SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資課件

SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資2022/12/23SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資2022/12/16SPC統(tǒng)計(jì)過程控1持續(xù)改進(jìn)及統(tǒng)計(jì)過程控制概述預(yù)防與檢測過程控制系統(tǒng)變差：普通原因及特殊原因局部措施和對(duì)系統(tǒng)采取措施過程控制和過程能力過程改進(jìn)循環(huán)及過程控制控制圖：過程控制工具控制圖的益處SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資持續(xù)改進(jìn)及統(tǒng)計(jì)過程控制概述預(yù)防與檢測SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資2持續(xù)改進(jìn)及統(tǒng)計(jì)過程控制概述之一

預(yù)防與檢測過程控制的需要檢測—容忍浪費(fèi)預(yù)防—避免浪費(fèi)SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資持續(xù)改進(jìn)及統(tǒng)計(jì)過程控制概述之一

預(yù)防與檢測過程控制的需要SP3持續(xù)改進(jìn)及統(tǒng)計(jì)過程控制概述之二

過程控制系統(tǒng)我們工作的方式資源的融合產(chǎn)品或服務(wù)顧客識(shí)別不斷變化的需求和期望顧客的聲音人

設(shè)備

材料

方法

環(huán)境

輸入過程/系統(tǒng)輸出過程的聲音統(tǒng)計(jì)方法有反饋的過程控制系統(tǒng)模型SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資持續(xù)改進(jìn)及統(tǒng)計(jì)過程控制概述之二

過程控制系統(tǒng)我們工作產(chǎn)品顧客4持續(xù)改進(jìn)及統(tǒng)計(jì)過程控制概述之三

變差的普通原因及特殊原因變差：一個(gè)數(shù)據(jù)組對(duì)于目標(biāo)值有不同的差異。變差的普通原因：指的是造成隨著時(shí)間的推移具有穩(wěn)定的且可重復(fù)的分布作用在過程的許多變差的原因，即常規(guī)的、連續(xù)的、不可避免的影響產(chǎn)品特性不一致的原因。如操作技能、設(shè)備精度、工藝方法、環(huán)境條件。變差的特殊原因：指的是造成不是始終作用于過程的變差的原因，當(dāng)原因出現(xiàn)時(shí)，將造成過程的分布的改變，即特殊的，偶然的，斷續(xù)的，可以避免的影響產(chǎn)品特性不一致的原因。如：刀具不一致、模具不一致，材料不一致，設(shè)備故障，人員情緒等。特點(diǎn)：不是始終作用在每一個(gè)零件上，隨著時(shí)間的推移分布改變。

SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資持續(xù)改進(jìn)及統(tǒng)計(jì)過程控制概述之三

變差的普通原因及特殊原因變差5普通原因和特殊原因變差的分析當(dāng)過程僅存在變差的普通原因時(shí)，過程處于受控狀態(tài)，這個(gè)過程處于穩(wěn)定過程，產(chǎn)品特性服從正態(tài)分布。當(dāng)過程存在變差的特殊原因時(shí)，這時(shí)輸出的產(chǎn)品特性不穩(wěn)定，過程處于非受控狀態(tài)或不穩(wěn)定狀態(tài)。

SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資普通原因和特殊原因變差的分析當(dāng)過程僅存在變差的普通原因時(shí)，過6

每件產(chǎn)品的尺寸與別的都不同但它們形成一個(gè)模型，若穩(wěn)定，可以描述為一個(gè)分布范圍范圍范圍范圍范圍范圍范圍分布可以通過以下因素來加以區(qū)分位置分布寬度形狀或這些因素的組合SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資每件產(chǎn)品的尺寸與別的都不同但它們形成一個(gè)模型，若穩(wěn)定，可以7持續(xù)改進(jìn)及統(tǒng)計(jì)過程控制概述之四

局部措施和對(duì)系統(tǒng)采取措施局部措施消除變差的特殊原因——局部措施(屬于糾正和預(yù)防措施)統(tǒng)一刀具、穩(wěn)定情緒、統(tǒng)一材料、修復(fù)設(shè)備（操作者可以解決，解決15％問題）系統(tǒng)措施減少變差的普通原因——采用系統(tǒng)的方法(屬于持續(xù)改進(jìn))人員培訓(xùn)、工藝改進(jìn)、提高設(shè)備精度（管理層解決，解決８５％問題）SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資持續(xù)改進(jìn)及統(tǒng)計(jì)過程控制概述之四

局部措施和對(duì)系統(tǒng)采取措施局部8持續(xù)改進(jìn)及統(tǒng)計(jì)過程控制概述之五

過程控制和過程能力

簡言之，首先應(yīng)通過檢查并消除過程的特殊原因，使過程處于受控狀態(tài)，那么其性能是可預(yù)測的，這樣就可評(píng)定滿足顧客期望的能力。滿足要求受控不受控可接受1類3類不可接受2類4類SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資持續(xù)改進(jìn)及統(tǒng)計(jì)過程控制概述之五

過程控制和過程能力簡9如果僅存在變差的普通原因，隨著時(shí)間的推移，過程的輸出形成一個(gè)穩(wěn)定的分布并可預(yù)測。目標(biāo)值線如果存在變差的特殊原因，隨著時(shí)間的推移，過程的輸出不穩(wěn)定。預(yù)測預(yù)測時(shí)間時(shí)間范圍范圍目標(biāo)值線SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資如果僅存在變差的普通原因，隨著時(shí)間的推移，過程的輸出形成一個(gè)10

受控且有能力符合規(guī)范（普通原因造成的變差已減少）

規(guī)范下限

規(guī)范上限

時(shí)間范圍受控但沒有能力符合規(guī)范（普通原因造成的變差太大）過程能力SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資過程能力SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資11持續(xù)改進(jìn)及統(tǒng)計(jì)過程控制概述之六

過程改進(jìn)循環(huán)及過程控制PLANDOSTUDYACTPLANDOSTUDYACTPLANDOSTUDYACT1一、分析過程本過程應(yīng)做些什么會(huì)出現(xiàn)什么錯(cuò)誤達(dá)到統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)確定能力2二、維護(hù)過程監(jiān)控過程性能查找偏差的特殊原因并采取措施3三、改進(jìn)過程改變過程從而更好理解普通原因變差減少普通原因變差SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資持續(xù)改進(jìn)及統(tǒng)計(jì)過程控制概述之六

過程改進(jìn)循環(huán)及過程控制PLA12上控制限中心限下控制限1、收集收集數(shù)據(jù)并畫在圖上2、控制根據(jù)過程數(shù)據(jù)計(jì)算實(shí)驗(yàn)控制限識(shí)別變差的特殊原因并采取措施3、分析及改進(jìn)確定普通原因變差的大小并采取減小它的措施重復(fù)這三個(gè)階段從而不斷改進(jìn)過程持續(xù)改進(jìn)及統(tǒng)計(jì)過程控制概述之七

控制圖：過程控制工具SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資上控制限持續(xù)改進(jìn)及統(tǒng)計(jì)過程控制概述之七

控制圖：過13持續(xù)改進(jìn)及統(tǒng)計(jì)過程控制概述之八

控制圖的益處合理使用控制圖能:供正在進(jìn)行過程控制的操作者使用;有利于過程持續(xù)穩(wěn)定、可預(yù)測地保持下去;提高產(chǎn)品質(zhì)量、生產(chǎn)能力、降低成本;為討論過程的性能提供共同的語言,為過程分析提供依據(jù);區(qū)分變差的特殊原因和普通原因，作為采取局部措施或采取系統(tǒng)措施的指南。SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資持續(xù)改進(jìn)及統(tǒng)計(jì)過程控制概述之八

控制圖的益處合理使用控制圖能14SPC基礎(chǔ)大規(guī)模生產(chǎn)的出現(xiàn)產(chǎn)生一個(gè)突出問題—如何控制大批量產(chǎn)品質(zhì)量。英、美等國開始著手研究用統(tǒng)計(jì)方法代替事后檢驗(yàn)的質(zhì)量控制方法。1924年，美國休哈特(W.A.Shewhart)博士提出將3原理運(yùn)用于生產(chǎn)過程當(dāng)中，首創(chuàng)過程控制理論并發(fā)表了控制圖法，形成SPC的基礎(chǔ)?？刂茍D(ControlChart)：對(duì)過程質(zhì)量特性記錄評(píng)估，以監(jiān)察過程是否處于受控狀態(tài)的一種統(tǒng)計(jì)方法圖。SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資SPC基礎(chǔ)大規(guī)模生產(chǎn)的出現(xiàn)產(chǎn)生一個(gè)突出問題—如何控制大批量產(chǎn)15控制圖原理3原則不論與取值為何，只要上下限距中心值（平均值）的距離各為3，則產(chǎn)品質(zhì)量特征值落在范圍內(nèi)的為99.73%。產(chǎn)品質(zhì)量特征值落在[-3，+3]之外的概率為0.27%，其中單側(cè)的概率分別為0.135%。休哈特正是據(jù)此發(fā)明了控制圖。SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資控制圖原理3原則SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資16控制圖原理控制圖的形成：將正態(tài)分布圖按逆時(shí)針方向旋轉(zhuǎn)90°，就是一張典型的控制圖—單值控制圖。圖中UCL=+3為上控制限，CL=為中心線，LCL=-3為下控制限。xxxxss3

3+-xxxss33-+中心線上控制限UCL下控制限LCL個(gè)別值的正態(tài)分布平均值的正態(tài)分布控制圖的正態(tài)分布CSPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資控制圖原理控制圖的形成：xxxxss317產(chǎn)品質(zhì)量波動(dòng)及其統(tǒng)計(jì)描述連續(xù)離散計(jì)量值計(jì)數(shù)值計(jì)件值產(chǎn)品質(zhì)量特性定性定量計(jì)數(shù)值SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資產(chǎn)品質(zhì)量波動(dòng)及其統(tǒng)計(jì)描述連續(xù)離散計(jì)量值計(jì)數(shù)值計(jì)件值產(chǎn)品質(zhì)量特18常規(guī)休哈特控制圖數(shù)據(jù)特征分布控制圖簡記計(jì)量值正態(tài)分布均值—極差控制圖X-R均值—標(biāo)準(zhǔn)差控制圖X-S中位值—極差控制圖X-R單值—移動(dòng)極差控制圖X-MR計(jì)數(shù)值計(jì)件值二項(xiàng)分布泊松分布不合格品率控制圖p不合格品數(shù)控制圖np計(jì)點(diǎn)值單位產(chǎn)品不合格數(shù)控制圖u不合格數(shù)控制圖cSPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資常規(guī)休哈特控制圖數(shù)據(jù)特征分布控制圖簡記計(jì)量值正態(tài)分布均值—極19控制圖建立的五個(gè)步驟B收集數(shù)據(jù)C計(jì)算控制限D(zhuǎn)過程控制解釋E過程能力解釋A確定項(xiàng)目SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資控制圖建立的五個(gè)步驟B收集數(shù)據(jù)C計(jì)算控制限D(zhuǎn)過程控制解釋E過20Xbar-R圖Ａ階段收集數(shù)據(jù)A2選擇子組大小、頻率和數(shù)據(jù)子組大小子組頻率子組數(shù)大小A3建立控制圖及記錄原始數(shù)據(jù)A4計(jì)算每個(gè)子組的均值和極差RA5選擇控制圖的刻度A6將均值和極差畫到控制圖上A1確定項(xiàng)目、明確分析的目的SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資Xbar-R圖Ａ階段收集數(shù)據(jù)A2選擇子組大小、頻率和數(shù)據(jù)子組21A1選擇子組大小、頻率和數(shù)據(jù)子組大小使各樣本之間出現(xiàn)變差的機(jī)會(huì)小在過程的初期研究中，子組一般由4~5件連續(xù)生產(chǎn)的產(chǎn)品的組合，僅代表一個(gè)單一的過程流。子組頻率 在過程的初期研究中，通常是連續(xù)進(jìn)行分組或很短的時(shí)間間隔進(jìn)行分組過程穩(wěn)定后，子組間的時(shí)間間隔可以增加。子組數(shù)的大小 一般>100個(gè)單值讀數(shù)，>25個(gè)子組SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資A1選擇子組大小、頻率和數(shù)據(jù)子組大小SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資22SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資23A2建立控制圖及記錄原始數(shù)據(jù)

Xbar-R圖通常是將Xbar圖畫在R圖之上方，下面再接一個(gè)數(shù)據(jù)欄。Xbar和R的值為縱坐標(biāo)，按時(shí)間先后的子組為橫坐標(biāo)。數(shù)據(jù)值以及極差和均值點(diǎn)應(yīng)縱向?qū)R。數(shù)據(jù)欄應(yīng)包括每個(gè)讀數(shù)的空間。同時(shí)還應(yīng)包括記錄讀數(shù)的和、均值（Xbar）、極差（R）以及日期/時(shí)間或其他識(shí)別子組的代碼的空間。SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資A2建立控制圖及記錄原始數(shù)據(jù)Xba24A3計(jì)算每個(gè)子組的極差和均值畫在控制圖上的特性量是每個(gè)子組的樣本均值（Xbar）和樣本極差（R），合在一起后它們分別反映整個(gè)過程的均值及其變差。對(duì)每個(gè)子組，計(jì)算：式中：X1，X2為子組內(nèi)的每個(gè)測量值。n為子組的樣本容量。SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資A3計(jì)算每個(gè)子組的極差和均值畫在25SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資26A4選擇控制圖的刻度兩個(gè)控制圖的縱坐標(biāo)分別用于Xbar和R的測量值。Xbar圖：坐標(biāo)上的刻度值的最大值與最小值之差應(yīng)至少為子組均值（Xbar）的最大值與最小值差的2倍。R圖：刻度值應(yīng)從最低值為0開始到最大值之間的差值為初始階段所遇到的最大極差（R）的2倍。SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資A4選擇控制圖的刻度兩個(gè)控制圖的縱坐標(biāo)分別用于Xbar和R的27A5將均值和極差畫到控制圖上SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資A5將均值和極差畫到控制圖上SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資28Xbar-R圖Ｂ計(jì)算控制限B1計(jì)算平均極差及過程平均值B2計(jì)算控制限B3在控制圖上作出平均值和極差控制限的控制限SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資Xbar-R圖Ｂ計(jì)算控制限B1計(jì)算平均極差及過程平均值B2計(jì)29平均極差及過程平均值、控制限計(jì)算公式過程平均值極差平均值平均值控制限極差控制限k為子組的數(shù)量SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資平均極差及過程平均值、控制限計(jì)算公式過程平均值極差平均值平均303D421.88*3.2731.02*2.574.73*2.285.58*2.116.48*2.007.42.081.928.37.141.869.34.181.8210.31.221.78對(duì)特殊原因采取措施的說明w任何超出控制限的點(diǎn)w連續(xù)7點(diǎn)全在中心線之上或之下w連續(xù)7點(diǎn)上升或下降w任何其它明顯非隨機(jī)的圖形采取措施的說明1不要對(duì)過程做不必要的改變2在此表后注明在過程因素（人員、設(shè)備、材料、方法、環(huán)境或測量系統(tǒng)）所做的調(diào)整。X=讀數(shù)數(shù)量和R=最高-最低R=均值R=UCL=D4R=LCL=D3R=*X=均值X=.716UCL=X+A2R=.819LCL=X-A2R=極差（R圖）均值（X圖）工廠：XXX機(jī)器編號(hào)：XXX部門：XXX日期：6/8-6/16工序：彎曲夾片特性：間隙、尺寸“A”計(jì)算控制限日期工程規(guī)范：.50—.90mm樣本容量/頻率:5/2h零件號(hào)：XXX零件名稱：XXX*樣本容量小于7時(shí)，沒有極差的下控制限X-R控制圖--初始研究6-88.65.70.65.65.853.50.70.20.75.75.85.75.85.653.85.77.20.80.80.70.753.80.60.70.70.75.653.40.76.68.10.15.00.10.20.30.40.50.50.55.60.65.70.75.80.85.90.951012146-981012146-108.70.75.65.85.803.75.75.20.60.75.75.85.703.65.73.25.75.80.65.75.703.65.73.15.60.70.80.75.753.60.72.20.65.80.85.85.753.90.78.20101214.60.70.60.80.653.35.67.20.80.75.90.50.803.75.75.406-118.85.75.85.65.703.80.76.20.70.70.75.75.703.60.72.0510.65.70.85.75.603.55.71.251214.90.80.80.75.854.10.82.15.75.80.75.80.653.75.75.156-128.75.70.85.70.803.80.76.151012.75.70.60.70.603.35.67.1514.65.65.85.65.703.50.70.20.60.60.65.60.653.10.62.056-158.50.55.65.80.803.30.66.3010.60.80.65.65.753.45.69.20.1512.80.65.75.65.653.50.7014.65.60.65.60.703.20.64.106-168.65.70.70.60.653.30.6612345和數(shù)讀日期時(shí)間在確定過程能力之前，過程必須受控。子組容量

A2D.10步驟B1：X=.716步驟B1：R=.178步驟B2：UCLX=.819;LCLX=.613步驟B2：UCLR=.376;LCLR=NONE步驟B3SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資3D421.88*331Xbar-R圖Ｃ過程控制解釋C1分析極差圖上的數(shù)據(jù)點(diǎn)C2識(shí)別并標(biāo)注特殊原因(極差圖)C3重新計(jì)算控制限(極差圖)C4分析均值圖上的數(shù)據(jù)點(diǎn)超出控制限的點(diǎn)鏈明顯的非隨機(jī)圖形超出控制限的點(diǎn)鏈明顯的非隨機(jī)圖形C5識(shí)別并標(biāo)注特殊原因(均值圖)C6重新計(jì)算控制限(均值圖)C7為了繼續(xù)進(jìn)行控制延長控制限SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資Xbar-R圖Ｃ過程控制解釋C1分析極差圖上的數(shù)據(jù)點(diǎn)C2識(shí)別32控制圖的判斷超出控制限的點(diǎn)：出現(xiàn)一個(gè)或多個(gè)點(diǎn)超出任何一個(gè)控制限使該點(diǎn)處于失控狀態(tài)的主要證據(jù)UCLCLLCL異常異常異常SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資控制圖的判斷超出控制限的點(diǎn)：出現(xiàn)一個(gè)或多個(gè)點(diǎn)超出任何一個(gè)控制33控制圖的判斷鏈：有下列現(xiàn)象之一表明過程已改變連續(xù)點(diǎn)位于平均值的一側(cè)；連續(xù)點(diǎn)上升（后點(diǎn)等于或大于前點(diǎn)）或下降。UCLCLLCLSPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資控制圖的判斷鏈：有下列現(xiàn)象之一表明過程已改變UCLCLLCL34控制圖的判斷明顯的非隨機(jī)圖形：應(yīng)依正態(tài)分布來判定圖形，正常應(yīng)是有2/3的點(diǎn)落于中間的1/3區(qū)域。UCLCLLCLSPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資控制圖的判斷明顯的非隨機(jī)圖形：應(yīng)依正態(tài)分布來判定圖形，UCL35控制圖的觀察分析作控制圖的目的是為了使生產(chǎn)過程或工作過程處于“控制狀態(tài)”。（控制狀態(tài)、異常狀態(tài)）控制狀態(tài)的標(biāo)準(zhǔn)可歸納為兩條：1、控制圖上的點(diǎn)不超過控制界限;2、控制圖上的點(diǎn)的排列分布沒有缺陷。進(jìn)行控制所遵循的依據(jù)：連續(xù)25點(diǎn)以上處于控制界限內(nèi)；連續(xù)35點(diǎn)中，僅有1點(diǎn)超出控制界限；連續(xù)100點(diǎn)中，不多于2點(diǎn)超出控制界限。SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資控制圖的觀察分析作控制圖的目的是為了使生產(chǎn)過程或工作過程處于36控制圖的觀察分析——五種缺陷鏈：點(diǎn)連線出現(xiàn)在中心線的一側(cè)的現(xiàn)象叫做鏈，鏈的長度用鏈內(nèi)所含點(diǎn)數(shù)多少來判別：當(dāng)出現(xiàn)5點(diǎn)鏈時(shí),應(yīng)注意發(fā)展情況,檢查操作方法由于異常;當(dāng)出現(xiàn)6點(diǎn)鏈時(shí),應(yīng)開始調(diào)查原因;當(dāng)出現(xiàn)7點(diǎn)鏈時(shí),判定為有異常,應(yīng)采取措施。從概率計(jì)算得出結(jié)論偏離傾向周期接近SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資控制圖的觀察分析——五種缺陷鏈：點(diǎn)連線出現(xiàn)在中心線的一側(cè)的現(xiàn)37為了繼續(xù)進(jìn)行控制，延長控制限估計(jì)過程標(biāo)準(zhǔn)偏差計(jì)算新的控制限n2345678910d21.131.692.062.332.532.702.852.973.08SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資為了繼續(xù)進(jìn)行控制，延長控制限估計(jì)過程標(biāo)準(zhǔn)偏差計(jì)算新的控制限n38建立Xbar-R圖的步驟DＤ過程能力解釋D1計(jì)算過程的標(biāo)準(zhǔn)偏差D2計(jì)算過程能力D3評(píng)價(jià)過程能力D4提高過程能力D5對(duì)修改的過程繪制控制圖并分析SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資建立Xbar-R圖的步驟DＤ過程能力解釋D1計(jì)算過程的標(biāo)準(zhǔn)偏39過程能力及過程能力指數(shù)概念過程能力：指過程要素(人、機(jī)、料、法、環(huán))已充分標(biāo)準(zhǔn)化，也就是在受控狀態(tài)下，實(shí)現(xiàn)過程目標(biāo)的能力。過程能力指數(shù)：是過程能力與過程目標(biāo)相比較，定量描繪的數(shù)值。過程能力指數(shù)表示的方法：Cp：過程均值X與規(guī)范中值一致時(shí)的過程能力指數(shù)。Cpk：過程均值X與規(guī)范中值不一致時(shí)的過程能力指數(shù)。過程能力指數(shù)表述僅存在普通原因變差時(shí)的過程能力。Pp：過程均值X與規(guī)范中值一致時(shí)的過程性能指數(shù)。Ppk：過程均值X與規(guī)范中值不一致時(shí)的過程性能指數(shù)。過程性能指數(shù)表述，存在普通原因變差和特殊原因變差。====SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資過程能力及過程能力指數(shù)概念過程能力：指過程要素(人、機(jī)、料、40過程能力指數(shù)計(jì)算過程的標(biāo)準(zhǔn)差（正態(tài)分布存在兩種標(biāo)準(zhǔn)差）固有標(biāo)準(zhǔn)差：過程僅存在普通原因變差時(shí)用，即計(jì)算Cp、Cpk時(shí)用。

總標(biāo)準(zhǔn)差：過程存在普通和特殊原因變差時(shí)用，即計(jì)算Pp、Ppk時(shí)用。

R／dR：個(gè)子組極差的平均值d2：常數(shù)^SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資過程能力指數(shù)計(jì)算過程的標(biāo)準(zhǔn)差（正態(tài)分布存在兩種標(biāo)準(zhǔn)差）R／d41過程能力計(jì)算Cp=USL-LSL6R/d?Cpk=USL-LSL-26R/d?：X與規(guī)范中值之差；USL-LSL表示公差帶＝Pp=USL-LSL6s?Ppk=USL-LSL-26s

?SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資過程能力計(jì)算Cp=USL-LSL?Cpk=USL-LSL-242過程能力計(jì)算特殊情況：不對(duì)稱公差或單邊公差Ppk1=USL-X3s

?=Ppk2=X-LSL3s

?=Cpk1=USL-X3R/d?=Cpk2=X-LSL3R/d?=Ppk取兩值之中較小者Cpk取兩值之中較小者SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資過程能力計(jì)算特殊情況：不對(duì)稱公差或單邊公差Ppk1=USL-43均值和標(biāo)準(zhǔn)差圖（Xbar－s圖）使用時(shí)機(jī)或場合：使用的子組樣本容量較大，更有效的變差量度是合適的數(shù)據(jù)是同計(jì)算機(jī)按實(shí)時(shí)時(shí)序記錄、描圖的，則S的計(jì)算程序容易集成化有方便適用的袖珍計(jì)算器使S的計(jì)算能簡單按程序算出收集數(shù)據(jù)：計(jì)算各個(gè)子組的平均數(shù)和標(biāo)準(zhǔn)差，其公式分別如下：x=過程平均值SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資均值和標(biāo)準(zhǔn)差圖（Xbar－s圖）使用時(shí)機(jī)或場合：過程平均值S44計(jì)算控制限n2345678910B43.272.572.272.091.971.881.821.761.72B3****0.030.120.190.240.28A32.661.951.631.431.291.181.101.030.98注：n為樣本容量，在樣本容量低于6時(shí)，沒有標(biāo)準(zhǔn)差的下控制限均值和標(biāo)準(zhǔn)差圖（Xbar－s圖）平均值控制圖標(biāo)準(zhǔn)差控制圖SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資計(jì)算控制限n2345678910B43.272.572.2745均值和標(biāo)準(zhǔn)差圖（X－s圖）過程控制（與Xbar-R圖相同)過程能力計(jì)算（與Xbar-R圖基本相同，不同之處如下：）估計(jì)過程標(biāo)準(zhǔn)差：n2345678910C40.7980.8860.9210.9400.9520.9590.9650.9690.973注：n為樣本容量SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資均值和標(biāo)準(zhǔn)差圖（X－s圖）過程控制（與Xbar-R圖相同)n46中位數(shù)圖（X－R圖）～收集數(shù)據(jù)一般情況下，中位數(shù)圖用在樣本容量小于10的情況，樣本容量為奇數(shù)時(shí)更為方便。如果子組樣本容量為偶數(shù)，中位數(shù)是中間兩個(gè)數(shù)的均值。X值控制限極差控制限～計(jì)算控制限SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資中位數(shù)圖（X－R圖）～收集數(shù)據(jù)X值控制限極差控制限～計(jì)算控制47中位數(shù)圖過程控制（與同Xbar-RR圖相同）過程能力計(jì)算（與Xbar-R圖基本相同，不同之處如下：）

估計(jì)過程標(biāo)準(zhǔn)偏差n2345678910d21.131.692.062.332.532.702.852.973.08注：n為樣本容量SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資中位數(shù)圖過程控制（與同Xbar-RR圖相同）n234567848單值和移動(dòng)極差圖（X－MR）注意：單值控制在檢查過程變化時(shí)不如X－R圖敏感。如果過程的分布是不對(duì)稱的，則在解釋單值控制圖時(shí)要非常小心。單值控制圖不能區(qū)分過程零件間重復(fù)性，做好能使用X－R圖由于每一子組僅有一個(gè)單值，所以平均值和標(biāo)準(zhǔn)差會(huì)有較慢的變性，直到子組數(shù)達(dá)到100以上。SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資單值和移動(dòng)極差圖（X－MR）注意：SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資49單值和移動(dòng)極差圖（X－MR）收集數(shù)據(jù)收集各組數(shù)據(jù)計(jì)算單值間的移動(dòng)極差（MR）。通常最好是記錄每對(duì)連續(xù)讀數(shù)間的差值。移動(dòng)極差的個(gè)數(shù)會(huì)比單值讀數(shù)少一個(gè)，在很少的情況下，可在較大的移動(dòng)組或固定的子組的基礎(chǔ)上計(jì)算極差。SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資單值和移動(dòng)極差圖（X－MR）收集數(shù)據(jù)SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資50單值和移動(dòng)極差圖（X－MR）

B計(jì)算控制限值控制圖極差控制圖n2345678910D43.272.572.282.112.001.921.861.821.78D3*****0.080.140.180.22E22.661.771.461.291.181.111.051.010.98注：n為樣本容量，樣本容量小于7時(shí)，沒有極差的控制下限SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資單值和移動(dòng)極差圖（X－MR）B計(jì)算控制限值控制圖極差控制圖51單值和移動(dòng)極差圖（X－MR）C過程控制解釋檢查移動(dòng)極差途中超出控制限的點(diǎn)，這是存在特殊原因的信號(hào)。記住連續(xù)的移動(dòng)極差間是有聯(lián)系的，因?yàn)樗鼈冎辽儆幸稽c(diǎn)是共同的。由于這個(gè)原因，在解釋趨勢時(shí)要特別注意?？捎脝沃祱D分析超出控制限的點(diǎn)、在控制限內(nèi)點(diǎn)的分布、以及趨勢或圖形。但是這要注意，如果過程分布不是對(duì)稱的，用前面所述的用于X圖的規(guī)則來解釋時(shí)，可能會(huì)給出實(shí)際上不存在的特殊原因信號(hào)。SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資單值和移動(dòng)極差圖（X－MR）C過程控制解釋SPC統(tǒng)計(jì)過程控制52單值和移動(dòng)極差圖（X－MR）D過程能力解釋估計(jì)過程標(biāo)準(zhǔn)偏差：式中，R為移動(dòng)極差的均值，d2是用于對(duì)移動(dòng)極差分組的隨樣本容量n而變化的常數(shù)。n2345678910d21.131.692.062.332.532.702.852.973.08注：n為樣本容量SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資單值和移動(dòng)極差圖（X－MR）D過程能力解釋n2345678953計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)控制圖不合格品率的p圖不合格品數(shù)的np圖不合格數(shù)的c圖單位產(chǎn)品不合格數(shù)的u圖SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)控制圖不合格品率的p圖SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資54不良和缺陷說明結(jié)果舉例控制圖車輛不泄漏／泄漏P圖NP圖燈亮／不亮孔的直徑尺寸太大或太小給銷售商發(fā)的活正確／不正確風(fēng)窗玻璃上的氣泡C圖U圖門上油漆缺陷發(fā)票上的錯(cuò)誤SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資不良和缺陷說明結(jié)果舉例控制圖車輛不泄漏／泄漏P圖燈亮／不亮孔55P控制圖制作流程B收集數(shù)據(jù)C計(jì)算控制限D(zhuǎn)過程控制解釋E過程能力解釋A確定項(xiàng)目SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資P控制圖制作流程B收集數(shù)據(jù)C計(jì)算控制限D(zhuǎn)過程控制解釋E過程能56建立P圖的步驟AＡ階段收集數(shù)據(jù)A2選擇子組的容量、頻率及數(shù)量子組容量分組頻率子組數(shù)量A3計(jì)算每個(gè)子組內(nèi)的不合格品率A4選擇控制圖的坐標(biāo)刻度A5將不合格頻率描繪在控制圖中A1確定項(xiàng)目、明確分析的目的SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資建立P圖的步驟AＡ階段收集數(shù)據(jù)A2選擇子組的容量、頻率及數(shù)量57A1子組的容量、頻率及數(shù)量字組容量：用于計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)的控制圖，一般要求較大的子組容量（例如50～200）以便檢驗(yàn)出性能的變化。分組頻率：應(yīng)根據(jù)產(chǎn)品的周期確定分組的頻率，以便幫助分析、糾正發(fā)現(xiàn)的問題。子組數(shù)量：要大于25組以上，才能判定其穩(wěn)定性。SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資A1子組的容量、頻率及數(shù)量字組容量：用于計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)的控制圖，58A2計(jì)算每個(gè)子組內(nèi)的不合格品率記錄每個(gè)子組內(nèi)的下列值被檢項(xiàng)目的數(shù)量—n發(fā)現(xiàn)的不合格項(xiàng)目的數(shù)量─np通過以上數(shù)據(jù)即算不合格品率SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資A2計(jì)算每個(gè)子組內(nèi)的不合格品率記錄每個(gè)子組內(nèi)的下列值SPC統(tǒng)59A3選擇控制圖的坐標(biāo)刻度不合格品率作為縱坐標(biāo)，子組識(shí)別作為橫坐標(biāo)?？v坐標(biāo)刻度應(yīng)從0到初步研究數(shù)據(jù)讀數(shù)中最大不合格率值的1.5～2倍。劃圖區(qū)域SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資A3選擇控制圖的坐標(biāo)刻度不合格品率作為縱坐標(biāo)，子組識(shí)別作為橫60A4將不合格品率描繪在控制圖上描繪每個(gè)字組的P值，將這些點(diǎn)連成線通常有助于發(fā)現(xiàn)異常圖形和趨勢。點(diǎn)描完后，粗覽一遍看它們是否合理。記錄過程的變化或者可能影響過程的異常情況。SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資A4將不合格品率描繪在控制圖上描繪每個(gè)字組的P值，將這些點(diǎn)連61建立P控制圖的步驟BＢ計(jì)算控制限B1計(jì)算過程平均不合格品率B2計(jì)算上、下控制限B3劃線并標(biāo)注SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資建立P控制圖的步驟BＢ計(jì)算控制限B1計(jì)算過程平均不合格品率B62計(jì)算平均不合格品率及控制線SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資計(jì)算平均不合格品率及控制線SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資63劃線并標(biāo)注均值用水平實(shí)線，一般為黑色或藍(lán)色是線?？刂凭€用水平虛線，一般為紅色虛線。盡量讓樣本數(shù)一致，如果樣本數(shù)一直在變化則會(huì)如下圖：1002003001002001001002003001001212121232SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資劃線并標(biāo)注均值用水平實(shí)線，一般為黑色或藍(lán)色是線?？刂凭€用水平64建立P圖的步驟CＣ過程控制用控制圖解釋C1分析數(shù)據(jù)點(diǎn)，找出不穩(wěn)定數(shù)據(jù)C2尋找并糾正特殊原因C3重新計(jì)算控制界限超出控制限的點(diǎn)鏈明顯的非隨機(jī)圖形SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資建立P圖的步驟CＣ過程控制用控制圖解釋C1分析數(shù)據(jù)點(diǎn)，找出不65C1分析數(shù)據(jù)點(diǎn)，找出不穩(wěn)定的證據(jù)超出任一控制限的點(diǎn)鏈明顯的非隨機(jī)圖形根據(jù)以上三種方式作判定SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資C1分析數(shù)據(jù)點(diǎn)，找出不穩(wěn)定的證據(jù)超出任一控制限的點(diǎn)SPC統(tǒng)計(jì)66C2尋找并糾正特殊原因由于特殊原因是通過控制圖發(fā)現(xiàn)的，要求對(duì)操作進(jìn)行分析，并且希望操作者或現(xiàn)場檢驗(yàn)員有能力發(fā)現(xiàn)變差原因并糾正?？衫弥T如排列圖分析和因果分析等解決問題技術(shù)?？刂茍D的及時(shí)性process過程TIME

時(shí)間REALTIMEFINDTHECAUSE適時(shí)發(fā)現(xiàn)原因SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資C2尋找并糾正特殊原因由于特殊原因是通過控制圖發(fā)現(xiàn)的，要求對(duì)67C3重新計(jì)算控制限當(dāng)進(jìn)行初始過程研究或?qū)^程能力重新評(píng)價(jià)時(shí)，應(yīng)重新計(jì)算試驗(yàn)控制限，以便排除某些控制時(shí)期的影響，這些時(shí)期中控制狀態(tài)受到特殊原因的影響，但已被糾正。一旦歷史數(shù)據(jù)表明一致性均在實(shí)驗(yàn)的控制限內(nèi)，則可將控制線延伸到將來的時(shí)期。它們便變成了操作控制限，當(dāng)將來的數(shù)據(jù)收集記錄了后，就對(duì)照它來評(píng)價(jià)。SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資C3重新計(jì)算控制限當(dāng)進(jìn)行初始過程研究或?qū)^程能力重新評(píng)價(jià)時(shí)，68控制限運(yùn)用說明收集數(shù)據(jù)繪圖及計(jì)算控制限是否異常延伸控制限N找出異常點(diǎn)原因并提出相應(yīng)措施制成有變化人機(jī)料法環(huán)測量YSPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資控制限運(yùn)用說明收集數(shù)據(jù)繪圖及計(jì)算是否異常延伸控制限N找出異常69建立P圖的控制步驟DＤ過程能力解釋D1計(jì)算過程能力D2評(píng)價(jià)過程能力D3改進(jìn)過程能力D4繪制并分析修改后的過程控制圖SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資建立P圖的控制步驟DＤ過程能力解釋D1計(jì)算過程能力D2評(píng)價(jià)過70過程能力解釋偶因和異因并存找出異因只剩偶因運(yùn)用控制圖過程穩(wěn)定（連續(xù)25點(diǎn)不超限）計(jì)算過程能力SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資過程能力解釋偶因和異因并存找出異因只剩偶因運(yùn)用控制圖過程穩(wěn)定71D1計(jì)算過程能力對(duì)于P圖，過程能力是通過p來表示，如需要，還可以用符合規(guī)范的比率（1－p）來表示；對(duì)過程能力的初步估計(jì)值應(yīng)使用歷史數(shù)據(jù)，但應(yīng)剔除與特殊原因有關(guān)的數(shù)據(jù)點(diǎn)；當(dāng)正式研究過程能力時(shí)，應(yīng)使用新的數(shù)據(jù)，最好是25個(gè)或更多時(shí)期子組，且所有的點(diǎn)都受同級(jí)控制。這些連續(xù)的受控時(shí)期子組的p值是該過程當(dāng)前能力更好的估計(jì)值SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資D1計(jì)算過程能力對(duì)于P圖，過程能力是通過p來表示，如需要，還72D2評(píng)價(jià)過程能力過程穩(wěn)定，不良率水平維持在一定的水平當(dāng)中降低不良率采取管理上的措施降低偶因，如此才能縮小控制線，降低不良率縮小控制限SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資D2評(píng)價(jià)過程能力過程穩(wěn)定，不良率水平降低不良率采取管理上的措73D3改善過程能力過程一旦表現(xiàn)出處于統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)，該過程所保持的不合格平均水平即反映了該系統(tǒng)的變差原因——過程能力。在操作上診斷特殊原因（控制）變差問題的分析方法不適用于診斷影響系統(tǒng)的普通原因變差。必須對(duì)系統(tǒng)本身直接采取管理措施，否則過程能力不可能得到改進(jìn)。有必要使用長期的解決問題的方法來糾正造成長期不合格原因?？梢允褂弥T如排列如分析法及因果分析圖等解決問題技術(shù)。但是如果僅使用計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)將很難理解問題所在，通常盡可能地追溯變差的可疑原因，并借助計(jì)量型數(shù)據(jù)進(jìn)行分析將有利于問題的解決。SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資D3改善過程能力過程一旦表現(xiàn)出處于統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)，該過程所保持74D4繪制并分析修改后的過程控制圖當(dāng)對(duì)過程采取了系統(tǒng)的措施后，其效果應(yīng)在控制圖上明顯地反應(yīng)出來?？刂茍D成為驗(yàn)證措施有效性的一種途徑。對(duì)過程進(jìn)行改變時(shí)，應(yīng)小心地監(jiān)視控制。這個(gè)變化時(shí)期對(duì)系統(tǒng)操作會(huì)是破壞性的，可能造成新的控制問題，掩蓋系統(tǒng)變化后的真實(shí)效果。在過程改變時(shí)期出現(xiàn)的特殊原因變差被識(shí)別并糾正后，過程將按一個(gè)新的過程均值處于統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)。這個(gè)新的均值反映了受控制狀態(tài)下的性能?？勺鳛楝F(xiàn)行控制的基礎(chǔ)。但是還應(yīng)繼續(xù)對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行調(diào)查和改進(jìn)。SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資D4繪制并分析修改后的過程控制圖當(dāng)對(duì)過程采取了系統(tǒng)的措施后，75不合格品數(shù)的np圖np圖用來度量一個(gè)檢驗(yàn)中的不合格品的數(shù)量。p圖表示不合格品的樣本比率。（與p圖的不同點(diǎn)）當(dāng)滿足下列情況時(shí)可選用np圖：不合格品的實(shí)際數(shù)量比不合格品率更有意義或更容易報(bào)告；各階段子組的樣本容量相同np圖詳細(xì)說明與p圖很相似，不同之處如下：SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資不合格品數(shù)的np圖np圖用來度量一個(gè)檢驗(yàn)中的不合格品的數(shù)量。76A收集數(shù)據(jù)受檢驗(yàn)樣本的容量必須相等。分組的周期應(yīng)按照生產(chǎn)間隔和反饋系統(tǒng)而定。樣本容量應(yīng)足夠大，使每個(gè)子組內(nèi)都出現(xiàn)幾個(gè)不合格品，在數(shù)據(jù)表上記錄樣本的容量。記錄并描繪每個(gè)字組內(nèi)的不合格品數(shù)（np）SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資A收集數(shù)據(jù)受檢驗(yàn)樣本的容量必須相等。分組的周期應(yīng)按照生產(chǎn)間隔77B計(jì)算控制限SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資B計(jì)算控制限SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資78過程控制解釋、過程能力解釋C過程控制解釋：同p圖的解釋；。D過程能力的解釋：如下SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資過程控制解釋、過程能力解釋C過程控制解釋：同p圖的解釋；。S79不合格品數(shù)np圖1001001001001001001001001001001210121202SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資不合格品數(shù)np圖100100100100100100100180不合格數(shù)的c圖“C”圖內(nèi)來測量一個(gè)檢驗(yàn)批內(nèi)的缺陷的數(shù)量，C圖要求樣本的容量或受檢材料的數(shù)量恒定，它主要用以下兩類檢驗(yàn)：不合格分布在連續(xù)的產(chǎn)品流上（例如每匹尼龍上的瑕疵，玻璃上的氣泡或電線上的絕緣層薄的點(diǎn)），以及可以用不合格的平均比率表示的地方（如每100平方米尼龍上瑕疵）。在單個(gè)的產(chǎn)品檢驗(yàn)中可能發(fā)現(xiàn)許多不同潛在原因造成的不合格（例如：在一個(gè)修理部記錄，每輛車或元件可能存在一個(gè)或多個(gè)不同的不合格）。主要不同之處如下：SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資不合格數(shù)的c圖“C”圖內(nèi)來測量一個(gè)檢驗(yàn)批內(nèi)的缺陷的數(shù)量，C圖81A數(shù)據(jù)收集檢驗(yàn)樣本的容量要求相等，這樣描繪的c值將反映質(zhì)量性能的變化（缺陷的發(fā)生率）而不是外觀的變化（樣本容量n），在數(shù)據(jù)表中記錄樣本容量；記錄并描繪每個(gè)字組內(nèi)的缺陷數(shù)（c）SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資A數(shù)據(jù)收集檢驗(yàn)樣本的容量要求相等，這樣描繪的c值將反映質(zhì)量性82B計(jì)算控制限SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資B計(jì)算控制限SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資83過程控制解釋、過程能力解釋過程控制解釋：同p圖解釋過程能力解釋過程能力為c平均，即固定樣本容量n的樣本缺陷數(shù)平均值。SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資過程控制解釋、過程能力解釋過程控制解釋：同p圖解釋SPC統(tǒng)計(jì)84單位產(chǎn)品不合格數(shù)的u圖“u”圖用來測量具有容量不同的樣本（受檢材料的量不同）的子組內(nèi)每檢驗(yàn)單位產(chǎn)品之內(nèi)的缺陷數(shù)量。除了缺陷量是按每單位產(chǎn)品為基本量表示以外，它是與c圖相似的。U圖和c圖適用于相同的數(shù)據(jù)狀況，但如果樣本含有多余一個(gè)“單位產(chǎn)品”的量，為使報(bào)告值更有意義時(shí)，可以使用“u”圖，并且在不同時(shí)期內(nèi)樣本容量不同時(shí)必須使用“u”圖?！皍”圖的繪制和“p”圖相似，不同之處如下：SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資單位產(chǎn)品不合格數(shù)的u圖“u”圖用來測量具有容量不85A收集數(shù)據(jù)各子組樣本的容量彼此不必都相同，盡管使它的容量在其平均值的正負(fù)25%以內(nèi)可以簡化控制限的計(jì)算。記錄并描繪每個(gè)子組內(nèi)的單位產(chǎn)品缺陷數(shù)u=c/n試中C為發(fā)現(xiàn)的不合格數(shù)量，n為子組中樣本容量(檢驗(yàn)報(bào)告單位的數(shù)量)，c和n都應(yīng)記錄在數(shù)據(jù)表中。SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資A收集數(shù)據(jù)各子組樣本的容量彼此不必都相同，盡管使它的容量在其86B計(jì)算控制限SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資B計(jì)算控制限SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資87過程解釋、過程能力解釋過程控制解釋同p圖解釋過程能力解釋過程能力為u平均，即每報(bào)告單元缺陷數(shù)平均值。SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資過程解釋、過程能力解釋過程控制解釋SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資88演講完畢，謝謝聽講!再見，seeyouagain2022/12/23SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資演講完畢，謝謝聽講!再見，seeyouagain202289SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資2022/12/23SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資2022/12/16SPC統(tǒng)計(jì)過程控90持續(xù)改進(jìn)及統(tǒng)計(jì)過程控制概述預(yù)防與檢測過程控制系統(tǒng)變差：普通原因及特殊原因局部措施和對(duì)系統(tǒng)采取措施過程控制和過程能力過程改進(jìn)循環(huán)及過程控制控制圖：過程控制工具控制圖的益處SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資持續(xù)改進(jìn)及統(tǒng)計(jì)過程控制概述預(yù)防與檢測SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資91持續(xù)改進(jìn)及統(tǒng)計(jì)過程控制概述之一

預(yù)防與檢測過程控制的需要檢測—容忍浪費(fèi)預(yù)防—避免浪費(fèi)SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資持續(xù)改進(jìn)及統(tǒng)計(jì)過程控制概述之一

預(yù)防與檢測過程控制的需要SP92持續(xù)改進(jìn)及統(tǒng)計(jì)過程控制概述之二

過程控制系統(tǒng)我們工作的方式資源的融合產(chǎn)品或服務(wù)顧客識(shí)別不斷變化的需求和期望顧客的聲音人

設(shè)備

材料

方法

環(huán)境

輸入過程/系統(tǒng)輸出過程的聲音統(tǒng)計(jì)方法有反饋的過程控制系統(tǒng)模型SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資持續(xù)改進(jìn)及統(tǒng)計(jì)過程控制概述之二

過程控制系統(tǒng)我們工作產(chǎn)品顧客93持續(xù)改進(jìn)及統(tǒng)計(jì)過程控制概述之三

變差的普通原因及特殊原因變差：一個(gè)數(shù)據(jù)組對(duì)于目標(biāo)值有不同的差異。變差的普通原因：指的是造成隨著時(shí)間的推移具有穩(wěn)定的且可重復(fù)的分布作用在過程的許多變差的原因，即常規(guī)的、連續(xù)的、不可避免的影響產(chǎn)品特性不一致的原因。如操作技能、設(shè)備精度、工藝方法、環(huán)境條件。變差的特殊原因：指的是造成不是始終作用于過程的變差的原因，當(dāng)原因出現(xiàn)時(shí)，將造成過程的分布的改變，即特殊的，偶然的，斷續(xù)的，可以避免的影響產(chǎn)品特性不一致的原因。如：刀具不一致、模具不一致，材料不一致，設(shè)備故障，人員情緒等。特點(diǎn)：不是始終作用在每一個(gè)零件上，隨著時(shí)間的推移分布改變。

SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資持續(xù)改進(jìn)及統(tǒng)計(jì)過程控制概述之三

變差的普通原因及特殊原因變差94普通原因和特殊原因變差的分析當(dāng)過程僅存在變差的普通原因時(shí)，過程處于受控狀態(tài)，這個(gè)過程處于穩(wěn)定過程，產(chǎn)品特性服從正態(tài)分布。當(dāng)過程存在變差的特殊原因時(shí)，這時(shí)輸出的產(chǎn)品特性不穩(wěn)定，過程處于非受控狀態(tài)或不穩(wěn)定狀態(tài)。

SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資普通原因和特殊原因變差的分析當(dāng)過程僅存在變差的普通原因時(shí)，過95

每件產(chǎn)品的尺寸與別的都不同但它們形成一個(gè)模型，若穩(wěn)定，可以描述為一個(gè)分布范圍范圍范圍范圍范圍范圍范圍分布可以通過以下因素來加以區(qū)分位置分布寬度形狀或這些因素的組合SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資每件產(chǎn)品的尺寸與別的都不同但它們形成一個(gè)模型，若穩(wěn)定，可以96持續(xù)改進(jìn)及統(tǒng)計(jì)過程控制概述之四

局部措施和對(duì)系統(tǒng)采取措施局部措施消除變差的特殊原因——局部措施(屬于糾正和預(yù)防措施)統(tǒng)一刀具、穩(wěn)定情緒、統(tǒng)一材料、修復(fù)設(shè)備（操作者可以解決，解決15％問題）系統(tǒng)措施減少變差的普通原因——采用系統(tǒng)的方法(屬于持續(xù)改進(jìn))人員培訓(xùn)、工藝改進(jìn)、提高設(shè)備精度（管理層解決，解決８５％問題）SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資持續(xù)改進(jìn)及統(tǒng)計(jì)過程控制概述之四

局部措施和對(duì)系統(tǒng)采取措施局部97持續(xù)改進(jìn)及統(tǒng)計(jì)過程控制概述之五

過程控制和過程能力

簡言之，首先應(yīng)通過檢查并消除過程的特殊原因，使過程處于受控狀態(tài)，那么其性能是可預(yù)測的，這樣就可評(píng)定滿足顧客期望的能力。滿足要求受控不受控可接受1類3類不可接受2類4類SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資持續(xù)改進(jìn)及統(tǒng)計(jì)過程控制概述之五

過程控制和過程能力簡98如果僅存在變差的普通原因，隨著時(shí)間的推移，過程的輸出形成一個(gè)穩(wěn)定的分布并可預(yù)測。目標(biāo)值線如果存在變差的特殊原因，隨著時(shí)間的推移，過程的輸出不穩(wěn)定。預(yù)測預(yù)測時(shí)間時(shí)間范圍范圍目標(biāo)值線SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資如果僅存在變差的普通原因，隨著時(shí)間的推移，過程的輸出形成一個(gè)99

受控且有能力符合規(guī)范（普通原因造成的變差已減少）

規(guī)范下限

規(guī)范上限

時(shí)間范圍受控但沒有能力符合規(guī)范（普通原因造成的變差太大）過程能力SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資過程能力SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資100持續(xù)改進(jìn)及統(tǒng)計(jì)過程控制概述之六

過程改進(jìn)循環(huán)及過程控制PLANDOSTUDYACTPLANDOSTUDYACTPLANDOSTUDYACT1一、分析過程本過程應(yīng)做些什么會(huì)出現(xiàn)什么錯(cuò)誤達(dá)到統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)確定能力2二、維護(hù)過程監(jiān)控過程性能查找偏差的特殊原因并采取措施3三、改進(jìn)過程改變過程從而更好理解普通原因變差減少普通原因變差SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資持續(xù)改進(jìn)及統(tǒng)計(jì)過程控制概述之六

過程改進(jìn)循環(huán)及過程控制PLA101上控制限中心限下控制限1、收集收集數(shù)據(jù)并畫在圖上2、控制根據(jù)過程數(shù)據(jù)計(jì)算實(shí)驗(yàn)控制限識(shí)別變差的特殊原因并采取措施3、分析及改進(jìn)確定普通原因變差的大小并采取減小它的措施重復(fù)這三個(gè)階段從而不斷改進(jìn)過程持續(xù)改進(jìn)及統(tǒng)計(jì)過程控制概述之七

控制圖：過程控制工具SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資上控制限持續(xù)改進(jìn)及統(tǒng)計(jì)過程控制概述之七

控制圖：過102持續(xù)改進(jìn)及統(tǒng)計(jì)過程控制概述之八

控制圖的益處合理使用控制圖能:供正在進(jìn)行過程控制的操作者使用;有利于過程持續(xù)穩(wěn)定、可預(yù)測地保持下去;提高產(chǎn)品質(zhì)量、生產(chǎn)能力、降低成本;為討論過程的性能提供共同的語言,為過程分析提供依據(jù);區(qū)分變差的特殊原因和普通原因，作為采取局部措施或采取系統(tǒng)措施的指南。SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資持續(xù)改進(jìn)及統(tǒng)計(jì)過程控制概述之八

控制圖的益處合理使用控制圖能103SPC基礎(chǔ)大規(guī)模生產(chǎn)的出現(xiàn)產(chǎn)生一個(gè)突出問題—如何控制大批量產(chǎn)品質(zhì)量。英、美等國開始著手研究用統(tǒng)計(jì)方法代替事后檢驗(yàn)的質(zhì)量控制方法。1924年，美國休哈特(W.A.Shewhart)博士提出將3原理運(yùn)用于生產(chǎn)過程當(dāng)中，首創(chuàng)過程控制理論并發(fā)表了控制圖法，形成SPC的基礎(chǔ)。控制圖(ControlChart)：對(duì)過程質(zhì)量特性記錄評(píng)估，以監(jiān)察過程是否處于受控狀態(tài)的一種統(tǒng)計(jì)方法圖。SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資SPC基礎(chǔ)大規(guī)模生產(chǎn)的出現(xiàn)產(chǎn)生一個(gè)突出問題—如何控制大批量產(chǎn)104控制圖原理3原則不論與取值為何，只要上下限距中心值（平均值）的距離各為3，則產(chǎn)品質(zhì)量特征值落在范圍內(nèi)的為99.73%。產(chǎn)品質(zhì)量特征值落在[-3，+3]之外的概率為0.27%，其中單側(cè)的概率分別為0.135%。休哈特正是據(jù)此發(fā)明了控制圖。SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資控制圖原理3原則SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資105控制圖原理控制圖的形成：將正態(tài)分布圖按逆時(shí)針方向旋轉(zhuǎn)90°，就是一張典型的控制圖—單值控制圖。圖中UCL=+3為上控制限，CL=為中心線，LCL=-3為下控制限。xxxxss3

3+-xxxss33-+中心線上控制限UCL下控制限LCL個(gè)別值的正態(tài)分布平均值的正態(tài)分布控制圖的正態(tài)分布CSPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資控制圖原理控制圖的形成：xxxxss3106產(chǎn)品質(zhì)量波動(dòng)及其統(tǒng)計(jì)描述連續(xù)離散計(jì)量值計(jì)數(shù)值計(jì)件值產(chǎn)品質(zhì)量特性定性定量計(jì)數(shù)值SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資產(chǎn)品質(zhì)量波動(dòng)及其統(tǒng)計(jì)描述連續(xù)離散計(jì)量值計(jì)數(shù)值計(jì)件值產(chǎn)品質(zhì)量特107常規(guī)休哈特控制圖數(shù)據(jù)特征分布控制圖簡記計(jì)量值正態(tài)分布均值—極差控制圖X-R均值—標(biāo)準(zhǔn)差控制圖X-S中位值—極差控制圖X-R單值—移動(dòng)極差控制圖X-MR計(jì)數(shù)值計(jì)件值二項(xiàng)分布泊松分布不合格品率控制圖p不合格品數(shù)控制圖np計(jì)點(diǎn)值單位產(chǎn)品不合格數(shù)控制圖u不合格數(shù)控制圖cSPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資常規(guī)休哈特控制圖數(shù)據(jù)特征分布控制圖簡記計(jì)量值正態(tài)分布均值—極108控制圖建立的五個(gè)步驟B收集數(shù)據(jù)C計(jì)算控制限D(zhuǎn)過程控制解釋E過程能力解釋A確定項(xiàng)目SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資控制圖建立的五個(gè)步驟B收集數(shù)據(jù)C計(jì)算控制限D(zhuǎn)過程控制解釋E過109Xbar-R圖Ａ階段收集數(shù)據(jù)A2選擇子組大小、頻率和數(shù)據(jù)子組大小子組頻率子組數(shù)大小A3建立控制圖及記錄原始數(shù)據(jù)A4計(jì)算每個(gè)子組的均值和極差RA5選擇控制圖的刻度A6將均值和極差畫到控制圖上A1確定項(xiàng)目、明確分析的目的SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資Xbar-R圖Ａ階段收集數(shù)據(jù)A2選擇子組大小、頻率和數(shù)據(jù)子組110A1選擇子組大小、頻率和數(shù)據(jù)子組大小使各樣本之間出現(xiàn)變差的機(jī)會(huì)小在過程的初期研究中，子組一般由4~5件連續(xù)生產(chǎn)的產(chǎn)品的組合，僅代表一個(gè)單一的過程流。子組頻率 在過程的初期研究中，通常是連續(xù)進(jìn)行分組或很短的時(shí)間間隔進(jìn)行分組過程穩(wěn)定后，子組間的時(shí)間間隔可以增加。子組數(shù)的大小 一般>100個(gè)單值讀數(shù)，>25個(gè)子組SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資A1選擇子組大小、頻率和數(shù)據(jù)子組大小SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資111SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資112A2建立控制圖及記錄原始數(shù)據(jù)

Xbar-R圖通常是將Xbar圖畫在R圖之上方，下面再接一個(gè)數(shù)據(jù)欄。Xbar和R的值為縱坐標(biāo)，按時(shí)間先后的子組為橫坐標(biāo)。數(shù)據(jù)值以及極差和均值點(diǎn)應(yīng)縱向?qū)R。數(shù)據(jù)欄應(yīng)包括每個(gè)讀數(shù)的空間。同時(shí)還應(yīng)包括記錄讀數(shù)的和、均值（Xbar）、極差（R）以及日期/時(shí)間或其他識(shí)別子組的代碼的空間。SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資A2建立控制圖及記錄原始數(shù)據(jù)Xba113A3計(jì)算每個(gè)子組的極差和均值畫在控制圖上的特性量是每個(gè)子組的樣本均值（Xbar）和樣本極差（R），合在一起后它們分別反映整個(gè)過程的均值及其變差。對(duì)每個(gè)子組，計(jì)算：式中：X1，X2為子組內(nèi)的每個(gè)測量值。n為子組的樣本容量。SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資A3計(jì)算每個(gè)子組的極差和均值畫在114SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資115A4選擇控制圖的刻度兩個(gè)控制圖的縱坐標(biāo)分別用于Xbar和R的測量值。Xbar圖：坐標(biāo)上的刻度值的最大值與最小值之差應(yīng)至少為子組均值（Xbar）的最大值與最小值差的2倍。R圖：刻度值應(yīng)從最低值為0開始到最大值之間的差值為初始階段所遇到的最大極差（R）的2倍。SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資A4選擇控制圖的刻度兩個(gè)控制圖的縱坐標(biāo)分別用于Xbar和R的116A5將均值和極差畫到控制圖上SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資A5將均值和極差畫到控制圖上SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資117Xbar-R圖Ｂ計(jì)算控制限B1計(jì)算平均極差及過程平均值B2計(jì)算控制限B3在控制圖上作出平均值和極差控制限的控制限SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資Xbar-R圖Ｂ計(jì)算控制限B1計(jì)算平均極差及過程平均值B2計(jì)118平均極差及過程平均值、控制限計(jì)算公式過程平均值極差平均值平均值控制限極差控制限k為子組的數(shù)量SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資平均極差及過程平均值、控制限計(jì)算公式過程平均值極差平均值平均1193D421.88*3.2731.02*2.574.73*2.285.58*2.116.48*2.007.42.081.928.37.141.869.34.181.8210.31.221.78對(duì)特殊原因采取措施的說明w任何超出控制限的點(diǎn)w連續(xù)7點(diǎn)全在中心線之上或之下w連續(xù)7點(diǎn)上升或下降w任何其它明顯非隨機(jī)的圖形采取措施的說明1不要對(duì)過程做不必要的改變2在此表后注明在過程因素（人員、設(shè)備、材料、方法、環(huán)境或測量系統(tǒng)）所做的調(diào)整。X=讀數(shù)數(shù)量和R=最高-最低R=均值R=UCL=D4R=LCL=D3R=*X=均值X=.716UCL=X+A2R=.819LCL=X-A2R=極差（R圖）均值（X圖）工廠：XXX機(jī)器編號(hào)：XXX部門：XXX日期：6/8-6/16工序：彎曲夾片特性：間隙、尺寸“A”計(jì)算控制限日期工程規(guī)范：.50—.90mm樣本容量/頻率:5/2h零件號(hào)：XXX零件名稱：XXX*樣本容量小于7時(shí)，沒有極差的下控制限X-R控制圖--初始研究6-88.65.70.65.65.853.50.70.20.75.75.85.75.85.653.85.77.20.80.80.70.753.80.60.70.70.75.653.40.76.68.10.15.00.10.20.30.40.50.50.55.60.65.70.75.80.85.90.951012146-981012146-108.70.75.65.85.803.75.75.20.60.75.75.85.703.65.73.25.75.80.65.75.703.65.73.15.60.70.80.75.753.60.72.20.65.80.85.85.753.90.78.20101214.60.70.60.80.653.35.67.20.80.75.90.50.803.75.75.406-118.85.75.85.65.703.80.76.20.70.70.75.75.703.60.72.0510.65.70.85.75.603.55.71.251214.90.80.80.75.854.10.82.15.75.80.75.80.653.75.75.156-128.75.70.85.70.803.80.76.151012.75.70.60.70.603.35.67.1514.65.65.85.65.703.50.70.20.60.60.65.60.653.10.62.056-158.50.55.65.80.803.30.66.3010.60.80.65.65.753.45.69.20.1512.80.65.75.65.653.50.7014.65.60.65.60.703.20.64.106-168.65.70.70.60.653.30.6612345和數(shù)讀日期時(shí)間在確定過程能力之前，過程必須受控。子組容量

A2D.10步驟B1：X=.716步驟B1：R=.178步驟B2：UCLX=.819;LCLX=.613步驟B2：UCLR=.376;LCLR=NONE步驟B3SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資3D421.88*3120Xbar-R圖Ｃ過程控制解釋C1分析極差圖上的數(shù)據(jù)點(diǎn)C2識(shí)別并標(biāo)注特殊原因(極差圖)C3重新計(jì)算控制限(極差圖)C4分析均值圖上的數(shù)據(jù)點(diǎn)超出控制限的點(diǎn)鏈明顯的非隨機(jī)圖形超出控制限的點(diǎn)鏈明顯的非隨機(jī)圖形C5識(shí)別并標(biāo)注特殊原因(均值圖)C6重新計(jì)算控制限(均值圖)C7為了繼續(xù)進(jìn)行控制延長控制限SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資Xbar-R圖Ｃ過程控制解釋C1分析極差圖上的數(shù)據(jù)點(diǎn)C2識(shí)別121控制圖的判斷超出控制限的點(diǎn)：出現(xiàn)一個(gè)或多個(gè)點(diǎn)超出任何一個(gè)控制限使該點(diǎn)處于失控狀態(tài)的主要證據(jù)UCLCLLCL異常異常異常SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資控制圖的判斷超出控制限的點(diǎn)：出現(xiàn)一個(gè)或多個(gè)點(diǎn)超出任何一個(gè)控制122控制圖的判斷鏈：有下列現(xiàn)象之一表明過程已改變連續(xù)點(diǎn)位于平均值的一側(cè)；連續(xù)點(diǎn)上升（后點(diǎn)等于或大于前點(diǎn)）或下降。UCLCLLCLSPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資控制圖的判斷鏈：有下列現(xiàn)象之一表明過程已改變UCLCLLCL123控制圖的判斷明顯的非隨機(jī)圖形：應(yīng)依正態(tài)分布來判定圖形，正常應(yīng)是有2/3的點(diǎn)落于中間的1/3區(qū)域。UCLCLLCLSPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資控制圖的判斷明顯的非隨機(jī)圖形：應(yīng)依正態(tài)分布來判定圖形，UCL124控制圖的觀察分析作控制圖的目的是為了使生產(chǎn)過程或工作過程處于“控制狀態(tài)”。（控制狀態(tài)、異常狀態(tài)）控制狀態(tài)的標(biāo)準(zhǔn)可歸納為兩條：1、控制圖上的點(diǎn)不超過控制界限;2、控制圖上的點(diǎn)的排列分布沒有缺陷。進(jìn)行控制所遵循的依據(jù)：連續(xù)25點(diǎn)以上處于控制界限內(nèi)；連續(xù)35點(diǎn)中，僅有1點(diǎn)超出控制界限；連續(xù)100點(diǎn)中，不多于2點(diǎn)超出控制界限。SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資控制圖的觀察分析作控制圖的目的是為了使生產(chǎn)過程或工作過程處于125控制圖的觀察分析——五種缺陷鏈：點(diǎn)連線出現(xiàn)在中心線的一側(cè)的現(xiàn)象叫做鏈，鏈的長度用鏈內(nèi)所含點(diǎn)數(shù)多少來判別：當(dāng)出現(xiàn)5點(diǎn)鏈時(shí),應(yīng)注意發(fā)展情況,檢查操作方法由于異常;當(dāng)出現(xiàn)6點(diǎn)鏈時(shí),應(yīng)開始調(diào)查原因;當(dāng)出現(xiàn)7點(diǎn)鏈時(shí),判定為有異常,應(yīng)采取措施。從概率計(jì)算得出結(jié)論偏離傾向周期接近SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資控制圖的觀察分析——五種缺陷鏈：點(diǎn)連線出現(xiàn)在中心線的一側(cè)的現(xiàn)126為了繼續(xù)進(jìn)行控制，延長控制限估計(jì)過程標(biāo)準(zhǔn)偏差計(jì)算新的控制限n2345678910d21.131.692.062.332.532.702.852.973.08SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資為了繼續(xù)進(jìn)行控制，延長控制限估計(jì)過程標(biāo)準(zhǔn)偏差計(jì)算新的控制限n127建立Xbar-R圖的步驟DＤ過程能力解釋D1計(jì)算過程的標(biāo)準(zhǔn)偏差D2計(jì)算過程能力D3評(píng)價(jià)過程能力D4提高過程能力D5對(duì)修改的過程繪制控制圖并分析SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資建立Xbar-R圖的步驟DＤ過程能力解釋D1計(jì)算過程的標(biāo)準(zhǔn)偏128過程能力及過程能力指數(shù)概念過程能力：指過程要素(人、機(jī)、料、法、環(huán))已充分標(biāo)準(zhǔn)化，也就是在受控狀態(tài)下，實(shí)現(xiàn)過程目標(biāo)的能力。過程能力指數(shù)：是過程能力與過程目標(biāo)相比較，定量描繪的數(shù)值。過程能力指數(shù)表示的方法：Cp：過程均值X與規(guī)范中值一致時(shí)的過程能力指數(shù)。Cpk：過程均值X與規(guī)范中值不一致時(shí)的過程能力指數(shù)。過程能力指數(shù)表述僅存在普通原因變差時(shí)的過程能力。Pp：過程均值X與規(guī)范中值一致時(shí)的過程性能指數(shù)。Ppk：過程均值X與規(guī)范中值不一致時(shí)的過程性能指數(shù)。過程性能指數(shù)表述，存在普通原因變差和特殊原因變差。====SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資過程能力及過程能力指數(shù)概念過程能力：指過程要素(人、機(jī)、料、129過程能力指數(shù)計(jì)算過程的標(biāo)準(zhǔn)差（正態(tài)分布存在兩種標(biāo)準(zhǔn)差）固有標(biāo)準(zhǔn)差：過程僅存在普通原因變差時(shí)用，即計(jì)算Cp、Cpk時(shí)用。

總標(biāo)準(zhǔn)差：過程存在普通和特殊原因變差時(shí)用，即計(jì)算Pp、Ppk時(shí)用。

R／dR：個(gè)子組極差的平均值d2：常數(shù)^SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資過程能力指數(shù)計(jì)算過程的標(biāo)準(zhǔn)差（正態(tài)分布存在兩種標(biāo)準(zhǔn)差）R／d130過程能力計(jì)算Cp=USL-LSL6R/d?Cpk=USL-LSL-26R/d?：X與規(guī)范中值之差；USL-LSL表示公差帶＝Pp=USL-LSL6s?Ppk=USL-LSL-26s

?SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資過程能力計(jì)算Cp=USL-LSL?Cpk=USL-LSL-2131過程能力計(jì)算特殊情況：不對(duì)稱公差或單邊公差Ppk1=USL-X3s

?=Ppk2=X-LSL3s

?=Cpk1=USL-X3R/d?=Cpk2=X-LSL3R/d?=Ppk取兩值之中較小者Cpk取兩值之中較小者SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資過程能力計(jì)算特殊情況：不對(duì)稱公差或單邊公差Ppk1=USL-132均值和標(biāo)準(zhǔn)差圖（Xbar－s圖）使用時(shí)機(jī)或場合：使用的子組樣本容量較大，更有效的變差量度是合適的數(shù)據(jù)是同計(jì)算機(jī)按實(shí)時(shí)時(shí)序記錄、描圖的，則S的計(jì)算程序容易集成化有方便適用的袖珍計(jì)算器使S的計(jì)算能簡單按程序算出收集數(shù)據(jù)：計(jì)算各個(gè)子組的平均數(shù)和標(biāo)準(zhǔn)差，其公式分別如下：x=過程平均值SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資均值和標(biāo)準(zhǔn)差圖（Xbar－s圖）使用時(shí)機(jī)或場合：過程平均值S133計(jì)算控制限n2345678910B43.272.572.272.091.971.881.821.761.72B3****0.030.120.190.240.28A32.661.951.631.431.291.181.101.030.98注：n為樣本容量，在樣本容量低于6時(shí)，沒有標(biāo)準(zhǔn)差的下控制限均值和標(biāo)準(zhǔn)差圖（Xbar－s圖）平均值控制圖標(biāo)準(zhǔn)差控制圖SPC統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)資計(jì)算控制限n2345678910B43.272.572.27134均值和標(biāo)準(zhǔn)差圖（X－s圖）過程控制（與Xbar-R圖相同)過程能力計(jì)算（與Xbar-R圖基本相同，不同之處如下：）估計(jì)