標(biāo)準(zhǔn)解讀
《GB/T 13592-1992 表面分析術(shù)語(yǔ)》是中國(guó)一項(xiàng)關(guān)于表面分析領(lǐng)域?qū)I(yè)術(shù)語(yǔ)的標(biāo)準(zhǔn)文件。此標(biāo)準(zhǔn)旨在統(tǒng)一和規(guī)范在材料科學(xué)、化學(xué)、物理學(xué)及其交叉學(xué)科中,進(jìn)行物體表面及近表面層特性分析時(shí)所使用的專業(yè)詞匯和定義,以促進(jìn)學(xué)術(shù)交流和技術(shù)文檔的一致性與準(zhǔn)確性。下面是對(duì)該標(biāo)準(zhǔn)主要內(nèi)容的概述:
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范圍:標(biāo)準(zhǔn)明確了適用范圍,即規(guī)定了在進(jìn)行材料表面分析時(shí)常用的各種技術(shù)、方法以及分析結(jié)果表述中涉及的關(guān)鍵術(shù)語(yǔ)及其定義。
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術(shù)語(yǔ)定義:
- 表面分析:指對(duì)材料表面或近表面區(qū)域的化學(xué)成分、元素分布、分子結(jié)構(gòu)、晶體結(jié)構(gòu)、電子態(tài)及表面形貌等特性的分析技術(shù)。
- 散射法:通過(guò)測(cè)量入射粒子(如光子、電子)與樣品表面相互作用后散射的強(qiáng)度和角度來(lái)分析表面結(jié)構(gòu)和成分的方法。
- 吸附分析:研究氣體或液體分子在固體表面吸附行為的技術(shù),包括物理吸附和化學(xué)吸附。
- 光電子能譜(PES):一種利用高能粒子(如X射線或紫外線)激發(fā)樣品表面原子或分子,測(cè)量逸出的光電子能量分布來(lái)確定表面元素種類和電子態(tài)的技術(shù)。
- 二次離子質(zhì)譜(SIMS):通過(guò)轟擊樣品表面產(chǎn)生并檢測(cè)二次離子,以分析表面和淺表層的元素組成和同位素比的技術(shù)。
- 原子力顯微鏡(AFM):利用探針在樣品表面掃描,通過(guò)檢測(cè)探針與樣品間原子間力的變化來(lái)獲得表面微觀形貌信息的高分辨率成像技術(shù)。
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分析深度與分辨率:標(biāo)準(zhǔn)還界定了分析技術(shù)所能達(dá)到的深度范圍和空間分辨率,幫助用戶根據(jù)分析需求選擇合適的方法。
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數(shù)據(jù)處理與解釋:介紹了表面分析數(shù)據(jù)的基本處理方法和解釋原則,確保分析結(jié)果的準(zhǔn)確性和可比性。
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- 廢止
- 已被廢除、停止使用,并不再更新
- 1992-08-20 頒布
- 1993-03-01 實(shí)施



文檔簡(jiǎn)介
UDC620.18:001.4A42中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T13592-92表面分析術(shù)語(yǔ)Termsrelatingtosurfaceanalysis1992-08-20發(fā)布1993-03-01實(shí)施國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布
目次一主題內(nèi)容與適用范圍俄歇電子能譜術(shù)射線光電子能譜術(shù)二次離子質(zhì)譜術(shù)55離子散射譜術(shù)附錄A漢語(yǔ)拼音索引補(bǔ)充件)012附錄B英文索引補(bǔ)充件》·(14)
中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T13592-92析術(shù)面分語(yǔ)Termsrelatingtosurfaceanalysis1主題內(nèi)客與適用范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了表面分析四種常用技術(shù)(俄歇電子能譜術(shù)、X射線光電子能譜術(shù)、二次離子質(zhì)譜術(shù)和離子散射譜術(shù))的基本術(shù)語(yǔ)。本標(biāo)準(zhǔn)適用于制訂表面分析標(biāo)準(zhǔn)與編寫(xiě)技術(shù)文件和書(shū)刊時(shí)使用歌電子能譜術(shù)2.1歇電子能譜術(shù)Augerelectronspectroscopy用電子或其他激發(fā)源使樣品原子的內(nèi)電子殼層形成空位并發(fā)生俄歇過(guò)程.測(cè)量俄歇電子能量分布的技術(shù)。取英文字首簡(jiǎn)稱AES。2.2俄歇過(guò)程Augerprocess內(nèi)電子殼層有空位的原子通過(guò)發(fā)射電子的弛豫過(guò)程.2.3歇電子Augerelectron俄歇過(guò)程所發(fā)射的電子。2.4俄歇電子產(chǎn)額Augerclcctornyield在特定的內(nèi)電子殼層有空位的原子,經(jīng)俄歇過(guò)程而弛豫的幾率2.5俄歇躍遷Augertransition俄歇躍遷以有關(guān)的電子殼層標(biāo)志。一般用三個(gè)字母,第一字母表示初始空位所在的殼層,后兩字母表示發(fā)生俄歌發(fā)射后形成的兩個(gè)空位所在的殼層(如KLL,LMN)。當(dāng)躍遷涉及鍵合電子時(shí),用字母V表示(如LMV,KVV)。如果知悉躍遷有關(guān)的特定電子亞殼層,則可加亞殼層標(biāo)志(如KL.L.)。如果合項(xiàng)已知,則也可注明合項(xiàng)(如LaMi.M,.,D)。對(duì)復(fù)雜的俄歇過(guò)程(如多重起始電離、附加的電子激發(fā))可籽初態(tài)和終態(tài)用短劃"-"分開(kāi)(如LL-VV、K-VVV)。2.6Coster-Kronig躍遷Coster-Kronigtransition俄歇過(guò)程涉及的電子中有一個(gè)電子與初始空位在同一主殼層(如L,LM),則稱此過(guò)程為Coster-Kronig躍遷。如果兩個(gè)電子都與初始空位在同一主殼層(如M.M.M.),則稱為超Coster-Kronig躍遷。2.7歇躍遷速率Augertransitionrate單位時(shí)間內(nèi),兩個(gè)束縛電子發(fā)生能量狀態(tài)躍遷的幾率。在此躍遷中,一個(gè)電子填入內(nèi)電子殼層的初始空位,而另一個(gè)電子則進(jìn)入能量為正的連續(xù)區(qū)終態(tài),2.8電離數(shù)面ionizationcross-section一入射粒子穿越氣體或固體時(shí)發(fā)生電離碰撞的幾率??傠婋x截面包括由初級(jí)電離碰撞和隨后的Coster-Kronig或俄歌衰變過(guò)程所產(chǎn)生的所有電子空位。分電離截面則僅含某一特定過(guò)程產(chǎn)生的電子空位,例如在一特定殼
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