標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 17360-1998 鋼中低含量Si、Mn的電子探針定量分析方法》是一項(xiàng)由中國(guó)發(fā)布的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)，旨在規(guī)定使用電子探針顯微分析技術(shù)（EPMA）來(lái)定量測(cè)定鋼鐵材料中硅（Si）和錳（Mn）這兩種元素含量的低水平檢測(cè)方法。此標(biāo)準(zhǔn)適用于鋼鐵樣品中硅含量范圍大約在0.01%至0.5%，錳含量范圍在0.1%至2.0%的情況。下面是該標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容的幾個(gè)關(guān)鍵點(diǎn)概述：

  1. 適用范圍與目的：明確了該標(biāo)準(zhǔn)適用于測(cè)定鋼鐵材料中低濃度的硅和錳元素，目的是為了提供一種準(zhǔn)確、可靠的分析手段，以滿足特定工業(yè)生產(chǎn)和質(zhì)量控制的需求。

  2. 電子探針顯微分析技術(shù)（EPMA）簡(jiǎn)介：標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)要介紹了電子探針顯微分析的基本原理，這是一種基于聚焦電子束激發(fā)樣品表面產(chǎn)生的特征X射線進(jìn)行元素分析的技術(shù)，能夠?qū)崿F(xiàn)微區(qū)成分分析，具有較高的空間分辨率和定量分析能力。

  3. 樣品制備：詳細(xì)說(shuō)明了樣品的選取、切割、鑲嵌、磨拋及表面處理等前處理步驟，確保樣品表面平整、清潔且無(wú)污染，以減少分析誤差。

  4. 儀器校準(zhǔn)與設(shè)定：規(guī)定了電子探針儀的操作參數(shù)設(shè)置，包括加速電壓、束流強(qiáng)度、探測(cè)器選擇與校正等，以及如何通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)參考物質(zhì)進(jìn)行儀器校準(zhǔn)，確保測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性。

  5. 分析方法：闡述了具體分析步驟，包括測(cè)定點(diǎn)的選擇、X射線信號(hào)的采集、背景扣除、定量分析模型（如克拉珀龍校正或經(jīng)驗(yàn)公式）的應(yīng)用等，指導(dǎo)用戶如何利用獲得的數(shù)據(jù)計(jì)算出樣品中硅和錳的精確含量。

  6. 質(zhì)量控制與數(shù)據(jù)處理：提供了質(zhì)量控制措施，如重復(fù)測(cè)量、空白試驗(yàn)及與其它分析方法比對(duì)等，以評(píng)估分析結(jié)果的可靠性和準(zhǔn)確性。同時(shí)，指出了數(shù)據(jù)處理方法，包括統(tǒng)計(jì)分析和不確定度評(píng)估。

  7. 安全操作規(guī)范：提及了在進(jìn)行電子探針?lè)治鰰r(shí)應(yīng)遵循的安全操作規(guī)程，以保障操作人員的安全和儀器設(shè)備的正常運(yùn)行。


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  • 1998-05-08 頒布
  • 1998-12-01 實(shí)施
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文檔簡(jiǎn)介

ICS37.020N33中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T17360—1998鋼中低含量Si、Mn的電子探針定量分析方法MethodofquantitativeelectronprobemicroanalysisonlowcontentsofSiandMninsteels1998-05-08發(fā)布1998-12-01實(shí)施國(guó)家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

GB/T17360-1998前本標(biāo)準(zhǔn)尚無(wú)相應(yīng)的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)，為首次制定的我國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)。本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)提出并歸口。本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)負(fù)責(zé)解釋本標(biāo)準(zhǔn)起草單位：中國(guó)科學(xué)院金屬研究所。本標(biāo)準(zhǔn)起草人：尚玉華、徐樂(lè)英。注：本工作得到了國(guó)家自然科學(xué)基金（59471067）號(hào)的資助。

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)鋼中低含量Si、Mn的電子探針定量分析方法GB/T17360-1998MethodofquantitativeelectronprobemicroanalysisonlowcontentsofSiandMninsteels本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了低合金鋼和碳鋼中低含量Si、Mn的電子探針定量分析方法標(biāo)定曲線法、本標(biāo)準(zhǔn)適用于帶波譜儀的掃描電鏡。2引用標(biāo)準(zhǔn)下列標(biāo)準(zhǔn)所包含的條文，通過(guò)在本標(biāo)準(zhǔn)中引用而構(gòu)成為本標(biāo)準(zhǔn)的條文。本標(biāo)準(zhǔn)出版時(shí),所示版本均為有效。所有標(biāo)準(zhǔn)都會(huì)被修訂，使用本標(biāo)準(zhǔn)的各方應(yīng)探討使用下列標(biāo)準(zhǔn)最新版本的可能性。GB/T4930-93電子探針?lè)治鰳?biāo)準(zhǔn)樣品通用技術(shù)條件GB/T15074—94電子探針定量分析方法通則3方法原理在低含量范圍內(nèi)，元素發(fā)射的特征X射線的強(qiáng)度比與含量之間近似線性關(guān)系。根據(jù)這一特點(diǎn)，采用至少五種不同Si含量、不同Ma含量的Fe-Si和Fe-Ma系列組合標(biāo)樣各一套。在常規(guī)實(shí)驗(yàn)條件下，分別繪制出組合標(biāo)樣中Si、Mn的含量C(Si)、C(Mn)與測(cè)定的Si和Mn的X射線強(qiáng)度比K,（Si)、K,(Mn)的關(guān)系曲線(稱為標(biāo)定曲線,見圖A1）,利用標(biāo)定曲線便可由測(cè)量強(qiáng)度比，在標(biāo)定曲線上獲得待測(cè)鋼樣中低含量Si、Mn的含量。在一定實(shí)驗(yàn)條件下，元素Si、Ma的X射線強(qiáng)度比K,Si)、K,Mn)由下式給出：KSi）一l（Si)/1（Si)K（Mn）=/(Mn)/la(Mn)上述兩式中的／（Si)、(Mn)分別為Fe-Si、Fe-Mn組合標(biāo)樣SiKa、MnKa線的強(qiáng)度，7.（Si)、1.Mn)分別為純Si、純Mn標(biāo)樣中SiKa、MnKa線的強(qiáng)度，為組合標(biāo)樣中單個(gè)標(biāo)樣的序號(hào)。4儀器與輔助設(shè)備電子探針?lè)治鰞x4.2制備樣品裝置和金相顯微鏡、4.3超聲波清洗裝置。5標(biāo)樣5.1推薦國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)樣品：Fe-Si組合標(biāo)樣，編號(hào)為6S8A70107～70114一96，其中Si的標(biāo)準(zhǔn)成分分別是0.42%,0.63%,0.71%,0.87%,1.65%,2.92%,3.5

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