UT無(wú)損檢測(cè)培訓(xùn)題庫(kù)

（培訓(xùn)體系）UT無(wú)損檢測(cè)培訓(xùn)題庫(kù)北京市機(jī)械工程學(xué)會(huì)無(wú)損檢測(cè)分會(huì)超聲波檢測(cè)（UT）II級(jí)人員培訓(xùn)班一是非判斷題（在每題后面括號(hào)內(nèi)打“X"號(hào)表示“錯(cuò)誤"，畫(huà)“○"表示正確）（共20題，每題1.5分，共30分）1.質(zhì)點(diǎn)完成五次全振動(dòng)所需要的時(shí)間，可以使超聲波在介質(zhì)中傳播五個(gè)波長(zhǎng)的距離（0）2.超聲波檢測(cè)時(shí)要求聲束方向與缺陷取向垂直為宜（0）3.表面波、蘭姆波是不能在液體內(nèi)傳播的（0）4.縱波從第一介質(zhì)傾斜入射到第二介質(zhì)中產(chǎn)生的折射橫波其折射角達(dá)到90°時(shí)的縱波入射角稱(chēng)為第一臨界角（X）5.吸收衰減和散射衰減是材料對(duì)超聲能量衰減的主要原因（0）6.我國(guó)商品化斜探頭標(biāo)稱(chēng)的角度是表示聲軸線在任何材料中的折射角（X）7.超聲波探頭的近場(chǎng)長(zhǎng)度近似與晶片直徑成正比,與波長(zhǎng)成反比（0）8.根據(jù)公式：C=λ·f可知聲速C與頻率f成正比，同一波型的超聲波在同一材料中傳播時(shí)高頻的聲波傳播速度比低頻大（X）9.一臺(tái)垂直線性理想的超聲波檢測(cè)儀，在線性范圍內(nèi)其回波高度與探頭接收到的聲壓成正比例（0）10.在人工反射體平底孔、矩形槽、橫孔、V形槽中，回波聲壓只與聲程有關(guān)而與探頭折射角度無(wú)關(guān)的是橫孔（0）11.用sinθ=1.22λ/D公式計(jì)算的指向角是聲束邊緣聲壓P1與聲束中心聲壓P0之比等于0%時(shí)的指向角（0）12.水平線性、垂直線性、動(dòng)態(tài)范圍屬于超聲波探頭的性能指標(biāo)（X）13.入射點(diǎn)、近場(chǎng)長(zhǎng)度、擴(kuò)散角屬于超聲波檢測(cè)儀的性能指標(biāo)（X）14.在超聲波檢測(cè)中，如果使用的探測(cè)頻率過(guò)低，在探測(cè)粗晶材料時(shí)會(huì)出現(xiàn)林狀回波（X）15.鋼板探傷中，當(dāng)同時(shí)存在底波和傷波時(shí)，說(shuō)明鋼板中存在小于聲場(chǎng)直徑的缺陷（0）16.探測(cè)工件側(cè)壁附近的缺陷時(shí)，探傷靈敏度往往會(huì)明顯偏低，這是因?yàn)橛袀?cè)壁干擾所致（0）17.耦合劑的用途是消除探頭與工件之間的空氣以利于超聲波的透射（0）18.0）19.按JB/T4730-2005.370mm20cm250mm二缺陷指示面積為25cm2，指示長(zhǎng)度為75mm，則此張鋼板（1x1m）為II級(jí)（0）20.外徑400mm，內(nèi)徑300mm壓力容器用低合金鋼筒形鍛件，可按JB/T4730-2005.3標(biāo)準(zhǔn)檢驗(yàn)（X）

二選擇題（將認(rèn)為正確的序號(hào)字母填入題后面的括號(hào)內(nèi)，只能選擇一個(gè)答案）

（共30題，每題1.5分，共45分）1.工業(yè)超聲波檢測(cè)中,產(chǎn)生和接收超聲波的方法,最經(jīng)常利用的是某些晶體的（c）

a.電磁效應(yīng)b.磁致伸縮效應(yīng)c.壓電效應(yīng)d.磁敏效應(yīng)2.對(duì)于無(wú)損檢測(cè)技術(shù)資格等級(jí)人員,有權(quán)獨(dú)立判定檢測(cè)結(jié)果并簽發(fā)檢測(cè)報(bào)告的是（d）

a.高級(jí)人員b.中級(jí)人員c.初級(jí)人員d.a和be.以上都可以3.焊縫中常見(jiàn)的缺陷是下面哪一組?（b）a.裂紋,氣孔,夾渣,白點(diǎn)和疏松b.未熔合,氣孔,未焊透,夾渣和裂紋

c.氣孔,夾渣,未焊透,折疊和縮孔d.裂紋,未焊透,未熔合,分層和咬邊4.GB/T9445-1999無(wú)損檢測(cè)人員資格鑒定與認(rèn)證規(guī)定的證書(shū)一次有效期最長(zhǎng)為（b）

a.3年b.5年c.10年d.15年5.下列材料中聲速最低的是（a）：a.空氣b.水c.鋁d.不銹鋼6.一般來(lái)說(shuō)，在頻率一定的情況下，在給定的材料中，橫波探測(cè)缺陷要比縱波靈敏，這是因?yàn)椋╝）

a.橫波比縱波的波長(zhǎng)短b.在材料中橫波不易擴(kuò)散c.橫波質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)的方向比缺陷更為靈敏d.橫波比縱波的波長(zhǎng)長(zhǎng)7.超過(guò)人耳聽(tīng)覺(jué)范圍的聲波稱(chēng)為超聲波，它屬于（c）a.電磁波b.光波c.機(jī)械波d.微波8.波長(zhǎng)λ、聲速C、頻率f之間的關(guān)系是（a）：a.λ=c/fb.λ=f/cc.c=f/λ9.如果超聲波頻率增加，則一定直徑晶片的聲束擴(kuò)散角將（a）a.減少b.保持不變c.增大d.隨波長(zhǎng)均勻變化10.有一個(gè)5P20x1045°2730m/s3230m/sα的公

式為（b）a.sinα=（3230/2730）·sin45°b.α=sin-1（3230/2730）·sin45°c.tgα=（3230/2730）·Sin45°11.為減小超聲波通過(guò)介質(zhì)時(shí)的衰減和避免林狀回波，宜采用（d）進(jìn)行探傷a.高頻率、橫波b.較低頻率、橫波c.高頻率、縱波d.較低頻率、縱波12.缺陷反射能量的大小取決于（d）a.缺陷尺寸b.缺陷方位c.缺陷類(lèi)型d.以上都是13.靠近探頭的缺陷不一定都能探測(cè)到，因?yàn)橛校╟）a.聲束擴(kuò)散b.材質(zhì)衰減c.儀器阻塞效應(yīng)d.折射14.超聲波在介質(zhì)中的傳播速度主要取決于（d）a.脈沖寬度b.頻率c.探頭直徑d.超聲波通過(guò)的材質(zhì)和波型15.聲束在何處開(kāi)始超過(guò)晶片直徑？（b）：a.1.67倍近場(chǎng)b.三倍近場(chǎng)c.從晶片位置開(kāi)始16.超聲波檢測(cè)中對(duì)探傷儀的定標(biāo)（校準(zhǔn)時(shí)基線）操作是為了（c）a.評(píng)定缺陷大小b.判斷缺陷性質(zhì)c.確定缺陷位置d.測(cè)量缺陷長(zhǎng)度17.用對(duì)比試塊對(duì)缺陷作定量評(píng)定,已知工件中缺陷埋藏深度為22mm,驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)為Φ1.2mm平底孔當(dāng)量,則應(yīng)選用同材料對(duì)比試塊中的（c）進(jìn)行比較:a.Φ3-20mmb.Φ2-25mmc.Φ1.2-25mmd.Φ1.2-20mm18.鍛件探傷中,如果材料的晶粒粗大,通常會(huì)引起（d）a.底波降低或消失b.有較高的"噪聲"顯示c.使聲波穿透力降低d.以上全部19.采用試塊對(duì)比法探傷時(shí)，由于工件表面粗糙，會(huì)造成聲波傳播的損耗，其表面補(bǔ)償應(yīng)為（ca.2dBb.4dBc.用實(shí)驗(yàn)方

法測(cè)定的補(bǔ)償dB值d.對(duì)第一種材料任意規(guī)定的補(bǔ)償dB值20.檢驗(yàn)鋼材用的商品化60°斜探頭,探測(cè)鋁材時(shí),其折射角（a）

a.大于60°b.等于60°c.小于60°d.以上都可能21.為使經(jīng)折射透入第二介質(zhì)的超聲波只有橫波，縱波在第一介質(zhì)的入射角應(yīng)（c）

a.大于第二臨界角b.小于第一臨界角c.在第一和第二臨界角之間d.在第二和第三臨界角之間22.用縱波直探頭探傷,找到缺陷最大回波後,缺陷的中心位置（d）

a.在任何情況下都位于探頭中心正下方b.位于探頭中心左下方

c.位于探頭中心右下方d.未必位于探頭中心正下方23.超聲波檢測(cè)條件的主要考慮因素是（f）a.工作頻率b.探頭和儀器參數(shù)c.耦合條件與狀態(tài)d.探測(cè)面e.材質(zhì)衰減f.以上都是24.鍛件探傷中,熒光屏上出現(xiàn)"林狀（叢狀）波"時(shí),是由于（d）

a.工件中有小而密集缺陷b.工件中有局部晶粒粗大區(qū)域c.工件中有疏松缺陷d.以上都有可能25.鑄鋼件超聲波探傷的主要困難是（d）a.材料晶粒粗大b.聲速不均勻c.聲阻抗變化大d.以上全部26.當(dāng)用雙晶直探頭在管材上測(cè)厚時(shí)，應(yīng)使探頭隔聲層的方向與管材軸向（c）

a.平行b.成45°角c.垂直d.成60°角27.按JB/T4730-2005.3標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，在一張鋼板上有一指示長(zhǎng)度為55mm的缺陷，其指示面積為20cm2，則該張鋼板為（d）

a.I級(jí)b.II級(jí)c.不合格d.其級(jí)別評(píng)定要視位置而定28.按JB/T4730-2005.3標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，缺陷指示長(zhǎng)度小于10毫米時(shí)，其長(zhǎng)度應(yīng)記為（d）

a.8毫米b.6毫米c.3毫米d.5毫米29.按JB/T4730-2005.3標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，焊縫超聲波探傷時(shí)，掃查靈敏度應(yīng)不低于（b）

a.定量線b.最大聲程處的評(píng)定線c.判廢線d.Φ2線30.JB/T4730-2005.3標(biāo)準(zhǔn)中對(duì)鋼鍛件進(jìn)行質(zhì)量等級(jí)分類(lèi)的依據(jù)是（d）

a.單個(gè)缺陷當(dāng)量直徑b.缺陷引起的底波降低量c.密集區(qū)缺陷占檢測(cè)總面積百分比d.以上都作為獨(dú)立的等級(jí)分別使用

三問(wèn)答題（共5題，每題2分，共10分）1.什么叫“無(wú)損檢測(cè)"？無(wú)損檢測(cè)的目的是什么？常用的無(wú)損檢測(cè)方法有哪些？RTUTMTPTETVT2.,虛線為磨損後的斜楔面）折射角：a.變大，b.變小，折射聲軸線：c.偏左，d.偏右3簡(jiǎn)述焊縫探傷中，選擇探頭折射角應(yīng)依據(jù)哪些原則？垂直。③聲路盡可能短以減少衰減，保證有足夠的探傷靈敏度。4.按照J(rèn)B4730.3-2005標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定，超聲檢測(cè)報(bào)告至少應(yīng)包括哪些內(nèi)容？答：至少應(yīng)包括：委托單位、被檢工件名稱(chēng)、編號(hào)、規(guī)格、材質(zhì)、坡口型式、焊接方法和熱處理狀況；檢測(cè)設(shè)備：探傷儀、K值、探頭頻率、檢測(cè)面和檢測(cè)靈敏度；檢測(cè)部位及缺陷的類(lèi)型、尺寸、位置和分收等級(jí)；檢測(cè)人員和責(zé)任人員簽字及其技術(shù)資格；檢測(cè)日期。5.根據(jù)JB/T4730.3-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，板厚在6-20mm范圍的鋼板在超聲探傷時(shí)所采用的探頭及試塊是什么？答：探頭為標(biāo)稱(chēng)頻率5MHz且晶片面積不小于150mm2的雙晶直探頭，所采用的試塊為階梯試塊。四計(jì)算題（共5題，每題3分，共15分）1按照J(rèn)B4730.3-2005標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定，用K=2.0的斜探頭，采用一次反射法探測(cè)厚度16mm的對(duì)接焊縫，探頭移動(dòng)區(qū)寬度應(yīng)為多少毫米？答：P=2KT=64mm，探頭移動(dòng)區(qū)寬度L≥1.25P=80mm2用2.5P20Z（2.5MHz350mmCL=5900m/sΦ2的當(dāng)量缺陷，靈敏度應(yīng)如何調(diào)節(jié)？探傷中發(fā)現(xiàn)一缺陷，深200mm，波幅比基準(zhǔn)波高高出29dB，求此缺陷當(dāng)量？

解：xB=xf=350mm，λ=CL/2.5MHz=2.36mm用底波調(diào)節(jié)儀器靈敏度：平底孔對(duì)大平底△=20lg（π·Φ2·xB/2·λ·xf2）=42dB兩個(gè)不同聲程、不同直徑的平底孔回波聲壓比：Δ=40lgdB）29dB=40log（2·200/Φ2·350）得到Φ2≈4.65mm，即此缺陷當(dāng)量為Φ4.65mm平底孔3外徑25020K值為多少？

解：為保證發(fā)現(xiàn)內(nèi)外壁縱向缺陷，聲束應(yīng)滿足聲軸線與內(nèi)壁相切的條件，即折射角應(yīng)滿足βs=sin-1（r/RR=250/2=125，

r=125-20=105，代入：βs=sin-1（105/125）=57°，K=tgβs=tg57°=1.54實(shí)際應(yīng)用中可取K值為1.5的斜探頭4用2.5P20Z（2.5MHz，Φ20mm）直探頭檢驗(yàn)厚度為300mm具有上下平行表面的鑄鋼件，需要測(cè)定其雙聲程衰減系數(shù)，現(xiàn)已

經(jīng)測(cè)得[B1-B2]=32dB，設(shè)往返損失2dB，求雙聲程衰減系數(shù)解：α=（32-6-2）dB/300mm=0.08dB/mm5用深度1:1tgβ=1.5（K=1.5δ=100mm80mm入射中心至缺陷的水平距離（注：深度比例1:1）解：L=tgβ·h=1.5x80=120mm答：水平距離L=120mm是非判斷題（在每題后面括號(hào)內(nèi)打“X”號(hào)表示“錯(cuò)誤，畫(huà)“○”表示正確）1.最常用的超聲波換能器是利用壓電效應(yīng)發(fā)射和接收超聲波的()2.在超聲波檢測(cè)中最常用的超聲波換能器是利用磁致伸縮效應(yīng)發(fā)射和接收超聲波的()3.質(zhì)點(diǎn)完成五次全振動(dòng)所需要的時(shí)間，可以使超聲波在介質(zhì)中傳播五個(gè)波長(zhǎng)的距離()4.一般的超聲波檢測(cè)儀在有抑制作用的情況下其水平線性必然變壞()5.脈沖寬度大的儀器其頻帶寬度窄()6.超聲波檢測(cè)時(shí)要求聲束方向與缺陷取向垂直為宜()7.在同一固體介質(zhì)中,縱波的傳播速度為常數(shù)()8.在同一固體介質(zhì)中,橫波的傳播速度為常數(shù)()9.在同一固體介質(zhì)中,瑞利波的傳播速度為常數(shù)()10.在同一固體介質(zhì)中,蘭姆波的傳播速度為常數(shù)()11.超聲波表面波不能在液體表面?zhèn)鞑?)12.在同一固體材料中,傳播縱,橫波時(shí)的聲阻抗相同()13.聲阻抗是衡量介質(zhì)聲學(xué)特性的重要參數(shù),溫度變化對(duì)材料的聲阻抗也會(huì)有影響()14.第二介質(zhì)中折射的橫波其折射角達(dá)到90°時(shí)的縱波入射角為第二臨界角()15.第二介質(zhì)中折射的橫波其折射角達(dá)到90°時(shí)的縱波入射角為第一臨界角()16.第二介質(zhì)中折射的縱波其折射角達(dá)到90°時(shí)的縱波入射角為第二臨界角()17.第二介質(zhì)中折射的縱波其折射角達(dá)到90°時(shí)的縱波入射角為第一臨界角()18.頻率和晶片尺寸相同時(shí),橫波聲束指向性不如縱波好()19.在水中不僅能傳播縱波，也能傳播橫波()20.有機(jī)玻璃聲透鏡水浸聚焦探頭,透鏡曲率半徑越小,焦距越大()21.有機(jī)玻璃聲透鏡水浸聚焦探頭,透鏡曲率越大,焦距越大()22.吸收衰減和散射衰減是材料對(duì)超聲能量衰減的主要原因()23.鋼中聲速最大的波型是縱波()24.鋼中聲速最大的波型是橫波()25.鋼中聲速最大的波型是蘭姆波()26.超聲波在異質(zhì)界面上傾斜入射時(shí),同一波型的聲束反射角大于入射角()27.超聲波在異質(zhì)界面上傾斜入射時(shí),同一波型的聲束反射角小于入射角()28.商品化斜探頭標(biāo)志的角度是表示聲軸線在任何材料中的折射角()29.為了在試件中得到純橫波,斜探頭透聲斜楔材料的縱波速度應(yīng)大于被檢試件中的縱波速度()30.超聲波在介質(zhì)中的傳播速度與波長(zhǎng)成正比()31.超聲波在鋁中傳播時(shí),頻率越高,波長(zhǎng)越短()32.超聲波在鋼中傳播時(shí),頻率越低,波長(zhǎng)越短()33.超聲波在介質(zhì)中的傳播速度等于質(zhì)點(diǎn)的振動(dòng)速度()34.在同種固體材料中,縱,橫波聲速之比為常數(shù)()35.聲源面積不變時(shí),超聲波頻率越高,超聲場(chǎng)的近場(chǎng)長(zhǎng)度越長(zhǎng)()36.采用高頻探傷可以改善聲束指向性,提高探傷靈敏度()37.不同壓電晶體的頻率常數(shù)不一樣,因此用不同壓電晶體作成頻率相同的晶片時(shí)其厚度不同()38.蘭姆波波速在一定介質(zhì)中不為常數(shù)()39.超聲波探頭的近場(chǎng)長(zhǎng)度近似與晶片直徑成正比,與波長(zhǎng)成反比()40.超聲波探頭的半擴(kuò)散角近似與晶片直徑成正比,與波長(zhǎng)成反比()41.超聲波探頭發(fā)射超聲波利用的是逆壓電效應(yīng),而接收超聲波則是利用的正壓電效應(yīng)()42.超聲波束的指向角是在晶片直徑一定的情況下,頻率越低,指向角越小()43.超聲波束的指向角是在晶片直徑一定的情況下,頻率越高,指向角越小()44.聲透鏡的曲率越大,焦距越短()45.聲透鏡的曲率半徑越大,焦距越短()46.波長(zhǎng)越短,近場(chǎng)長(zhǎng)度越短,晶片直徑越大,近場(chǎng)長(zhǎng)度也越長(zhǎng)()47.不同的材料具有不同的材料彈性和密度，因此同一波型的超聲波在不同材料中的傳播速度不同()48.同一波型的超聲波在不同材料中的傳播速度是相同的()49.超聲波縱波在異質(zhì)界面上發(fā)生反射時(shí)，反射波中必定會(huì)分離出反射縱波與反射橫波()50.根據(jù)公式：C=λ·f可知聲速C與頻率f成正比，因此同一波型的超聲波在高頻時(shí)傳播速度比低頻時(shí)大()51.壓電晶片是利用“逆壓電效應(yīng)”的原理產(chǎn)生超聲波的()52.壓電晶片是利用“逆壓電效應(yīng)”的原理接收超聲波的()53.用聲透鏡對(duì)超聲波進(jìn)行聚焦時(shí)，必須選用中間厚度小、邊緣厚度大的凹形透鏡()54.物體在振動(dòng)過(guò)程中，當(dāng)外力的頻率等與振動(dòng)系統(tǒng)的固有頻率時(shí)，物體的振幅達(dá)到最大值，這種現(xiàn)象稱(chēng)為諧振()55.波在傳播過(guò)程中遇到遠(yuǎn)小于波長(zhǎng)的障礙物時(shí)，就會(huì)發(fā)生繞射現(xiàn)象()56.超聲波探頭所選用壓電晶片的頻率與晶片厚度有密切關(guān)系，頻率越高，晶片越薄()57.在鋼中測(cè)定為某個(gè)折射角的探頭，移放到鋁上測(cè)定，該折射角將會(huì)變小()58.在超聲波檢測(cè)中，窄脈沖的縱向分辨力高，這是因?yàn)樗拿}沖寬度大()59.一臺(tái)垂直線性理想的超聲波檢測(cè)儀，其回波高度與探頭接收到的聲壓成正比例()60.一臺(tái)垂直線性理想的超聲波檢測(cè)儀，其回波高度與探頭接收到的聲壓成反比()61.當(dāng)激勵(lì)探頭的脈沖幅度增大時(shí)，由探頭發(fā)射的超聲波強(qiáng)度也隨之增大()62.超聲波垂直入射至鋼/空氣界面時(shí)，反射波和入射波可在鋼中形成駐波。()63.超聲波以角入射到水/鋼界面時(shí)，反射角等于入射角。()64.水的溫度升高時(shí)，超聲波在水中的傳播速度則隨著降低()65.()66.超聲波垂直入射時(shí)，界面兩側(cè)介質(zhì)聲阻抗相差愈小，聲壓往復(fù)透過(guò)率愈高()67.當(dāng)鋼中的氣隙（如裂紋）厚度一定時(shí)，超聲波頻率增加，反射波高將隨之降低()68.第一介質(zhì)為液體介質(zhì)時(shí)，也會(huì)有第三臨界角()69.超聲場(chǎng)的近場(chǎng)長(zhǎng)度愈短，聲束指向性愈差()70.斜角探傷橫波聲場(chǎng)中假想聲源的面積小于實(shí)際聲源面積()71.圓晶片斜探頭的折射波束上緣折射角大于下緣折射角()72.如斜探頭入射點(diǎn)到晶片的距離不變，入射點(diǎn)到假想聲源的距離隨入射角的增加而增大()73.對(duì)空心圓柱體在內(nèi)圓周面上探傷時(shí)，曲底面回波聲壓比同聲程大平面高()74.A型顯示探傷儀，利用D.G.S曲線板是不能直觀顯示缺陷的當(dāng)量大小和缺陷深度的()75.B型顯示探傷儀能夠直觀顯示出缺陷深度()76.壓電晶片的壓電電壓常數(shù)大，則說(shuō)明該晶片發(fā)射性能好()77.壓電晶片的壓電應(yīng)變常數(shù)大，則說(shuō)明該晶片發(fā)射性能好()78.常用的有機(jī)玻璃楔探頭，當(dāng)溫度升高時(shí)，其折射角將變小()79.超聲波傾斜入射至缺陷表面時(shí)，缺陷反射波高隨入射角的增大而減小()80.一般情況下，對(duì)于薄層反射體，能得到最大反射信號(hào)的厚度為（λ/4的奇數(shù)倍）()81.一般情況下，對(duì)于薄層反射體，能得到最大反射信號(hào)的厚度為（λ/4的偶數(shù)倍）()82.一般情況下，對(duì)于薄層反射體，能得到最大反射信號(hào)的厚度為（λ/2的奇數(shù)倍）()83.一般情況下，對(duì)于薄層反射體，能得到最大反射信號(hào)的厚度為（λ/2的偶數(shù)倍）()84.為了在工件中得到純橫波，對(duì)于斜探頭的選擇除了合適的入射角以外還應(yīng)考慮（合適的斜楔材料的橫波聲速）()85.為了在工件中得到純橫波，對(duì)于斜探頭的選擇除了合適的入射角以外還應(yīng)考慮（合適的斜楔材料的縱波聲速）()86.為了在工件中得到純橫波，對(duì)于斜探頭的選擇除了合適的入射角以外還應(yīng)考慮（斜楔材料的縱波聲速小于工件中的橫波聲速）()87.為了在工件中得到純橫波，對(duì)于斜探頭的選擇除了合適的入射角以外還應(yīng)考慮（斜楔材料的縱波聲速大于工件中的橫波聲速）()88.為了給tgβ=2.5的斜探頭設(shè)計(jì)一個(gè)適合1:1現(xiàn)在第九格的半圓試塊，該試塊的半徑應(yīng)是32.3mm()89.超聲波檢測(cè)常用的壓電晶體石英、鈦酸鋇、鈮酸鋰、硫酸鋰中接收效率最高的是鈮酸鋰()90.超聲波檢測(cè)常用的壓電晶體石英、鈦酸鋇、鈮酸鋰、硫酸鋰中居里點(diǎn)最高的是硫酸鋰()91.在人工反射體平底孔、矩形槽、橫孔、V形槽中，回波聲壓只與聲程有關(guān)而與探頭折射角度無(wú)關(guān)的是矩形槽()92.在人工反射體平底孔、矩形槽、橫孔、U形槽中，回波聲壓只與聲程有關(guān)而與探頭折射角度無(wú)關(guān)的是平底孔()93.在人工反射體平底孔、矩形槽、橫孔、U形槽中，回波聲壓只與聲程有關(guān)而與探頭折射角度無(wú)關(guān)的是U形槽()94.在超聲波檢測(cè)中最常用的超聲波是有多種頻率成分的正弦波疊加而成的機(jī)械波()95.在超聲波檢測(cè)中最常用的超聲波是單純的正弦波()96.在超聲波檢測(cè)中最常用的超聲波是方波脈沖()97.在超聲波檢測(cè)中最常用的超聲波是駐波()98.用sinθ=1.22λ/D公式計(jì)算的指向角是聲束邊緣聲壓P1與聲束中心聲壓P0之比等于0%時(shí)的指向角()99.用sinθ=1.22λ/D公式計(jì)算的指向角是聲束邊緣聲壓P1與聲束中心聲壓P0之比等于50%時(shí)的指向角()100.用sinθ=1.22λ/D公式計(jì)算的指向角是聲束邊緣聲壓P1與聲束中心聲壓P0之比等于10%時(shí)的指向角()101.用sinθ=1.22λ/D公式計(jì)算的指向角是聲束邊緣聲壓P1與聲束中心聲壓P0之比等于1%時(shí)的指向角()102.水平線性、垂直線性、動(dòng)態(tài)范圍屬于超聲波檢測(cè)儀的性能指標(biāo)()103.頻帶寬度、探測(cè)深度、重復(fù)頻率屬于超聲波檢測(cè)儀的性能指標(biāo)()104.靈敏度余量、盲區(qū)、分辨力屬于超聲波檢測(cè)儀的性能指標(biāo)()105.入射點(diǎn)、近場(chǎng)長(zhǎng)度、擴(kuò)散角屬于超聲波檢測(cè)儀的性能指標(biāo)()106.“抑制差，動(dòng)態(tài)范圍減小()107.“抑制度一并下降()108.“抑制小()109.射角大于入射角()110.射角小于入射角()111.射角等于入射角()112.射角等于臨界角()113.超聲波檢測(cè)儀在單位時(shí)間內(nèi)產(chǎn)生的脈沖數(shù)量叫做脈沖的重復(fù)頻率()114.超聲波檢測(cè)儀在單位時(shí)間內(nèi)產(chǎn)生的脈沖數(shù)量叫做超聲波頻率()115.如果超聲波頻率增加而晶片直徑不變，則聲束擴(kuò)散角將減小()116.如果超聲波頻率增加而晶片直徑不變，則聲束擴(kuò)散角將增大()117.單位時(shí)間內(nèi)垂直通過(guò)單位面積上的聲能叫做聲強(qiáng)，它與聲壓的平方成正比()118.單位時(shí)間內(nèi)垂直通過(guò)單位面積上的聲能叫做聲壓，它與聲強(qiáng)的平方成正比()119.在傳播超聲波的介質(zhì)中，由于交變振動(dòng)產(chǎn)生的附加壓強(qiáng)叫做聲壓()120.在傳播超聲波的介質(zhì)中，由于交變振動(dòng)產(chǎn)生的附加壓強(qiáng)叫做聲強(qiáng)()121.超聲波儀器的B、C型顯示都屬于二維顯示（）122.超聲波儀器的B、C型顯示都屬于三維立體顯示（）123.在超聲波檢測(cè)中，如果使用的探測(cè)頻率過(guò)高，在探測(cè)粗晶材料時(shí)會(huì)出現(xiàn)林狀回波（）124.復(fù)合鋼板的超聲波檢測(cè)可以從基體金屬表面或覆蓋層表面進(jìn)行125.超聲波檢測(cè)使用的試塊，其功能不僅僅是用于調(diào)整檢測(cè)靈敏度和評(píng)估缺陷大小()126.管子超聲波探傷必須采用水浸聚焦方法是因?yàn)楣茏忧蕦?duì)超聲波有散射作用()127.焊縫的超聲波檢測(cè)都是采用斜探頭進(jìn)行探傷()128.焊縫的超聲波檢測(cè)不應(yīng)當(dāng)采用直探頭進(jìn)行探傷()129.鍛件的超聲波檢測(cè)都是采用直探頭進(jìn)行探傷()130.鍛件的超聲波檢測(cè)不采用組合雙晶探頭進(jìn)行探傷()131.鍛件的超聲波檢測(cè)不采用斜探頭進(jìn)行探傷()132.用直探頭在軸類(lèi)鍛件的圓周面上進(jìn)行周向掃查時(shí)，如果有游動(dòng)信號(hào)出現(xiàn)，就可以肯定存在徑向缺陷()133.用斜探頭對(duì)大口徑鋼管作接觸法周向探傷時(shí)，其跨距比同厚度平板小()134.為提高分辯力，在滿足探傷靈敏度要求情況下，儀器的發(fā)射強(qiáng)度應(yīng)盡量調(diào)得高一些()135.采用當(dāng)量法確定的缺陷尺寸一般大于缺陷的實(shí)際尺寸()136.只有當(dāng)工件中缺陷在各個(gè)方向的尺寸均大于聲束截面時(shí)，才需要采用測(cè)長(zhǎng)法確定缺陷長(zhǎng)度()137.Φ50x10mm的鋼管，如果采用常規(guī)斜探頭作接觸法周向橫波探傷將無(wú)法掃查到內(nèi)壁()138.焊縫斜角探傷中，裂紋等危害性缺陷的反射波幅一定會(huì)是很高的()139.鋼板探傷中，當(dāng)同時(shí)存在底波和傷波時(shí)，說(shuō)明鋼板中存在小于聲場(chǎng)直徑的缺陷()140.鋼板探傷中，當(dāng)同時(shí)存在底波和傷波時(shí)，說(shuō)明鋼板中存在大于聲場(chǎng)直徑的缺陷()141.直接用缺陷波高來(lái)比較缺陷的大小，儀器的“抑制”和“深度補(bǔ)償”旋鈕應(yīng)置于（關(guān)）的位置()142.直接用缺陷波高來(lái)比較缺陷的大小，儀器的“抑制”和“深度補(bǔ)償”旋鈕應(yīng)置于（開(kāi)）的位置()143.進(jìn)行探傷()144.網(wǎng)格掃查法是使用單斜探頭橫波檢測(cè)焊縫的基本掃查方法之一()145.鋸齒型掃查法是使用單斜探頭橫波檢測(cè)焊縫的基本掃查方法之一()146.轉(zhuǎn)角掃查法是使用單斜探頭橫波檢測(cè)焊縫的基本掃查方法之一()147.環(huán)繞掃查法是使用單斜探頭橫波檢測(cè)焊縫的基本掃查方法之一()148.斜平行掃查法是使用單斜探頭橫波檢測(cè)焊縫的基本掃查方法之一()149.螺旋轉(zhuǎn)圈掃查法是使用單斜探頭橫波檢測(cè)焊縫的基本掃查方法之一()150.網(wǎng)格掃查法是使用單直探頭縱波檢測(cè)鋼板的基本掃查方法之一()151.厚板上進(jìn)行焊縫探傷時(shí)，如焊縫磨平，為發(fā)現(xiàn)焊縫的橫向缺陷，應(yīng)在焊縫上，沿焊縫的縱向探測(cè)()152.厚板上進(jìn)行焊縫探傷時(shí)，如焊縫磨平，為發(fā)現(xiàn)焊縫的橫向缺陷，應(yīng)在焊縫上，沿焊縫的橫向探測(cè)()153.在探測(cè)工件側(cè)壁附近的缺陷時(shí)，探傷靈敏度往往會(huì)明顯偏低，這是因?yàn)橛袀?cè)壁干擾所致()154.在探測(cè)工件側(cè)壁附近的缺陷時(shí)，探傷靈敏度往往會(huì)明顯偏高，這是因?yàn)橛袀?cè)壁干擾所致()155.之間的疊加作用所致()156.當(dāng)用雙晶直探頭在平面上掃查時(shí)，應(yīng)盡可能使探頭隔聲片的放置方向與探頭掃查方向平行()157.當(dāng)用雙晶直探頭在平面上掃查時(shí)，應(yīng)盡可能使探頭隔聲片的放置方向與探頭掃查方向垂直()158.超聲波檢測(cè)儀上的衰減器精度用每12dB中的誤差表示()159.超聲波檢測(cè)儀上的衰減器精度用每2dB中的誤差表示()160.超聲波檢測(cè)儀上的衰減器精度用每6dB中的誤差表示()161.超聲波檢測(cè)儀上的衰減器精度用每10dB中的誤差表示()162.超聲波檢測(cè)時(shí)要求聲束方向與缺陷取向平行為宜()163.兩束頻率不同的聲波在同一介質(zhì)中傳播時(shí),如果相遇可產(chǎn)生干涉現(xiàn)象()164.兩束頻率相同但行進(jìn)方向相反的聲波的疊加可形成駐波()165.在同一固體介質(zhì)中,縱波,橫波,瑞利波,蘭姆波的傳播速度均為常數(shù)()166.表面波亦可在液體表面?zhèn)鞑?)167.波的疊加原理說(shuō)明,幾列波在同一介質(zhì)中傳播并相遇時(shí),都可以合成一個(gè)波繼續(xù)傳播()168.在同一固體材料中,傳播縱,橫波時(shí)的聲阻抗不一樣()169.聲阻抗是衡量介質(zhì)聲學(xué)特性的重要參數(shù),溫度變化對(duì)材料的聲阻抗無(wú)任何影響()170.第二介質(zhì)中折射的橫波平行于界面時(shí)的縱波入射角為第二臨界角()171.第二介質(zhì)中折射的橫波平行于界面時(shí)的縱波入射角為第一臨界角()172.以有機(jī)玻璃做聲透鏡的水浸聚焦探頭,其透鏡形狀為凹透鏡()173.以有機(jī)玻璃做聲透鏡的水浸聚焦探頭,其透鏡形狀為凸透鏡()174.超聲波探傷中所指的衰減僅為材料對(duì)聲波的吸收作用()175.材料對(duì)聲波的吸收作用僅是超聲波檢測(cè)中所說(shuō)的超聲波衰減原因之一()176.聲源輻射的超聲波的能量主要集中在主聲束內(nèi)()177.頻率和晶片尺寸相同時(shí),橫波聲束指向性比縱波好()178.由于水中只能傳播縱波,所以水浸探頭只能進(jìn)行縱波探傷()179.有機(jī)玻璃聲透鏡水浸聚焦探頭,透鏡曲率半徑越大,焦距越大()180.有機(jī)玻璃聲透鏡水浸聚焦探頭,透鏡曲率越小,焦距越大()181.材料對(duì)超聲能量衰減的主要原因是吸收衰減和散射衰減()182.鋼中聲速最大的波型是表面波()183.超聲波在異質(zhì)界面上傾斜入射時(shí),同一波型的聲束反射角等于入射角()184.商品化斜探頭標(biāo)志的角度是表示聲軸線在鋼中的折射角()185.超聲波探傷儀的脈沖重復(fù)頻率越高,探傷頻率也越高()186.完整地說(shuō)，超聲波的材質(zhì)衰減包括了吸收衰減,擴(kuò)散衰減和散射衰減()187.超聲波檢測(cè)法不能用于混凝土結(jié)構(gòu)材料()188.由于在遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)超聲束會(huì)擴(kuò)散,所以探傷應(yīng)盡可能在近場(chǎng)區(qū)進(jìn)行()189.為了在試件中得到純橫波,斜探頭透聲斜楔材料的縱波速度應(yīng)小于被檢試件中的縱波速度()190.超聲波的頻率取決于晶片振動(dòng)的頻率()191.超聲波在介質(zhì)中的傳播速度與頻率成正比()192.超聲波在鋁中傳播時(shí),頻率越低,波長(zhǎng)越短()193.超聲波在鋼中傳播時(shí),頻率越高,波長(zhǎng)越短()194.超聲波在介質(zhì)中的傳播速度即為質(zhì)點(diǎn)的振動(dòng)速度()195.在同種固體材料中,縱,橫波的聲速之比不是一個(gè)常數(shù)()196.超聲波傾斜入射到異質(zhì)界面時(shí),同種波型的反射角等于折射角()197.超聲波傾斜入射到異質(zhì)界面時(shí),同種波型的折射角總大于入射角()198.超聲波以10°入射至水/鋼界面時(shí),反射角等于10°()199.介質(zhì)的聲阻抗越大,引起的超聲波的衰減越嚴(yán)重()200.聲源面積不變時(shí),超聲波頻率越高,超聲場(chǎng)的近場(chǎng)長(zhǎng)度越短()201.面積相同,頻率相同的圓晶片和方晶片,超聲場(chǎng)的近場(chǎng)長(zhǎng)度一樣()202.面積相同,頻率相同的圓晶片和方晶片,其聲束指向角亦相同()203.低頻探傷是為了改善聲束指向性,提高探傷靈敏度()204.不同壓電晶體的頻率常數(shù)不一樣,因此用不同壓電晶體不能作成頻率相同的晶片()205.通用AVG曲線采用的距離是以近場(chǎng)長(zhǎng)度為單位的歸一化距離,適用于不同規(guī)格的探頭()206.在通用AVG曲線上，可直接查得缺陷的實(shí)際聲程和當(dāng)量尺寸。()207.蘭姆波和縱波及橫波一樣,其波速在一定介質(zhì)中為常數(shù)()208.在第二介質(zhì)中橫波折射角達(dá)到90°時(shí),在第一介質(zhì)中的縱波入射角度稱(chēng)為第二臨界角()209.在第二介質(zhì)中橫波折射角達(dá)到90°時(shí),在第一介質(zhì)中的縱波入射角度稱(chēng)為第一臨界角()210.超聲波探頭的近場(chǎng)長(zhǎng)度近似與晶片直徑成反比,與波長(zhǎng)成正比()211.超聲波探頭的半擴(kuò)散角近似與晶片直徑成反比,與波長(zhǎng)成正比()212.超聲波探頭發(fā)射超聲波利用的是正壓電效應(yīng),而接收超聲波則是利用的逆壓電效應(yīng)()213.超聲波束的指向角是在晶片直徑一定的情況下,頻率越低,指向角越大()214.超聲波束的指向角是在晶片直徑一定的情況下,頻率越高,指向角越大()215.選用越高的頻率探測(cè),有利于發(fā)現(xiàn)越大的缺陷,而且聲衰減越小()216.耦合劑的用途是消除探頭與工件之間的空氣以利于超聲波的透射()217.超聲波在介質(zhì)中傳播過(guò)程中由于聲束的不斷擴(kuò)散,造成單位面積通過(guò)的聲能減小,稱(chēng)為擴(kuò)散衰減()218.聲透鏡的曲率越大,焦距越大()219.聲透鏡的曲率半徑越大,焦距越大()220.在探傷中,處在近場(chǎng)區(qū)內(nèi)的缺陷,距離近的有時(shí)反而比距離遠(yuǎn)的反射回波低()221.波長(zhǎng)越短,近場(chǎng)長(zhǎng)度越長(zhǎng),晶片直徑越大,近場(chǎng)長(zhǎng)度也越長(zhǎng)()222.按照聲學(xué)的經(jīng)典理論,在超聲波探傷中容易探測(cè)出來(lái)的缺陷其尺寸一般不應(yīng)小于波長(zhǎng)的一半()223.粗糙的入射表面會(huì)導(dǎo)致缺陷回波高度降低()224.超聲波檢測(cè)儀是利用電致伸縮效應(yīng)發(fā)射超聲波的()225.最常用的超聲波換能器是利用電致伸縮效應(yīng)發(fā)射和接收超聲波的()226.同一探頭在鋼中的近場(chǎng)N要比在水中的近場(chǎng)短()227.質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)一次所需要的時(shí)間，可以使超聲波在介質(zhì)中傳播一個(gè)波長(zhǎng)的距離()228.一般的超聲波檢測(cè)儀在有抑制作用的情況下不會(huì)影響其垂直線性()229.脈沖窄的儀器其頻帶寬度大()230.按照經(jīng)典理論，超聲波檢測(cè)方法所能檢測(cè)的最小缺陷尺寸大約是（λ/2）()231.波型相同的超聲波傳播于不同的材料中，由于材料彈性和密度的不同，致使傳播速度發(fā)生差異()232.超聲波在異質(zhì)界面上發(fā)生反射時(shí)，反射波中必有變型波存在()233.從公式：C=λ·f可以看出,聲速C與頻率f成正比，因此高頻時(shí)的超聲波傳播速度比低頻時(shí)大()234.單位時(shí)間內(nèi)垂直通過(guò)單位面積的聲能量稱(chēng)為聲強(qiáng)()235.聲壓與質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)速度之比稱(chēng)為聲阻抗()236.瑞利波質(zhì)點(diǎn)運(yùn)動(dòng)的軌跡為橢圓形()237.壓電晶片是利用“正壓電效應(yīng)”的原理產(chǎn)生超聲波的()238.壓電晶片是利用“正壓電效應(yīng)”的原理接收超聲波的()239.天然的石英晶體屬于單晶體，而鈦酸鋇、鋯鈦酸鉛等壓電陶瓷屬于多晶體()240.已知鈦酸鋇的頻率常數(shù)Nt=2520Hz·m，則振動(dòng)頻率為2MHz的鈦酸鋇晶片厚度應(yīng)為0.5mm()241.當(dāng)激勵(lì)探頭的脈沖幅度增大時(shí)，探頭發(fā)射的超聲波必然強(qiáng)度變大、頻帶變窄()242.用硫酸鋰制作的壓電晶片，其接收效率比PZT5的鋯鈦酸鉛壓電晶片高()243.用硫酸鋰制作的壓電晶片，其接收效率比PZT5的鋯鈦酸鉛壓電晶片低()244.用聲透鏡對(duì)超聲波進(jìn)行聚焦時(shí)，必須選用中間厚度大、邊緣厚度小的凸形透鏡()245.超聲波垂直入射到薄層介質(zhì)時(shí)，薄層厚度為1/2波長(zhǎng)時(shí)，其反射最強(qiáng)()246.物體在振動(dòng)過(guò)程中，當(dāng)外力的頻率等與振動(dòng)系統(tǒng)的固有頻率時(shí)，物體的振幅達(dá)到最大值，這種現(xiàn)象稱(chēng)為共振()247.波在傳播過(guò)程中遇到遠(yuǎn)大于波長(zhǎng)的障礙物時(shí)，就會(huì)發(fā)生繞射現(xiàn)象()248.叫做固有周期()249.表面波是一種只能在固體表面?zhèn)鞑サ牟?，在表面波所到范圍?nèi)質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)軌跡為橢圓形()250.超聲波探頭所選用壓電晶片的頻率與晶片厚度有密切關(guān)系，頻率越高，晶片越厚()251.在鋼中測(cè)定為某個(gè)折射角的探頭，移放到鋁上測(cè)定，該折射角將會(huì)變大()252.在超聲波檢測(cè)中，窄脈沖的縱向分辨力高，這是因?yàn)樗拿}沖寬度小()253.一臺(tái)垂直線性理想的超聲波檢測(cè)儀，其回波高度與探頭接收到的聲壓成正比()254.當(dāng)激勵(lì)探頭的脈沖幅度增大時(shí)，由探頭發(fā)射的超聲波強(qiáng)度也隨之增大，而頻帶范圍變小()255.相同或相近()256.超聲波在介質(zhì)中傳播時(shí)，聲能的傳播是由各質(zhì)點(diǎn)的位移連續(xù)變化來(lái)傳遞的。()257.薄板中傳播非對(duì)稱(chēng)型蘭姆波時(shí)，上下表面質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)相位相同。()258.水的溫度升高時(shí)，超聲波在水中的傳播速度亦隨著增加。()259.()260.介質(zhì)中形成駐波時(shí)，相鄰兩波節(jié)或波腹之間的距離是一個(gè)波長(zhǎng)。()261.超聲波垂直入射到平界面時(shí)，聲強(qiáng)反射率與聲強(qiáng)透過(guò)率之和等于1。()262.超聲波垂直入射到平界面時(shí)，反射波與透過(guò)波聲壓之和等于入射波電壓。()263.超聲波垂直入射到異質(zhì)界面時(shí)，界面一側(cè)的總聲壓等于另一側(cè)的總聲壓。()264.超聲波垂直入射到的界面時(shí)，聲壓透過(guò)率大于1，說(shuō)明界面有增強(qiáng)聲能的作用。()265.超聲波垂直入射到異質(zhì)界面時(shí)，聲壓往復(fù)透過(guò)率與聲強(qiáng)透過(guò)率在數(shù)值上相等。()266.超聲波垂直入射時(shí)，界面兩側(cè)介質(zhì)聲阻抗相差愈小，聲壓往復(fù)透過(guò)率愈低。()267.當(dāng)鋼中的氣隙（如裂紋）厚度一定時(shí)，超聲波頻率增加，反射波高也隨著增加。()268.有機(jī)玻璃/鋁界面的第一臨界角大于有機(jī)玻璃/鋼界面第一臨界角，則前者的第二臨界角也一定大于后者。()269.只有當(dāng)?shù)谝唤橘|(zhì)為固體介質(zhì)時(shí)，才會(huì)有第三臨界角。()270.橫波斜入射至鋼/空氣界面時(shí)，入射角在左右時(shí)，橫波聲壓反射率最低。()271.超聲波縱波斜入射到端角時(shí)，端角反射率總是很高的。()272.介質(zhì)的聲阻抗愈大，引起的超聲波的衰減愈嚴(yán)重()273.聚焦探頭輻射的聲波，在材質(zhì)中的衰減小()274.超聲波平面波不存在材質(zhì)衰減()275.超聲波聲場(chǎng)的近場(chǎng)長(zhǎng)度愈短，聲束指向性愈好()276.超聲波聲場(chǎng)中不同橫截面上的聲壓分布規(guī)律是一致的()277.在超聲波聲場(chǎng)的未擴(kuò)散區(qū)，可將聲源輻射的超聲波看成平面波，平均聲壓不變()278.斜角探傷橫波聲場(chǎng)中假想聲源的面積大于實(shí)際聲源面積()279.圓晶片斜探頭的折射波束上緣折射角小于下緣折射角()280.如斜探頭入射點(diǎn)到晶片的距離不變，入射點(diǎn)到假想聲源的距離隨入射角的增加而減小()281.理想的鏡面大平面，對(duì)聲波產(chǎn)生全反射，隨傳播距離的增加其回波聲壓不變()282.球孔的回波聲壓隨距離的變化規(guī)律與平底孔相同()283.同聲程理想大平面與平底孔回波聲壓的比值隨頻率的提高而減小()284.在軸類(lèi)工件外圓周面上探傷時(shí)，曲底面回波聲壓與同聲程理想大平面相同()285.對(duì)空心圓柱體在內(nèi)圓周面上探傷時(shí)，曲底面回波聲壓比同聲程大平面低()286.A型顯示探傷儀，利用D.G.S曲線板可直觀顯示缺陷的當(dāng)量大小和缺陷深度()287.B型顯示探傷儀不能直觀顯示出缺陷深度()288.不同壓電晶體材料中聲速不一樣，因此不同壓電材料的頻率常數(shù)也不相同()289.不同壓電晶休材料中聲速不一樣，因此用不同壓電晶體不能作成頻率相同的晶片()290.壓電晶片的壓電應(yīng)變常數(shù)大，則說(shuō)明該晶片接收性能好()291.壓電晶片的壓電電壓常數(shù)大，則說(shuō)明該晶片接收性能好()292.當(dāng)試件內(nèi)存在較大的內(nèi)應(yīng)力時(shí)，將使超聲波的傳播速度及方向發(fā)生變化()293.常用的有機(jī)玻璃楔探頭，當(dāng)溫度升高時(shí)，其折射角將增大()294.超聲波傾斜入射至缺陷表面時(shí)，缺陷反射波高隨入射角的增大而增高()295.超聲波聲速與介質(zhì)彈性系數(shù)、密度之間的關(guān)系式是：CL=[(E/ρ)(1-σ)/(1+σ)(1-2σ)]1/2()296.超聲波聲速與介質(zhì)彈性系數(shù)、密度之間的關(guān)系式是：CL=(E/ρ)1/2()297.一般情況下，對(duì)于薄層反射體，若其厚度為（λ/4的奇數(shù)倍）可得到最大反射信號(hào)()298.一般情況下，對(duì)于薄層反射體，若其厚度為（一個(gè)λ的奇數(shù)倍）可得到最大反射信號(hào)()299.一般情況下，對(duì)于薄層反射體，若其厚度為（λ/2的整數(shù)倍）可得到最大反射信號(hào)()300.一般情況下，對(duì)于薄層反射體，若其厚度為（λ/4的偶數(shù)倍）可得到最大反射信號(hào)()301.一般情況下，對(duì)于薄層反射體，若其厚度為（λ/2的奇數(shù)倍）可得到最大反射信號(hào)()302.一般情況下，對(duì)于薄層反射體，若其厚度為（λ/2的偶數(shù)倍）可得到最大反射信號(hào)()303.一個(gè)2.25MHz，在水中近場(chǎng)長(zhǎng)度等于58.6mm的直探頭，其半擴(kuò)散角度大約是（3.75°）()304.把鋼中橫波折射角為50°的斜探頭移至橫波聲速為2.17x103m/s的材料上，則折射角約為（31°）()305.一個(gè)2.25MHz，在水中近場(chǎng)長(zhǎng)度等于58.6mm的直探頭，其半擴(kuò)散角度大約是（7.5°）()306.把鋼中橫波折射角為50°的斜探頭移至橫波聲速為2.17x103m/s的材料上，則折射角約為（53°）()307.當(dāng)一平行聲束通過(guò)液體在軸的圓柱面垂直透入后，該聲束將（被聚焦）()308.當(dāng)一平行聲束通過(guò)液體在軸的圓柱面垂直透入后，該聲束將（被發(fā)散）()309.當(dāng)一平行聲束通過(guò)液體在軸的圓柱面垂直透入后，該聲束將（仍然保持平行聲束狀態(tài)）()310.為了給tgβ=2.5的斜探頭設(shè)計(jì)一個(gè)適合1:1水平定位法，并使得第一次回波前沿出現(xiàn)在第三格，第二次回波前沿

出現(xiàn)在第九格的半圓試塊，該試塊的半徑應(yīng)是42.3mm()311.超聲波檢測(cè)常用的壓電晶體石英、鈦酸鋇、鈮酸鋰、硫酸鋰中接收效率最高的是硫酸鋰()312.超聲波檢測(cè)常用的壓電晶體石英、鈦酸鋇、鈮酸鋰、硫酸鋰中居里點(diǎn)最高的是鈮酸鋰()313.在人工反射體平底孔、矩形槽、橫孔、V形槽中，回波聲壓只與聲程有關(guān)而與探頭折射角度無(wú)關(guān)的是橫孔()314.在人工反射體平底孔、矩形槽、橫孔、V形槽中，回波聲壓只與聲程有關(guān)而與探頭折射角度無(wú)關(guān)的是V形槽()315.聲壓的絕對(duì)值P與介質(zhì)密度ρ、聲速C、質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)速度V之間的關(guān)系是：P∝ρCV()316.聲壓的絕對(duì)值P與介質(zhì)密度ρ、聲速C、質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)速度V之間的關(guān)系是：P∝ρ2CV()317.聲壓的絕對(duì)值P與介質(zhì)密度ρ、聲速C、質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)速度V之間的關(guān)系是：P∝ρC2V()318.聲壓的絕對(duì)值P與介質(zhì)密度ρ、聲速C、質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)速度V之間的關(guān)系是：P∝ρ2CV2()319.超聲波從聲阻抗Za的介質(zhì)透過(guò)聲阻抗Zb的介質(zhì)進(jìn)入聲阻抗Zc的介質(zhì)，若Zb=(Za·Zc)1/2，則透聲效果較佳()320.超聲波從聲阻抗Za的介質(zhì)透過(guò)聲阻抗Zb的介質(zhì)進(jìn)入聲阻抗Zc的介質(zhì)，若Za=Zc，則透聲效果較佳()321.超聲波從聲阻抗Za的介質(zhì)透過(guò)聲阻抗Zb的介質(zhì)進(jìn)入聲阻抗Zc的介質(zhì)，若Zc=Za·Zb，則透聲效果較佳()322.超聲波從聲阻抗Za的介質(zhì)透過(guò)聲阻抗Zb的介質(zhì)進(jìn)入聲阻抗Zc的介質(zhì)，若Za=Zb·Zc，則透聲效果較佳()323.不銹鋼比碳鋼的聲阻抗大1%，由這兩種鋼材組成的異質(zhì)界面上，聲壓反射率為0.5%()324.不銹鋼比碳鋼的聲阻抗大1%，由這兩種鋼材組成的異質(zhì)界面上，聲壓反射率為10%()325.不銹鋼比碳鋼的聲阻抗大1%，由這兩種鋼材組成的異質(zhì)界面上，聲壓反射率為5%()326.不銹鋼比碳鋼的聲阻抗大1%，由這兩種鋼材組成的異質(zhì)界面上，聲壓反射率為1%()327.靈敏度余量、盲區(qū)、分辨力是用來(lái)表示超聲波檢測(cè)儀與探頭組合性能的指標(biāo)()328.水平線性、垂直線性、動(dòng)態(tài)范圍是用來(lái)表示超聲波檢測(cè)儀與探頭組合性能的指標(biāo)()329.頻帶寬度、探測(cè)深度、重復(fù)頻率是用來(lái)表示超聲波檢測(cè)儀與探頭組合性能的指標(biāo)()330.入射點(diǎn)、近場(chǎng)長(zhǎng)度、擴(kuò)散角是用來(lái)表示超聲波檢測(cè)儀與探頭組合性能的指標(biāo)()331.頻帶寬度、探測(cè)深度、重復(fù)頻率屬于探頭的性能指標(biāo)()332.入射點(diǎn)、近場(chǎng)長(zhǎng)度、擴(kuò)散角、頻率屬于探頭的性能指標(biāo)()333.設(shè)波長(zhǎng)為λ，橫孔到聲源的距離為S0，使回波聲壓與距離平方成反比的橫孔長(zhǎng)度應(yīng)小于4(λ·S0)1/2()334.設(shè)波長(zhǎng)為λ，橫孔到聲源的距離為S0，使回波聲壓與距離平方成反比的橫孔長(zhǎng)度應(yīng)小于2(λ·S0)1/2()335.設(shè)波長(zhǎng)為λ，橫孔到聲源的距離為S0，使回波聲壓與距離平方成反比的橫孔長(zhǎng)度應(yīng)小于0.9(λ·S0)1/2()336.設(shè)波長(zhǎng)為λ，橫孔到聲源的距離為S0，使回波聲壓與距離平方成反比的橫孔長(zhǎng)度應(yīng)小于0.8(λ·S0)1/2()337.超聲波在介質(zhì)中傳播時(shí)，當(dāng)遇到尺寸與波長(zhǎng)相近似的障礙物時(shí)，將產(chǎn)生繞射現(xiàn)象()338.兩列頻率相同、相位相同或相差一個(gè)固定值的超聲波束在同一介質(zhì)中傳播時(shí)，就有可能產(chǎn)生波的干涉現(xiàn)象()339.在一般情況下，聲速?zèng)Q定于介質(zhì)的種類(lèi)和波型，但蘭姆波的波速還決定于頻率與工件厚度的乘積()340.在活塞振子的聲場(chǎng)中，就波陣面而言，近聲源處可看作是平面波，離聲源較遠(yuǎn)處可看作是球面波()341.超聲波的衰減實(shí)質(zhì)就是阻尼振動(dòng)的一種物理現(xiàn)象()342.所謂振動(dòng)，就是質(zhì)點(diǎn)在其平衡位置上所作的往返運(yùn)動(dòng)()343.振動(dòng)在介質(zhì)中的傳播稱(chēng)為波，它是傳遞能量的一種形式()344.超聲波在介質(zhì)中的衰減類(lèi)型可以大致地分為擴(kuò)散、吸收、散亂三種()345.諧振動(dòng)是質(zhì)點(diǎn)的振動(dòng)位移隨時(shí)間的變化，滿足正弦函數(shù)關(guān)系的一種運(yùn)動(dòng)()346.球面波的聲壓與距離成反比()347.球面波的聲壓與距離的平方根成反比()348.柱面波的聲壓與距離成反比()349.柱面波的聲壓與距離的平方根成反比()350.已知CL鋼=5900米/CS鋼=3230米/CL有機(jī)玻璃=2700米/CS有機(jī)玻璃=1460米//鋼

界面上出現(xiàn)一列速度近似為2907米/秒的波，則該波就是瑞利波()351.已知CL鋼=5900米/CS鋼=3230米/CL有機(jī)玻璃=2700米/CS有機(jī)玻璃=1460米//鋼

界面上出現(xiàn)一列速度近似為2907米/秒的波，則該波就是蘭姆波()352.數(shù)倍時(shí)，聲壓反射率最大()353.數(shù)倍時(shí)，聲壓反射率最大()354.數(shù)倍時(shí)，聲壓透過(guò)率最大()355.數(shù)倍時(shí)，聲壓透過(guò)率最大()356.簡(jiǎn)諧振動(dòng)方程式y(tǒng)=Asin(ωt+Ψ)中,y為振動(dòng)位移，A表示最大振幅，Ψ表示初位相()357.()358.孔徑相同的平底孔與長(zhǎng)橫孔在六倍近場(chǎng)長(zhǎng)度以外時(shí)，其反射波最高的是長(zhǎng)橫孔()359.孔徑相同的平底孔與長(zhǎng)橫孔在六倍近場(chǎng)長(zhǎng)度以外時(shí)，其反射波最高的是平底孔()360.兩個(gè)回波高度比為0.1，則它們的分貝差為（-20）dB()361.兩個(gè)回波高度相差12dB，則對(duì)應(yīng)的回波高度比為4:1()362.確定探頭掃查速度時(shí)不必考慮儀器的脈沖重復(fù)頻率()363.特別是在自動(dòng)化檢測(cè)中，確定探頭掃查速度時(shí)必須考慮儀器的脈沖重復(fù)頻率()364.任何探頭電纜,只要是高頻的,在任何情況下均可互換使用()365.調(diào)節(jié)探傷儀"深度細(xì)調(diào)"旋鈕時(shí),可連續(xù)改變掃描線掃描速度()366.調(diào)節(jié)探傷儀"抑制"旋鈕時(shí),抑制越大,儀器動(dòng)態(tài)范圍越大()367.調(diào)節(jié)探傷儀"抑制"旋鈕時(shí),抑制越大,儀器動(dòng)態(tài)范圍越小()368.調(diào)節(jié)探傷儀的"水平"旋鈕,將會(huì)改變儀器的水平線性()369.測(cè)定儀器的"動(dòng)態(tài)范圍"時(shí),應(yīng)將儀器的"抑制","深度補(bǔ)償"旋鈕置于"關(guān)"的位置()370.超聲波探傷儀開(kāi)機(jī)通電后立即可以開(kāi)始正常檢測(cè)工作()371.超聲波探傷儀開(kāi)機(jī)通電后應(yīng)經(jīng)過(guò)一段時(shí)間預(yù)熱后才可以開(kāi)始正常檢測(cè)工作()372.超聲波檢測(cè)時(shí)只需要用一次回波就能調(diào)節(jié)好時(shí)基線()373.垂直入射縱波法檢測(cè)時(shí),找到缺陷的最大回波,則缺陷正好位于直探頭中心的正下方()374.絕對(duì)靈敏度法測(cè)長(zhǎng)適用于形狀不規(guī)則的長(zhǎng)條形缺陷測(cè)長(zhǎng)()375.半波高度(6dB)法主要適用于形狀較規(guī)則的長(zhǎng)條形缺陷測(cè)長(zhǎng)()376.半波高度(6dB)法可以適用于任何類(lèi)型的長(zhǎng)條形缺陷測(cè)長(zhǎng)()377.超聲波檢測(cè)作業(yè)中,完成時(shí)基掃描線校正(俗稱(chēng)"定標(biāo)")後,始波前沿應(yīng)落在水平刻度零點(diǎn)的左邊()378.超聲波檢測(cè)作業(yè)中,完成時(shí)基掃描線校正(俗稱(chēng)"定標(biāo)")後,始波前沿應(yīng)落在水平刻度零點(diǎn)的右邊()379.超聲波檢測(cè)作業(yè)中,完成時(shí)基掃描線校正(俗稱(chēng)"定標(biāo)")後,始波前沿應(yīng)恰好落在水平刻度零點(diǎn)上()380.正確調(diào)整好時(shí)基線后,始波前沿應(yīng)對(duì)準(zhǔn)水平刻度的零位()381.超聲波檢測(cè)中評(píng)定缺陷為Φ2mm平底孔當(dāng)量,即意味著該缺陷的實(shí)際面積就是Φ2mm的園面積大小()382.超聲波檢測(cè)中評(píng)定缺陷為Φ3mm平底孔當(dāng)量,即意味著該缺陷的實(shí)際面積就是Φ3mm的園面積大小()383.超聲波檢測(cè)中評(píng)定缺陷為Φ2mm平底孔當(dāng)量,即意味著該缺陷的反射回波與Φ2mm園面積的反射回波大小相當(dāng)()384.超聲波檢測(cè)中評(píng)定缺陷為Φ6mm平底孔當(dāng)量,即意味著該缺陷的反射回波與Φ6mm園面積的反射回波大小相當(dāng)()385.超聲波檢測(cè)中評(píng)定缺陷為Φ2mm橫通孔當(dāng)量,即意味著該缺陷的反射回波與相同聲束截面下的Φ2mm橫通孔表面積

的反射回波大小相當(dāng)()386.超聲波檢測(cè)中評(píng)定缺陷為Φ2mm橫通孔當(dāng)量,即意味著該缺陷的實(shí)際大小就是等同于Φ2mm橫通孔表面積大小()387.超聲波檢測(cè)中評(píng)定缺陷為Φ2mm橫通孔當(dāng)量,即意味著該缺陷的實(shí)際截面形狀等同于Φ2mm橫通孔的橫截面形狀()388.采用當(dāng)量法確定的缺陷尺寸一般小于缺陷的實(shí)際尺寸()389.采用當(dāng)量法確定的缺陷尺寸一般大于缺陷的實(shí)際尺寸()390.超聲波檢測(cè)中,幻像波的產(chǎn)生原因是在衰減小的材料中脈沖重復(fù)頻率選用過(guò)高()391.超聲波檢測(cè)中,幻像波的產(chǎn)生原因是在衰減小的材料中脈沖重復(fù)頻率選用過(guò)低()392.超聲波檢測(cè)中,幻像波的產(chǎn)生原因是在衰減小的材料中采用較高的探測(cè)頻率()393.超聲波檢測(cè)中,幻像波的產(chǎn)生原因是在衰減小的材料中采用較低的探測(cè)頻率()394.在鋼鍛件探傷中,脈沖重復(fù)頻率選擇太高是產(chǎn)生幻像波的重要原因之一()395.超聲波檢測(cè)使用的缺陷長(zhǎng)度測(cè)定方法中，以絕對(duì)靈敏度法的靈敏度最高，因此測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度偏大()396.絕對(duì)靈敏度法測(cè)量缺陷指示長(zhǎng)度時(shí),測(cè)長(zhǎng)靈敏度高,測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度大()397.在役部件超聲波檢測(cè)主要是探測(cè)疲勞裂紋和應(yīng)力腐蝕裂紋()398.在對(duì)鑄鋼件進(jìn)行超聲波檢測(cè)時(shí),回波低的未必是小缺陷()399.檢測(cè)板厚較大的焊縫,常采用較小折射角的探頭,這是為了縮短聲程,減少聲路上的聲能衰減,提高探測(cè)靈敏度()400.對(duì)復(fù)合板進(jìn)行超聲波檢測(cè)時(shí),如果復(fù)合界面有分層時(shí)其界面回波會(huì)降低()401.對(duì)復(fù)合板進(jìn)行超聲波檢測(cè)時(shí),如果復(fù)合界面有分層時(shí)其界面回波會(huì)增高()402.鋼板探傷中若無(wú)底波出現(xiàn)則說(shuō)明鋼板中無(wú)缺陷()404.對(duì)厚度與波長(zhǎng)相當(dāng)?shù)谋“逯饕捎脵M波法檢測(cè)()404.對(duì)厚度與波長(zhǎng)相當(dāng)?shù)谋“逯饕捎每v波法檢測(cè)()405.對(duì)厚度與波長(zhǎng)相當(dāng)?shù)谋“逯饕捎萌鹄ǚz測(cè)()406.對(duì)厚度與波長(zhǎng)相當(dāng)?shù)谋“逯饕捎锰m姆波法檢測(cè)()407.厚板與中厚板超聲波檢測(cè)主要采用橫波法()408.厚板與中厚板超聲波檢測(cè)主要采用縱波法()409.厚板與中厚板超聲波檢測(cè)主要采用蘭姆波法()410.厚板與中厚板超聲波檢測(cè)主要采用表面波法()411.厚板與中厚板超聲波檢測(cè)主要采用爬波法()412.串列式雙探頭法探傷實(shí)質(zhì)即為一發(fā)一收的穿透法()413.焊縫探傷所用斜探頭,當(dāng)楔塊底面后部磨損較大時(shí),其折射角將變小()414.焊縫探傷所用斜探頭,當(dāng)楔塊底面前部磨損較大時(shí),其折射角將變小()415.對(duì)焊縫中與聲束成一定角度的缺陷,探測(cè)頻率較高時(shí),缺陷回波不易被探頭接收()416.焊縫探傷中,依據(jù)缺陷的靜態(tài)波形可準(zhǔn)確地判斷缺陷性質(zhì)()417.在超聲波檢測(cè)中,依據(jù)缺陷回波的靜態(tài)波形就已經(jīng)可以準(zhǔn)確判斷缺陷的性質(zhì)()418.在超聲波檢測(cè)中,僅僅依據(jù)缺陷回波的靜態(tài)波形還不可以準(zhǔn)確判斷缺陷的性質(zhì)()419.管材和棒材水浸橫波檢測(cè)時(shí),通常利用調(diào)整偏心距的方法來(lái)調(diào)節(jié)入射角()420.管材水浸法周面弦向入射橫波探傷時(shí),入射角的選擇通常是利用調(diào)整偏心距來(lái)實(shí)現(xiàn)的()421.管材水浸法周面弦向入射橫波探傷時(shí),入射角的選擇通常是利用調(diào)整水距來(lái)實(shí)現(xiàn)的()422.小直徑薄壁無(wú)縫鋼管用水浸點(diǎn)聚焦探頭作橫波檢測(cè)時(shí),折射角的調(diào)整是通過(guò)調(diào)節(jié)水層距離實(shí)現(xiàn)的()423.管子壁厚t與外徑D之比(t/D)＞0.2,在用純橫波檢查縱向缺陷時(shí),中心聲束會(huì)達(dá)不到管子的內(nèi)壁()424.管子壁厚t與外徑D之比(t/D)＜0.2,在用純橫波檢查縱向缺陷時(shí),中心聲束會(huì)達(dá)不到管子的內(nèi)壁()425.管材純橫波探傷,要保證聲束能探查到管內(nèi)壁的條件是管壁厚與管外徑之比大于0.2()426.管材純橫波探傷,要保證聲束能探查到管內(nèi)壁的條件是管壁厚與管外徑之比小于0.2()427.小口徑鋼管采用水浸聚焦探頭檢驗(yàn)時(shí),屬于縱波垂直法探傷()428.小口徑鋼管采用水浸聚焦探頭檢驗(yàn)時(shí),屬于橫波探傷()429.采用斜探頭對(duì)鋼管作周向接觸法探傷時(shí),鋼管內(nèi)外徑之比越大,入射角允許范圍越大()430.采用斜探頭對(duì)鋼管作周向接觸法探傷時(shí),鋼管內(nèi)外徑之比越大,入射角允許范圍越小()431.采用斜探頭對(duì)鋼管作周向接觸法探傷時(shí),鋼管內(nèi)外徑之比越小,入射角允許范圍越小()432.采用斜探頭對(duì)鋼管作周向接觸法探傷時(shí),鋼管內(nèi)外徑之比越小,入射角允許范圍越大()433.鋼管作手工接觸法周向探傷時(shí),應(yīng)從順,逆時(shí)針兩個(gè)方向各探傷一次()434.鋼管作手工接觸法周向探傷時(shí),只需從一個(gè)方向探傷一次即可()435.鋼管水浸探傷時(shí),水中加入適量活性劑是為了調(diào)節(jié)水的聲阻抗,改善透聲性()436.鋼管水浸探傷時(shí),水中加入適量活性劑是為了改善水的潤(rùn)濕性,減少附著在探頭和鋼管表面的氣泡()437.鋼管水浸探傷時(shí),如鋼管中無(wú)缺陷,熒光屏上只有始波和界面波()438.管材超聲波檢測(cè)主要采用橫波法()439.管材超聲波檢測(cè)主要采用縱波法()440.管材超聲波檢測(cè)主要采用蘭姆波法()441.管材超聲波檢測(cè)主要采用瑞利波法()442.鍛件水浸法縱波垂直入射探傷時(shí),對(duì)水層距離的要求是使第二次界面回波落在第一次底波之后,并且盡可能利用距離-振幅曲線上的高聲壓區(qū)()443.在鍛件的超聲波探傷中,有關(guān)缺陷的定性定量問(wèn)題已經(jīng)解決()444.軸類(lèi)鍛件,一般來(lái)說(shuō)以縱波直探頭作徑向探測(cè)效果最佳()445.軸類(lèi)鍛件,一般來(lái)說(shuō)以斜探頭作周面弦向探測(cè)效果最佳()446.軸類(lèi)鍛件,一般來(lái)說(shuō)以斜探頭作周面軸向探測(cè)效果最佳()447.使用斜探頭對(duì)軸類(lèi)鍛件作圓柱面軸向探測(cè)時(shí),探頭應(yīng)作正反兩個(gè)方向掃查()448.使用斜探頭對(duì)軸類(lèi)鍛件作圓柱面軸向探測(cè)時(shí),只需作一個(gè)方向掃查即可()449.對(duì)餅形鍛件采用直探頭在端面平面上作軸向探測(cè)是最常用的探傷方法()450.對(duì)餅形鍛件采用直探頭在側(cè)面圓周面上作徑向探測(cè)是最常用的探傷方法()451.對(duì)餅形鍛件采用斜探頭在端面平面上作斜入射探測(cè)是最常用的探傷方法()452.鍛件探傷中,如底波明顯下降或消失而不是聲接觸不良引起時(shí),說(shuō)明鍛件中可能存在較嚴(yán)重的缺陷()453.超聲波檢測(cè)時(shí)要求聲束方向與缺陷取向平行為宜()454.超聲波檢測(cè)時(shí)要求聲束方向與缺陷取向垂直為宜()455.所謂超聲波的材質(zhì)衰減包括了吸收衰減,擴(kuò)散衰減和散射衰減()456.粗糙的入射表面會(huì)導(dǎo)致缺陷回波高度降低()457.用修磨斜探頭底面的方法可以改變探頭的入射角,若探頭底面前部修磨量大,則探頭的入射角增大()458.用修磨斜探頭底面的方法可以改變探頭的入射角,若探頭底面后部修磨量大,則探頭的入射角增大()459.斜探頭檢測(cè)焊縫時(shí),按照一定比例調(diào)整探傷儀掃描線的目的是為了方便確定缺陷位置()460.斜探頭檢測(cè)焊縫時(shí),按照一定比例調(diào)整探傷儀掃描線的目的是為了方便確定缺陷大小()461.盲區(qū)與始波寬度是同一概念()462.斜探頭楔塊前部和上部開(kāi)有消聲槽的目的是使聲波反射回晶片處,減少聲能損失()463.水浸法垂直入射縱波檢測(cè)時(shí),水距的選擇在任何情況下只要保證第二次界面回波落在第一次底面回波之后就可以了()464.工件表面越粗糙,使用的超聲檢測(cè)頻率應(yīng)當(dāng)越高,耦合劑粘度應(yīng)當(dāng)越稀()465.工件表面越粗糙,使用的超聲檢測(cè)頻率應(yīng)當(dāng)越低,耦合劑粘度應(yīng)當(dāng)越稠()466.雙晶直探頭傾角越大,交點(diǎn)離探測(cè)面距離越遠(yuǎn),覆蓋區(qū)越大()467.雙晶直探頭傾角越小,交點(diǎn)離探測(cè)面距離越遠(yuǎn),覆蓋區(qū)越大()468.在通用AVG曲線上,可直接查得缺陷的實(shí)際聲程和當(dāng)量尺寸()469.工件表面比較粗糙時(shí),為防止探頭磨損和保護(hù)晶片,宜選用硬保護(hù)膜()470.中心切槽的半圓試塊,其反射特點(diǎn)是多次回波總是等距離出現(xiàn)()471.用接觸法在試件中產(chǎn)生橫波的方法,唯有利用透聲斜楔使縱波傾斜入射到界面上()472.曲面工件探傷時(shí),探傷面曲率半徑越大,耦合效果越好()473.曲面工件探傷時(shí),探傷面曲率半徑越小,耦合效果越好()474.曲面工件探傷時(shí),探傷面曲率越大,耦合效果越好()475.曲面工件探傷時(shí),探傷面曲率越小,耦合效果越好()476.只有當(dāng)工件中缺陷在各個(gè)方向的尺寸均大于聲束截面時(shí),才能采用測(cè)長(zhǎng)法確定缺陷長(zhǎng)度()477.當(dāng)工件中缺陷在各個(gè)方向的尺寸均小于聲束截面時(shí),無(wú)法采用測(cè)長(zhǎng)法確定缺陷長(zhǎng)度()478.對(duì)于厚度大于3N(N=D2/4λ)的鍛件,采用超聲波檢測(cè)法測(cè)定材質(zhì)衰減系數(shù)時(shí)的基本公式是:X=[20lg(B1/B2)]/2S

(注:式中N-近場(chǎng)長(zhǎng)度,D-探頭晶片直徑,λ-超聲波在材料中的波長(zhǎng),B1和B2,S-工件厚度)()479.對(duì)鋼板用縱波直探頭探傷時(shí)，若熒光屏上同時(shí)存在底波和傷波,說(shuō)明鋼板中存在小于聲束直徑的缺陷()480.對(duì)鋼板用縱波直探頭探傷時(shí),通常只根據(jù)缺陷波情況判定缺陷()481.對(duì)鋼板用縱波直探頭探傷時(shí),不但要根據(jù)缺陷波情況，還要視底波變化情況來(lái)判定缺陷()482.復(fù)合鋼板探傷時(shí),可從母材一側(cè)探傷,也可從復(fù)合材料一側(cè)探傷()483.焊縫中的裂紋回波信號(hào)基本特征是波幅不高,當(dāng)探頭作原位擺動(dòng)或轉(zhuǎn)動(dòng)時(shí),波幅無(wú)明顯變化()484.對(duì)焊縫進(jìn)行超聲波檢測(cè)時(shí),對(duì)所發(fā)現(xiàn)的缺陷必須測(cè)量其指示長(zhǎng)度是為了便于評(píng)價(jià)與返修()485.某鋼管規(guī)格Φ83x14mm,可以采用純橫波法檢測(cè)該管材內(nèi)外壁缺陷()486.探傷靈敏度越高,檢測(cè)盲區(qū)越小,分辨率越低()487.不能探測(cè)到缺陷的范圍稱(chēng)為近場(chǎng)區(qū)()488.組合雙晶探頭的焦距大小取決于兩個(gè)晶片的相對(duì)傾角,相對(duì)傾角越大,焦距越短()489.組合雙晶探頭的焦距大小取決于兩個(gè)晶片的相對(duì)傾角,相對(duì)傾角越小,焦距越長(zhǎng)()490.組合雙晶探頭的焦距大小取決于兩個(gè)晶片的相對(duì)傾角,相對(duì)傾角越大,焦距越長(zhǎng)()491.組合雙晶探頭的焦距大小取決于兩個(gè)晶片的相對(duì)傾角,相對(duì)傾角越小,焦距越短()492.在超聲波試塊中,和入射波束角度無(wú)關(guān)的人工反射體是U型缺口槽()493.在超聲波試塊中,和入射波束角度無(wú)關(guān)的人工反射體是V型缺口槽()494.在超聲波試塊中,和入射波束角度無(wú)關(guān)的人工反射體是平底孔()495.在超聲波試塊中,和入射波束角度無(wú)關(guān)的人工反射體是柱孔()496.在超聲波試塊中,和入射波束角度無(wú)關(guān)的人工反射體是橫孔()497.為滿足較高的近表面分辨率要求,較適宜的方法是選用組合雙晶探頭()498.缺陷本身的開(kāi)隙度,取向,表面粗糙度以及內(nèi)涵物等都會(huì)對(duì)缺陷回波高度有影響()499.表面波探傷的實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)之一是采用觸摸法判斷缺陷位置()500.對(duì)薄板進(jìn)行蘭姆波法檢測(cè)時(shí)的實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)之一是采用觸摸法判斷缺陷位置()501.超聲波檢測(cè)大鍛件時(shí)使用的重復(fù)頻率比管子自動(dòng)探傷時(shí)低()502.超聲波儀器的C型顯示能展示工件中缺陷在探測(cè)方向上的面積投影，但不能展示其深度()503.超聲波儀器的C型顯示屬于二維顯示()504.超聲波儀器的B型顯示屬于三維立體顯示()505.軸類(lèi)零件作超聲波檢測(cè)時(shí)，若遇到有游動(dòng)訊號(hào)出現(xiàn)，則說(shuō)明軸的內(nèi)部存在危險(xiǎn)性缺陷()506.當(dāng)被檢材料的晶粒尺寸大于1/10波長(zhǎng)時(shí)，超聲波的散射會(huì)影響試驗(yàn)結(jié)果()507.在超聲波檢測(cè)中，如果使用的重復(fù)頻率過(guò)高，在探測(cè)粗晶材料時(shí)會(huì)出現(xiàn)林狀回波()508.在超聲波自動(dòng)化檢測(cè)中，必須考慮儀器重復(fù)頻率對(duì)檢驗(yàn)速度的影響()509.采用縱波法檢查鋼板時(shí)，探頭掃查移動(dòng)方向以垂直于鋼板壓延方向較好()510.用直探頭探測(cè)同一缺陷，探頭直徑增大時(shí)，缺陷波增高，但底波高度不變()511.超聲波檢測(cè)儀的發(fā)射脈沖應(yīng)盡可能寬度大、前沿陡峭()512.超聲波檢測(cè)使用的試塊只能用于調(diào)整檢測(cè)靈敏度和評(píng)估缺陷大小()513.由于管子曲率對(duì)超聲波有散射作用，所以管子探傷必須采用水浸聚焦方法()514.根據(jù)焊縫的實(shí)際情況，有時(shí)采用斜探頭進(jìn)行探傷，有時(shí)則應(yīng)當(dāng)采用直探頭進(jìn)行探傷()515.根據(jù)鍛件的實(shí)際情況，可采用直探頭、組合雙晶探頭、斜探頭進(jìn)行探傷()516.用直探頭在軸類(lèi)鍛件的圓周面上進(jìn)行周向掃查時(shí)，只有徑向缺陷才會(huì)產(chǎn)生游動(dòng)信號(hào)()517.可以不檢查或做一般性檢查()518.對(duì)焊縫進(jìn)行超聲波檢測(cè)的時(shí)機(jī)是焊縫冷卻到室溫后即可進(jìn)行超聲波檢測(cè)()519.如果使用帶有缺陷自動(dòng)報(bào)警和缺陷自動(dòng)記錄裝置的超聲波檢測(cè)儀，在檢測(cè)過(guò)程中探頭移動(dòng)速度就可以不須限制()520.探傷儀中的發(fā)射電路亦稱(chēng)為觸發(fā)電路()521.探傷儀中的發(fā)射電路可產(chǎn)生幾百伏到上千伏的電脈沖去激勵(lì)探頭晶片振動(dòng)()522.探傷儀的掃描電路即為控制探頭在工件探傷面上掃查的電路()523.探傷儀發(fā)射電路中的阻尼電阻的阻值愈大，發(fā)射強(qiáng)度愈弱()524.調(diào)節(jié)探傷儀“延遲”旋鈕時(shí)，掃描線上回波信號(hào)間的距離也將隨之改變()525.探頭中壓電晶片背面加吸收塊是為了提高機(jī)械品質(zhì)因素，減少機(jī)械損耗()526.利用IIW1試塊上Φ50mm孔與兩側(cè)面的距離，僅能測(cè)定直探頭盲區(qū)的大致范圍()527.當(dāng)斜探頭對(duì)準(zhǔn)IIW2試塊上R50曲面時(shí)，熒光屏上的多次反射回波是等距離的()528.測(cè)定組合靈敏度時(shí)，可先調(diào)儀器的“抑制”旋鈕，使電噪聲電平10%，再進(jìn)行測(cè)試()529.測(cè)定“始波寬度”時(shí)，應(yīng)將儀器的靈敏度調(diào)至最大()530.為提高分辯力，在滿足探傷靈敏度要求情況下，儀器的發(fā)射強(qiáng)度應(yīng)盡量調(diào)得低一些()531.串列式雙探頭法探傷即為穿透法()532.實(shí)際探傷中，為提高掃查速度減少雜波的干擾，應(yīng)將探傷靈敏度適當(dāng)降低()533.采用當(dāng)量法確定的缺陷尺寸一般小于缺陷的實(shí)際尺寸()534.只有當(dāng)工件中缺陷在各個(gè)方向的尺寸均大于聲束截面時(shí)，才能采用測(cè)長(zhǎng)法確定缺陷長(zhǎng)度()535.鋼板探傷時(shí)，通常只根據(jù)缺陷波情況判別定缺陷()536.厚鋼板探傷中，若出現(xiàn)缺陷的多次反射波，說(shuō)明缺陷的尺寸一定較大()537.Φ50x10mm的鋼管，亦可采用常規(guī)斜探頭作接觸法周向探傷()538.用斜探頭對(duì)大口徑鋼管作接觸法周向探傷時(shí)，其跨距比同厚度平板大()539.焊縫斜角探傷中，裂紋等危害性缺陷的反射波幅總是很高的()540.焊縫斜角探傷時(shí)，如采用直射法，可不考慮結(jié)構(gòu)反射、變型波等干擾回波的影響()541.鋼板探傷中若出現(xiàn)缺陷的多次反射波，缺陷尺寸未必一定較大()542.鋼板探傷中若熒光屏上只有正常波形，僅表示鋼板中無(wú)當(dāng)量超過(guò)調(diào)整起始靈敏度的基準(zhǔn)平底孔的缺陷()543.鋼板探傷中若無(wú)底波時(shí)，說(shuō)明鋼板中無(wú)缺陷()544.鋼板中不允許存在的缺陷尺寸，主要是用當(dāng)量法測(cè)定的()545.即便探頭折射角較大，在焊縫一側(cè)用全跨距探傷，可以掃查到整個(gè)焊縫截面，但仍然有必要從焊縫兩側(cè)探傷()546.與表面光滑的零件相比，表面粗糙的零件作超聲波檢測(cè)時(shí)，通常使用頻率較高的探頭和粘度較高的耦合劑()547.與表面光滑的零件相比，表面粗糙的零件作超聲波檢測(cè)時(shí)，通常使用頻率較低的探頭和粘度較低的耦合劑()548.實(shí)踐證明，在探測(cè)工件側(cè)壁附近的缺陷時(shí)，探傷靈敏度往往會(huì)明顯偏低()549.實(shí)踐證明，在探測(cè)工件側(cè)壁附近的缺陷時(shí)，探傷靈敏度往往會(huì)明顯偏高()550.在中薄板的直探頭多次反射法探傷中，常會(huì)發(fā)現(xiàn)小缺陷的多次反射回波中第二次要比第一次高()551.在中薄板的直探頭多次反射法探傷中，小缺陷的多次反射回波中肯定第二次要比第一次低()552.管子的超聲波檢測(cè)除了采用水浸聚焦探傷方法外，還可以采用斜探頭接觸法()問(wèn)答題1.將超聲波直探頭置于IIW1試塊側(cè)面上探測(cè)100mm距離的底波,如下圖所示在第一次底波與第二次底波之間前兩個(gè)遲到波各是什么波型?（前面為L(zhǎng)-L-L波,后面為L(zhǎng)-S-L波）2．何謂超聲波？它有哪些重要特性？20000Hz定向發(fā)射，在介質(zhì)中沿直線傳播且具有良好的指向性。④超聲波穿透能力強(qiáng)。3．產(chǎn)生超聲波的必要條件是什么？4.在棒材圓周面上進(jìn)行超聲探傷時(shí),第一次底波與第二次底波之間可見(jiàn)到有兩個(gè)遲到波,如下圖所示,請(qǐng)指出這兩個(gè)遲到波各是什么波型?（前面為L(zhǎng)-L-L波,后面為L(zhǎng)-S-L波）5．一個(gè)探頭的標(biāo)記為5I20SJ20DJ，試說(shuō)明其中數(shù)字和字母的含義？答：5：頻率5MHZ；I：壓電晶片材料碘酸鋰單晶；20：圓晶片直徑20mm；SJ：水浸探頭；20DJ：點(diǎn)聚焦，水中焦距20mm6.畫(huà)出下圖中不同情況下聲波的收斂或發(fā)散的情況:（答案從略）7.在下圖中畫(huà)出超聲縱波從鈦合金中以45°斜入射到鋼中的反射與折射情況:C鈦L=6150m/sC鈦S=3150m/sC鋼L=5850m/sC鋼S=3200m/s（答案從略）8．液體中為什么只能傳播縱波，不能傳播橫波？答：凡能承受拉伸或壓縮應(yīng)力的介質(zhì)都能傳播縱波，液體雖然不能承受拉伸應(yīng)力，但能承受壓應(yīng)力而產(chǎn)生容積變化，故液體介質(zhì)可傳播縱波。介質(zhì)傳播橫波時(shí)，介質(zhì)質(zhì)點(diǎn)受到交變的剪切應(yīng)力作用，液體介質(zhì)不能承受剪切應(yīng)力，故橫波不能在液體中傳播。9．簡(jiǎn)述影響超聲波在介質(zhì)中傳播速度的因素有哪些？答：①超聲波在介質(zhì)中的傳播速度與介質(zhì)的彈性模量和介質(zhì)的密質(zhì)，傳播不同類(lèi)型聲波時(shí)，聲速也不相同。③介質(zhì)尺寸大小及介質(zhì)溫度對(duì)聲速也有一定影響。10任一時(shí)刻該質(zhì)點(diǎn)的位移是各列波引起的分位移的矢量和。②相遇后的各列波仍保持它們各自原有的特性（頻率、波長(zhǎng)、波同時(shí)作用時(shí)的振動(dòng)的疊加性。11聲場(chǎng)。描述超聲波聲場(chǎng)的物理量即特征量有聲壓、聲強(qiáng)和聲阻抗。聲壓：超聲波聲場(chǎng)中某一點(diǎn)在某一瞬時(shí)所具有的壓強(qiáng)P與沒(méi)有超聲波存在時(shí)同一點(diǎn)的靜壓強(qiáng)P之差，稱(chēng)為該點(diǎn)的聲壓。聲強(qiáng)：?jiǎn)挝粫r(shí)間內(nèi)通過(guò)與超聲波傳播方向垂直的單位面積的聲能，稱(chēng)為聲強(qiáng)。常用I表示。P與該質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)速度V之比，稱(chēng)為聲阻抗，常用Z表示，聲阻抗在數(shù)值上等于介質(zhì)的密度與介質(zhì)中聲速C的乘積。12．什么是波型轉(zhuǎn)換？波型轉(zhuǎn)換的發(fā)生與哪些因素有關(guān)？這種現(xiàn)象稱(chēng)為波型轉(zhuǎn)換。②波型轉(zhuǎn)換只發(fā)生在傾斜入射的場(chǎng)合，且與界面兩側(cè)介質(zhì)的狀態(tài)（液、固、氣態(tài)）有關(guān)。13．什么是超聲波的衰減？引起超聲衰減的主要原因有哪些？減叫擴(kuò)散衰減。擴(kuò)散衰減主要取決于波陣面的幾何形狀，與傳播介質(zhì)的性質(zhì)無(wú)關(guān)。②散射衰減：超聲波在傳播過(guò)程中，減稱(chēng)為散射衰減。材料中晶粒粗大（和波長(zhǎng)相比）是引起散射衰減的主要因素。③吸收衰減：超聲波在介質(zhì)中傳播時(shí)，粘滯衰減。散射衰減，吸收衰減與介質(zhì)的性質(zhì)有關(guān)，因此統(tǒng)稱(chēng)為材質(zhì)衰減。14分為：?jiǎn)尉w：如硫酸鋰、碘酸鋰、鈮酸鋰等。多晶體：如鈦酸鋇、鈦酸鉛、鋯鈦酸鋁（PZT）等。15．何謂壓電材料的居里點(diǎn)？哪些情況要考慮它的影響？上居里點(diǎn)較高的壓電晶片制作探頭。在寒冷地區(qū)探傷時(shí)，應(yīng)選用下居里點(diǎn)較低的壓電晶片作探頭。16防止其磨損和碰壞。②對(duì)保護(hù)膜的要求是：耐磨性好，強(qiáng)度高，材質(zhì)衰減小，透聲性好，厚度合適。17．聲束聚焦有什么優(yōu)點(diǎn)？簡(jiǎn)述聚焦探頭的聚焦方法和聚焦形式？噪比均為有利。②聚焦方法：凹曲面晶片直接聚焦采用聲透鏡片聚焦。③聚焦形式：點(diǎn)聚焦和線聚焦。18.超聲場(chǎng)分為幾個(gè)區(qū)域？各個(gè)區(qū)域的主要特征是什么？用示意圖注明簡(jiǎn)述之[提示]方法表示出來(lái)（如下圖a聲束以外的稱(chēng)為副瓣。主聲束的擴(kuò)散角按零階貝塞爾函數(shù)計(jì)算出其主瓣的錐角范圍，即J1(X)=J1(kasinθ)，J1(X)有很多根，其中最小的根為X0=3.83，則sinθ0=3.83/ka=(3.83/2π)(λ/a)=(3.83/π)(λ/2a)sinθ=1.22(λ/D)[D=2a--a為半徑]θ0J2(X)J3(X)……副瓣……的擴(kuò)散角θ1、θ2……等（如下圖bsinθ=1.22(λ/D)求出，當(dāng)S=b=1.64(D2/4λ)=1.64N時(shí)，主1.67N為主聲束由晶片中心擴(kuò)散到晶片邊緣的距離）19.畫(huà)圖說(shuō)明超聲波聲場(chǎng)分為哪幾個(gè)區(qū)域？答：超聲波聲場(chǎng)可分為：①主聲束和副瓣--聲源正前方，聲能最集中的錐形區(qū)域即為主聲束。主聲束的范圍最大，聲源發(fā)射的聲能主要集中在波束。其軸線傾斜于晶片表面，能量微弱，截面較小。晶片尺寸和波長(zhǎng)之比不同，副聲束的能量和輻射方向也不相同。②近場(chǎng)--指主聲束中心軸線上最后一個(gè)聲壓最大值處至晶片表面這一區(qū)域。近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度用N表示，它取決于晶片的直徑D（或面積AsN=D2/4λ=As/πλ區(qū)域內(nèi)聲波干涉現(xiàn)象最嚴(yán)重。近場(chǎng)區(qū)也稱(chēng)為干涉區(qū)，干涉現(xiàn)象對(duì)探傷有很大影響，探傷時(shí)要盡量避免。③遠(yuǎn)場(chǎng)--近場(chǎng)以外的區(qū)域稱(chēng)為遠(yuǎn)場(chǎng)。遠(yuǎn)場(chǎng)中各子波傳播的距離已經(jīng)很長(zhǎng)，相位幾乎相等，各量可簡(jiǎn)單相加。聲壓值隨距離增加單調(diào)下降。遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)的大小由晶片尺寸、波長(zhǎng)、介質(zhì)的聲學(xué)特性及激勵(lì)晶片的電壓決定。④未擴(kuò)散區(qū)--主聲束截面與聲源直徑相同之點(diǎn)至近場(chǎng)與遠(yuǎn)場(chǎng)分界點(diǎn)的一段區(qū)域，稱(chēng)為未擴(kuò)散區(qū)。未擴(kuò)散區(qū)分界點(diǎn)至晶片表面的距離約為近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度的1.6倍，該區(qū)域內(nèi)的平均聲壓可以看做常數(shù)，自此點(diǎn)開(kāi)始主聲束擴(kuò)散，形成錐體。20.什么叫壓電效應(yīng)？答：在某些物體上施加壓力時(shí)，在其表面上產(chǎn)生電荷聚集的現(xiàn)象，稱(chēng)為正壓電效應(yīng)。反之，當(dāng)把這種物體放在電場(chǎng)中，它自身產(chǎn)生形變，稱(chēng)為逆（或負(fù)）壓電效應(yīng)。壓電效應(yīng)是可逆的。21.超聲波檢測(cè)利用超聲波的哪些特性？輸損失小，探測(cè)深度大。22.什么叫AVG曲線？答：根據(jù)反射體的反射面積大小，離聲源的距離，反射信號(hào)的幅度三者之間的關(guān)系繪制的曲線，叫做AVG曲線23.如果要求檢查對(duì)接焊縫中的未熔合和小氣孔，應(yīng)采用什么無(wú)損檢測(cè)方法檢查？答：超聲波和射線二種方法。24.試比較射線檢測(cè)與超聲波檢測(cè)兩種方法的適用