標準解讀

《GB/T 12085.3-2010 光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 第3部分：機械作用力》相比于其前版《GB/T 12085.3-1989 光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 機械作用力》，主要在以下幾個方面進行了更新與調整：

  1. 標準的適用范圍：2010版標準可能對適用的光學和光學儀器類型及試驗范圍進行了細化或擴展，以適應技術進步和產品發(fā)展的需求。

  2. 試驗方法的完善：新標準對機械作用力的測試方法進行了修訂，可能包括了更精確的測試程序、參數設置或新增了針對新型光學元件的測試要求，以確保試驗結果的準確性和可重復性。

  3. 安全與環(huán)保要求：考慮到技術發(fā)展與國際接軌的需求，2010版標準可能加入了更多關于試驗過程中的安全操作規(guī)程和環(huán)境保護的相關規(guī)定，符合現代實驗室管理的要求。

  4. 術語和定義：隨著光學領域的發(fā)展，新標準可能對相關專業(yè)術語進行了更新或增補，確保了術語的準確性和時代性。

  5. 試驗設備和技術指標：為了適應技術進步，2010版標準可能會對試驗所用設備的技術要求進行更新，包括精度、穩(wěn)定性等方面，同時也可能引入新的測量技術和設備標準。

  6. 數據處理與結果判定：在數據分析和結果判定方面，新標準可能引入了更科學的數據處理方法，或者調整了合格判定的標準，使得測試結果更加客觀公正。

  7. 標準的結構與表述：為提高標準的可讀性和實施性，2010版可能對標準的結構進行了優(yōu)化，使用更清晰的條目劃分和表述方式，便于使用者理解和執(zhí)行。


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  • 被代替
  • 已被新標準代替，建議下載現行標準GB/T 12085.3-2022
  • 2011-01-14 頒布
  • 2011-05-01 實施
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GB/T 12085.3-2010光學和光學儀器環(huán)境試驗方法第3部分：機械作用力_第1頁
GB/T 12085.3-2010光學和光學儀器環(huán)境試驗方法第3部分：機械作用力_第2頁
GB/T 12085.3-2010光學和光學儀器環(huán)境試驗方法第3部分：機械作用力_第3頁
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文檔簡介

ICS37.020N30中華人民共和國國家標準GB/T12085.3-2010代替GB/T12085.3-1989光學和光學儀器環(huán)境試驗方法第3部分;機械作用力Opticsandopticalinstruments--Environmentaltestmethods-Part3:Mechanicalstresses（ISO9022-3:1998,MOD)2011-01-14發(fā)布2011-05-01實施中華人民共和國國家質量監(jiān)督檢驗檢疫總局發(fā)布中國國家標準化管理委員會

GB/T12085.3-2010前GB/T12085《光學和光學儀器杯環(huán)境試驗方法》分為以下16個部分：第1部分：術語、試驗范圍：-第2部分：低溫、高溫、濕熱；-第3部分：機械作用力；第4部分：鹽霧；-第5部分：低溫、低氣壓綜合試驗;第6部分：砂塵：第7部分：滴水、淋雨;第第8部分：高壓、低壓、浸沒-第9部分：太陽輻射：第10部分：振動(正弦)與高溫、低溫綜合試驗：第第11部分：長霉;第12部分：污染;-第13部分：沖擊、碰撞或自由跌落與高溫、低溫綜合試驗：第14部分：露、霜、冰；-第15部分：寬帶隨機振動(數字控制)與高溫、低溫綜合試驗；-第16部分：彈跳或恒加速度與高溫、低溫綜合試驗本部分為GB/T12085的第3部分。本部分修改采用ISO9022-3:1998《光學和光學儀器環(huán)環(huán)境試驗方法第3部分：機械作用力》本部分與ISO9022-3:1998的主要差異如下:除國際標準的前言：-根據1SO9022-3第1章及我國標準用語習慣作了重新編寫：“本國際標準"一詞改為"本部分”。本部分代替GB/T12085.3—1989光學和光學儀器環(huán)境試驗方法機械作用力》,與GB/T12085.3-1989的主要差異為：一合并了范圍與試驗目的；增加了試驗條件的條件方法及引用的國家標準列表：修改了加速度值,明確了加速度倍數：增加了條件試驗方法30、31、32、33.34、35、36.37的工作狀態(tài)種數；修改了條件試驗方法傾跌和跌落高度及碰撞次數允許偏差：增加了條件試驗方法35的嚴酷等級級數；修改條件試驗方法37的名稱；將附錄A典型應用實例放入標準正文中；增加了條件試驗方法36的懸置段編號：增加了試驗程序；增加了環(huán)境試驗的標記名稱,修改了相應標準號的編寫。本部分由中國機械工業(yè)聯(lián)合會提出。

GB/T12085.3-2010本部分由全國光學和光子學標準化技術委員會（SAC/TC103)歸口本部分起草單位：寧波永新光學股份有限公司、上海理工大學。本部分主要起草人：曾麗珠、章慧賢、馮瓊輝、張燕珂。本部分所代替標準的歷次版本發(fā)布情況為：-GB/T12085.3-1989.

GB/T12085.3—2010光學和光學儀器環(huán)境試驗方法第3部分：機械作用力范圍本部分規(guī)定了機械作用力試驗的試驗條件、條件試驗及環(huán)境試驗標記。本部分適用于光學儀器、裝有光學零部件的儀器和光學零部件。本試驗目的是研究試樣的光學、熱學、力學、化學及電學等特性受到機械作用力影響的變化程度范性引用文件下列文件中的條款通過GB/T12085的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件.其隨后所有的修改單(不包括勒誤的內容)或修訂版均不適用于本部分.然而,鼓勵根據本部分達成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本部分。環(huán)境試驗方法GB/T12085.1光學和光學儀器第1部分：術語、試驗范圍(GB/T12085.1-2010.ISO9022-1:1994，MOD)第2部分：試驗方法GB/T2423.10電工電子產品環(huán)境試驗試驗Fc:振動（正弦）(GB/T2423.10-2008.IEC60068-2-6:1995.IDT)GB/T2423.15電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Ca和導則：穩(wěn)態(tài)加速度（GB/T2423.15-2008.1EC60068-2-7：1986IDT）GB/T2423.5電工電子產品環(huán)境試驗第二部分：試驗方法試驗Ea和導則：沖擊(GB/T2423.5-1995.idtIEC60068-2-27:1987)GB/T2423.6電工電子產品環(huán)境試驗第二部分：試驗方法試驗Eb和導則：碰撞（GB/T2423.6-1995.idtIEC60068-2-29:1987)GB/T2423.7電工電子產品環(huán)境試驗第二部分:試驗方法試驗Ee和導則：傾跌與翻倒(主要用于設備型樣品）GB/T2423.7-1995.idtIEC60068-2-31:1982)（B/T2423.8電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Ed和導則：自由跌落（GB/T2423.8-1995.idtIEC60068-2-32:1990）GB/T2423.43電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法振動、沖擊和類似動力學試驗樣品的安裝（GB/T2423.43-2008.IEC60068-2-47:2005.IDT）GB/T2423.39電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Ee:彈跳（GB/T2423.39-2008.IEC60068-2-55:1987.MOD)GB/T2423.56電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Fh：寬帶隨機振動（數字控制)和導則(GB/T2423.56-2006.EC60068-2

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