)X/γ射線的衰減呈與距離的平方成正比關(guān)系，距離52１.３安全防護(hù)γ射線機(jī)在透照時(shí)呈360度球面輻射，如圖４所示，射線透過(guò)工件后衰減了大部分射線，沒(méi)有透過(guò)工件的射線強(qiáng)度較大。如果有需要可以采用定向器限制γ射線的輻射角度。也可以在射線源背面蓋一層較厚的鉛板，以減弱背面射線的強(qiáng)度。這樣工作效率會(huì)有所降低。第11頁(yè)/共42頁(yè)１.３安全防護(hù)γ射線機(jī)在透照時(shí)呈360度球面輻射，如圖４所示53１.３安全防護(hù)Ir192射線源相當(dāng)于４００KV

X射線機(jī)的能量，Ir192源的半衰期是７５天，出廠活度為１００Ci的源約使用１５０天后還剩２５Ci。只能透照厚度和直徑較小的管子。Se75射線源相當(dāng)于２００KV

X射線機(jī)的能量，Se75源的半衰期是１２０天，出廠活度為１００Ci的源約使用１２０天后還剩５０Ci，只能透照簿壁管。第12頁(yè)/共42頁(yè)１.３安全防護(hù)Ir192射線源相當(dāng)于４００KVX射線機(jī)的能54１.３安全防護(hù)安全防護(hù)標(biāo)準(zhǔn)：GBZ132—2008《工業(yè)γ射線探傷放射防護(hù)標(biāo)準(zhǔn)》GBZ117—2006《工業(yè)X射線探傷放射衛(wèi)生防護(hù)標(biāo)準(zhǔn)》這兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)均規(guī)定控制區(qū)邊界線的劑量率為15μGy/h

。X透照、加定向器或背面用鉛板屏蔽的γ透照，若每張片曝光時(shí)間按3~5分鐘計(jì)，安全距離約為40~50米，如果γ透照時(shí)不加定向器、背面也不用鉛板屏蔽，則安全距離要達(dá)到100米，甚至更遠(yuǎn)，要視源的活度而異。第13頁(yè)/共42頁(yè)１.３安全防護(hù)安全防護(hù)標(biāo)準(zhǔn)：第13頁(yè)/共42頁(yè)55圖２X射線機(jī)透照示意圖機(jī)頭控制箱鉛板管子第14頁(yè)/共42頁(yè)圖２X射線機(jī)透照示意圖機(jī)頭控制箱鉛板管子第14頁(yè)/共4256圖３X射線機(jī)透照示意圖機(jī)頭控制箱管壁焊縫第15頁(yè)/共42頁(yè)圖３X射線機(jī)透照示意圖機(jī)頭控制箱管壁焊縫第15頁(yè)/共4257圖４γ射線透照示意圖第16頁(yè)/共42頁(yè)圖４γ射線透照示意圖第16頁(yè)/共42頁(yè)58２.超聲波檢測(cè)２.１超聲波檢測(cè)原理２.２超聲波檢測(cè)程序２.３超聲波檢測(cè)靈敏度第17頁(yè)/共42頁(yè)２.超聲波檢測(cè)２.１超聲波檢測(cè)原理第17頁(yè)/共42頁(yè)59２.１超聲波檢測(cè)原理超聲波檢測(cè)也叫脈沖反射法超聲波檢測(cè)，其原理是利用換能器（探頭）將高頻電脈沖轉(zhuǎn)換為高頻機(jī)械波（超聲波），超聲波通過(guò)耦合劑傳入工件，超聲波在傳播過(guò)程中遇到異質(zhì)界面時(shí)會(huì)發(fā)生反射、折射和波形轉(zhuǎn)換，反射回來(lái)的聲波再通過(guò)耦合劑被探頭接收、放大后在熒光屏上顯示，根據(jù)反射回波位置判斷是否根據(jù)回波高度判斷缺陷反射面的當(dāng)量大小。第18頁(yè)/共42頁(yè)２.１超聲波檢測(cè)原理超聲波檢測(cè)也叫脈沖反射法超聲波檢測(cè)，其原60圖４超聲波檢測(cè)原理圖１FT2TO第19頁(yè)/共42頁(yè)圖４超聲波檢測(cè)原理圖１FT2TO第19頁(yè)/共42頁(yè)61２.２超聲波檢測(cè)程序１）儀器調(diào)校２）現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)３）缺陷等級(jí)評(píng)判第20頁(yè)/共42頁(yè)２.２超聲波檢測(cè)程序１）儀器調(diào)校第20頁(yè)/共42頁(yè)62２.２超聲波檢測(cè)程序１）儀器調(diào)校超聲波檢測(cè)前應(yīng)根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)要求用與被檢工件材質(zhì)相同或相近的標(biāo)準(zhǔn)試塊對(duì)儀器進(jìn)行調(diào)校，其目的是：確定檢測(cè)靈敏度：能夠發(fā)現(xiàn)缺陷的當(dāng)量尺寸；確定熒光屏水平刻度所代表的回波比例：即判回波所在的位置，用于判斷該回波是否缺陷波。第21頁(yè)/共42頁(yè)２.２超聲波檢測(cè)程序１）儀器調(diào)校第21頁(yè)/共42頁(yè)63２.２超聲波檢測(cè)程序２）現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)發(fā)現(xiàn)的回波后應(yīng)先根據(jù)其回波位置判斷其是否缺陷波；確認(rèn)是缺陷波后，根據(jù)波的高度判斷其大當(dāng)量大?。辉侔礃?biāo)準(zhǔn)規(guī)定的方法測(cè)其長(zhǎng)度。然后根據(jù)規(guī)定的尺寸判定級(jí)別。第22頁(yè)/共42頁(yè)２.２超聲波檢測(cè)程序２）現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)第22頁(yè)/共42頁(yè)64２.２超聲波檢測(cè)程序２）現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)管道焊縫是單面焊接，根部未焊透、未熔合缺陷易與焊瘤反射波相混淆，造成缺陷漏檢或誤判，因此管道焊縫超聲波檢測(cè)人員必須經(jīng)過(guò)專業(yè)培訓(xùn)，合格后方可獨(dú)立進(jìn)行工作。

第23頁(yè)/共42頁(yè)２.２超聲波檢測(cè)程序２）現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)第23頁(yè)/共42頁(yè)65２.２超聲波檢測(cè)程序３）缺陷等級(jí)評(píng)判根據(jù)測(cè)定的缺陷尺寸按標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行判定級(jí)別。第24頁(yè)/共42頁(yè)２.２超聲波檢測(cè)程序３）缺陷等級(jí)評(píng)判第24頁(yè)/共42頁(yè)66２.３超聲波檢測(cè)靈敏度超聲波檢測(cè)效果受缺陷反射面積和其與聲束所成的角度有關(guān)，當(dāng)聲束與缺陷反射面垂直時(shí)，反射回波最強(qiáng)，最易發(fā)現(xiàn)缺陷，當(dāng)缺陷的反射面與聲束平行時(shí)，反射面極小，易造成漏檢。因此，在超聲波檢測(cè)前應(yīng)按標(biāo)準(zhǔn)要求制定檢測(cè)工藝，選擇符合要求的探頭和檢測(cè)靈敏度。檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)不同，檢測(cè)厚度不同，檢測(cè)靈敏度有所差異。第25頁(yè)/共42頁(yè)２.３超聲波檢測(cè)靈敏度超聲波檢測(cè)效果受缺陷反射面積和其與聲束67超聲波檢測(cè)典型試塊CSK-ⅢA超聲波試塊第26頁(yè)/共42頁(yè)超聲波檢測(cè)典型試塊第26頁(yè)/共42頁(yè)68３.磁粉檢測(cè)３.１磁粉檢測(cè)原理３.２磁粉檢測(cè)靈敏度及試片３.３磁粉檢測(cè)工藝第27頁(yè)/共42頁(yè)３.磁粉檢測(cè)３.１磁粉檢測(cè)原理第27頁(yè)/共42頁(yè)69３.１磁粉檢測(cè)原理只能對(duì)鐵磁性材料進(jìn)行磁粉檢測(cè)；磁化時(shí)在工件表面施加較強(qiáng)的磁場(chǎng)，則在材料中所產(chǎn)生密集分布的磁力線，若工件表面或近表面存在缺陷，則磁力線傳播受到阻礙，致使磁力線彎曲溢出工件表面，形成漏磁場(chǎng)，漏磁場(chǎng)吸附工件表面的磁粉形成磁粉堆積（磁痕），從而得以觀察發(fā)現(xiàn)缺陷。原理見(jiàn)圖５.第28頁(yè)/共42頁(yè)３.１磁粉檢測(cè)原理只能對(duì)鐵磁性材料進(jìn)行磁粉檢測(cè)；第28頁(yè)/共70圖５磁粉檢測(cè)原理圖第29頁(yè)/共42頁(yè)圖５磁粉檢測(cè)原理圖第29頁(yè)/共42頁(yè)71３.２磁粉檢測(cè)靈敏度及試片磁粉檢測(cè)的靈敏度用標(biāo)準(zhǔn)靈敏度試片驗(yàn)證。靈敏度試片有多種，常用A型靈敏度試片，其分15/100,

30/100,

60/100三種規(guī)格。試片厚度為100μｍ，槽深分別為15、30、60μｍ，靈敏度依次降低。其中30/100為最常用的試片。第30頁(yè)/共42頁(yè)３.２磁粉檢測(cè)靈敏度及試片磁粉檢測(cè)的靈敏度用標(biāo)準(zhǔn)靈敏度試片驗(yàn)72３.３磁粉檢測(cè)工藝由原是可知，磁粉檢測(cè)只能檢測(cè)出表面和近表面缺陷。為防止漏檢，每一檢測(cè)部位應(yīng)進(jìn)行兩次接近相互垂直的磁化檢測(cè)。不然會(huì)有一個(gè)方向的缺陷漏檢。為了提高靈敏度，可以采用反差增強(qiáng)劑提高工件表面與磁粉之間的色差，易于觀察磁痕。要求更高靈敏度時(shí)，可采用熒光磁粉檢測(cè)。第31頁(yè)/共42頁(yè)３.３磁粉檢測(cè)工藝由原是可知，磁粉檢測(cè)只能檢測(cè)出表面和近表面73４.滲透檢測(cè)４.１滲透檢測(cè)原理４.２滲透檢測(cè)靈敏度試片第32頁(yè)/共42頁(yè)４.滲透檢測(cè)４.１滲透檢測(cè)原理第32頁(yè)/共42頁(yè)74４.１滲透檢測(cè)原理滲透檢測(cè)是利用毛細(xì)管吸附原理。操作程序如下：將工件表面均勻涂覆含有染料的滲透液，在毛細(xì)作用下，滲透液將滲入表面開(kāi)口缺陷，滲透時(shí)間完成后，用布或紙去除表面滲透液（缺陷內(nèi)的滲透液影響不大），在工件表面噴施顯像劑后在毛細(xì)作用下，缺陷中的滲透液又回滲到顯像劑中，并擴(kuò)散形成肉眼或放大鏡即可發(fā)現(xiàn)的缺陷顯示。第33頁(yè)/共42頁(yè)４.１滲透檢測(cè)原理滲透檢測(cè)是利用毛細(xì)管吸附原理。第33頁(yè)/共75４.２滲透檢測(cè)靈敏度試片靈敏度試片用于驗(yàn)證檢測(cè)工藝圖5-11鍍鉻輻射狀裂紋試片1.鍍硬鉻表