標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫》與《GB/T 2423.2-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫》相比,在多個(gè)方面進(jìn)行了調(diào)整和更新,主要體現(xiàn)在以下幾個(gè)方面:

  1. 標(biāo)準(zhǔn)結(jié)構(gòu)上的調(diào)整:新版標(biāo)準(zhǔn)按照ISO/IEC導(dǎo)則第2部分的要求對(duì)標(biāo)準(zhǔn)文本的格式進(jìn)行了修訂,使得整體更加符合國際標(biāo)準(zhǔn)化組織對(duì)于標(biāo)準(zhǔn)文件編寫的規(guī)定。這包括了對(duì)條款編號(hào)、標(biāo)題以及內(nèi)容編排方式等多方面的優(yōu)化。

  2. 術(shù)語定義更加明確:在2008版中,針對(duì)一些關(guān)鍵術(shù)語如“穩(wěn)定溫度”、“恢復(fù)時(shí)間”等給出了更為準(zhǔn)確且詳細(xì)的定義,有助于使用者更好地理解并執(zhí)行相關(guān)測(cè)試要求。

  3. 測(cè)試條件細(xì)化:相較于2001版本,《GB/T 2423.2-2008》對(duì)試驗(yàn)過程中涉及到的具體參數(shù)(如溫度范圍、持續(xù)時(shí)間)進(jìn)行了更細(xì)致的規(guī)定,并增加了某些特定條件下如何操作的具體指導(dǎo),提高了試驗(yàn)結(jié)果的一致性和可比性。

  4. 增加了安全注意事項(xiàng):新標(biāo)準(zhǔn)特別強(qiáng)調(diào)了進(jìn)行高溫試驗(yàn)時(shí)需要注意的安全事項(xiàng),比如防止?fàn)C傷、電氣短路等問題的發(fā)生,以保障試驗(yàn)人員及設(shè)備的安全。

  5. 引用文件更新:隨著技術(shù)進(jìn)步及相關(guān)領(lǐng)域內(nèi)其他國家標(biāo)準(zhǔn)或行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的更新,《GB/T 2423.2-2008》也相應(yīng)地調(diào)整了其引用的標(biāo)準(zhǔn)文件列表,確保所參考的內(nèi)容均為最新有效的版本。


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  • 現(xiàn)行
  • 正在執(zhí)行有效
  • 2008-12-30 頒布
  • 2009-10-01 實(shí)施
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GB/T 2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)B:高溫_第1頁
GB/T 2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)B:高溫_第2頁
GB/T 2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)B:高溫_第3頁
GB/T 2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)B:高溫_第4頁
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GB/T 2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)B:高溫-免費(fèi)下載試讀頁

文檔簡介

犐犆犛19.040

犓04

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

犌犅/犜2423.2—2008/犐犈犆6006822:2007

代替GB/T2423.2—2001

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)

第2部分:試驗(yàn)方法

試驗(yàn)犅:高溫

犈狀狏犻狉狅狀犿犲狀狋犪犾狋犲狊狋犻狀犵犳狅狉犲犾犲犮狋狉犻犮犪狀犱犲犾犲犮狋狉狅狀犻犮狆狉狅犱狌犮狋狊—

犘犪狉狋2:犜犲狊狋犿犲狋犺狅犱狊—犜犲狊狋狊犅:犇狉狔犺犲犪狋

(IEC6006822:2007,Environmentaltesting—

Part22:Tests—TestB:Dryheat,IDT)

20081230發(fā)布20091001實(shí)施

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局

發(fā)布

中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

犌犅/犜2423.2—2008/犐犈犆6006822:2007

目次

前言!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!Ⅰ

1范圍!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!1

2規(guī)范性引用文件!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!1

3術(shù)語和定義!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!1

4非散熱試驗(yàn)樣品與散熱試驗(yàn)樣品試驗(yàn)方法應(yīng)用對(duì)比!!!!!!!!!!!!!!!!!!!2

5試驗(yàn)描述!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!3

6試驗(yàn)程序!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!4

7相關(guān)規(guī)范應(yīng)給出的信息!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!6

8試驗(yàn)報(bào)告中應(yīng)給出的信息!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!6

附錄NA(資料性附錄)GB/T2423標(biāo)準(zhǔn)的組成部分!!!!!!!!!!!!!!!!!!!8

附錄NB(資料性附錄)試驗(yàn)A:低溫和試驗(yàn)B:高溫的分類代號(hào)小寫字母之間的關(guān)系!!!!!11

犌犅/犜2423.2—2008/犐犈犆6006822:2007

前言

GB/T2423.2是GB/T2423標(biāo)準(zhǔn)的第2部分,GB/T2423標(biāo)準(zhǔn)的組成部分見資料性附錄NA。

本部分等同采用IEC6006822:2007《環(huán)境試驗(yàn)第22部分:試驗(yàn)試驗(yàn)B:干熱》(英文版)。

本部分與IEC6006822:2007相比,主要做了下列編輯性修改:

———本部分的名稱改為:《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)B:高溫》;

———“本標(biāo)準(zhǔn)”一詞改為“本部分”;

———?jiǎng)h除了IEC6006822:2007前言;

———?jiǎng)h除了IEC6006822:2007引言,將其內(nèi)容轉(zhuǎn)化為增加的資料性附錄NB的內(nèi)容;

———增加了資料性附錄“GB/T2423標(biāo)準(zhǔn)的組成部分”(見附錄NA);

———增加了資料性附錄“試驗(yàn)A:低溫和試驗(yàn)B:高溫的分類代號(hào)小寫字母之間的關(guān)系”(見附錄

NB);

———?jiǎng)h除了第1章第1段中的“對(duì)于非散熱試驗(yàn)樣品,”;

———第2章規(guī)范性引用文件一覽表增加了對(duì)GB/T2423.22的引用;

———4.3標(biāo)題“溫度突變與溫度漸變?cè)囼?yàn)應(yīng)用對(duì)比”改為“溫度漸變?cè)囼?yàn)”;

———6.8.2標(biāo)題“絕對(duì)濕度”改為“濕度”。

為清晰起見,上述修改已在正文相應(yīng)位置加了腳注。

本部分代替GB/T2423.2—2001《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)B:高溫》,

與之相比,主要變化如下:

———?jiǎng)h除了試驗(yàn)Ba:非散熱試驗(yàn)樣品溫度突變的高溫試驗(yàn);

———?jiǎng)h除了試驗(yàn)Bc:散熱試驗(yàn)樣品溫度突變的高溫試驗(yàn);

———?jiǎng)h除了附錄A、附錄B、附錄C、附錄D、附錄E、附錄F;

———增加了試驗(yàn)Be:散熱試驗(yàn)樣品溫度漸變的高溫試驗(yàn)———試驗(yàn)樣品在整個(gè)試驗(yàn)過程通電。

本部分的附錄NA、附錄NB為資料性附錄。

本部分由全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC8)提出并歸口。

本部分由廣州電器科學(xué)研究院負(fù)責(zé)起草。

本部分主要起草人:張志勇。

本部分所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為:

———GB/T2423.2—1981、GB/T2423.2—1989、GB/T2423.2—2001。

犌犅/犜2423.2—2008/犐犈犆6006822:2007

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)

第2部分:試驗(yàn)方法

試驗(yàn)犅:高溫

1范圍

GB/T2423的本部分規(guī)定的高溫試驗(yàn)適用于非散熱和散熱試驗(yàn)樣品。試驗(yàn)Bb和試驗(yàn)Bd與早期

版本無實(shí)質(zhì)上的差異1)。

本高溫試驗(yàn)的目的僅限于用來確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在高溫環(huán)境下使用、運(yùn)輸或貯存的能力。

本高溫試驗(yàn)不能用來評(píng)價(jià)試驗(yàn)樣品耐溫度變化的能力和在溫度變化環(huán)境下的運(yùn)行能力,在這種情

況下,應(yīng)采用GB/T2423.22。

本高溫試驗(yàn)方法細(xì)分為以下幾種:

———非散熱試驗(yàn)樣品高溫試驗(yàn):

●試驗(yàn)Bb,溫度漸變。

———散熱試驗(yàn)樣品高溫試驗(yàn):

●試驗(yàn)Bd,溫度漸變;

●試驗(yàn)Be,溫度漸變,試驗(yàn)樣品在整個(gè)試驗(yàn)過程通電。

本部分給出的試驗(yàn)方法通常用于試驗(yàn)期間能達(dá)到溫度穩(wěn)定的試驗(yàn)樣品。

2規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過GB/T2423的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文

件,其隨后所有的修改單(不包括勘誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本部分,然而,鼓勵(lì)根據(jù)本部分達(dá)成

協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本

部分。

GB/T2421電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第1部分:總則(GB/T2421—199

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