GB/T 12273.501-2012石英晶體元件電子元器件質(zhì)量評(píng)定體系規(guī)范第5.1部分：空白詳細(xì)規(guī)范鑒定批準(zhǔn)

ICS31140

L21.

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T12273501—2012

代替.

GB/T15020—1994

石英晶體元件

電子元器件質(zhì)量評(píng)定體系規(guī)范

第51部分空白詳細(xì)規(guī)范

.:

鑒定批準(zhǔn)

Quartzcrystalunits—

Aspecificationinthequalityassessmentsystemforelectroniccomponents—

Part51Blankdetailspecification—Qualificationapproval

.:

(IEC61178-3-1:1993,Quartzcrystalunits

AspecificationintheIECQualityAssessmentSystem

forElectronicComponents(IECQ)—

Part3:Sectionalspecification—Qualificationapproval—

Section1:Blankdetailspecification,MOD)

2012-11-05發(fā)布2013-02-15實(shí)施

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布

中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T12273501—2012

.

前言

本部分按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

石英晶體元件電子元器件質(zhì)量評(píng)定體系規(guī)范分為如下幾個(gè)部分

GB/T12273《》:

第部分總規(guī)范

———1:;

第部分使用指南

———2:;

第部分標(biāo)準(zhǔn)外形和引出端連接

———3:;

第部分分規(guī)范能力批準(zhǔn)

———4:;

第部分空白詳細(xì)規(guī)范能力批準(zhǔn)

———4.1:;

第部分分規(guī)范鑒定批準(zhǔn)

———5:;

第部分空白詳細(xì)規(guī)范鑒定批準(zhǔn)

———5.1:。

本部分為的第部分

GB/T122735.1。

本部分代替電子設(shè)備用石英晶體元件空白詳細(xì)規(guī)范電阻焊石英晶體元

GB/T15020—1994《

件評(píng)定水平與相比除編輯性修改外主要變化如下

E》,GB/T15020—1994,:

由于本標(biāo)準(zhǔn)的體系增加了分規(guī)范空白詳細(xì)規(guī)范根據(jù)分規(guī)范修改相應(yīng)的引用內(nèi)容

———,;

刪去了應(yīng)該直接寫在分規(guī)范中的規(guī)定內(nèi)容

———;

標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)按標(biāo)準(zhǔn)不同部分進(jìn)行了調(diào)整

———。

本部分使用重新起草法修改采用石英晶體元件電子元器件質(zhì)量評(píng)定

IEC61178-3-1:1993《IEC

體系第部分分規(guī)范鑒定批準(zhǔn)第一篇空白詳細(xì)規(guī)范

3::》。

本部分與相比在結(jié)構(gòu)上有調(diào)整原因是被代

IEC61178-3-1:1993,:IEC61178-1IEC60122-1:2002

替目前的其他部分還繼續(xù)有效根據(jù)的預(yù)計(jì)結(jié)構(gòu)本部分應(yīng)為的

,IEC61178。IEC60122,IEC60122

第部分待修訂時(shí)即進(jìn)行編號(hào)調(diào)整本部分采用了的預(yù)計(jì)結(jié)構(gòu)這樣的結(jié)構(gòu)清晰并方

5.1,。IEC60122。

便使用并且與有關(guān)頻率控制和選擇用元器件規(guī)范結(jié)構(gòu)的調(diào)整趨勢一致

,IEC。

本部分作了下列編輯性修改

:

外形和尺寸圖由第三視角改為第一視角

———;

規(guī)范性引用文件中的文件為目前的現(xiàn)行版本

———IEC。

用代替計(jì)數(shù)檢查抽樣方案和程序前者與后者在使用中

———GB/T2828.1—2003IEC410:1973,

無技術(shù)性差異

。

本部分由中華人民共和國工業(yè)和信息化部提出

。

本部分由全國頻率控制與選擇用壓電器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口

(SAC/TC182)。

本部分起草單位中國電子元件行業(yè)協(xié)會(huì)壓電晶體分會(huì)中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究所

:、。

本部分主要起草人章怡姜連生李曉英

:、、。

本部分所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為

:

———GB/T15020—1994。

Ⅰ

GB/T12273501—2012

.

序言

空白詳細(xì)規(guī)范

空白詳細(xì)規(guī)范是分規(guī)范的補(bǔ)充文件它規(guī)定了詳細(xì)規(guī)范的格式和最小內(nèi)容要求

,。

在制定詳細(xì)規(guī)范時(shí)應(yīng)將第章要求考慮進(jìn)去

,GB/T12273—19962。

對(duì)于生產(chǎn)批量小的晶體元件可以不采用本規(guī)范推薦采用能力批準(zhǔn)

,,。

詳細(xì)規(guī)范的識(shí)別

對(duì)于本頁方括號(hào)的數(shù)字應(yīng)在相應(yīng)位置填上下列相應(yīng)項(xiàng)目內(nèi)容

,:

按其權(quán)限發(fā)布詳細(xì)規(guī)范的國家標(biāo)準(zhǔn)機(jī)構(gòu)名稱適用時(shí)可從該機(jī)構(gòu)得到詳細(xì)規(guī)范

[1]。,。

編號(hào)和由分配給的詳細(xì)規(guī)范編號(hào)

[2]IECQIEC。

總規(guī)范和相關(guān)分規(guī)范編號(hào)及其版本號(hào)若有差異也可加上國家標(biāo)記

[3]:,。

與編號(hào)不同的詳細(xì)規(guī)范的國家編號(hào)出版日期以及國家體制要求的任何進(jìn)一步內(nèi)容

[4]IECQ、,

和任何修訂的編號(hào)

。

石英晶體元件的識(shí)別

石英晶體元件或石英晶體元件范圍的簡述如標(biāo)稱頻率泛音次數(shù)切型振動(dòng)模式

[5](、、、)。

按及其修改件的典型結(jié)構(gòu)的內(nèi)容適用時(shí)如電阻焊冷壓焊

[6]IEC60122-3()(、)。

對(duì)于和詳細(xì)規(guī)范給出的內(nèi)容應(yīng)按和填入足夠的內(nèi)容

[5][6],IECQC001005IECQC001004。

標(biāo)有主要互換性尺寸的外形圖它應(yīng)符合及其修訂件和或符合相應(yīng)的國家或

[7],IEC60122-3()

國際標(biāo)準(zhǔn)文件中關(guān)于外形的要求此外該圖也可在詳細(xì)規(guī)范的附錄中給出

。,。

可從獲得規(guī)范版本號(hào)

[1][2]

發(fā)布日期

第頁共頁

,

按

GB/T12273—1996[3][4]

鑒定批準(zhǔn)評(píng)定質(zhì)量的元器件

外形和尺寸石英晶體元件

[7][5]

第一視角

()

晶體盒

[6]

單位

:mm

Ⅱ

GB/T12273501—2012

.

石英晶體元件

電子元器件質(zhì)量評(píng)定體系規(guī)范

第51部分空白詳細(xì)規(guī)范

.:

鑒定批準(zhǔn)

1額定值

優(yōu)先額定值見的

GB/T12273—19962.3。

工作溫度范圍

———;

電路條件

———;

最大激勵(lì)電平

———;

激勵(lì)電平測量

———;

氣候類別

———;

機(jī)械試驗(yàn)嚴(yán)酷度

———。

按本詳細(xì)規(guī)范批準(zhǔn)合格的元件制造廠的資料可從得到

IECQC001005。

2特性值

特性值見的

GB/T12273—19962.2。

標(biāo)稱頻率范圍

———/;

基準(zhǔn)溫度

———;

頻差

———;

最大諧振電阻

———。

另外也可以規(guī)定下述的其他特性

,:

最大并電容

———;

動(dòng)態(tài)參數(shù)或頻率牽引范圍

———;

無用響應(yīng)

———;

老化

———;

激勵(lì)電平相關(guān)性

———。

注若有必要上述特性可以表