GB/T 16863-1997晶體折射率的試驗(yàn)方法

ICS17.180.01105中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T16863-1997晶體折射率的試驗(yàn)方法Methodfortestingrefractiveindexofcrystals1997-06-16發(fā)布1997-12-01實(shí)施國家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

CB/T16863-1997前本標(biāo)準(zhǔn)根據(jù)GB/T1.1標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則、表述了在可見光范圍用棱鏡最小偏向角法測量品體折射本的試驗(yàn)方法。該方法相比于其他的油浸法、臨界角法、干涉法而言，娶求的條件比較容易滿足·也能達(dá)到較高的精度，但要求品體樣品的尺寸較大。本標(biāo)準(zhǔn)由中國科學(xué)院提出。本標(biāo)準(zhǔn)由中國科學(xué)院物理研究所歸口。本標(biāo)準(zhǔn)起草單位：中國科學(xué)院物理研究所。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：周紫、張道范、楊華光

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T16863-1997晶體折射率的試驗(yàn)方法Methodfortestingrefractiveindexorcrystals范園本標(biāo)惟規(guī)定在室溫下，可見光波段范圍內(nèi)，用最小偏向角法測量品體折射率的試驗(yàn)方法本標(biāo)準(zhǔn)適用于晶體折射率的測試。武驗(yàn)方法21原理晶體按其結(jié)品學(xué)對稱性分為七個(gè)品系。研究晶體的光學(xué)性質(zhì)時(shí)，可以分為光學(xué)各向同性品體(立方品系）、單軸晶體(包括三方、四方、六方品系)和雙軸晶體(包括正交、單斜、三斜品系)。各晶系的晶軸取向與品體的折射率橢球的主軸取向有一定關(guān)系。當(dāng)光波在各向同性晶體中傳播時(shí)，只存在一個(gè)折射率；當(dāng)光波在單軸和雙軸晶體中傳播時(shí)，將發(fā)生雙折射現(xiàn)象。光波在晶體中的傳播過程，可引入被稱為折射率楠球的三維光學(xué)示性曲面來描述，在主軸坐標(biāo)系X、Y、Z中，它的幾何表達(dá)式為：·。·?！ぁぁぁぁぁぁぃ?）式中："i·".·——為品體的主折射率。對于各向同性晶體，"一"=m=a;對于單軸晶體，晶體的高次對稱軸選為乙軸,光軸與乙軸重合。=m.=m。(正常光波的折射率）",一"：異常光波的折射率);對于雙軸晶體,它的子".子m,從幾何上說這種折射率楠球只有兩個(gè)通過坐標(biāo)原點(diǎn)的圓截面,通過原點(diǎn)垂直于兩圓截面的兩矢徑方向?yàn)楣廨S方在應(yīng)用棱鏡測折射率的方法中，以最小偏向角法所達(dá)到的準(zhǔn)確度為最高。由上可知，若測光學(xué)各向同性的晶體折射率時(shí)，只需加工一個(gè)任意取向的棱鏡樣品。測試單軸品體的兩個(gè)主折射率時(shí)，需加工一個(gè)有一定取向的棱鏡樣品，見圖.1。晶體的結(jié)晶學(xué)高次對稱軸,即光軸，必須位于棱鏡折射棱角的等分面內(nèi)(如虛線所示)。通常為了定向和測試的方便，使高次對稱軸與AA"平行或垂直。測試雙軸品體的三個(gè)主折射率時(shí),必須加工兩個(gè)棱鏡樣品。對于正交晶系，兩個(gè)棱鏡的折射棱角的等分面，分別平行于品體折射率橘球的三個(gè)主截面中不相同的任意兩個(gè)，則可得到三個(gè)主折射率，通常折射率楠球的主坐標(biāo)軸與AA平行或垂直。對單斜品系，一個(gè)校鏡的折射棱角的等分面平行于品體的結(jié)品學(xué)b面(010),當(dāng)入射光波矢垂直入射到棱鏡內(nèi)的(010)面時(shí)，可測出與主折射率"相垂直的另兩個(gè)主折射率"，與”。為了確定品體的折射率楠球的主坐標(biāo)軸與其晶軸取向之間的關(guān)系，還要求使棱鏡的底面為品體的結(jié)晶學(xué)。面(或a面)。在切割另一個(gè)棱鏡時(shí)，使晶體的結(jié)晶學(xué)b軸平行于棱鏡的AA",并使晶體的結(jié)品學(xué)(001)面落在棱鏡的折射棱角的等分面上，可測出"及另一落在由"與"構(gòu)成的楠圓截面內(nèi)的一折射率"由