GB/T 12273-1996石英晶體元件電子元器件質(zhì)量評(píng)定體系規(guī)范第1部分：總規(guī)范

ICS31.020L21中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)cB/T12273-1996idtIEc1178-1：19930C680000石英晶體元件電子元器件質(zhì)量評(píng)定體系規(guī)范第1部分：總規(guī)范Quartzcrystalunits--AspecificationintheQualityAssessmentSystemforEiectronicComponentsPartt1:Cenericspecification1996-09-09發(fā)布1997-05-01實(shí)施國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

CB/T12273-1996前言IEC前言1.總則l.1范圍1.2引用標(biāo)準(zhǔn)2技術(shù)細(xì)則2.1優(yōu)先順序2.2單位、符號(hào)和術(shù)語(yǔ)·2.3優(yōu)先額定值和特性2.4！標(biāo)志········3質(zhì)量評(píng)定程序3.1初始制造階段3.2結(jié)構(gòu)類似元件3.33.4制造廠批準(zhǔn)………3.5批準(zhǔn)程序……3.6能力批準(zhǔn)程序…·3.7鑒定批準(zhǔn)程序·3.8試驗(yàn)程序…3.9帝選要求……3.10返工和修理3.11證明合格的試驗(yàn)記錄3.12延期交貨3.13發(fā)貨放行3.14不檢查的參數(shù)4試驗(yàn)和測(cè)量程序………4.14.2替代的試驗(yàn)方法……4.3測(cè)量準(zhǔn)確度……4.4試驗(yàn)的標(biāo)準(zhǔn)條件……4.5外觀檢驗(yàn)…4.6尺寸檢驗(yàn)和規(guī)檢程序…4.7電氣試驗(yàn)程序……4.7.1頻率和諧振電阻……4.7.2激勵(lì)電平相關(guān)性·4.7.3顏率和諧振電阻隨溫度的變化

GB/T12273-19964.7.44.7.5并電容………4.7.6負(fù)載諧振頻率和負(fù)載諧振電阻4.7.7率牽引范圍(/,/）4.7.8動(dòng)態(tài)參數(shù)………………·4.7.94.8機(jī)械和環(huán)境試驗(yàn)程序…4.8.1引出端強(qiáng)度（破壞性的）……4.8.2密封試驗(yàn)(非破壞性的)4.8.3錫焊(可焊性和耐焊接熱）破壞性的）4.8.4快速溫度變化，兩箱法(非破壞性的）4.8.5規(guī)定轉(zhuǎn)換時(shí)間的快速溫度變化(非破壞性的》….4.8.6碰撞（破壞性的）….4.8.7振動(dòng)(破壞性的）………4.8.8沖擊(破壞性的）…4.8.9自由跌落(破壞性的）…4.8.10穩(wěn)態(tài)加速度(非破壞性的)4.8.11干燥(非破壞性的）4.8.12循環(huán)濕熱（破壞性的）4.8.13寒冷(非破壞性的）4.8.14氣候順序(破壞性的)4.8.15穩(wěn)態(tài)濕熱（破壞性的）4.8.16在清洗液中浸漬(破壞性的)4.9耐久性試驗(yàn)程序………….4.9.1老化（非破壞性的)……4.9.2擴(kuò)展老化(非破壞性的）…

GB/T12273-1996前本標(biāo)準(zhǔn)等同采用國(guó)際電工委員會(huì)IEC1178-1,1993QC680000《石英晶體元件IECQ規(guī)范第1部分：總規(guī)范》。這樣，使我國(guó)石英晶體元件國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)與IC電子元器件質(zhì)量評(píng)定體系中標(biāo)準(zhǔn)相一致,以適應(yīng)此領(lǐng)域中國(guó)際技術(shù)交流和經(jīng)濟(jì)貿(mào)易往來(lái)迅速發(fā)展的需要，便于我國(guó)生產(chǎn)的這類產(chǎn)品進(jìn)行認(rèn)證并在國(guó)際市場(chǎng)流通。本標(biāo)準(zhǔn)與下述四項(xiàng)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)和電子行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)構(gòu)成石英品體元件質(zhì)量評(píng)定的完整系列標(biāo)準(zhǔn)。GB/T16516一1996石英晶體元件電子元器件質(zhì)量評(píng)定體系規(guī)范第2部分：分規(guī)范能力批準(zhǔn)(idtIEC1178-2:1993)石英晶體元件電子元器件質(zhì)量評(píng)定體系規(guī)范第3部分：分規(guī)范GB/T16517-1996盜定批準(zhǔn)(idtIEC1178-3:1993）石英品體元件電子元器件質(zhì)量評(píng)定體系規(guī)范SJ/T10707-1996第2部分：空白詳細(xì)規(guī)范能力批準(zhǔn)（idtIEC1178-2-1:1993）SJ/T10708-1996石英品體元件電子元器件質(zhì)量評(píng)定體系規(guī)范第3部分：空白詳細(xì)規(guī)范，鑒定批準(zhǔn)(idtIEC1178-3-1:1993）本標(biāo)準(zhǔn)自實(shí)施之日起，同時(shí)廢止GB12273—90(石英品體元件總規(guī)范》。本標(biāo)準(zhǔn)由中華人民共和國(guó)電子工業(yè)部提出本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)頻率控制和選擇用壓電器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口。本標(biāo)準(zhǔn)起草單位：電子工業(yè)部標(biāo)準(zhǔn)化研究所。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：王毅，鄧鶴松。

GB/T12273-1996IEC前音1）IEC(國(guó)際電工委員會(huì)）是由各國(guó)家電工委員會(huì)（IEC國(guó)家委員會(huì))組成的世界性標(biāo)準(zhǔn)化組織IEC的目的是促進(jìn)電工電子領(lǐng)域標(biāo)準(zhǔn)化問(wèn)題的國(guó)際合作。為此目的，除其他活動(dòng)外,IEC發(fā)布國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)。國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的制定由技術(shù)委員會(huì)承擔(dān)，對(duì)所涉及內(nèi)容關(guān)切的任何IC國(guó)家委員會(huì)均可參加國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的制定工作。與IEC有連系的任何國(guó)際、政府和非官方組織也可以參加國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的制定。IEC與國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)化組織(ISO）根據(jù)兩組織間協(xié)商確定的條件保持密切的合作關(guān)系。2）IEC在技術(shù)問(wèn)題上的正式?jīng)Q議或協(xié)議，是由對(duì)這些間題特別關(guān)切的國(guó)家委員會(huì)參加的技術(shù)委員會(huì)制定的，對(duì)所涉及的問(wèn)題盡可能地代表了國(guó)際上的一致意見(jiàn)。3）這些決議或協(xié)議以標(biāo)準(zhǔn)、技術(shù)報(bào)告或?qū)t的形式發(fā)布，以推薦的形式供國(guó)際上使用，并在此意義上，為各國(guó)家委員會(huì)認(rèn)可。4）為了促進(jìn)國(guó)際上的統(tǒng)一,各IEC國(guó)家委員會(huì)有責(zé)任使其國(guó)家和地區(qū)標(biāo)準(zhǔn)盡可能采用IEC標(biāo)準(zhǔn)。IEC標(biāo)準(zhǔn)與相應(yīng)國(guó)家或地區(qū)標(biāo)準(zhǔn)之間的任何差異應(yīng)在國(guó)家或地區(qū)標(biāo)準(zhǔn)中指明。國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)IEC1178-1是由IEC第49技術(shù)委員會(huì)(頻率控制和選擇壓電器件和介電器件)制定的。本標(biāo)準(zhǔn)部分技術(shù)內(nèi)容依據(jù)IEC122-1制定。本標(biāo)準(zhǔn)構(gòu)成石英品體元件IECQ規(guī)范第1部分：總規(guī)范.IEC1178-2構(gòu)成分規(guī)范：能力批準(zhǔn)。1EC1178-2-1構(gòu)成空白詳細(xì)規(guī)范：能力批準(zhǔn)。1EC1178-3構(gòu)成分規(guī)范：鑒定批準(zhǔn)。JEC1178-3-1構(gòu)成空白詳細(xì)規(guī)范：鑒定批準(zhǔn)。本標(biāo)準(zhǔn)文本以下列文件為依據(jù)：國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)草案表決報(bào)省49（C0)22249（C0239表決批準(zhǔn)本標(biāo)準(zhǔn)的詳細(xì)資料可在上表列出的表決報(bào)告中查閱。本標(biāo)準(zhǔn)封面上的QC號(hào)是IECQ規(guī)范號(hào)。

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)石英晶體元件電子元器件質(zhì)量評(píng)定體系規(guī)范第1部分:總規(guī)范9.13373-1996idtiec1178-1：1993Quartzcrystalunits-Aspecificationinthe代替GB12273-90QualityAssessmentSystemforElectronicComponentsPart1:Genericspecification1總則1.1范圍本標(biāo)準(zhǔn)按IECQC001002第11章規(guī)定了采用能力批準(zhǔn)程序或鑒定批準(zhǔn)程序評(píng)定質(zhì)量的石英品體元件的試驗(yàn)方法和通用性要求。1.2引用標(biāo)準(zhǔn)下列標(biāo)準(zhǔn)所包含的條文，通過(guò)在本標(biāo)準(zhǔn)中引用而構(gòu)成為本標(biāo)準(zhǔn)的條文。本標(biāo)準(zhǔn)出版時(shí),所示版本均為有效。所有標(biāo)準(zhǔn)都會(huì)被修訂，使用本標(biāo)準(zhǔn)的各方應(yīng)探討、使用下列標(biāo)準(zhǔn)最新版本的可能性。GB/T16516一1996石英晶體元件電子元器件質(zhì)量評(píng)定體系規(guī)范第2部分：分規(guī)范能力批推(idtIEC1178-2:1993）石英晶體元件電子元器件質(zhì)量評(píng)定體系規(guī)范，第3部分：分規(guī)范GB/T16517一1996鑒定批推(idtIEC1178-3:1993)1EC和ISO成員國(guó)存有現(xiàn)行有效國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)目錄，IEC27電氣術(shù)語(yǔ)用文字符號(hào)IEC50國(guó)際電工技術(shù)詞匯(IEV)IEC68-1(1988）環(huán)境試驗(yàn)——第1部分：總則和導(dǎo)則IEC68-2-1(1990）環(huán)境試驗(yàn)一—第2部分:各種試驗(yàn)——試驗(yàn)A:寒冷IEC68-2-2（1974)環(huán)境試驗(yàn)——第2部分：各種試驗(yàn)一試驗(yàn)B：干熱補(bǔ)充A(1976）IEC68-2-3（1969環(huán)境試驗(yàn)——第2部分：各種試驗(yàn)-試驗(yàn)Ca:穩(wěn)