屏蔽效能測試方案

RIGOL屏蔽效能測試方案

TestingSolutionsofShieldingEffectivenessRIGOL屏蔽效能測試方案

TestingSolutio背景電磁輻射：一種新的污染電子設(shè)備對外輻射電子設(shè)備受外界電磁干擾對人體電磁輻射的危害電磁信息泄漏：危害國家政治、軍事及經(jīng)濟信息安全……屏蔽機理反射效應(yīng)吸收效應(yīng)屏蔽效果分類SE(dB)00-1010-3030-6060-90>90屏蔽效果無差較差中等良好優(yōu)背景電磁輻射：一種新的污染SE(dB)00-1010-303應(yīng)用領(lǐng)域電磁屏蔽材料屏蔽材料吸波材料電磁屏蔽漆柔性屏蔽織物（電磁屏蔽防護服、屏蔽帳篷、屏蔽幕簾、屏蔽炮衣）特種電磁屏蔽混凝土IC芯片封裝……電磁屏蔽室全電波暗室、半電波暗室、EMC屏蔽室、混響室醫(yī)療成像和治療設(shè)施（磁共振成像MRI/醫(yī)用X射線攝影/計算機斷層掃描CT）屏蔽箱、電波暗箱、TEM/GTEM小室軍用方艙（軍車、艦船屏蔽艙室）電磁屏蔽機柜、屏蔽操作臺……應(yīng)用領(lǐng)域電磁屏蔽材料應(yīng)用領(lǐng)域應(yīng)用領(lǐng)域應(yīng)用領(lǐng)域應(yīng)用領(lǐng)域什么是屏蔽效能(ShieldingEffectiveness)？定義：在同一激勵電平下，有屏蔽材料與無屏蔽材料時所接收到的功率或電壓之比，并以對數(shù)表示。SE=20lg（V0/V1）=10lg（P0/P1）式中，SE—屏蔽效能，dB； V0—無屏蔽材料時的接收電壓；

V1—有屏蔽材料時的接收電壓； P0—無屏蔽材料時的接收功率；

P1—有屏蔽材料時的接收功率。什么是屏蔽效能(ShieldingEffectivenes屏蔽效能典型測試結(jié)果屏蔽效能典型測試結(jié)果標準法規(guī)SJ20524:1995材料屏蔽效能的測量方法GJB6190:2008電磁屏蔽材料屏蔽效能測量方法GB/T25471:2010電磁屏蔽涂料的屏蔽效能測量方法GB/T12190:2006電磁屏蔽室屏蔽效能的測量方法GJB6785-2009軍用電子設(shè)備方艙屏蔽效能測試方法GJB3039:1997艦船屏蔽艙室要求和屏蔽效能測試方法IEEEStd299:2006IEEEstandardmethodformeasuringtheeffectivenessofelectromagneticshieldingenclosures.ASTMD4935:2010StandardTestMethodforMeasuringtheElectromagneticShieldingEffectivenessofPlanarMaterials.IEEEStd1302:2008IEEEGuidefortheElectromagneticCharacterizationofConductiveGasketsintheFrequencyRangeofDCto18GHz.MIL-DTL-83528C:2001GasketingMaterial，Conductive，ShieldingGasket，Electronic，Elastomer，EMI/RFI.SAEARP1173：2004TestproceduretomeasuretheRFshieldingcharacteristicspfEMIgaskets.SAEARP1705A:2006Coaxialtestproceduretomeasure

theRFshieldingcharacteristicsofEMIgasketmaterials.DESC92017DEFSTAN59-103標準法規(guī)SJ20524:1995材料屏蔽效能的測量方法屏蔽效能測試方法屏蔽效能測試方法法蘭同軸測試法（頻譜分析儀+射頻信號源）頻率范圍：30MHz～1.5GHz試樣厚度：小于等于10mm可測試電磁屏蔽材料對平面波的屏蔽效能參考試樣負載試樣法蘭同軸測試法（頻譜分析儀+射頻信號源）頻率范圍：30MHz法蘭同軸測試法（頻譜分析儀+跟蹤源）頻率范圍：30MHz～1.5GHz試樣厚度：小于等于10mm可測試電磁屏蔽材料對平面波的屏蔽效能參考試樣負載試樣法蘭同軸測試法（頻譜分析儀+跟蹤源）頻率范圍：30MHz～1法蘭同軸測試法-試樣制備法蘭同軸測試法-試樣制備法蘭同軸測試法-推薦配置

項目制造商型號設(shè)備名稱備注方案一1RigolDSA800/DSA1000頻譜分析儀

2DSG3000射頻信號源

3北京鼎容實創(chuàng)DR-S01+測試支架法蘭同軸屏蔽效能測試裝置二選一DR-S02法蘭同軸屏蔽效能測試儀4RigolRFAttenuatorKit10dB衰減器*26dB亦可5RigolCB-NM-NM-75-L-12G射頻連接電纜*2N公頭-N公頭方案二1RigolDSA800+TG

或DSA1000+TG頻譜分析儀，帶跟蹤源

2北京鼎容實創(chuàng)DR-S01+測試支架法蘭同軸屏蔽效能測試裝置二選一DR-S02法蘭同軸屏蔽效能測試儀3RigolRFAttenuatorKit10dB衰減器*26dB亦可4RigolCB-NM-NM-75-L-12G射頻連接電纜*2N公頭-N公頭法蘭同軸測試法-推薦配置項目制造商型號設(shè)備名稱備注方案一1屏蔽室窗口測試法屏蔽室窗口測試法屏蔽暗箱窗口測試法屏蔽暗箱窗口測試法雙TEM室測試法雙TEM室測試法快沿電磁脈沖時域測試（法蘭同軸測試法）參考試樣負載試樣快沿電磁脈沖時域測試（法蘭同軸測試法）參考試樣快沿電磁脈沖時域測試（GTEM小室測試法）快沿電磁脈沖時域測試（GTEM小室測試法）ASTM-ES-7雙屏蔽盒測試法（近場）ASTM-ES-7雙屏蔽盒測試法（近場）ASTM-ES-7同軸傳輸線測試法（遠場）ASTM-ES-7同軸傳輸線測試法（遠場）改進的MIL-STD-285測試法（近場）改進的MIL-STD-285測試法（近場）屏蔽室屏蔽效能測試頻率測試頻率表低頻段測量（9kHz-20MHz）諧振頻段測量（20MHz-300MHz）高頻段測量（300MHz-1GHz）高頻段測量（1GHz-18GHz）

屏蔽室屏蔽效能測試頻率測試頻率表屏蔽室屏蔽效能測試頻率測試頻率應(yīng)該參考國家或軍隊無線電管理機構(gòu)提供的頻率列表

建議從供工業(yè)、科學(xué)和醫(yī)療設(shè)備（ISM）使用的頻率或推薦頻率表選擇

屏蔽室屏蔽效能測試頻率測試頻率應(yīng)該參考國家或軍隊無線電管理屏蔽室低頻段測量（9kHz-20MHz）屏蔽室低頻段測量（9kHz-20MHz）屏蔽室諧振頻段測量（20MHz-300MHz）屏蔽室諧振頻段測量（20MHz-300MHz）屏蔽室高頻段測量（300MHz-1GHz）屏蔽室高頻段測量（300MHz-1GHz）屏蔽室高頻段測量（1GHz-18GHz）屏蔽室高頻段測量（1GHz-18GHz）推薦配置DSA800/1000 頻譜分析儀DSG3000 射頻信號源射頻功放（可選）天線：低頻：環(huán)天線諧振：雙錐天線高頻300MHz-1GHz：

發(fā)射：半波長偶極子天線

接收：八分之一波長偶極子天線高頻1GHz-18GHz：

喇叭天線推薦配置DSA800/1000 頻譜分析儀典型測試案例-IC芯片封裝（集成電路天線測量法）典型測試案例-IC芯片封裝（集成電路天線測量法）典型測試案例-防電磁輻射服裝典型測試案例-防電磁輻射服裝ThankYou!ThankYou!RIGOL屏蔽效能測試方案

TestingSolutionsofShieldingEffectivenessRIGOL屏蔽效能測試方案

TestingSolutio背景電磁輻射：一種新的污染電子設(shè)備對外輻射電子設(shè)備受外界電磁干擾對人體電磁輻射的危害電磁信息泄漏：危害國家政治、軍事及經(jīng)濟信息安全……屏蔽機理反射效應(yīng)吸收效應(yīng)屏蔽效果分類SE(dB)00-1010-3030-6060-90>90屏蔽效果無差較差中等良好優(yōu)背景電磁輻射：一種新的污染SE(dB)00-1010-303應(yīng)用領(lǐng)域電磁屏蔽材料屏蔽材料吸波材料電磁屏蔽漆柔性屏蔽織物（電磁屏蔽防護服、屏蔽帳篷、屏蔽幕簾、屏蔽炮衣）特種電磁屏蔽混凝土IC芯片封裝……電磁屏蔽室全電波暗室、半電波暗室、EMC屏蔽室、混響室醫(yī)療成像和治療設(shè)施（磁共振成像MRI/醫(yī)用X射線攝影/計算機斷層掃描CT）屏蔽箱、電波暗箱、TEM/GTEM小室軍用方艙（軍車、艦船屏蔽艙室）電磁屏蔽機柜、屏蔽操作臺……應(yīng)用領(lǐng)域電磁屏蔽材料應(yīng)用領(lǐng)域應(yīng)用領(lǐng)域應(yīng)用領(lǐng)域應(yīng)用領(lǐng)域什么是屏蔽效能(ShieldingEffectiveness)？定義：在同一激勵電平下，有屏蔽材料與無屏蔽材料時所接收到的功率或電壓之比，并以對數(shù)表示。SE=20lg（V0/V1）=10lg（P0/P1）式中，SE—屏蔽效能，dB； V0—無屏蔽材料時的接收電壓；

V1—有屏蔽材料時的接收電壓； P0—無屏蔽材料時的接收功率；

P1—有屏蔽材料時的接收功率。什么是屏蔽效能(ShieldingEffectivenes屏蔽效能典型測試結(jié)果屏蔽效能典型測試結(jié)果標準法規(guī)SJ20524:1995材料屏蔽效能的測量方法GJB6190:2008電磁屏蔽材料屏蔽效能測量方法GB/T25471:2010電磁屏蔽涂料的屏蔽效能測量方法GB/T12190:2006電磁屏蔽室屏蔽效能的測量方法GJB6785-2009軍用電子設(shè)備方艙屏蔽效能測試方法GJB3039:1997艦船屏蔽艙室要求和屏蔽效能測試方法IEEEStd299:2006IEEEstandardmethodformeasuringtheeffectivenessofelectromagneticshieldingenclosures.ASTMD4935:2010StandardTestMethodforMeasuringtheElectromagneticShieldingEffectivenessofPlanarMaterials.IEEEStd1302:2008IEEEGuidefortheElectromagneticCharacterizationofConductiveGasketsintheFrequencyRangeofDCto18GHz.MIL-DTL-83528C:2001GasketingMaterial，Conductive，ShieldingGasket，Electronic，Elastomer，EMI/RFI.SAEARP1173：2004TestproceduretomeasuretheRFshieldingcharacteristicspfEMIgaskets.SAEARP1705A:2006Coaxialtestproceduretomeasure

theRFshieldingcharacteristicsofEMIgasketmaterials.DESC92017DEFSTAN59-103標準法規(guī)SJ20524:1995材料屏蔽效能的測量方法屏蔽效能測試方法屏蔽效能測試方法法蘭同軸測試法（頻譜分析儀+射頻信號源）頻率范圍：30MHz～1.5GHz試樣厚度：小于等于10mm可測試電磁屏蔽材料對平面波的屏蔽效能參考試樣負載試樣法蘭同軸測試法（頻譜分析儀+射頻信號源）頻率范圍：30MHz法蘭同軸測試法（頻譜分析儀+跟蹤源）頻率范圍：30MHz～1.5GHz試樣厚度：小于等于10mm可測試電磁屏蔽材料對平面波的屏蔽效能參考試樣負載試樣法蘭同軸測試法（頻譜分析儀+跟蹤源）頻率范圍：30MHz～1法蘭同軸測試法-試樣制備法蘭同軸測試法-試樣制備法蘭同軸測試法-推薦配置

項目制造商型號設(shè)備名稱備注方案一1RigolDSA800/DSA1000頻譜分析儀

2DSG3000射頻信號源

3北京鼎容實創(chuàng)DR-S01+測試支架法蘭同軸屏蔽效能測試裝置二選一DR-S02法蘭同軸屏蔽效能測試儀4RigolRFAttenuatorKit10dB衰減器*26dB亦可5RigolCB-NM-NM-75-L-12G射頻連接電纜*2N公頭-N公頭方案二1RigolDSA800+TG

或DSA1000+TG頻譜分析儀，帶跟蹤源

2北京鼎容實創(chuàng)DR-S01+測試支架法蘭同軸屏蔽效能測試裝置二選一DR-S02法蘭同軸屏蔽效能測試儀3RigolRFAttenuatorKit10dB衰減器*26dB亦可4RigolCB-NM-NM-75-L-12G射頻連接電纜*2N公頭-N公頭法蘭同軸測試法-推薦配置項目制造商型號設(shè)備名稱備注方案一1屏蔽室窗口測試法屏蔽室窗口測試法屏蔽暗箱窗口測試法屏蔽暗箱窗口測試法雙TEM室測試法雙TEM室測試法快沿電磁脈沖時域測試（法蘭同軸測試法）參考試樣負載試樣快沿電磁脈沖時域測試（法蘭同軸測試法）參考試樣快沿電磁脈沖時域測試（GTEM小室測試法）快沿電磁脈沖時域測試（GTEM小室測試法）ASTM-ES-7雙屏蔽盒測試法（近場）ASTM-ES-7雙屏蔽盒測試法（近場）ASTM-ES-7同軸傳輸線測試法（遠場）ASTM-ES-7同軸傳輸線測試法（遠場）改進的MIL-STD-285測試法（近場）改進的MIL-STD-285測試法（近場）屏蔽室屏蔽效