• 被代替
  • 已被新標準代替，建議下載現(xiàn)行標準GB/T 4930-2008
  • 1993-08-30 頒布
  • 1994-07-01 實施
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GB/T 4930-1993電子探針分析標準樣品通用技術條件_第1頁
GB/T 4930-1993電子探針分析標準樣品通用技術條件_第2頁
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UDC621.317：620.11中華人民共和國國家標準GB/T4930-93電子探針分析標準樣品通用技術條件Generalspecificationofelectronprobemicroanalysisstandardspecimen1993-08-30發(fā)布1994-07-01實施國家技術監(jiān)督局發(fā)布

中華人民共和國國家標準GB/T4930-93電子探針分析標準樣品通用技術條件代替GB4930-85Generalspecificationofelectronprobemicroanalysisstandardspecimen主題內容與適用范圍本技術條件適用于電子探針、X射線微區(qū)定量分析用的標準樣品（以下簡稱標樣）.2標樣2.1材料2.1.1標樣材料應致密，成分均勻而穩(wěn)定，能長期保存和使用2.1.2標樣材料最小粒度應大于0.2mm。2.1.3標樣材料的母體應有足夠量，供批量生產使用。-一般應多于2g（粒度不小于0.2mm），除足夠供應化學定值等消耗外，保證能在被確認后制成200個以上的標樣成品。2.1.4合成材料應提供制作工藝簡明資料，天然礦物應提供來源及選礦流程資料。2.2尺寸與制作2.2.1單個標樣將標樣材料鑲嵌在用外徑3mm或6mm的黃銅管，紫銅管，白銅或不銹鋼管內，工作平面拋光，端面要與柱軸垂直。最終產品應為3mm×8mm±1mm或6mmX8mm±1mm。2.2.2組合標樣將多種標樣材料鑲嵌在外徑25.4mm，高10mm的黃銅、白銅、無磁不銹鋼圓柱體上。工作面磨平拋光并與柱軸垂直。2.2.3特殊標樣指滿足電子探針定量分析要求制成的其他尺寸規(guī)格和形狀的標樣。2.3外觀檢查2.3.1用光學顯微鏡檢查標樣表面，每平方毫米不超過40條劃痕和臺階。2.3.2凡含有過量夾雜、偏析、包體或不同化學相的物質不能作探針標樣的材料3定值及定值原則標樣成分必須定值并標明定值準確度。由于電子探針對不同物質中不同元素的探測極限不同，因此對具體標樣的定值，應從電子探針分析實際出發(fā)，分別規(guī)定。3.1單一元素金屬、合成均勾物及單晶標樣，其雜質含量對標定元素的影響應小于該標定元素X射線計數(shù)的統(tǒng)計偏差。單一元素材料，暫不設國標樣品，有特殊需要或獨特的制作工藝者除外。3.2對含兩個和兩個以上元素的標樣(合金、多品體礦物、多品體融培體、玻璃體等材料)要求用一種或一種以上的可靠分析方法在全國探針分析標準樣品標準化技術委員會推薦的實驗室進行成分定值，全分析總量偏差應小于1%，單項分析精度應優(yōu)

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