標(biāo)準(zhǔn)解讀
GB/T 17626.20-2014 是一項中國國家標(biāo)準(zhǔn),專注于電磁兼容性(EMC)的測試與測量技術(shù)領(lǐng)域。該標(biāo)準(zhǔn)具體規(guī)定了在橫電磁波(TEM)波導(dǎo)環(huán)境中進行的發(fā)射試驗和抗擾度試驗的方法和要求。以下是該標(biāo)準(zhǔn)主要內(nèi)容的詳細(xì)說明:
標(biāo)準(zhǔn)適用范圍
本標(biāo)準(zhǔn)適用于評估設(shè)備或系統(tǒng)在受到橫電磁波(TEM)波導(dǎo)中傳播的電磁干擾時的抗擾度能力,以及這些設(shè)備或系統(tǒng)自身產(chǎn)生的電磁發(fā)射水平。它適用于工作頻率范圍從幾kHz到數(shù)GHz的設(shè)備和系統(tǒng),廣泛應(yīng)用于信息技術(shù)設(shè)備、電信設(shè)備、工業(yè)控制設(shè)備及家用電器等產(chǎn)品的EMC測試。
關(guān)鍵術(shù)語定義
- 橫電磁波(TEM)波導(dǎo):一種能夠引導(dǎo)TEM模式電磁波傳播的結(jié)構(gòu),其中電場和磁場都垂直于波的傳播方向。
- 發(fā)射試驗:測量設(shè)備在正常工作狀態(tài)下向周圍環(huán)境輻射電磁能量的量級。
- 抗擾度試驗:評估設(shè)備在特定電磁干擾環(huán)境下仍能正常工作的能力。
發(fā)射試驗要求
標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)描述了發(fā)射試驗的實施步驟,包括測試環(huán)境的建立、測試儀器的選擇與校準(zhǔn)、測試信號的生成與測量方法。要求測試中考慮不同頻率點的發(fā)射水平,并確保測試結(jié)果的可重復(fù)性和準(zhǔn)確性。
抗擾度試驗要求
針對抗擾度試驗,標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了不同等級的電磁干擾水平,用于模擬實際環(huán)境中可能遇到的干擾情況。試驗包括逐步增加干擾信號的強度,觀察并記錄被測設(shè)備的性能變化,直至出現(xiàn)功能異常或性能下降。試驗過程中需注意確保安全,防止對被測設(shè)備造成永久性損害。
測試配置與方法
標(biāo)準(zhǔn)提供了詳細(xì)的TEM波導(dǎo)測試裝置的構(gòu)造和使用指南,包括波導(dǎo)尺寸、材料選擇、終端負(fù)載條件等,以確保測試環(huán)境的一致性和可比性。同時,還闡述了如何根據(jù)設(shè)備的特性調(diào)整測試參數(shù),如頻率范圍、功率水平等。
結(jié)果評估與報告
標(biāo)準(zhǔn)指導(dǎo)如何分析測試數(shù)據(jù),包括如何確定發(fā)射限值是否達標(biāo),以及抗擾度測試中設(shè)備的抗擾度等級。要求測試報告應(yīng)包含完整的測試設(shè)置、過程、結(jié)果及結(jié)論,以便于評估設(shè)備的電磁兼容性能。
如需獲取更多詳盡信息,請直接參考下方經(jīng)官方授權(quán)發(fā)布的權(quán)威標(biāo)準(zhǔn)文檔。
....
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- 現(xiàn)行
- 正在執(zhí)行有效
- 2014-12-22 頒布
- 2015-06-01 實施
文檔簡介
ICS33100103310020
;
L06....
中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)
GB/T1762620—2014/IEC61000-4-202010
.:
電磁兼容試驗和測量技術(shù)
橫電磁波TEM
()
波導(dǎo)中的發(fā)射和抗擾度試驗
Electromagneticcompatibility—Testingand
measurementtechniques—Emissionandimmunity
testinintransverseelectromaneticTEMwaveuide
gg()g
(IEC61000-4-20:2010,IDT)
2014-12-22發(fā)布2015-06-01實施
中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局發(fā)布
中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會
GB/T1762620—2014/IEC61000-4-202010
.:
目次
前言
…………………………Ⅲ
范圍和目的
1………………1
規(guī)范性引用文件
2…………………………1
術(shù)語定義和縮略語
3、………………………2
術(shù)語和定義
3.1…………………………2
縮略語
3.2………………4
概述
4………………………5
波導(dǎo)要求
5TEM…………………………5
概述
5.1…………………5
使用波導(dǎo)的通用要求
5.2TEM………………………5
模的驗證
5.2.1TEM…………………5
試驗區(qū)域和最大尺寸
5.2.2EUT……………………6
可用試驗區(qū)域的確認(rèn)
5.2.3…………6
對某些類型波導(dǎo)的特定要求和建議
5.3TEM………8
開放式波導(dǎo)的布置
5.3.1TEM………………………8
雙端口波導(dǎo)模的替代驗證方法
5.3.2TEMTEM…………………8
類型
6EUT…………………9
概述
6.1…………………9
小
6.2EUT………………9
大
6.3EUT………………9
實驗室試驗環(huán)境
7…………………………9
概述
7.1…………………9
氣候環(huán)境
7.2……………9
電磁環(huán)境
7.3……………9
試驗結(jié)果的評價與報告
8…………………9
附錄規(guī)范性附錄波導(dǎo)中的發(fā)射試驗
A()TEM………11
附錄規(guī)范性附錄波導(dǎo)中的抗擾度試驗
B()TEM……………………26
附錄規(guī)范性附錄波導(dǎo)中的瞬態(tài)試驗
C()TEMHEMP………………31
附錄資料性附錄波導(dǎo)的特性
D()TEM………………36
附錄資料性附錄波導(dǎo)中電場探頭的校準(zhǔn)方法
E()TEM……………42
相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)和參考文獻
………………………51
圖引出電纜被引至位于試驗區(qū)域底部和正交角上的角落
A.1………19
圖基本的正交軸定位裝置或試驗支撐裝置
A.2………20
圖輻射發(fā)射試驗的個正交軸旋轉(zhuǎn)方位
A.33…………21
Ⅰ
GB/T1762620—2014/IEC61000-4-202010
.:
圖典型的面軸試驗方位
A.4EUT12/………………21
圖示意圖
A.5OATS……………………22
圖雙端口室對稱芯板
A.6TEM()……………………22
圖單端口室非對稱芯板
A.7TEM()…………………23
圖帶狀線雙導(dǎo)體
A.8()…………………24
圖帶狀線四導(dǎo)體平衡饋電
A.9(,)………………………25
圖單極化方向的波導(dǎo)的試驗布置
B.1TEM…………29
圖波導(dǎo)中場均勻區(qū)確認(rèn)的位置點
B.2TEM……………30
圖到的頻譜幅值
C.1100kHz300MHz………………35
圖簡單波導(dǎo)不存在波
D.1(TEM)……………………40
圖傳輸模的波導(dǎo)示例
D.2TEM………………………40
圖極化矢量
D.3…………………………40
圖傳輸波的傳輸線
D.4TEM…………41
圖單端口和雙端口波導(dǎo)
D.5TEM……………………41
圖校準(zhǔn)區(qū)域的確認(rèn)測量點示例
E.1……………………43
圖探頭擾亂確認(rèn)布置
E.2………………43
圖到達場強發(fā)射設(shè)備的凈功率測量布置
E.3…………46
圖電場探頭校準(zhǔn)布置舉例
E.4…………47
圖另一種電場探頭校準(zhǔn)方法的校準(zhǔn)布置
E.5…………49
圖天線和測量儀器的等效電路
E.6……………………49
表正態(tài)分布下擴展不確定度的K值
1…………………8
表場均勻區(qū)確認(rèn)的測量位置點
B.1……………………27
表試驗等級
B.2…………………………28
表現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)定義的輻射抗擾度試驗等級
C.1…………35
表校準(zhǔn)頻率點
E.1………………………44
表校準(zhǔn)場強大小
E.2……………………44
Ⅱ
GB/T1762620—2014/IEC61000-4-202010
.:
前言
電磁兼容試驗和測量技術(shù)目前包括以下部分
GB/T17626《》:
電磁兼容試驗和測量技術(shù)抗擾度試驗總論
GB/T17626.1—2006
電磁兼容試驗和測量技術(shù)靜電放電抗擾度試驗
GB/T17626.2—2006
電磁兼容試驗和測量技術(shù)射頻電磁場輻射抗擾度試驗
GB/T17626.3—2006
電磁兼容試驗和測量技術(shù)電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗
GB/T17626.4—2008
電磁兼容試驗和測量技術(shù)浪涌沖擊抗擾度試驗
GB/T17626.5—2008()
電磁兼容試驗和測量技術(shù)射頻場感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度
GB/T17626.6—2008
電磁兼容試驗和測量技術(shù)供電系統(tǒng)及所連設(shè)備諧波諧間波的測量及
GB/T17626.7—2008、
測量儀器導(dǎo)則
電磁兼容試驗和測量技術(shù)工頻磁場抗擾度試驗
GB/T17626.8—2006
電磁兼容試驗和測量技術(shù)脈沖磁場抗擾度試驗
GB/T17626.9—2011
電磁兼容試驗和測量技術(shù)阻尼振蕩磁場抗擾度試驗
GB/T17626.10—1998
電磁兼容試驗和測量技術(shù)電壓暫降短時中斷和電壓變化的抗擾度
GB/T17626.11—2008、
試驗
電磁兼容試驗和測量技術(shù)振蕩波抗擾度試驗
GB/T17626.12—2013
電磁兼容試驗和測量技術(shù)交流電源端口諧波諧間波及電網(wǎng)信號的
GB/T17626.13—2006、
低頻抗擾度試驗
電磁兼容試驗和測量技術(shù)電壓波動抗擾度試驗
GB/T17626.14—2005
電磁兼容試驗和測量技術(shù)閃爍儀功能和設(shè)計規(guī)范
GB/T17626.15—2011
電磁兼容試驗和測量技術(shù)共模傳導(dǎo)騷擾抗擾度試驗
GB/T17626.16—20070Hz~150kHz
電磁兼容試驗和測量技術(shù)直流電源輸入端口紋波抗擾度試驗
GB/T17626.17—2005
電磁兼容試驗和測量技術(shù)橫電磁波波導(dǎo)中的發(fā)射和抗擾度
GB/T17626.20—2014(TEM)
試驗
電磁兼容試驗和測量技術(shù)傳導(dǎo)騷擾保護裝置的試驗方法
GB/T17626.24—2012HEMP
電磁兼容試驗和測量技術(shù)三相電壓不平衡抗擾度試驗
GB/T17626.27—2006
電磁兼容試驗和測量技術(shù)工頻頻率變化抗擾度試驗
GB/T17626.28—2006
電磁兼容試驗和測量技術(shù)直流電源輸入端口電壓暫降短時中斷和
GB/T17626.29—2006、
電壓變化的抗擾度試驗
電磁兼容試驗和測量技術(shù)電能質(zhì)量測量方法
GB/T17626.30—2012
電磁兼容試驗和測量技術(shù)主電源每相電流大于的設(shè)備的電壓
GB/T17626.34—201216A
暫降短時中斷和電壓變化抗擾度試驗
、
本部分是的第部分
GB/T1762620。
本部分按照給出的規(guī)則起草
GB/T1.1—2009。
本部分等同采用國際標(biāo)準(zhǔn)第版電磁兼容第部分試驗
IEC61000-4-20:2010(2)《(EMC)4-20:
和測量技術(shù)橫電磁波波導(dǎo)中的發(fā)射和抗擾度試驗
—(TEM)》。
與本部分中規(guī)范性引用的國際文件有一致性對應(yīng)關(guān)系的我國文件如下
:
電工術(shù)語電磁兼容性
———GB/T4365—2003[IEC60050(161):1990,IDT]
無線電騷擾和抗擾度測量設(shè)備和測量方法規(guī)范第部分無線電
———GB/T6113.101—20081-1:
Ⅲ
GB/T1762620—2014/IEC61000-4-202010
.:
騷擾和抗擾度測量設(shè)備測量設(shè)備
(CISPR16-1-1:2006,IDT)
無線電騷擾和抗擾度測量設(shè)備和測量方法規(guī)范第部分無線電
———GB/T6113.104—20081-4:
騷擾和抗擾度測量設(shè)備輔助設(shè)備輻射騷擾
(CISPR16-1-4:2005,IDT)
無線電騷擾和抗擾度測量設(shè)備和測量方法規(guī)范第部分無線電
———GB/T6113.203—20082-3:
騷擾和抗擾度測量方法輻射騷擾測量
(CISPR16-2-3:2003,IDT)
信息技術(shù)設(shè)備的無線電騷擾限值和測量方法
———GB9254—2008(CISPR22:2006,IDT)
本部分做了如下編輯性修改
:
步驟的公式引用更正為式
———5.2.3.2d)(3);
更正了中的式
———5.3.2(8);
式中g(shù)if的說明更改為gif由波導(dǎo)法測量結(jié)果換算得到的等效場
———(A.12),“,———TEMOATS
強值單位為伏每米
,(V/m)”;
補充了式中量符號的解釋
———(1);
原文中和的使用前后不一致本部分統(tǒng)一為的驗證場均勻
———“verification”“validation”,“TEM”“
區(qū)的確認(rèn)
”;
對參考文獻編號進行了更正并更改了正文中相應(yīng)引用處的編號
———,。
本部分由全國電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會提出并歸口
(SAC/TC246)。
本部分起草單位東南大學(xué)上海出入境檢驗檢疫局中國電力科學(xué)研究院上海市計量測試技術(shù)研
:、、、
究院中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院中國計量科學(xué)研究院
、、。
本部分主要起草人周忠元周香張嫻景莘慧蔣全興李妮龔增陳俐謝鳴
:、、、、、、、、。
Ⅳ
GB/T1762620—2014/IEC61000-4-202010
.:
電磁兼容試驗和測量技術(shù)
橫電磁波TEM
()
波導(dǎo)中的發(fā)射和抗擾度試驗
1范圍和目的
的本部分給出了利用各種波導(dǎo)進行電子和電氣設(shè)備發(fā)射和抗擾度試驗的方法
GB/T17626TEM。
波導(dǎo)有開放式例如帶狀線和電磁脈沖模擬器和封閉式例如室還可以進一步
TEM(,(EMP))(,TEM),
分為單端口雙端口和多端口波導(dǎo)波導(dǎo)的適用頻率范圍取決于具體的試驗需求和波導(dǎo)的
、。TEMTEM
具體類型
。
本部分的目的是給出
:
波導(dǎo)的性能包括典型的頻率范圍和對尺寸的限制
———TEM,EUT;
用于電磁兼容試驗的波導(dǎo)的確認(rèn)方法
———(EMC)TEM;
即殼體和連接電纜的定義
———EUT(EUT);
在波導(dǎo)中進行輻射發(fā)射試驗的試驗布置步驟和要求
———TEM、;
在波導(dǎo)中進行輻射抗擾度試驗的試驗布置步驟和要求
———TEM、。
注本部分規(guī)定的試驗方法用于測量所關(guān)心設(shè)備的電磁輻射抗擾度和輻射發(fā)射電磁輻射的模擬和測量結(jié)果對于
:。
定量確定最終安裝使用狀態(tài)下的電磁效應(yīng)是不夠準(zhǔn)確的規(guī)定試驗方法的主要目的是保證定性分析電磁效應(yīng)
,
使用的不同試驗設(shè)備所得試驗結(jié)果的重復(fù)性
。
本部分的目的不是規(guī)定適用于任意特定產(chǎn)品或系統(tǒng)的試驗方法而是為所有感興趣的產(chǎn)品委員會
,
提供通用的基礎(chǔ)性參考對于輻射發(fā)射試驗產(chǎn)品委員會應(yīng)參考國際無線電干擾特別委員會
。,(CISPR)
標(biāo)準(zhǔn)1)選擇發(fā)射限值和試驗方法對于輻射
溫馨提示
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