GB/T 17360-2008鋼中低含量 Si、Mn的電子探針定量分析方法

犐犆犛７１．０４０．９９

犖５３

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

犌犅／犜１７３６０—２００８

代替ＧＢ／Ｔ１７３６０—１９９８

鋼中低含量犛犻、犕狀的電子探針

定量分析方法

犙狌犪狀狋犻狋犪狋犻狏犲犪狀犪犾狔狊犻狊犿犲狋犺狅犱狅犳犾狅狑犮狅狀狋犲狀狋犛犻犪狀犱犕狀犻狀狊狋犲犲犾

狑犻狋犺犲犾犲犮狋狉狅狀狆狉狅犫犲犿犻犮狉狅犪狀犪犾狔狊犻狊

２００８０６１６發(fā)布２００９０３０１實(shí)施

中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局

發(fā)布

中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

書

犌犅／犜１７３６０—２００８

前言

本標(biāo)準(zhǔn)代替ＧＢ／Ｔ１７３６０—１９９８《鋼中低含量Ｓｉ、Ｍｎ的電子探針定量分析方法》。

本標(biāo)準(zhǔn)與ＧＢ／Ｔ１７３６０—１９９８相比主要變化如下：

———英文名稱修改為“ＱｕａｎｔｉｔａｔｉｖｅａｎａｌｙｓｉｓｍｅｔｈｏｄｏｆｌｏｗｃｏｎｔｅｎｔＳｉａｎｄＭｎｉｎｓｔｅｅｌｗｉｔｈｅｌｅｃ

ｔｒｏｎｐｒｏｂｅｍｉｃｒｏａｎａｌｙｓｉｓ”；

———將標(biāo)準(zhǔn)中的公式統(tǒng)一編號(hào)；

———在４．１句末加上“或配有波譜儀的掃描電鏡”；

———在４．２和６．２中將“樣品”改為“試樣”；

———在５．１中對(duì)所用樣品做了具體的要求，并去掉樣品編號(hào)；

———在６．２的“需達(dá)到分析部位無污染及其他缺陷”前加上“經(jīng)拋光和清洗后”，將“無水酒精”改為

“無水乙醇”；

———在７．１．７和７．２．１中將“背景”改為“背底”；

———在７．２．２的ａ）句末加上“見附錄Ａ”；

———在７．２．２的ｃ）中，標(biāo)定曲線的覆蓋范圍，Ｓｉ：“０．４％～３．６％”改為“（０．４０～４．５１）％”；

———在９．１中將３．６％改為４．５１％；

———在１０中將“儀器出射角”改為“儀器檢出角”，并規(guī)范了實(shí)驗(yàn)報(bào)告的格式和內(nèi)容；

———?jiǎng)h去附錄中的最后一段。

本標(biāo)準(zhǔn)的附錄Ａ為資料性附錄。

本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)提出并歸口。

本標(biāo)準(zhǔn)起草單位：中國(guó)科學(xué)院金屬研究所。

本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：孫愛芹、尚玉華、徐樂英。

本標(biāo)準(zhǔn)所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為：

———ＧＢ／Ｔ１７３６０—１９９８。

Ⅰ

書

犌犅／犜１７３６０—２００８

鋼中低含量犛犻、犕狀的電子探針

定量分析方法

１范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了低合金鋼和碳鋼中低含量Ｓｉ、Ｍｎ的電子探針定量分析方法，即標(biāo)定曲線法。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于帶波譜儀的掃描電鏡。

２規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有

的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn)，然而，鼓勵(lì)根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究

是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。

ＧＢ／Ｔ４９３０—１９９３微束分析電子探針分析標(biāo)準(zhǔn)樣品技術(shù)條件導(dǎo)則（ＧＢ／Ｔ４９３０—２００８，

ＩＳＯ１４５９５：２００３，ＩＤＴ）

ＧＢ／Ｔ１５０７４電子探針定量分析方法通則

３方法原理

在低含量范圍內(nèi)，元素發(fā)射的特征Ｘ射線的強(qiáng)度比與含量之間有近似線性關(guān)系。根據(jù)這一特點(diǎn)，

采用至少５種不同Ｓｉ含量、不同Ｍｎ含量的ＦｅＳｉ和ＦｅＭｎ系列組合標(biāo)樣各一套，在常規(guī)實(shí)驗(yàn)條件下，

分別繪制組合標(biāo)樣中Ｓｉ、Ｍｎ的含量犆犻（Ｓｉ）、犆犻（Ｍｎ）與測(cè)定的Ｓｉ和Ｍｎ的Ｘ射線強(qiáng)度比犓犻（Ｓｉ）、

犓犻（Ｍｎ）的關(guān)系曲線（稱為標(biāo)定曲線，見圖Ａ．１），便可由測(cè)量強(qiáng)度比，在該標(biāo)定曲線上獲得待測(cè)鋼樣中

低含量Ｓｉ、Ｍｎ的含量。

在一定實(shí)驗(yàn)條件下，元素Ｓｉ、Ｍｎ的Ｘ射線強(qiáng)度比犓犻（Ｓｉ）、犓犻（Ｍｎ）由式（１）、式（２）給出：

犓犻（Ｓｉ）＝犐犻（Ｓｉ）／犐ｓｔ（Ｓｉ）………………（１）

犓犻（Ｍｎ）＝犐犻（Ｍｎ）／犐ｓｔ（Ｍｎ）………………（２）

式中：

犐犻（Ｓｉ）、犐犻（Ｍｎ）分別為ＦｅＳｉ、ＦｅＭｎ組合標(biāo)樣的Ｓｉ犓α、Ｍｎ犓α線的強(qiáng)度；

犐ｓｔ（Ｓｉ）、犐ｓｔ（Ｍｎ）分別為純Ｓｉ、純Ｍｎ標(biāo)樣中Ｓｉ犓α、Ｍｎ犓α線的強(qiáng)度；

犻為組合標(biāo)樣中單個(gè)標(biāo)樣的序號(hào)。

４儀器與輔助設(shè)備

４．１電子探針分析儀或配有波譜儀的掃描電鏡。

４．２制備試樣裝置和金相顯微鏡。

４．３超聲波清洗裝置。

５標(biāo)樣

５．１推薦使用符合ＧＢ／Ｔ４９３０—１９９３電子探針分析標(biāo)準(zhǔn)樣品通用技術(shù)條件的標(biāo)準(zhǔn)樣品，本標(biāo)準(zhǔn)所用

ＦｅＳｉ組合標(biāo)樣，其中Ｓｉ的標(biāo)準(zhǔn)成分分別是：０．