SPC統(tǒng)計(jì)過程控制概述(-)課件

SPC統(tǒng)計(jì)過程控制?SPC統(tǒng)計(jì)過程控制?1統(tǒng)計(jì)概述統(tǒng)計(jì)：數(shù)據(jù)通過計(jì)算而產(chǎn)生有意義的情報(bào)。有哪些有意義的情報(bào)呢？集中趨勢（準(zhǔn)確度）離散趨勢（精確度）被涵蓋在特定范圍內(nèi)的概率?統(tǒng)計(jì)概述統(tǒng)計(jì)：數(shù)據(jù)通過計(jì)算而產(chǎn)生有意義的情報(bào)。?2SPC發(fā)展簡介1920年Bell研究所的Dr.WalterShewhart開發(fā).1940年二次世界大戰(zhàn)期間，美國軍工產(chǎn)品使用抽樣方案和控制圖以保證軍工產(chǎn)品的質(zhì)量。1950年質(zhì)量管理大師戴明博士在日本工業(yè)產(chǎn)品生產(chǎn)過程中全面推推行SPC。1970年有效地推行“QC圈”和應(yīng)用統(tǒng)計(jì)技術(shù)使日本經(jīng)濟(jì)的快速發(fā)展，成為高品質(zhì)產(chǎn)品的代名詞。1980年美國等其他國家緊隨日本的步伐，開始推行“QC小組”和統(tǒng)計(jì)技術(shù)的應(yīng)用。MOTOROLA公司頒布“QC挑戰(zhàn)”，通過SPC的實(shí)施改進(jìn)過程能力，并提出追求“6σ”目標(biāo)。1987年ISO9000標(biāo)準(zhǔn)建立并頒布實(shí)施，明確要求實(shí)施統(tǒng)計(jì)技術(shù)。?SPC發(fā)展簡介1920年Bell研究所的Dr.Walt3過去?過去?4現(xiàn)在?現(xiàn)在?5Y=f(X)高斯函數(shù)OUTPUT=YINPUT=XPROCESSPARAMETER=XY是因變數(shù)X是自變數(shù)Y只能靠檢查，不好的淘汰。X才是我們所能控制的，使得Y符合我們的需求。?Y=f(X)高斯函數(shù)OUTPUT=YY是因變數(shù)?6Y=f(x1,x2,….)Y可視為顧客所要求的產(chǎn)品特性。但是如果在y進(jìn)行相應(yīng)的統(tǒng)計(jì)控制，其實(shí)產(chǎn)品已經(jīng)制造出來，只是相當(dāng)于檢驗(yàn)產(chǎn)品做得好不好，時(shí)效已晚。所以要去探究那些因素會影響y，進(jìn)而事先控制x，如此才能起到在生產(chǎn)時(shí)就控制的效果，而不是等到產(chǎn)品做出來再做檢驗(yàn)。?Y=f(x1,x2,….)Y可視為顧客所要求的產(chǎn)品特性。?7SPC用在那里？PROCESSOUTPUTINPUT消極的地方只能防堵積極的地方可防止不良積極的地方可防止不良?SPC用在那里？PROCESSOUTPUTINPUT消極的地8SPC的作用---預(yù)防檢測的方法：檢查最終產(chǎn)品并剔除不符合規(guī)范的產(chǎn)品。這種方法很浪費(fèi)，因?yàn)樗试S將時(shí)間和材料投入到生產(chǎn)不一定有用的產(chǎn)品和服務(wù)中。（容忍浪費(fèi)）一種在第一步就可以避免生產(chǎn)無用的輸出，從而避免浪費(fèi)的更有效的方法是——預(yù)防。（避免浪費(fèi)）只要全公司所有員工共同努力就能建立一道防火墻。實(shí)現(xiàn)策略：應(yīng)用數(shù)理統(tǒng)計(jì)方法進(jìn)行生產(chǎn)過程的控制。基本思想是根據(jù)過程的情況，預(yù)測將來的趨勢與變化，從而進(jìn)行過程控制，使過程在受控中進(jìn)行，預(yù)防不良品的發(fā)生。所以說SPC的特征是控制過程，防患于未然。?SPC的作用---預(yù)防檢測的方法：檢查最終產(chǎn)品并剔除不符合9SPC想法藉由以往的數(shù)據(jù)了解正常的變異范圍設(shè)定成控制界限繪點(diǎn)判定是否超出界限糾正異常持續(xù)改進(jìn)，縮小控制界限?SPC想法藉由以往的數(shù)據(jù)了解正常的變異范圍設(shè)定成控制界限繪點(diǎn)10SPC的原理收集數(shù)據(jù)一開始要多收集數(shù)據(jù)以了解制程狀況解析數(shù)據(jù)了解其正常波動的范圍控制用圖形運(yùn)用控制限來判定制程是否異常?SPC的原理收集數(shù)據(jù)一開始要多收解析數(shù)據(jù)了解其正常波控制用圖11控制圖種類(以數(shù)據(jù)來分)計(jì)量值控制圖平均值與全距控制圖平均值與標(biāo)準(zhǔn)差控制圖中位值與全距控制圖個(gè)別值與移動全距控制圖計(jì)數(shù)值控制圖不良率控制圖不良數(shù)控制圖缺點(diǎn)數(shù)控制圖單位缺點(diǎn)控制圖?控制圖種類(以數(shù)據(jù)來分)計(jì)量值控制圖計(jì)數(shù)值控制圖?12“n”=10~25控制圖的選定資料性質(zhì)不良數(shù)或缺陷數(shù)單位大小是否一定“n”是否一定樣本大小n≧2Cl的性質(zhì)“n”是否較大“u”圖“c”圖“np”圖“p”圖X-Rm圖X-R圖X-R圖X-s圖計(jì)數(shù)值計(jì)量值“n”=1n≧1中位數(shù)平均值“n”=2~5缺陷數(shù)不良數(shù)不一定一定一定不一定控制圖的選擇?“n”=10~25控制圖的選定資料性質(zhì)不良數(shù)或單位大小“n”13控制圖所用的統(tǒng)計(jì)原理計(jì)量型Xbar-RXbar-sX中位數(shù)-RX-Rm正態(tài)分布計(jì)數(shù)型Pnp二項(xiàng)分布計(jì)數(shù)型Cu卜氏分布?控制圖所用的統(tǒng)計(jì)原理計(jì)量型Xbar-R正態(tài)分布計(jì)數(shù)型P二項(xiàng)分1468.26%95.45%99.73%μ+1σ+2σ+3σ-1σ-2σ-3σ正態(tài)分布概率?68.26%95.45%99.73%μ+1σ+2σ+3σ-115個(gè)別值的正態(tài)分布平均值的正態(tài)分布控制圖的正態(tài)分布控制圖原理說明?個(gè)別值的正態(tài)分布平均值的正態(tài)分布控制圖的正態(tài)分布控制圖原理說16控制圖的建立其中最主要也是最重要的一個(gè)步驟就是按3σ原理對控制線進(jìn)行設(shè)定。控制線的確定是否合適決定了我們能否及時(shí)準(zhǔn)確判斷出異常的發(fā)生。3σ原理：在X+3sigma內(nèi)的概率為99.73%，而超出+3sigma的概率僅為0.27%?？刂茍D的建立?控制圖的建立其中最主要也是最重要的一個(gè)步驟就是按3σ原理對控17制程的組成以及其波動的原因波動原因人機(jī)器材料方法測量環(huán)境變差(variation)：可分2種，隨機(jī)變差與特殊變差。?制程的組成以及其波動的原因波動原因人機(jī)器材料方法測量環(huán)境變差18制程的控制與能力提升?制程的控制與能力提升?19普通原因、特殊原因示意圖普通原因的波動范圍異常原因?qū)е碌牟▌臃秶惓Ｔ驅(qū)е碌牟▌臃秶鶸CLLCL解決普通原因的系統(tǒng)措施解決異常原因的局部措施解決異常原因的局部措施受控(incontrol)：只出現(xiàn)隨機(jī)變差。失控(outofcontrol)：各種特殊變差原因未消除的過程狀態(tài)。證據(jù)是控制圖上的點(diǎn)出現(xiàn)在控制限外或控制圖內(nèi)的圖形并非是隨機(jī)。?普通原因、特殊原因示意圖普通原因的波動范圍異常原因?qū)е碌牟▌?0過程改進(jìn)循環(huán)PLANDOCHECKACTPLANDOCHECKACTPLANDOCHECKACT1、分析過程本過程應(yīng)做些什么會出現(xiàn)什么錯誤達(dá)到統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)確定能力2.維護(hù)過程監(jiān)控過程性能查找偏差的特殊原因并采取措施3.改進(jìn)過程改變過程從而更好理解普通原因變差減少普通原因變差?過程改進(jìn)循環(huán)PLANDOCHECKACTPLANDOCHEC21建立控制圖的四步驟A收集數(shù)據(jù)B計(jì)算控制限C過程控制解釋D過程能力解釋?建立控制圖的四步驟A收集數(shù)據(jù)B計(jì)算控制限C過程控制解釋D過程22建立X-R圖的步驟AＡ階段收集數(shù)據(jù)A1選擇子組大小、頻率和數(shù)據(jù)子組大小子組頻率子組數(shù)大小A2建立控制圖及記錄原始記錄A3計(jì)算每個(gè)子組的均值X和極差RA4選擇控制圖的刻度A5將均值和極差畫到控制圖上?建立X-R圖的步驟AＡ階段收集數(shù)據(jù)A1選擇子組大小、頻率和數(shù)23每個(gè)子組的平均值和極差的計(jì)算11009899100982989998101973999710010098410010010199995101999910099平均99.698.699.410098.2極差33322?每個(gè)子組的平均值和極差的計(jì)算110098991009829824平均值和極差平均值的計(jì)算R值的計(jì)算?平均值和極差平均值的計(jì)算R值的計(jì)算?25Ｂ計(jì)算控制限B1計(jì)算平均極差及過程平均值B2計(jì)算控制限B3在控制圖上作出平均值和極差控制限的控制線建立X-R圖的步驟B?Ｂ計(jì)算控制限B1計(jì)算平均極差及過程平均值B2計(jì)算控制限B3在26建立X-R圖K(組數(shù))RRRRK(組數(shù))xxxxxkk+++=++++=..........21321全距管制圖平均值管制圖?建立X-R圖K(組數(shù))RRRRK(組數(shù))xxxxxkk+++27Ｃ過程控制解釋C1分析極差圖上的數(shù)據(jù)點(diǎn)C2識別并標(biāo)注特殊原因(極差圖)C3重新計(jì)算控制界限(極差圖)C4分析均值圖上的數(shù)據(jù)點(diǎn)超出控制限的點(diǎn)鏈明顯的非隨機(jī)圖形超出控制限的點(diǎn)鏈明顯的非隨機(jī)圖形C5識別并標(biāo)注特殊原因(均值圖)C6重新計(jì)算控制界限(均值圖)C7為了繼續(xù)進(jìn)行控制延長控制限建立X-R圖的步驟C?Ｃ過程控制解釋C1分析極差圖上的數(shù)據(jù)點(diǎn)C2識別并標(biāo)注特殊原因28異常情況的特征利用SPCCHART圖來進(jìn)行區(qū)分：1點(diǎn)超出+3sigma連續(xù)3點(diǎn)中有2點(diǎn)超出+2sigma（口訣：3分之2A）連續(xù)5點(diǎn)中有4點(diǎn)超出+1sigma（口訣：5分之4B）連續(xù)8點(diǎn)在中心線一側(cè)周期性波動當(dāng)連續(xù)7點(diǎn)呈上升或下降趨勢時(shí)，應(yīng)查找原因并采取行動。?異常情況的特征利用SPCCHART圖來進(jìn)行區(qū)分：?29圖例以下為不正常狀態(tài)的種類A.有一

點(diǎn)超出控制界限

UCL1б2б3бA區(qū)B區(qū)C區(qū)CL?圖例以下為不正常狀態(tài)的種類A.有一點(diǎn)超出控制界限30圖例B.在中心線的同側(cè)連續(xù)三點(diǎn)中有兩點(diǎn)在A區(qū)或A區(qū)以外UCL1б2б3бA區(qū)B區(qū)C區(qū)CL?圖例B.在中心線的同側(cè)連續(xù)三點(diǎn)中有兩點(diǎn)在A區(qū)或A區(qū)以外31圖例C.連續(xù)五點(diǎn)中有四點(diǎn)在B區(qū)或B區(qū)以外.?圖例C.連續(xù)五點(diǎn)中有四點(diǎn)在B區(qū)或B區(qū)以外.?32圖例D。連續(xù)8點(diǎn)在中心線一側(cè)CL?圖例D。連續(xù)8點(diǎn)在中心線一側(cè)CL?33圖例E。周期性缺陷?圖例E。周期性缺陷?34圖例F.連續(xù)6點(diǎn)同一方向+3б-3бUCLCLLCL?圖例F.連續(xù)6點(diǎn)同一方向+3б-3бUCLCLLCL35X----RChart的用途R---Chart由制程的均勻度決定代表精度和品質(zhì)的均勻度當(dāng)均勻度發(fā)生改變時(shí),R----Chart可以發(fā)現(xiàn)R的改變動原因可能為機(jī)械維護(hù)不良或劣化,手工作業(yè)不熟練或不穩(wěn)定,加工方法不周嚴(yán).?X----RChart的用途R---Chart?36X----Chart由制程的平均值支配代表品質(zhì)的規(guī)格中心,亦即正確程度R---Chart有逸出時(shí),X---Chart也受影響,應(yīng)先調(diào)R---Chart平均值變化的原因可能為機(jī)械調(diào)整不當(dāng),手工作業(yè)錯誤,材料規(guī)格不符?X----Chart由制程的平均值支配?37Ｄ過程能力解釋D1計(jì)算過程的標(biāo)準(zhǔn)偏差D2計(jì)算過程能力D3評價(jià)過程能力D4提高過程能力D5對修改的過程繪制控制圖并分析建立X-R圖的步驟D?Ｄ過程能力解釋D1計(jì)算過程的標(biāo)準(zhǔn)偏差D2計(jì)算過程能力D3評價(jià)38過程能力分析（一）Cp和Cpk的計(jì)算公式：Cp=T/(6×δ)

Cp=（T）/(6×δ) 其中：T=USL—LSL，δ為標(biāo)準(zhǔn)偏差 Cpk=ABS((USLorLSL）-X)/（3×δ）

Cpu=（USL-X）/（3×δ） Cpl=（X-LSL）/（3×δ) 注：對數(shù)據(jù)量的要求：大于25個(gè)。?過程能力分析（一）Cp和Cpk的計(jì)算公式：?39101418T1216μCpCPLCPUCPK1321.52.51.5T1014181216101418T1216μCpCPLCPUCPK1422.02.02.0μCpCPLCPUCPK1522.51.51.5指數(shù)差異說明?101418T1216μCpCPLCPUCPK1321.5240過程能力分析（二）使用上述公式時(shí)，須滿足以下條件：過程處于統(tǒng)計(jì)穩(wěn)定狀態(tài)過程的各測量值服從正態(tài)分布否則這些度量就很少有或沒有意義。要滿足上面兩個(gè)條件，就要對數(shù)據(jù)進(jìn)行分析直方圖分析。示例對CHART圖中的異?，F(xiàn)象進(jìn)行分析，識別特殊原因和普通原因，有原因的異常點(diǎn)不統(tǒng)計(jì)在內(nèi)。注：沒有一個(gè)單獨(dú)的指數(shù)可以萬能的適用于所有過程，沒有一個(gè)過程可以用單獨(dú)的一個(gè)指數(shù)完整的來描述。因此，一種很好的方法就是同時(shí)使用Cp，Cpk等參數(shù)與圖表技術(shù)一起進(jìn)行分析。?過程能力分析（二）使用上述公式時(shí)，須滿足以下條件：?41過程能力分析（三）幾點(diǎn)補(bǔ)充：我們在進(jìn)行工藝能力的分析時(shí)，經(jīng)常會使用一些能力指數(shù)（如Cp，Cpk）。大部分能力指數(shù)的計(jì)算包括了產(chǎn)品的規(guī)范。因此如果規(guī)范不合適，或者規(guī)范不符合顧客的要求，努力使過程符合這些規(guī)范，將會造成時(shí)間和人力的大量浪費(fèi)，同時(shí)成品率得不到保證。所有指數(shù)的不足之處且可能產(chǎn)生誤導(dǎo)。任何計(jì)算的指數(shù)中得到的推斷，可以從計(jì)算這些指數(shù)的數(shù)據(jù)中找到合適的解釋。應(yīng)該注意的是我們利用這些指數(shù)的目的不是用來解釋數(shù)據(jù)，而是為了使用數(shù)據(jù)來解釋過程，從數(shù)據(jù)中了解過程。尤其應(yīng)該強(qiáng)調(diào)的一點(diǎn)是如果使用過程中一定時(shí)間內(nèi)不穩(wěn)定或不重復(fù)的數(shù)據(jù)來進(jìn)行預(yù)測是沒有什么意義的。End?過程能力分析（三）幾點(diǎn)補(bǔ)充：End?42生活中的辛苦阻撓不了我對生活的熱愛。12月-2212月-22Monday,December26,2022人生得意須盡歡，莫使金樽空對月。15:03:3015:03:3015:0312/26/20223:03:30PM做一枚螺絲釘，那里需要那里上。12月-2215:03:3015:03Dec-2226-Dec-22日復(fù)一日的努力只為成就美好的明天。15:03:3015:03:3015:03Monday,December26,2022安全放在第一位，防微杜漸。12月-2212月-2215:03:3015:03:30December26,2022加強(qiáng)自身建設(shè)，增強(qiáng)個(gè)人的休養(yǎng)。2022年12月26日3:03下午12月-2212月-22精益求精，追求卓越，因?yàn)橄嘈哦鴤ゴ蟆?6十二月20223:03:30下午15:03:3012月-22讓自己更加強(qiáng)大，更加專業(yè)，這才能讓自己更好。十二月223:03下午12月-2215:03December26,2022這些年的努力就為了得到相應(yīng)的回報(bào)。2022/12/2615:03:3015:03:3026December2022科學(xué)，你是國力的靈魂；同時(shí)又是社會發(fā)展的標(biāo)志。3:03:30下午3:03下午15:03:3012月-22每天都是美好的一天，新的一天開啟。12月-2212月-2215:0315:03:3015:03:30Dec-22相信命運(yùn)，讓自己成長，慢慢的長大。2022/12/2615:03:30Monday,December26,2022愛情，親情，友情，讓人無法割舍。12月-222022/12/2615:03:3012月-22謝謝大家！生活中的辛苦阻撓不了我對生活的熱愛。12月-2212月-2243SPC統(tǒng)計(jì)過程控制?SPC統(tǒng)計(jì)過程控制?44統(tǒng)計(jì)概述統(tǒng)計(jì)：數(shù)據(jù)通過計(jì)算而產(chǎn)生有意義的情報(bào)。有哪些有意義的情報(bào)呢？集中趨勢（準(zhǔn)確度）離散趨勢（精確度）被涵蓋在特定范圍內(nèi)的概率?統(tǒng)計(jì)概述統(tǒng)計(jì)：數(shù)據(jù)通過計(jì)算而產(chǎn)生有意義的情報(bào)。?45SPC發(fā)展簡介1920年Bell研究所的Dr.WalterShewhart開發(fā).1940年二次世界大戰(zhàn)期間，美國軍工產(chǎn)品使用抽樣方案和控制圖以保證軍工產(chǎn)品的質(zhì)量。1950年質(zhì)量管理大師戴明博士在日本工業(yè)產(chǎn)品生產(chǎn)過程中全面推推行SPC。1970年有效地推行“QC圈”和應(yīng)用統(tǒng)計(jì)技術(shù)使日本經(jīng)濟(jì)的快速發(fā)展，成為高品質(zhì)產(chǎn)品的代名詞。1980年美國等其他國家緊隨日本的步伐，開始推行“QC小組”和統(tǒng)計(jì)技術(shù)的應(yīng)用。MOTOROLA公司頒布“QC挑戰(zhàn)”，通過SPC的實(shí)施改進(jìn)過程能力，并提出追求“6σ”目標(biāo)。1987年ISO9000標(biāo)準(zhǔn)建立并頒布實(shí)施，明確要求實(shí)施統(tǒng)計(jì)技術(shù)。?SPC發(fā)展簡介1920年Bell研究所的Dr.Walt46過去?過去?47現(xiàn)在?現(xiàn)在?48Y=f(X)高斯函數(shù)OUTPUT=YINPUT=XPROCESSPARAMETER=XY是因變數(shù)X是自變數(shù)Y只能靠檢查，不好的淘汰。X才是我們所能控制的，使得Y符合我們的需求。?Y=f(X)高斯函數(shù)OUTPUT=YY是因變數(shù)?49Y=f(x1,x2,….)Y可視為顧客所要求的產(chǎn)品特性。但是如果在y進(jìn)行相應(yīng)的統(tǒng)計(jì)控制，其實(shí)產(chǎn)品已經(jīng)制造出來，只是相當(dāng)于檢驗(yàn)產(chǎn)品做得好不好，時(shí)效已晚。所以要去探究那些因素會影響y，進(jìn)而事先控制x，如此才能起到在生產(chǎn)時(shí)就控制的效果，而不是等到產(chǎn)品做出來再做檢驗(yàn)。?Y=f(x1,x2,….)Y可視為顧客所要求的產(chǎn)品特性。?50SPC用在那里？PROCESSOUTPUTINPUT消極的地方只能防堵積極的地方可防止不良積極的地方可防止不良?SPC用在那里？PROCESSOUTPUTINPUT消極的地51SPC的作用---預(yù)防檢測的方法：檢查最終產(chǎn)品并剔除不符合規(guī)范的產(chǎn)品。這種方法很浪費(fèi)，因?yàn)樗试S將時(shí)間和材料投入到生產(chǎn)不一定有用的產(chǎn)品和服務(wù)中。（容忍浪費(fèi)）一種在第一步就可以避免生產(chǎn)無用的輸出，從而避免浪費(fèi)的更有效的方法是——預(yù)防。（避免浪費(fèi)）只要全公司所有員工共同努力就能建立一道防火墻。實(shí)現(xiàn)策略：應(yīng)用數(shù)理統(tǒng)計(jì)方法進(jìn)行生產(chǎn)過程的控制?；舅枷胧歉鶕?jù)過程的情況，預(yù)測將來的趨勢與變化，從而進(jìn)行過程控制，使過程在受控中進(jìn)行，預(yù)防不良品的發(fā)生。所以說SPC的特征是控制過程，防患于未然。?SPC的作用---預(yù)防檢測的方法：檢查最終產(chǎn)品并剔除不符合52SPC想法藉由以往的數(shù)據(jù)了解正常的變異范圍設(shè)定成控制界限繪點(diǎn)判定是否超出界限糾正異常持續(xù)改進(jìn)，縮小控制界限?SPC想法藉由以往的數(shù)據(jù)了解正常的變異范圍設(shè)定成控制界限繪點(diǎn)53SPC的原理收集數(shù)據(jù)一開始要多收集數(shù)據(jù)以了解制程狀況解析數(shù)據(jù)了解其正常波動的范圍控制用圖形運(yùn)用控制限來判定制程是否異常?SPC的原理收集數(shù)據(jù)一開始要多收解析數(shù)據(jù)了解其正常波控制用圖54控制圖種類(以數(shù)據(jù)來分)計(jì)量值控制圖平均值與全距控制圖平均值與標(biāo)準(zhǔn)差控制圖中位值與全距控制圖個(gè)別值與移動全距控制圖計(jì)數(shù)值控制圖不良率控制圖不良數(shù)控制圖缺點(diǎn)數(shù)控制圖單位缺點(diǎn)控制圖?控制圖種類(以數(shù)據(jù)來分)計(jì)量值控制圖計(jì)數(shù)值控制圖?55“n”=10~25控制圖的選定資料性質(zhì)不良數(shù)或缺陷數(shù)單位大小是否一定“n”是否一定樣本大小n≧2Cl的性質(zhì)“n”是否較大“u”圖“c”圖“np”圖“p”圖X-Rm圖X-R圖X-R圖X-s圖計(jì)數(shù)值計(jì)量值“n”=1n≧1中位數(shù)平均值“n”=2~5缺陷數(shù)不良數(shù)不一定一定一定不一定控制圖的選擇?“n”=10~25控制圖的選定資料性質(zhì)不良數(shù)或單位大小“n”56控制圖所用的統(tǒng)計(jì)原理計(jì)量型Xbar-RXbar-sX中位數(shù)-RX-Rm正態(tài)分布計(jì)數(shù)型Pnp二項(xiàng)分布計(jì)數(shù)型Cu卜氏分布?控制圖所用的統(tǒng)計(jì)原理計(jì)量型Xbar-R正態(tài)分布計(jì)數(shù)型P二項(xiàng)分5768.26%95.45%99.73%μ+1σ+2σ+3σ-1σ-2σ-3σ正態(tài)分布概率?68.26%95.45%99.73%μ+1σ+2σ+3σ-158個(gè)別值的正態(tài)分布平均值的正態(tài)分布控制圖的正態(tài)分布控制圖原理說明?個(gè)別值的正態(tài)分布平均值的正態(tài)分布控制圖的正態(tài)分布控制圖原理說59控制圖的建立其中最主要也是最重要的一個(gè)步驟就是按3σ原理對控制線進(jìn)行設(shè)定?？刂凭€的確定是否合適決定了我們能否及時(shí)準(zhǔn)確判斷出異常的發(fā)生。3σ原理：在X+3sigma內(nèi)的概率為99.73%，而超出+3sigma的概率僅為0.27%。控制圖的建立?控制圖的建立其中最主要也是最重要的一個(gè)步驟就是按3σ原理對控60制程的組成以及其波動的原因波動原因人機(jī)器材料方法測量環(huán)境變差(variation)：可分2種，隨機(jī)變差與特殊變差。?制程的組成以及其波動的原因波動原因人機(jī)器材料方法測量環(huán)境變差61制程的控制與能力提升?制程的控制與能力提升?62普通原因、特殊原因示意圖普通原因的波動范圍異常原因?qū)е碌牟▌臃秶惓Ｔ驅(qū)е碌牟▌臃秶鶸CLLCL解決普通原因的系統(tǒng)措施解決異常原因的局部措施解決異常原因的局部措施受控(incontrol)：只出現(xiàn)隨機(jī)變差。失控(outofcontrol)：各種特殊變差原因未消除的過程狀態(tài)。證據(jù)是控制圖上的點(diǎn)出現(xiàn)在控制限外或控制圖內(nèi)的圖形并非是隨機(jī)。?普通原因、特殊原因示意圖普通原因的波動范圍異常原因?qū)е碌牟▌?3過程改進(jìn)循環(huán)PLANDOCHECKACTPLANDOCHECKACTPLANDOCHECKACT1、分析過程本過程應(yīng)做些什么會出現(xiàn)什么錯誤達(dá)到統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)確定能力2.維護(hù)過程監(jiān)控過程性能查找偏差的特殊原因并采取措施3.改進(jìn)過程改變過程從而更好理解普通原因變差減少普通原因變差?過程改進(jìn)循環(huán)PLANDOCHECKACTPLANDOCHEC64建立控制圖的四步驟A收集數(shù)據(jù)B計(jì)算控制限C過程控制解釋D過程能力解釋?建立控制圖的四步驟A收集數(shù)據(jù)B計(jì)算控制限C過程控制解釋D過程65建立X-R圖的步驟AＡ階段收集數(shù)據(jù)A1選擇子組大小、頻率和數(shù)據(jù)子組大小子組頻率子組數(shù)大小A2建立控制圖及記錄原始記錄A3計(jì)算每個(gè)子組的均值X和極差RA4選擇控制圖的刻度A5將均值和極差畫到控制圖上?建立X-R圖的步驟AＡ階段收集數(shù)據(jù)A1選擇子組大小、頻率和數(shù)66每個(gè)子組的平均值和極差的計(jì)算11009899100982989998101973999710010098410010010199995101999910099平均99.698.699.410098.2極差33322?每個(gè)子組的平均值和極差的計(jì)算110098991009829867平均值和極差平均值的計(jì)算R值的計(jì)算?平均值和極差平均值的計(jì)算R值的計(jì)算?68Ｂ計(jì)算控制限B1計(jì)算平均極差及過程平均值B2計(jì)算控制限B3在控制圖上作出平均值和極差控制限的控制線建立X-R圖的步驟B?Ｂ計(jì)算控制限B1計(jì)算平均極差及過程平均值B2計(jì)算控制限B3在69建立X-R圖K(組數(shù))RRRRK(組數(shù))xxxxxkk+++=++++=..........21321全距管制圖平均值管制圖?建立X-R圖K(組數(shù))RRRRK(組數(shù))xxxxxkk+++70Ｃ過程控制解釋C1分析極差圖上的數(shù)據(jù)點(diǎn)C2識別并標(biāo)注特殊原因(極差圖)C3重新計(jì)算控制界限(極差圖)C4分析均值圖上的數(shù)據(jù)點(diǎn)超出控制限的點(diǎn)鏈明顯的非隨機(jī)圖形超出控制限的點(diǎn)鏈明顯的非隨機(jī)圖形C5識別并標(biāo)注特殊原因(均值圖)C6重新計(jì)算控制界限(均值圖)C7為了繼續(xù)進(jìn)行控制延長控制限建立X-R圖的步驟C?Ｃ過程控制解釋C1分析極差圖上的數(shù)據(jù)點(diǎn)C2識別并標(biāo)注特殊原因71異常情況的特征利用SPCCHART圖來進(jìn)行區(qū)分：1點(diǎn)超出+3sigma連續(xù)3點(diǎn)中有2點(diǎn)超出+2sigma（口訣：3分之2A）連續(xù)5點(diǎn)中有4點(diǎn)超出+1sigma（口訣：5分之4B）連續(xù)8點(diǎn)在中心線一側(cè)周期性波動當(dāng)連續(xù)7點(diǎn)呈上升或下降趨勢時(shí)，應(yīng)查找原因并采取行動。?異常情況的特征利用SPCCHART圖來進(jìn)行區(qū)分：?72圖例以下為不正常狀態(tài)的種類A.有一

點(diǎn)超出控制界限

UCL1б2б3бA區(qū)B區(qū)C區(qū)CL?圖例以下為不正常狀態(tài)的種類A.有一點(diǎn)超出控制界限73圖例B.在中心線的同側(cè)連續(xù)三點(diǎn)中有兩點(diǎn)在A區(qū)或A區(qū)以外UCL1б2б3бA區(qū)B區(qū)C區(qū)CL?圖例B.在中心線的同側(cè)連續(xù)三點(diǎn)中有兩點(diǎn)在A區(qū)或A區(qū)以外74圖例C.連續(xù)五點(diǎn)中有四點(diǎn)在B區(qū)或B區(qū)以外.?圖例C.連續(xù)五點(diǎn)中有四點(diǎn)在B區(qū)或B區(qū)以外.?75圖例D。連續(xù)8點(diǎn)在中心線一側(cè)CL?圖例D。連續(xù)8點(diǎn)在中心線一側(cè)CL?76圖例E。周期性缺陷?圖例E。周期性缺陷?77圖例F.連續(xù)6點(diǎn)同一方向+3б-3бUCLCLLCL?圖例F.連續(xù)6點(diǎn)同一方向+3б-3бUCLCLLCL78X----RChart的用途R---Chart由制程的均勻度決定代表精度和品質(zhì)的均勻度當(dāng)均勻度發(fā)生改變時(shí),R----Chart可以發(fā)現(xiàn)R的改變動原因可能為機(jī)械維護(hù)不良或劣化,手工作業(yè)不熟練或不穩(wěn)定,加工方法不周嚴(yán).?X----RChart的用途R---Chart?79X----Chart由制程的平均值支配代表品質(zhì)的規(guī)格中心,亦即正確程度R---Chart有逸出時(shí),X---Chart也受影響,應(yīng)先調(diào)R---Chart平均值變化的原因可能為機(jī)械調(diào)整不當(dāng),手工作業(yè)錯誤,材料規(guī)格不符?X----Chart由制程的平均值支配?80Ｄ過程能力解釋D1計(jì)算過程的標(biāo)準(zhǔn)偏差D2計(jì)算過程能力D3評價(jià)過程能力D4提高過程能力D5對修改的過程繪制控制圖并分析建立X-R圖的步驟D?Ｄ過程能力解釋D1計(jì)算過程的標(biāo)準(zhǔn)偏差D2計(jì)算過程能力D3評價(jià)81過程能力分析（一）Cp和Cpk的計(jì)算公式：Cp=T/(6×δ)

Cp=（T）/(6×δ) 其中：T=USL—LSL，δ為標(biāo)準(zhǔn)偏差 Cpk=ABS((USLorLSL）-X)/（3×δ）

Cpu=（USL-X）/（3×δ） Cpl=（X-LSL）/（3×δ) 注：對數(shù)據(jù)量的要求：大于25個(gè)。?過程能力分析（一）Cp和Cpk的計(jì)算公式：?82101418T1216μCpCPLCPUCPK1321.52.51.5T1014181216101418T1216μCpCPLCPUCPK1422.02.02.0μCpCPLCPUCPK1522.51.51.5指數(shù)差異說明?101418T1216μCpCPLCPUCPK1321.5283過程能力分析（二）使用上述公式時(shí)，須滿足以下條件：過程處于統(tǒng)計(jì)穩(wěn)定狀態(tài)過程的各測量值服從正態(tài)分布否則這些度量就很少有或沒有意義。要滿足上面兩個(gè)條件，就要對數(shù)據(jù)進(jìn)行分析直方圖分析。示例對CHART圖中的異?，F(xiàn)象進(jìn)