嵌入式系統(tǒng)設(shè)計(jì)師-25-真題-無(wú)答案

嵌入式系統(tǒng)設(shè)計(jì)師-2590試題一AD574(12位的A/D13，欄內(nèi)。AD574可以工作在8位，也可以工作在12825512位下的AD574接到8ISA8255A0A1口地址選擇信號(hào)線進(jìn)行PAPBPC回答下列問(wèn)題，將答案填寫(xiě)在對(duì)應(yīng)的欄目中。 1 A0為0，A1為0時(shí)控1 口； 2 A0為0，A1為1時(shí)控2 口； 3 A0為1，A1為0時(shí)控3 口。74LS138器件的功能以及作用的問(wèn)題，將答案填寫(xiě)在對(duì)應(yīng)的欄目中。 2 74LS138器件在圖2-1中的功能2 ；3A2～A1574LS13874LS138A3、A43A64電平。上圖中的連接可以簡(jiǎn)化，將AD574的CE12/管腳接為高電平，而使和A0接地。此時(shí)只需要用來(lái)啟動(dòng)AD574STS(AD574的STS管腳由高變低表明AD574)據(jù)放在BX3～6，將答案填寫(xiě)在對(duì)應(yīng)的欄目中。;對(duì)8255初始化,此段程序放在應(yīng)用程序開(kāi)始的位置上INTI55:MOVDX,0063HMOVAL,1001101OB;8255的A8B8位，以及C4口的低4位設(shè)置為輸出OUTDX,AL;控制字寫(xiě)入8255的控制寄存器MOVAL,00000001BOUTDX,AL;使用位控方式將PC0置位;以下是對(duì)輸入信號(hào)進(jìn)行一次變換的程序ACQUQ:MOVDX,MOVAL,00000000BOUTDX,ALMOVAL, 3 B;二進(jìn)制表示OUTDX,AL;由PC0輸出低電平到高電平啟動(dòng)變換NOPNOPWAITS:INAL,DX;取出AD574的STS狀態(tài)ANDAL, 4 H;判斷變換是否結(jié)束，十六進(jìn)制表示JNZWAITSMOVDX,0060HINAL,DX;讀取A口取得A/D變換的低8位MOVBL, 5 ;將A8位放在BLMOVDX,0061HINAL,DX;讀取B口數(shù)據(jù)ANDAL, 6 H;AD5744位，十六進(jìn)制表示MOVBH,ALRET試題二下面是關(guān)于嵌入式軟件測(cè)試方面的敘述，回答問(wèn)題1至問(wèn)題3，將解答填入的對(duì)應(yīng)欄內(nèi)。[說(shuō)明]集成測(cè)試和系統(tǒng)測(cè)試。軟件測(cè)試中的單元測(cè)試部件集成測(cè)試和系統(tǒng)測(cè)試都有各自的測(cè)試目標(biāo)以下描述中于單元測(cè)試的是 1 ，屬于部件(集成)測(cè)試的是 2 ，屬于系統(tǒng)測(cè)試的是 3 ，請(qǐng)把以下8應(yīng)的欄目中。①測(cè)試對(duì)象為單個(gè)模塊或者函數(shù)②測(cè)試對(duì)象包括整個(gè)軟件系統(tǒng)，以及軟件所依賴的硬件、外設(shè)等③測(cè)試對(duì)象為多個(gè)模塊或多個(gè)單元④整個(gè)測(cè)試必須在系統(tǒng)實(shí)際運(yùn)行環(huán)境中進(jìn)行⑤主要測(cè)試模塊內(nèi)部邏輯結(jié)構(gòu)的正確性⑥測(cè)試各個(gè)模塊間的調(diào)用接口⑦包括測(cè)試部分全局?jǐn)?shù)據(jù)結(jié)構(gòu)及變量⑧主要測(cè)試局部數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)及變量被測(cè)軟件研制方提出，為節(jié)約成本，由軟件開(kāi)發(fā)人員對(duì)所開(kāi)發(fā)的軟件進(jìn)行測(cè)試，測(cè)評(píng)中評(píng)中心的反對(duì)。軟件研制方認(rèn)為： 2 自己編寫(xiě)的程序，結(jié)構(gòu)熟悉，需求清楚，易發(fā)現(xiàn)問(wèn)題； 3 自己測(cè)試后，又經(jīng)過(guò)第三方的確認(rèn)，是可行的； 4 測(cè)評(píng)中心反駁： 2 程序不能由編寫(xiě)者自己測(cè)試，就像不能既當(dāng)運(yùn)動(dòng)員又當(dāng)裁判員一樣； 3 自己測(cè)試，有弄虛作假的嫌疑； 4 軟件測(cè)試不能喪失獨(dú)立性，僅由測(cè)評(píng)中心確認(rèn)，損害測(cè)評(píng)中心聲譽(yù)，不行。針對(duì)上述情況應(yīng)該2 進(jìn)行測(cè)試軟件研制方的3條理由正確的3 條錯(cuò)誤的4 條；測(cè)評(píng)中心所說(shuō)的正確的5 條，錯(cuò)誤的6 條?！板e(cuò)或“對(duì)，并將其填入在對(duì)應(yīng)欄內(nèi)。判定/值。(3)在進(jìn)行壓力測(cè)試的同時(shí)可以進(jìn)行單元測(cè)試。(4)軟件測(cè)試中設(shè)計(jì)的測(cè)試實(shí)例(testcase)主要由輸入數(shù)據(jù)和預(yù)期輸出結(jié)果兩部分組成。試題三閱讀以下關(guān)于嵌入式C13，將答案填入對(duì)應(yīng)欄內(nèi)。[說(shuō)明]嵌入式C語(yǔ)言編程中常涉及位運(yùn)算、宏定義的問(wèn)題，以及大端方式(Big-endian)、小端方式(Little-endian)的訪問(wèn)問(wèn)題。嵌入式系統(tǒng)中常要求用戶對(duì)變量或寄存器進(jìn)行位操作。下面的兩個(gè)函數(shù)分別為設(shè)置和清a5BIT5aset_bit5(|=)a5clear_bit5中，用位與賦值操作(＆=)清除變量a5位。#defineBIT5(0x01＜＜5)staticinta;voidset_bit5(void){ ① ;設(shè)置變量a5位*/}voidclear_bit5(void){ ② ;清除變量a5位*/}下圖所示代碼的設(shè)計(jì)意圖是計(jì)算1～100結(jié)果，請(qǐng)說(shuō)明出錯(cuò)原因，將答案填入對(duì)應(yīng)欄內(nèi)。下圖是在不改變宏定義的情況下，對(duì)程序進(jìn)行修改。請(qǐng)完成該段代碼，將答案填入對(duì)應(yīng)欄內(nèi)。(Big-endian)unsignedint32short16位，unsignedchar8位。仔細(xì)閱讀并分析下面的C果，將答案填入對(duì)應(yīng)欄內(nèi)。#include"stdio.h"#include"stdlib.h"void*MEM_ADDR;voidmem_test(void){unsignedint*pint_addr=NULL;unsignedshort*pshort_addr=NULL;unsignedchar*pchar_addr=NULL;MEM_ADDR=(void*)malloc(sizeof(int));pint_addr=(unsignedint*)MEM_ADDR;pshort_addr=(unsignedshort*)MEM_ADDR;pchar_addr=(unsignedchar*)MEM_ADDR;*pint_addr=0x12345678;printf("0x%x,0x%x\n",*pshort_addr,*pchar_addr);/*第一次輸出*/pshort_addr++;*pshort_addr=0x5555;printf("0x%x,0x