《室內(nèi)質(zhì)量控制基礎(chǔ)》課件

1ppt課件1ppt課件第一節(jié)概論一、室內(nèi)質(zhì)量控制發(fā)展簡史●20世紀20年代美國休哈特(W．A.Shewhart)提出統(tǒng)計過程控制(SPC)?！?/p>

1950年Levey-Jennings將生產(chǎn)過程的統(tǒng)計控制引入臨床實驗室，形成了臨床檢驗的分析過程的質(zhì)量控制(QC)?！?/p>

Henry和Segalove在1952年發(fā)展了改良的方法。用穩(wěn)定的參考材料做重復(fù)檢測，將各個檢測值直接點在質(zhì)控圖上。●

70年代，Westgard等人提出了許多質(zhì)量控制規(guī)則，發(fā)展了系統(tǒng)化的統(tǒng)計質(zhì)量控制理論?！?/p>

90年代，Westgard等人提出了新的質(zhì)量控制方法設(shè)計工具－即操作過程規(guī)范(OPSpecs)圖?！?/p>

2l世紀，Westgard嘗試將工業(yè)管理上最新提出的六西格瑪(sixsigma，6σ)質(zhì)量管理方法應(yīng)用于臨床實驗室質(zhì)量控制。2ppt課件第一節(jié)概論一、室內(nèi)質(zhì)量控制發(fā)展簡史●20世紀20二、統(tǒng)計質(zhì)量控制(一)統(tǒng)計質(zhì)量控制

★應(yīng)用統(tǒng)計方法對過程中的各個階段進行監(jiān)控與診斷而改進與保證產(chǎn)品(檢驗結(jié)果)質(zhì)量的目的。(二)從統(tǒng)計學(xué)觀察檢驗結(jié)果的質(zhì)量

3ppt課件二、統(tǒng)計質(zhì)量控制(一)統(tǒng)計質(zhì)量控制3ppt課件4ppt課件4ppt課件第二節(jié)誤差及允許誤差一、隨機誤差測量結(jié)果與在重復(fù)性條件下，對同一被測量進行無限多次測量所得結(jié)果的平均值之差。隨機誤差的統(tǒng)計規(guī)律性，主要可歸納為對稱性、有界性和單峰性三點。二、系統(tǒng)誤差在重復(fù)性條件下，對同一被測量進行無限多次測量所得結(jié)果的平均值與被測量的真值之差。三、總誤差測定結(jié)果與真值的差異是隨機誤差和系統(tǒng)誤差的總和。四、質(zhì)量規(guī)范五、如何制定允許總誤差5ppt課件第二節(jié)誤差及允許誤差一、隨機誤差5ppt課件允許總誤差(％)＝±(1／4)[(參考值上界－參考值下界)／參考值均值]X100％

6ppt課件允許總誤差(％)＝±(1／4)[(參考值上界－參考值下界)67ppt課件7ppt課件8ppt課件8ppt課件第三節(jié)室內(nèi)質(zhì)控圖和質(zhì)控方法

一、室內(nèi)質(zhì)控圖概論(一)質(zhì)控圖的定義和功能

1．質(zhì)控圖的定義——是對過程質(zhì)量加以測定、記錄從而評估和監(jiān)察過程是否處于控制狀態(tài)的一種統(tǒng)計方法設(shè)計的圖。2．質(zhì)控圖的功能——診斷、控制、確認(二)質(zhì)控圖貫徹了預(yù)防為主的原則(三)質(zhì)控圖的兩種錯誤(四)3σ方式

9ppt課件第三節(jié)室內(nèi)質(zhì)控圖和質(zhì)控方法一、室內(nèi)質(zhì)控圖概二、休哈特質(zhì)控圖10ppt課件二、休哈特質(zhì)控圖10ppt課件三、Levey-Jennings質(zhì)控圖11ppt課件三、Levey-Jennings質(zhì)控圖11ppt課件12ppt課件12ppt課件四、Z-分數(shù)圖★用各個質(zhì)控品測定值的“Z-分數(shù)”(Z-score)的方法來把各個質(zhì)控品的測定結(jié)果繪制在同一個質(zhì)控圖上?！锬迟|(zhì)控品的“Z-分數(shù)”是該質(zhì)控品的質(zhì)控測定值和其均值之差，除以該質(zhì)控品的標準差：

Z-分數(shù)＝(Ximat—Xmat)／Smat

13ppt課件四、Z-分數(shù)圖★用各個質(zhì)控品測定值的“Z-分數(shù)”(Z-sco五、質(zhì)控方法的性能特征★不同的質(zhì)控方法具有不同的檢出分析誤差的能力，因此，實際工作中控制檢測過程中的質(zhì)量程度依賴于所選擇的質(zhì)控方法?！镔|(zhì)控方法由質(zhì)控規(guī)則和每批質(zhì)控測定值個數(shù)(N)確定。不同質(zhì)控方法檢出誤差能力與由此決定的分析批失控的概率，就成為評價質(zhì)控方法的性能特征。這些特征確定了質(zhì)控方法的功效。14ppt課件五、質(zhì)控方法的性能特征★不同的質(zhì)控方法具有不同的檢出分析誤差★分析過程可分為兩種情況：一是無誤差分析批，即分析過程除了固有的隨機誤差外沒有其他誤差的分析批。二是有誤差分析批，分析過程除了固有的隨機誤差外還存在其他的誤差?！铩罢媸Э亍?truereject，TR)指質(zhì)控方法對有誤差分析批作出了失控判斷；“假失控”(falsereject，F(xiàn)R)指質(zhì)控方法對無誤差分析批作出了失控判斷；“假在控”(falseaccept，F(xiàn)A)指質(zhì)控方法對有誤差分析批作出了在控判斷；“真在控”(trueaccept，TA)指質(zhì)控方法對無誤差分析批作出了在控判斷。15ppt課件★分析過程可分為兩種情況：一是無誤差分析批，即分析過程除了固★為了對質(zhì)控方法的性能特征進行量化，需確定總批數(shù)中每種質(zhì)控狀態(tài)所占的批數(shù)，即真在控批數(shù)、假在控批數(shù)、真失控批數(shù)和假失控批數(shù)。其中最有意義的是真失控批數(shù)和假失控批數(shù)以及與之相應(yīng)的誤差檢出概率(Ped)和假失控概率(Pfr)?！颬ed和Pfr之間存在著密切的關(guān)系，增加Ped通常也增加了Pfr。對各種質(zhì)控規(guī)則進行精心選擇和取舍，有可能設(shè)計出具有高誤差檢出概率和低假失控概率的質(zhì)控程序和方法。16ppt課件★為了對質(zhì)控方法的性能特征進行量化，需確定總批數(shù)中每種質(zhì)控狀（一）誤差檢出概率

Ped＝nTR／(nTR＋nFA)

★式中nTR為有誤差分析批中失控的批數(shù)，nFA為有誤差分析批中假在控的批數(shù)?！颬ed即檢出超過允許分析誤差那部分誤差的概率。理想的質(zhì)控方法Ped應(yīng)為1.00，意即可100％地檢出有誤差的分析批。誤差檢出概率也被稱之為統(tǒng)計檢驗的“功效”。17ppt課件（一）誤差檢出概率Ped＝nTR／(nTR＋n（二）假失控概率

Pfr＝nFR／(nFR＋nTA)

★式中nFR為錯判失控批的批數(shù)，nTA為真在控的批數(shù)。★Pfr指當分析批除了本身固有的隨機誤差外沒有其他誤差時，判斷分析批失控的概率。這一概率等于錯判失控批數(shù)除以無誤差總批數(shù)。理想的質(zhì)控方法的Pfr應(yīng)為0，意指無誤差分析批均在控。18ppt課件（二）假失控概率Pfr＝nFR／(nFR＋n19ppt課件19ppt課件★當選擇或設(shè)計質(zhì)控方法時，首先要作出的決定之一是可接受的或可耐受的假失控概率是多少。★一般在臨床檢驗質(zhì)控上，合理的Pfr值為0.01到0.05范圍。0.05表示分析過程在實驗效率上5％的損失?！锿ㄟ^了解除了方法本身的固有隨機誤差外，有無其他誤差以及這些誤差的分類多少，可確定質(zhì)控方法的性能特征。然而，要進行具體的實驗研究來計算Ped和Pfr是不切實際的，因為在實驗室中難以區(qū)分假失控和假在控，要花大量的時間和精力研究分析批的實際質(zhì)控結(jié)果來確定真在控批數(shù)、假在控批數(shù)、真失控批數(shù)和假失控批數(shù)。20ppt課件★當選擇或設(shè)計質(zhì)控方法時，首先要作出的決定之一是可接受的或可(三)誤差檢出概率和假失控概率的確定

●計算大量試驗數(shù)據(jù)的實用方法是使用計算機來產(chǎn)生數(shù)值、引入誤差、檢驗數(shù)據(jù)、列表描述結(jié)果以及計算概率的估計值。這樣的“計算機模擬程序”試圖模擬在評價質(zhì)控方法上的各種感興趣的條件。模擬程序允許分析人員輸入測定方法的平均值和標準差，從菜單上選擇評價的質(zhì)控方法，以及規(guī)定每批質(zhì)控測定值的個數(shù)，然后計算機程序執(zhí)行模擬來估計分析誤差范圍的失控概率，并以表格和圖形的形式來描述這些信息?！襁@就是目前在選擇質(zhì)控方法(質(zhì)控測定結(jié)果個數(shù)和質(zhì)控規(guī)則)時使用的功效函數(shù)圖的由來。21ppt課件(三)誤差檢出概率和假失控概率的確定●計算大量試驗數(shù)據(jù)的實六、常規(guī)質(zhì)控規(guī)則★質(zhì)控規(guī)則是解釋質(zhì)控數(shù)據(jù)和判斷質(zhì)控狀態(tài)的標準?！镆苑朅L，表示，其中A是超過質(zhì)控限(L)的質(zhì)控測定值的個數(shù)，L是質(zhì)控界限?！锂斮|(zhì)控測定值不能滿足某規(guī)則要求時，應(yīng)判該批分析違背此規(guī)則。22ppt課件六、常規(guī)質(zhì)控規(guī)則★質(zhì)控規(guī)則是解釋質(zhì)控數(shù)據(jù)和判斷質(zhì)控狀態(tài)的標準12S：1個質(zhì)控測定值超過X±2s。常作為Ievey-Jennings質(zhì)控圖上的警告限。23ppt課件12S：1個質(zhì)控測定值超過X±2s。常作為Ievey-Jen13S：1個質(zhì)控測定值超過X±3s質(zhì)控限。此規(guī)則對隨機誤差敏感。

24ppt課件13S：1個質(zhì)控測定值超過X±3s質(zhì)控限。此規(guī)則對隨機誤差敏22S：2個連續(xù)的質(zhì)控測定值同時超過X+2s或X-2s質(zhì)控限。此規(guī)則主要對系統(tǒng)誤差敏感。

25ppt課件22S：2個連續(xù)的質(zhì)控測定值同時超過X+2s或X-2s質(zhì)控限R4S：在同一批內(nèi)最高質(zhì)控測定值與最低質(zhì)控測定值之間的差值超過4s。此規(guī)則主要對隨機誤差敏感。

26ppt課件R4S：在同一批內(nèi)最高質(zhì)控測定值與最低質(zhì)控測定值之間的差值超41S：4個連續(xù)的質(zhì)控測定值同時超過X+1s或X-1s。此規(guī)則主要對系統(tǒng)誤差敏感。27ppt課件41S：4個連續(xù)的質(zhì)控測定值同時超過X+1s或X-1s。此規(guī)9X：9個連續(xù)的質(zhì)控測定值落在均值(X)的同一側(cè)。此規(guī)則主要對系統(tǒng)誤差敏感。

28ppt課件9X：9個連續(xù)的質(zhì)控測定值落在均值(X)的同一側(cè)。此規(guī)則主要10X：10次連續(xù)的質(zhì)控測定值落在均值(X)的同一側(cè)。此規(guī)則主要對系統(tǒng)誤差敏感。

101029ppt課件10X：10次連續(xù)的質(zhì)控測定值落在均值(X)的同一側(cè)。此規(guī)則比例質(zhì)控規(guī)則(mofn)L：例如最常用的是(2of3)2，規(guī)則，即是連續(xù)的三個質(zhì)控物測定值中有兩個質(zhì)控測定值超過x+2s或x－2s質(zhì)控限。

30ppt課件比例質(zhì)控規(guī)則(mofn)L：例如最常用的是(2of3)2七、多規(guī)則質(zhì)控方法★Westgard等人在Ievey-Jennings質(zhì)控圖的基礎(chǔ)上，建立了同時使用多個規(guī)則來進行臨床檢驗質(zhì)控的方法，即通常所稱的“Westeard多規(guī)則質(zhì)控方法”。主要特點是：

①能夠通過單值質(zhì)控圖進行簡單的數(shù)據(jù)分析和顯示；

②容易與Levey-Jennings質(zhì)控圖適應(yīng)和統(tǒng)一；

③具有低的假失控或假報警概率；④當判斷一批為失控時，能確定發(fā)生分析誤差的類型，有助于確定失控原因和解決問題。

31ppt課件七、多規(guī)則質(zhì)控方法★Westgard等人在Ievey-JenWestgeard多規(guī)則質(zhì)控方法★Westgard多規(guī)則通常有六個質(zhì)控規(guī)則，即12S、13S、22S、R4S、41S、10x質(zhì)控規(guī)則，其中12S，規(guī)則只是在“手工作業(yè)”時作為警告規(guī)則，啟動其它質(zhì)控規(guī)則以助于數(shù)據(jù)的快速判斷。為了表達的方便，通常以“／”符號將各項質(zhì)控規(guī)則聯(lián)接起來，如13S／22S／R4S／41S／10x。32ppt課件Westgeard多規(guī)則質(zhì)控方法★Westgard多規(guī)則通33ppt課件33ppt課件？34ppt課件？34ppt課件n＝2多規(guī)則質(zhì)控方法

(1)分析兩個不同濃度的質(zhì)控物(2)由12S質(zhì)控規(guī)則啟動質(zhì)控過程(3)檢查同一批內(nèi)質(zhì)控測定值(4)檢查不同分析批質(zhì)控測定值(5)當沒有違背規(guī)則時，判斷為在控，報告患者的結(jié)果。

35ppt課件n＝2多規(guī)則質(zhì)控方法(1)分析兩個不同濃度的質(zhì)控物35p四、質(zhì)控數(shù)據(jù)解釋舉例36ppt課件四、質(zhì)控數(shù)據(jù)解釋舉例36ppt課件37ppt課件37ppt課件38ppt課件1ppt課件第一節(jié)概論一、室內(nèi)質(zhì)量控制發(fā)展簡史●20世紀20年代美國休哈特(W．A.Shewhart)提出統(tǒng)計過程控制(SPC)?！?/p>

1950年Levey-Jennings將生產(chǎn)過程的統(tǒng)計控制引入臨床實驗室，形成了臨床檢驗的分析過程的質(zhì)量控制(QC)?！?/p>

Henry和Segalove在1952年發(fā)展了改良的方法。用穩(wěn)定的參考材料做重復(fù)檢測，將各個檢測值直接點在質(zhì)控圖上。●

70年代，Westgard等人提出了許多質(zhì)量控制規(guī)則，發(fā)展了系統(tǒng)化的統(tǒng)計質(zhì)量控制理論。●

90年代，Westgard等人提出了新的質(zhì)量控制方法設(shè)計工具－即操作過程規(guī)范(OPSpecs)圖?！?/p>

2l世紀，Westgard嘗試將工業(yè)管理上最新提出的六西格瑪(sixsigma，6σ)質(zhì)量管理方法應(yīng)用于臨床實驗室質(zhì)量控制。39ppt課件第一節(jié)概論一、室內(nèi)質(zhì)量控制發(fā)展簡史●20世紀20二、統(tǒng)計質(zhì)量控制(一)統(tǒng)計質(zhì)量控制

★應(yīng)用統(tǒng)計方法對過程中的各個階段進行監(jiān)控與診斷而改進與保證產(chǎn)品(檢驗結(jié)果)質(zhì)量的目的。(二)從統(tǒng)計學(xué)觀察檢驗結(jié)果的質(zhì)量

40ppt課件二、統(tǒng)計質(zhì)量控制(一)統(tǒng)計質(zhì)量控制3ppt課件41ppt課件4ppt課件第二節(jié)誤差及允許誤差一、隨機誤差測量結(jié)果與在重復(fù)性條件下，對同一被測量進行無限多次測量所得結(jié)果的平均值之差。隨機誤差的統(tǒng)計規(guī)律性，主要可歸納為對稱性、有界性和單峰性三點。二、系統(tǒng)誤差在重復(fù)性條件下，對同一被測量進行無限多次測量所得結(jié)果的平均值與被測量的真值之差。三、總誤差測定結(jié)果與真值的差異是隨機誤差和系統(tǒng)誤差的總和。四、質(zhì)量規(guī)范五、如何制定允許總誤差42ppt課件第二節(jié)誤差及允許誤差一、隨機誤差5ppt課件允許總誤差(％)＝±(1／4)[(參考值上界－參考值下界)／參考值均值]X100％

43ppt課件允許總誤差(％)＝±(1／4)[(參考值上界－參考值下界)644ppt課件7ppt課件45ppt課件8ppt課件第三節(jié)室內(nèi)質(zhì)控圖和質(zhì)控方法

一、室內(nèi)質(zhì)控圖概論(一)質(zhì)控圖的定義和功能

1．質(zhì)控圖的定義——是對過程質(zhì)量加以測定、記錄從而評估和監(jiān)察過程是否處于控制狀態(tài)的一種統(tǒng)計方法設(shè)計的圖。2．質(zhì)控圖的功能——診斷、控制、確認(二)質(zhì)控圖貫徹了預(yù)防為主的原則(三)質(zhì)控圖的兩種錯誤(四)3σ方式

46ppt課件第三節(jié)室內(nèi)質(zhì)控圖和質(zhì)控方法一、室內(nèi)質(zhì)控圖概二、休哈特質(zhì)控圖47ppt課件二、休哈特質(zhì)控圖10ppt課件三、Levey-Jennings質(zhì)控圖48ppt課件三、Levey-Jennings質(zhì)控圖11ppt課件49ppt課件12ppt課件四、Z-分數(shù)圖★用各個質(zhì)控品測定值的“Z-分數(shù)”(Z-score)的方法來把各個質(zhì)控品的測定結(jié)果繪制在同一個質(zhì)控圖上?！锬迟|(zhì)控品的“Z-分數(shù)”是該質(zhì)控品的質(zhì)控測定值和其均值之差，除以該質(zhì)控品的標準差：

Z-分數(shù)＝(Ximat—Xmat)／Smat

50ppt課件四、Z-分數(shù)圖★用各個質(zhì)控品測定值的“Z-分數(shù)”(Z-sco五、質(zhì)控方法的性能特征★不同的質(zhì)控方法具有不同的檢出分析誤差的能力，因此，實際工作中控制檢測過程中的質(zhì)量程度依賴于所選擇的質(zhì)控方法?！镔|(zhì)控方法由質(zhì)控規(guī)則和每批質(zhì)控測定值個數(shù)(N)確定。不同質(zhì)控方法檢出誤差能力與由此決定的分析批失控的概率，就成為評價質(zhì)控方法的性能特征。這些特征確定了質(zhì)控方法的功效。51ppt課件五、質(zhì)控方法的性能特征★不同的質(zhì)控方法具有不同的檢出分析誤差★分析過程可分為兩種情況：一是無誤差分析批，即分析過程除了固有的隨機誤差外沒有其他誤差的分析批。二是有誤差分析批，分析過程除了固有的隨機誤差外還存在其他的誤差。★“真失控”(truereject，TR)指質(zhì)控方法對有誤差分析批作出了失控判斷；“假失控”(falsereject，F(xiàn)R)指質(zhì)控方法對無誤差分析批作出了失控判斷；“假在控”(falseaccept，F(xiàn)A)指質(zhì)控方法對有誤差分析批作出了在控判斷；“真在控”(trueaccept，TA)指質(zhì)控方法對無誤差分析批作出了在控判斷。52ppt課件★分析過程可分為兩種情況：一是無誤差分析批，即分析過程除了固★為了對質(zhì)控方法的性能特征進行量化，需確定總批數(shù)中每種質(zhì)控狀態(tài)所占的批數(shù)，即真在控批數(shù)、假在控批數(shù)、真失控批數(shù)和假失控批數(shù)。其中最有意義的是真失控批數(shù)和假失控批數(shù)以及與之相應(yīng)的誤差檢出概率(Ped)和假失控概率(Pfr)。★Ped和Pfr之間存在著密切的關(guān)系，增加Ped通常也增加了Pfr。對各種質(zhì)控規(guī)則進行精心選擇和取舍，有可能設(shè)計出具有高誤差檢出概率和低假失控概率的質(zhì)控程序和方法。53ppt課件★為了對質(zhì)控方法的性能特征進行量化，需確定總批數(shù)中每種質(zhì)控狀（一）誤差檢出概率

Ped＝nTR／(nTR＋nFA)

★式中nTR為有誤差分析批中失控的批數(shù)，nFA為有誤差分析批中假在控的批數(shù)?！颬ed即檢出超過允許分析誤差那部分誤差的概率。理想的質(zhì)控方法Ped應(yīng)為1.00，意即可100％地檢出有誤差的分析批。誤差檢出概率也被稱之為統(tǒng)計檢驗的“功效”。54ppt課件（一）誤差檢出概率Ped＝nTR／(nTR＋n（二）假失控概率

Pfr＝nFR／(nFR＋nTA)

★式中nFR為錯判失控批的批數(shù)，nTA為真在控的批數(shù)。★Pfr指當分析批除了本身固有的隨機誤差外沒有其他誤差時，判斷分析批失控的概率。這一概率等于錯判失控批數(shù)除以無誤差總批數(shù)。理想的質(zhì)控方法的Pfr應(yīng)為0，意指無誤差分析批均在控。55ppt課件（二）假失控概率Pfr＝nFR／(nFR＋n56ppt課件19ppt課件★當選擇或設(shè)計質(zhì)控方法時，首先要作出的決定之一是可接受的或可耐受的假失控概率是多少?！镆话阍谂R床檢驗質(zhì)控上，合理的Pfr值為0.01到0.05范圍。0.05表示分析過程在實驗效率上5％的損失?！锿ㄟ^了解除了方法本身的固有隨機誤差外，有無其他誤差以及這些誤差的分類多少，可確定質(zhì)控方法的性能特征。然而，要進行具體的實驗研究來計算Ped和Pfr是不切實際的，因為在實驗室中難以區(qū)分假失控和假在控，要花大量的時間和精力研究分析批的實際質(zhì)控結(jié)果來確定真在控批數(shù)、假在控批數(shù)、真失控批數(shù)和假失控批數(shù)。57ppt課件★當選擇或設(shè)計質(zhì)控方法時，首先要作出的決定之一是可接受的或可(三)誤差檢出概率和假失控概率的確定

●計算大量試驗數(shù)據(jù)的實用方法是使用計算機來產(chǎn)生數(shù)值、引入誤差、檢驗數(shù)據(jù)、列表描述結(jié)果以及計算概率的估計值。這樣的“計算機模擬程序”試圖模擬在評價質(zhì)控方法上的各種感興趣的條件。模擬程序允許分析人員輸入測定方法的平均值和標準差，從菜單上選擇評價的質(zhì)控方法，以及規(guī)定每批質(zhì)控測定值的個數(shù)，然后計算機程序執(zhí)行模擬來估計分析誤差范圍的失控概率，并以表格和圖形的形式來描述這些信息?！襁@就是目前在選擇質(zhì)控方法(質(zhì)控測定結(jié)果個數(shù)和質(zhì)控規(guī)則)時使用的功效函數(shù)圖的由來。58ppt課件(三)誤差檢出概率和假失控概率的確定●計算大量試驗數(shù)據(jù)的實六、常規(guī)質(zhì)控規(guī)則★質(zhì)控規(guī)則是解釋質(zhì)控數(shù)據(jù)和判斷質(zhì)控狀態(tài)的標準。★以符號AL，表示，其中A是超過質(zhì)控限(L)的質(zhì)控測定值的個數(shù)，L是質(zhì)控界限?！锂斮|(zhì)控測定值不能滿足某規(guī)則要求時，應(yīng)判該批分析違背此規(guī)則。59ppt課件六、常規(guī)質(zhì)控規(guī)則★質(zhì)控規(guī)則是解釋質(zhì)控數(shù)據(jù)和判斷質(zhì)控狀態(tài)的標準12S：1個質(zhì)控測定值超過X±2s。常作為Ievey-Jennings質(zhì)控圖上的警告限。60ppt課件12S：1個質(zhì)控測定值超過X±2s。常作為Ievey-Jen13S：1個質(zhì)控測定值超過X±3s質(zhì)控限。此規(guī)則對隨機誤差敏感。

61ppt課件13S：1個質(zhì)控測定值超過X±3s質(zhì)控限。此規(guī)則對隨機誤差敏22S：2個連續(xù)的質(zhì)控測定值同時超過X+2s或X-2s質(zhì)控限。此規(guī)則主要對系統(tǒng)誤差敏感。

62ppt課件22S：2個連續(xù)的質(zhì)控測定值同時超過X+2s或X-2s質(zhì)控限R4S：在同一批內(nèi)最高質(zhì)控測定值與最低質(zhì)控測定值之間的差值超過4s。此規(guī)則主要對隨機誤差敏感。

63ppt課件R4S：在同一批內(nèi)最高質(zhì)控測定值與最低質(zhì)控測定值之間的差值超41S：4個連續(xù)的質(zhì)控測定值同時超過X+1s或X-1s。此規(guī)則主要對系統(tǒng)誤差敏感。64ppt課件41S：4個連續(xù)的質(zhì)控測定值同時超過X+1s或X-1s。此規(guī)9X：9個連續(xù)的質(zhì)控測定值落在均值(X)的同一側(cè)。此規(guī)則主要對系統(tǒng)誤差敏感。

65ppt課件9X：9個連續(xù)的質(zhì)控測定值落在均值(X)的同一側(cè)。此規(guī)則主要10X：