標(biāo)準(zhǔn)解讀

GB/T 17626.15-2011 是一項(xiàng)中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)，全稱(chēng)為《電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 閃爍儀 功能和設(shè)計(jì)規(guī)范》。該標(biāo)準(zhǔn)主要規(guī)定了用于評(píng)估設(shè)備或系統(tǒng)在遭受電磁干擾時(shí)視覺(jué)可察覺(jué)的光強(qiáng)度變化（即閃爍現(xiàn)象）的測(cè)試儀器——閃爍儀的功能特性和設(shè)計(jì)要求。以下是該標(biāo)準(zhǔn)的主要內(nèi)容概述：

  1. 范圍：標(biāo)準(zhǔn)明確了其適用范圍，即規(guī)定了閃爍儀的技術(shù)要求、測(cè)試方法以及使用這些儀器進(jìn)行電磁兼容性(EMC)試驗(yàn)時(shí)應(yīng)遵循的準(zhǔn)則，以確保測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可重復(fù)性。

  2. 術(shù)語(yǔ)和定義：為確保標(biāo)準(zhǔn)的統(tǒng)一理解，首先對(duì)涉及的術(shù)語(yǔ)進(jìn)行了定義，如“閃爍度”、“閃爍頻率”、“平均亮度”等關(guān)鍵概念。

  3. 一般要求：概述了閃爍儀應(yīng)滿(mǎn)足的基本條件，包括安全要求、環(huán)境適應(yīng)性、操作界面及指示、數(shù)據(jù)處理與顯示能力等。

  4. 功能要求：

    • 測(cè)量功能：詳細(xì)說(shuō)明了閃爍儀需具備測(cè)量光信號(hào)閃爍度、頻率、持續(xù)時(shí)間及調(diào)制深度等參數(shù)的能力。
    • 校準(zhǔn)與標(biāo)定：規(guī)定了儀器的校準(zhǔn)方法和周期，確保測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性。
    • 數(shù)據(jù)處理：要求儀器能對(duì)采集的數(shù)據(jù)進(jìn)行分析處理，提供統(tǒng)計(jì)報(bào)告或圖表輸出等功能。

  5. 設(shè)計(jì)規(guī)范：

    • 傳感器與探測(cè)器：描述了用于捕捉光信號(hào)變化的傳感器和探測(cè)器的技術(shù)規(guī)格和性能要求。
    • 信號(hào)處理單元：規(guī)定了信號(hào)處理部分的設(shè)計(jì)要求，確保信號(hào)的準(zhǔn)確捕獲和分析。
    • 機(jī)械結(jié)構(gòu)與外殼：對(duì)儀器的機(jī)械強(qiáng)度、尺寸、材質(zhì)及防護(hù)等級(jí)等做了具體要求，以適應(yīng)不同的測(cè)試環(huán)境。

  6. 試驗(yàn)方法：提供了驗(yàn)證閃爍儀性能的一系列試驗(yàn)方法，包括但不限于校準(zhǔn)試驗(yàn)、穩(wěn)定性試驗(yàn)、重復(fù)性與再現(xiàn)性試驗(yàn)等，確保儀器符合標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的技術(shù)指標(biāo)。

  7. 標(biāo)志、包裝、運(yùn)輸和儲(chǔ)存：規(guī)定了產(chǎn)品標(biāo)識(shí)、包裝要求及在運(yùn)輸和儲(chǔ)存過(guò)程中的保護(hù)措施，以避免損壞。

  8. 資料與文件：要求制造商提供詳細(xì)的用戶(hù)手冊(cè)、維護(hù)指南及校準(zhǔn)證書(shū)等技術(shù)文檔。


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....

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  • 2011-12-30 頒布
  • 2012-08-01 實(shí)施
?正版授權(quán)
GB/T 17626.15-2011電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)閃爍儀功能和設(shè)計(jì)規(guī)范_第1頁(yè)
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GB/T 17626.15-2011電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)閃爍儀功能和設(shè)計(jì)規(guī)范-免費(fèi)下載試讀頁(yè)

文檔簡(jiǎn)介

ICS33100

L06.

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T1762615—2011/IEC61000-4-152003

.:

電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)閃爍儀

功能和設(shè)計(jì)規(guī)范

Electromagneticcompatibility—

Testingandmeasurementtechniques—

Flickermeter—Functionalanddesignspecifications

(IEC61000-4-15:2003,IDT)

2011-12-30發(fā)布2012-08-01實(shí)施

中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布

中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T1762615—2011/IEC61000-4-152003

.:

目次

前言…………………………

Ⅰ

范圍………………………

11

規(guī)范性引用文件…………………………

21

儀器描述…………………

32

規(guī)范………………………

44

性能測(cè)試…………………

58

型式試驗(yàn)和校準(zhǔn)規(guī)范……………………

69

附錄規(guī)范性附錄提高閃爍評(píng)估準(zhǔn)確度的方法……………………

A()15

線性?xún)?nèi)插法………………………

A.115

非線性?xún)?nèi)插法……………………

A.215

偽零截取…………………………

A.315

非線性分類(lèi)………………………

A.416

附錄資料性附錄VV的含義和電壓變化的次數(shù)………………

B()Δ/17

參考文獻(xiàn)……………………

18

GB/T1762615—2011/IEC61000-4-152003

.:

前言

電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)分為以下部分

GB/T17626《》:

電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)抗擾度試驗(yàn)總論

GB/T17626.1—2006

電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)靜電放電抗擾度試驗(yàn)

GB/T17626.2—2006

電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗(yàn)

GB/T17626.3—2006

電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn)

GB/T17626.4—2008

電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)浪涌沖擊抗擾度試驗(yàn)

GB/T17626.5—2008()

電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)射頻場(chǎng)感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度

GB/T17626.6—2008

電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)供電系統(tǒng)及所連設(shè)備諧波諧間波的測(cè)量和

GB/T17626.7—2008、

測(cè)量?jī)x器導(dǎo)則

電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)工頻磁場(chǎng)抗擾度試驗(yàn)

GB/T17626.8—2006

電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)脈沖磁場(chǎng)抗擾度試驗(yàn)

GB/T17626.9—2011

電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)阻尼振蕩磁場(chǎng)抗擾度試驗(yàn)

GB/T17626.10—1998

電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)電壓暫降短時(shí)中斷和電壓變化的抗擾度

GB/T17626.11—2008、

試驗(yàn)

電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)振蕩波抗擾度試驗(yàn)

GB/T17626.12—1998

電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)交流電源端口諧波諧間波及電網(wǎng)信號(hào)的

GB/T17626.13—2006、

低頻抗擾度試驗(yàn)

電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)電壓波動(dòng)抗擾度試驗(yàn)

GB/T17626.14—2005

電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)閃爍儀功能和設(shè)計(jì)規(guī)范

GB/T17626.15—2011

電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)共模傳導(dǎo)騷擾抗擾度試驗(yàn)

GB/T17626.16—20070Hz~150kHz

電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)直流電源輸入端口紋波抗擾度試驗(yàn)

GB/T17626.17—2005

電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)三相電壓不平衡抗擾度試驗(yàn)

GB/T17626.27—2006

電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)工頻頻率變化抗擾度試驗(yàn)

GB/T17626.28—2006

電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)直流電源輸入端口電壓暫降短時(shí)中斷和

GB/T17626.29—2006、

電壓變化的抗擾度試驗(yàn)

本部分為的第部分

GB/T1762615。

本部分按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

本部分等同采用國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)第版電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技

IEC61000-4-15:1997+A1:2003(1.1)《

術(shù)閃爍儀功能和設(shè)計(jì)規(guī)范并進(jìn)行如下編輯性修改

》,:

對(duì)規(guī)范性引用文件中引用的系列和標(biāo)準(zhǔn)因其版本過(guò)低同時(shí)考慮

———IEC61000-4IEC61010-1,,

到這些標(biāo)準(zhǔn)換版頻繁因此將其對(duì)應(yīng)的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)修改為不注日期引用

,;

對(duì)表表的序號(hào)進(jìn)行了調(diào)整本部分的表對(duì)應(yīng)中的

———4~8。4IEC61000-4-15:1997+A1:2003

表是年修訂件的新增表格為保證標(biāo)準(zhǔn)全文表格序號(hào)的連續(xù)性將其表格序號(hào)變更為

8,2003;,

表其后所有的表格序號(hào)依次調(diào)整

4,。

本部分由全國(guó)電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)提出并歸口

(SAC/TC246)。

本部分負(fù)責(zé)起草單位上海電器科學(xué)研究院上海三基電子工業(yè)有限公司

:、。

本部分主要起草人壽建霞錢(qián)振宇葉瓊瑜程麗玲孟志平劉媛肖瀟鄭軍奇劉曉東

:、、、、、、、、。

Ⅰ

GB/T1762615—2011/IEC61000-4-152003

.:

電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)閃爍儀

功能和設(shè)計(jì)規(guī)范

1范圍

本部分規(guī)定了閃爍測(cè)量?jī)x器的功能和設(shè)計(jì)規(guī)范旨在為所有實(shí)際的電壓波動(dòng)波形顯示正確的閃爍

,

感知電平本部分列出了組建這樣一種儀器的信息并給出了基于符合本部分的閃爍儀的輸出結(jié)果來(lái)

。,

評(píng)估閃爍嚴(yán)酷度的方法

。

本部分有些內(nèi)容是基于國(guó)際電熱聯(lián)盟騷擾工作組的工作有些內(nèi)容是基于的工作

(UIE)“”,IEEE,

其他內(nèi)容是基于本身的工作本閃爍儀規(guī)范涉及輸入為和的測(cè)量對(duì)

IEC。,230V/50Hz120V/60Hz;

于其他電壓和頻率的規(guī)范正在考慮中

。

注本部分中的儀器規(guī)范數(shù)據(jù)是基于輸入電壓頻率為和的情況下給出對(duì)國(guó)內(nèi)使用的

:/230V/50Hz120V/60Hz,

電網(wǎng)可依據(jù)同一規(guī)范理論進(jìn)行具體計(jì)算并設(shè)計(jì)

220V/50Hz,。

本部分適用于設(shè)計(jì)模擬或數(shù)字閃爍測(cè)量設(shè)備提供基本信息并沒(méi)有給出閃爍嚴(yán)酷度的容許限值

,。

2規(guī)范性引用文件

下列文件對(duì)于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件

。,()。

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)低溫

GB/T2423.1—20082:A:(IEC60068-2-

1:2007,IDT)

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)高溫

GB/T2423.2—20082:B:(IEC60068-2-

2:2007,IDT)

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)溫度變化

GB/T2423.22—20022:N:

(IEC60068-2-14:1984,IDT)

測(cè)量控制和試驗(yàn)室用電氣設(shè)備的安全要求第部分通用要求

GB4793.1、1:(GB4793.1—

2007,IEC61010-1:2001,IDT)

電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)靜電放電抗擾度試驗(yàn)

GB/T17626.2(GB/T17626.2—2006,

IEC61000-4-2:2001,IDT)

電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗(yàn)

GB/T17626.3(GB/T17626.3—

2006,IEC

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