GB/T 12085.3-2010光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗方法第3部分：機械作用力

ICS37.020N30中華人民共和國國家標準GB/T12085.3-2010代替GB/T12085.3-1989光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗方法第3部分;機械作用力Opticsandopticalinstruments--Environmentaltestmethods-Part3:Mechanicalstresses（ISO9022-3:1998,MOD)2011-01-14發(fā)布2011-05-01實施中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局發(fā)布中國國家標準化管理委員會

GB/T12085.3-2010前GB/T12085《光學(xué)和光學(xué)儀器杯環(huán)境試驗方法》分為以下16個部分：第1部分：術(shù)語、試驗范圍：-第2部分：低溫、高溫、濕熱；-第3部分：機械作用力；第4部分：鹽霧；-第5部分：低溫、低氣壓綜合試驗;第6部分：砂塵：第7部分：滴水、淋雨;第第8部分：高壓、低壓、浸沒-第9部分：太陽輻射：第10部分：振動(正弦)與高溫、低溫綜合試驗：第第11部分：長霉;第12部分：污染;-第13部分：沖擊、碰撞或自由跌落與高溫、低溫綜合試驗：第14部分：露、霜、冰；-第15部分：寬帶隨機振動(數(shù)字控制)與高溫、低溫綜合試驗；-第16部分：彈跳或恒加速度與高溫、低溫綜合試驗本部分為GB/T12085的第3部分。本部分修改采用ISO9022-3:1998《光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)環(huán)境試驗方法第3部分：機械作用力》本部分與ISO9022-3:1998的主要差異如下:除國際標準的前言：-根據(jù)1SO9022-3第1章及我國標準用語習(xí)慣作了重新編寫：“本國際標準"一詞改為"本部分”。本部分代替GB/T12085.3—1989光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗方法機械作用力》,與GB/T12085.3-1989的主要差異為：一合并了范圍與試驗?zāi)康?；增加了試驗條件的條件方法及引用的國家標準列表：修改了加速度值,明確了加速度倍數(shù)：增加了條件試驗方法30、31、32、33.34、35、36.37的工作狀態(tài)種數(shù)；修改了條件試驗方法傾跌和跌落高度及碰撞次數(shù)允許偏差：增加了條件試驗方法35的嚴酷等級級數(shù)；修改條件試驗方法37的名稱；將附錄A典型應(yīng)用實例放入標準正文中；增加了條件試驗方法36的懸置段編號：增加了試驗程序；增加了環(huán)境試驗的標記名稱,修改了相應(yīng)標準號的編寫。本部分由中國機械工業(yè)聯(lián)合會提出。

GB/T12085.3-2010本部分由全國光學(xué)和光子學(xué)標準化技術(shù)委員會（SAC/TC103)歸口本部分起草單位：寧波永新光學(xué)股份有限公司、上海理工大學(xué)。本部分主要起草人：曾麗珠、章慧賢、馮瓊輝、張燕珂。本部分所代替標準的歷次版本發(fā)布情況為：-GB/T12085.3-1989.

GB/T12085.3—2010光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗方法第3部分：機械作用力范圍本部分規(guī)定了機械作用力試驗的試驗條件、條件試驗及環(huán)境試驗標記。本部分適用于光學(xué)儀器、裝有光學(xué)零部件的儀器和光學(xué)零部件。本試驗?zāi)康氖茄芯吭嚇拥墓鈱W(xué)、熱學(xué)、力學(xué)、化學(xué)及電學(xué)等特性受到機械作用力影響的變化程度范性引用文件下列文件中的條款通過GB/T12085的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件.其隨后所有的修改單(不包括勒誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本部分.然而,鼓勵根據(jù)本部分達成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本部分。環(huán)境試驗方法GB/T12085.1光學(xué)和光學(xué)儀器第1部分：術(shù)語、試驗范圍(GB/T12085.1-2010.ISO9022-1:1994，MOD)第2部分：試驗方法GB/T2423.10電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗試驗Fc:振動（正弦）(GB/T2423.10-2008.IEC60068-2-6:1995.IDT)GB/T2423.15電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Ca和導(dǎo)則：穩(wěn)態(tài)加速度（GB/T2423.15-2008.1EC60068-2-7：1986IDT）GB/T2423.5電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分：試驗方法試驗Ea和導(dǎo)則：沖擊(GB/T2423.5-1995.idtIEC60068-2-27:1987)GB/T2423.6電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分：試驗方法試驗Eb和導(dǎo)則：碰撞（GB/T2423.6-1995.idtIEC60068-2-29:1987)GB/T2423.7電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分:試驗方法試驗Ee和導(dǎo)則：傾跌與翻倒(主要用于設(shè)備型樣品）GB/T2423.7-1995.idtIEC60068-2-31:1982)（B/T2423.8電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Ed和導(dǎo)則：自由跌落（GB/T2423.8-1995.idtIEC60068-2-32:1990）GB/T2423.43電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法振動、沖擊和類似動力學(xué)試驗樣品的安裝（GB/T2423.43-2008.IEC60068-2-47:2005.IDT）GB/T2423.39電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Ee:彈跳（GB/T2423.39-2008.IEC60068-2-55:1987.MOD)GB/T2423.56電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Fh：寬帶隨機振動（數(shù)字控制)和導(dǎo)則(GB/T2423.56-2006.EC60068-2