GB/T 13742-1992光學(xué)傳遞函數(shù)測量準確度

UDC535.3：53.08N33中華人民共和國國家標準CB/T13742-92光學(xué)傳遞函數(shù)測量準確度Opticaltranserfunction-accuracyofmeasurement1992-11-04發(fā)布1993-08-01實施國家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

中華人民共和國國家標準GB/T13742-92光學(xué)傳遞函數(shù)測量準確度Opticaltranserfunction-accuracyofmeasurement主題內(nèi)容與適用范圍本標準規(guī)定了對光學(xué)傳遞函數(shù)測量裝置的性能和準確度進行評價的導(dǎo)則，并提出了光學(xué)傳遞函數(shù)測量中的主要誤差來源、誤差的檢驗方法、誤差計算、測量準確度等。本標準適用于各種光學(xué)傳遞函數(shù)測量裝置。2引用標準GB4315.1光學(xué)傳遞函數(shù)術(shù)語符號GB4315.2光學(xué)傳遞西數(shù)測量導(dǎo)則3測量裝置的誤差來源3.1光學(xué)臺的幾何條件光學(xué)臺用于安放“測試圖樣”、"被測樣品”以及“像分析器”,使它們處于正確的幾何關(guān)系下(即：由選擇的成像狀態(tài)來定義)。為了滿足正確的幾何關(guān)系·通常要靠導(dǎo)軌的直線性、導(dǎo)軌之間的垂直度、或被測樣品相對于參考面之間的平行度以及角度標尺的準確度來保證。香則,將導(dǎo)致對理想的成像狀態(tài)的偏離，引起光學(xué)傳遞兩數(shù)的測量誤差。光學(xué)臺幾何參數(shù)對測量準確度的影響取決于所采用的瀏量布局,下面所列為GB4315.2所推薦的測量布局中的主要誤差源及產(chǎn)生的MTF偏差。3.1.1物和像均處于有限遠測試圖樣和像分析器的導(dǎo)軌必須垂直于“參考軸”。直線度和垂直度偏差將造成對理想像面的偏離，從而導(dǎo)致MTF測量誤差由像高以及物像距的裝定所帶來的誤差也會對MTF測量產(chǎn)生影響。3.1.2物處于無限遠此種狀態(tài)下只有像方（或物方)導(dǎo)軌相對于理想像面的偏離和像高或視場角的裝定誤差會對MIF測量產(chǎn)生影響。若使用準直物鏡，還存在物方無限遠的調(diào)整誤差。若未使用準直物鏡，而是采用加長物距來近似無限遠的情況下,必須保證足夠遠的物距，至少在鏡頭的50倍焦距以上(除非特殊規(guī)定)。否則，將造成較大的MTF偏差。3.1.3物和像均處于無限遠此種狀態(tài)下,當改變像方視場角時，像方準直管必須與像分析器連動,并繞一個通過出障、且垂直于參考軸的軸線旋轉(zhuǎn)，以保證像分析器與無焦系統(tǒng)之間不產(chǎn)生橫向偏移,從而不產(chǎn)生由于工作焦點隨像方角度改變而帶來的MTF誤差。如果所采用的測量布局無法保證上述要求，或者由