標準解讀
《GB/T 14028-2018 半導體集成電路 模擬開關測試方法》與《GB/T 14028-1992 半導體集成電路模擬開關測試方法的基本原理》相比,主要在以下幾個方面進行了更新和調整:
-
技術內容的更新:2018版標準對模擬開關的測試項目、測試條件、測試方法及性能評價指標等方面進行了詳細規(guī)定,相比1992版,新增了多項針對當前半導體技術發(fā)展的新型測試要求,以適應更高集成度、更快速度和更低功耗的集成電路產品特性。
-
測試方法的完善:新版標準引入了更為精確和高效的測量技術,包括自動化測試流程、高速信號完整性測試技術等,提高了測試結果的準確性和可重復性。同時,對于噪聲、串擾、開關速度等關鍵參數(shù)的測試方法給出了具體指導。
-
標準化與國際接軌:2018版標準在制定過程中參考了國際上先進的測試標準和實踐,力求與國際標準體系保持一致,便于國內外產品的互認與交流,提升了中國半導體行業(yè)在國際市場上的競爭力。
-
術語和定義的修訂:隨著技術進步,一些專業(yè)術語和定義有了新的變化。新標準對此進行了修訂和完善,確保了術語的準確性和時代性,便于讀者理解和應用。
-
安全與環(huán)境要求:考慮到環(huán)境保護和生產安全的重要性,2018版標準可能還新增或強化了關于測試過程中的安全操作規(guī)范和環(huán)保要求,確保測試活動符合國家相關的法律法規(guī)。
-
適用范圍的明確:新標準可能對模擬開關的適用類型、工作頻率范圍、電壓及電流等級等做了更明確的界定,使得標準的適用范圍更加清晰,便于不同應用場景下的選擇和執(zhí)行。
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....
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- 現(xiàn)行
- 正在執(zhí)行有效
- 2018-03-15 頒布
- 2018-08-01 實施
文檔簡介
ICS31200
L56.
中華人民共和國國家標準
GB/T14028—2018
代替
GB/T14028—1992
半導體集成電路
模擬開關測試方法
Semiconductorintegratedcircuits—
Measuringmethodofanalogueswitch
2018-03-15發(fā)布2018-08-01實施
中華人民共和國國家質量監(jiān)督檢驗檢疫總局發(fā)布
中國國家標準化管理委員會
GB/T14028—2018
目次
前言
…………………………Ⅰ
范圍
1………………………1
規(guī)范性引用文件
2…………………………1
術語和定義
3………………1
總則
4………………………2
測試環(huán)境要求
4.1………………………2
測試注意事項
4.2………………………3
電參數(shù)符號
4.3…………………………3
參數(shù)測試
5…………………4
模擬電壓工作范圍V
5.1(A)……………4
導通電阻R
5.2(on)………………………5
導通電阻路差R
5.3(Δon)………………6
截止態(tài)漏極漏電流I
5.4[D(off)]…………6
截止態(tài)源極漏電流I
5.5[S(off)]…………7
導通態(tài)漏電流I
5.6[DS(on)]………………8
開啟時間t
5.7(on)………………………9
關斷時間t
5.8(off)………………………11
通道轉換時間t
5.9(T)…………………12
最高控制頻率f
5.10(CM)………………13
截止態(tài)隔離度K
5.11(OIRR)……………14
截止態(tài)饋通頻率f
5.12(F)……………15
導通態(tài)串擾衰減α
5.13[x(on)]…………16
輸入串擾衰減α
5.14[x(IN)]……………17
控制信號串擾V
5.15(CA)………………18
導通電阻路差率R
5.16(ON_Match)………………………18
導通電阻溫度漂移率R
5.17(ON_Drift)…………………19
通道轉換無效輸出時間t
5.18(open)……………………19
電荷注入量Q
5.19(INJ)………………21
GB/T14028—2018
前言
本標準按照給出的規(guī)則起草
GB/T1.1—2009。
本標準代替半導體集成電路模擬開關測試方法的基本原理與
GB/T14028—1992《》,GB/T14028—
相比主要技術變化如下
1992:
增加了導通電阻路差率導通電阻溫度漂移率通道轉換無效輸出時間電荷注入量項測試
———、、、4
方法見
(5.16、5.17、5.18、5.19);
修改了第章中對測試規(guī)定的說明
———4;
修改了全文圖表的表述形式
———、;
修改了通道轉換時間測試方法中轉換對象i為j
———“”“+1”“”;
增加了對截止態(tài)漏極漏電流測試方法中未定義的多路模擬開關測試說明
———“”;
修改了通道轉換時間測試方法測試方法中存在圖文歧義的含義
———“”10%。
請注意本文件的某些內容可能涉及專利本文件的發(fā)布機構不承擔識別這些專利的責任
。。
本標準由中華人民共和國工業(yè)和信息化部提出
。
本標準由全國半導體器件標準化技術委員會歸口
(SAC/TC78)。
本標準起草單位中國航天科技集團公司第九研究院第七七一研究所圣邦微電子北京股份有限
:、()
公司西北工業(yè)大學
、。
本標準主要起草人張冰李雷陳志培閆輝朱華黃德東
:、、、、、。
Ⅰ
GB/T14028—2018
半導體集成電路
模擬開關測試方法
1范圍
本標準規(guī)定了雙極結型場效應半導體集成電路模擬開關以下稱為器件參數(shù)測試方法
、MOS、()。
本標準適用于半導體集成電路模擬開關也適用于多路轉換器參數(shù)的測試
,。
2規(guī)范性引用文件
下列文件對于本文件的應用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文
。,
件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件
。,()。
半導體器件集成電路第部分模擬集成電路
GB/T17940—20003:
3術語和定義
下列術語和定義適用于本文件
。
31
.
模擬電壓工作范圍analogswitchrange
在導通電流為額定值時模擬開關傳送的電壓范圍
。
32
.
導通電阻onresistance
模擬開關導通時開關兩端間的電阻
,。
33
.
導通電阻路差onresistancematchbetweenchannels
對于含多個模擬開關的器件或模擬多路轉換器各路開關導通電阻間的最大差值
,
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