標準解讀
《GB/T 12085.16-2010 光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 第16部分:彈跳或恒加速度與高溫、低溫綜合試驗》相比于《GB/T 12085.16-1995 光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 彈跳或恒加速度與高溫、低溫綜合試驗》,主要在以下幾個方面進行了更新和調整:
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標準名稱結構調整:2010版標準在名稱中加入了“第16部分”,這表明該標準被納入了一個更廣泛的標準體系中,與其他部分共同構成了完整的光學和光學儀器環(huán)境試驗方法系列,提高了標準的系統(tǒng)性和易識別性。
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技術內容更新:雖然具體的技術細節(jié)變更未直接列出,但作為一項修訂標準,通常會對原有的試驗條件、測試程序、評估指標等進行修訂或增補,以反映最新的科研成果和行業(yè)實踐,確保測試方法的準確性和適用性。例如,可能對彈跳或恒加速度的強度、持續(xù)時間,以及高溫、低溫的具體范圍和變換速率等參數(shù)進行了優(yōu)化或細化。
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規(guī)范性引用文件:新版標準很可能會更新規(guī)范性引用文件列表,引用了最新的國家標準、國際標準或其他技術規(guī)范,以保證標準的先進性和與其他標準的一致性。
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試驗設備與方法的改進:隨著技術進步,2010版標準可能對試驗所用的設備規(guī)格、操作步驟或數(shù)據處理方法提出了新的要求,旨在提高試驗的可重復性和準確性。
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術語和定義的明確:為適應行業(yè)發(fā)展和技術進步,新標準可能對一些關鍵術語給出了更精確或更新的定義,幫助使用者更好地理解和執(zhí)行標準。
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增加或調整了試驗報告的要求:為了確保試驗結果的完整性和可追溯性,新版標準可能會對試驗報告的內容、格式提出新的要求,包括需要記錄的數(shù)據項、分析方法及結論表述等。
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編輯性修改:除了實質性內容的更改外,還可能包括文字表述的優(yōu)化、圖表更新、章節(jié)結構的調整等編輯性改動,以提升標準的可讀性和實用性。
這些變更旨在提高標準的科學性、實用性和國際兼容性,更好地服務于光學和光學儀器的環(huán)境適應性評價。
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文檔簡介
ICS37.020N30中華人民共和國國家標準GB/T12085.16—2010代替GB/T12085.16-1995光學和光學儀器環(huán)境試驗方法第16部分:彈跳或恒加速度與高溫低溫綜合試驗Opticsandopticalinstruments-Environmentaltestmethods-Part16:Combinedbounceorsteady-stateaccelerationanddryheatorcold(ISO9022-16:1998,MOD)2011-01-14發(fā)布2011-05-01實施中華人民共和國國家質量監(jiān)督檢驗檢疫總局發(fā)布中國國家標準化管理委員會
GB/T12085.16-2010前GB/T12085《光學和光學儀器環(huán)境試驗方法》分為以下16個部分:第第1部分:術語、試驗范圍:-第2部分:低溫、高溫、濕熱;-第3部分:機械作用力;第4部分:鹽霧;第5部分:低溫、低氣壓綜合試驗;第6部分:砂塵:-第7部分:滴水、淋雨;第8部分:高壓、低壓、浸沒;-第9部分:太陽輻射;第10部分:振動(正弦)與高溫、低溫綜合試驗;第11部分:長霉;第第12部分:污染:-第13部分:沖擊、碰撞或自由跌落與高溫、低溫綜合試驗:第14部分:露、霜、冰;第15部分:寬帶隨機振動(數(shù)字控制)與高溫、低溫綜合試驗;-第16部分:彈跳或恒加速度與高溫、低溫綜合試驗本部分為GB/T12085的第16部分。本部分修改采用ISO9022-16:1998《光學和光學儀器環(huán)境試驗方法第16部分:彈跳或恒加速度與高溫、低溫綜合試驗》。本部分與ISO9022-16:1998的主要差異如下:-刪除國際標準的序言和前言;根據ISO9022-16第1章及我國標準用語習慣作了重新編寫:“國際標準本部分"一詞改為"本部分”。本部分代替GB/T12085.16—1995《光學和光學儀器環(huán)境試驗方法彈跳或恒加速度與高溫、低溫綜合試驗》,與GB/T12085.16—1995的主要差異為:合并了范圍與試驗目的:修改了變量溫差的計量單位:-增加了試驗條件的總則及相關要求;增加了條件試驗的懸字段編號:增加了試驗程序的總則:增加了環(huán)境試驗的標記名稱,修改了相應標準號的編寫本部分由中國機械工業(yè)聯(lián)合會提出。本部分由全國光學和光子學標準化技術委員會(SAC/TC103)歸口.本部分起草單位:上海理工大學、寧波永新光學股份有限公司。本部分主要起草人:章慧賢、馮瓊輝、曾麗珠、張燕珂.本部分所代替標準的歷次版本發(fā)布情況為:-B/T12085.16-1995。
GB/T12085.16—2010光學和光學儀器環(huán)境試驗方法第16部分:彈跳或恒加速度與高溫低溫綜合試驗范圍本部分規(guī)定了彈跳或恒加速度與高溫或低溫綜合試驗的試驗條件、條件試驗、試驗程序及環(huán)境試驗標記。本部分適用于光學儀器、裝有光學零部件的儀器和光學零部件本試驗目的是研究試樣的光學、熱學、化學和電氣等性能受到彈跳或恒加速度與高溫、低溫影響時的變化程度2規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過(B/T12085的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件其隨后所有的修改單(不包括勒誤的內容)或修訂版均不適用于本部分.然而,鼓勵根據本部分達成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本部分。(B/T2423.43—1995電工電子產品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法振動、沖擊和類似動力學試驗樣品的安裝(GB/T2423.43-2008.IEC60068-2-47:2005.IDT)GB/T12085.1光學和光學儀器環(huán)境試驗方法第1部分:術語、試驗范圍(GB/T12085.1-2010.1S09022-1:1994.MOD)GB/T12085.2光學和光學儀器環(huán)境試驗方法第2部分:低溫、高溫、濕熱(GB/T12085.2-2010.1SO9022-2:2002,MOD)GB/T12085.3光學和光學儀器環(huán)境試驗方法第3部分:機械作用力(GB/T12085.3—2010,ISO9022-3:1998.MOD)試驗條件在綜合作用力條件下對暴露的試樣進行的測試,要比任一種單一環(huán)境條件試驗更為嚴酷表中規(guī)定的溫度值選自GB/T12085.2,條件試驗方法10和11.試驗應符合GB/T12085.3的要求固定試樣的裝置應符合GB/T2423.43的要求,試樣夾具應隔熱若試樣裝在減震器上,則應考慮減震器元件恒溫的時間。儀器用于抗彈跳(條件試驗方法57和58)的試驗是在帶運輸包裝或貼存或運輸情況下進行。條件試驗41總則試樣各部分都應達到試驗箱(室)溫度3K以內才開始試驗。對于散熱型試樣,在溫度穩(wěn)定的試驗箱(室)內試樣的溫
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