GB/T 19767-2005基于微處理器儀表的評定方法

ICS25.040.40:35.240.50N10中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T19767-2005/IEC/TS62098:2000基于微處理器儀表的評定方法Evaluationmethodsformicroprocessor-basedinstrument（IEC/TS62098:2000,IDT)2005-05-18發(fā)布2005-12-01實施中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局愛布中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

GB/T19767-2005/IEC/TS62098：2000三錄前言引言1概要1.1他圍1.2規(guī)范性引用文件1.3術(shù)語和定義2儀表的發(fā)展…….3評定需考慮的事項3.1系統(tǒng)方法·……3.2評定表3.3邊界區(qū)(接口)4評定技術(shù)4.1儀表分析4.2在數(shù)字通信鏈路上的儀表4.3儀表特性的識別·4.4影響量與相關(guān)測試……附錄A（資料性附錄）關(guān)于測量精確度的考慮附錄B（資料性附錄)控制器的靜差測量附錄C（資料性附錄）積分作用的分并率和消除附錄D（資料性附錄)防止積分飽和22附錄E（資料性附錄）評定表的實例29參考文獻(xiàn)25

GB/T19767-2005/IEC/TS62098:2000本標(biāo)準(zhǔn)等同采用IEC/TS62098:2000《基于微處理器儀表的評定方法》（英文版）為便于使用.對IEC/TS62098:2000做了下列編譯性修改：“本技術(shù)規(guī)范”和“本文本"一詞改為"本標(biāo)準(zhǔn)"：b）用小數(shù)點"."代替作為小數(shù)點的退號"."；用破折號·-“代替作為列項用的短橫線""；刪除IEC/TS62098:2000的前言，修改了IEC/TS62098:2000的引言；將IEC/TS62098.20004.3.7中提及的"IEC61721°改為“IEC60721°.因IEC60721是“環(huán)境條件分類"標(biāo)準(zhǔn)，而IEC61721是"光伏組件對意外碰撞的承受能力(抗撞擊試驗)"標(biāo)準(zhǔn),根據(jù)上下文應(yīng)用前者：將IEC/TS62098:2000圖圖5中的過程域方框延長,以便與測量儀表和(智能)執(zhí)行機(jī)構(gòu)間形成通信鏈路本標(biāo)準(zhǔn)的附錄A、附錄B、附錄C、附錄D和附錄E均為資料性附錄，本標(biāo)準(zhǔn)由中國機(jī)械工業(yè)聯(lián)合會提出。本標(biāo)準(zhǔn)由全國工業(yè)過程測量和控制標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會第二分技術(shù)委員會歸口。本標(biāo)準(zhǔn)負(fù)責(zé)起草單位：西南師范大學(xué)。本標(biāo)準(zhǔn)參加起草單位：機(jī)械工業(yè)儀器儀表綜合技術(shù)經(jīng)濟(jì)研究所、四聯(lián)儀器儀表集團(tuán)、浙江大學(xué)、北京機(jī)械工業(yè)自動化研究所。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：周雪蓮、劉楓、張建成、薛思源本標(biāo)準(zhǔn)參加起草人;馮曉升、劉進(jìn)、馮冬芹、謝兵兵

GB/T19767-2005/IEC/TS62098:20000.1儀表或過程控制器的評定是在工廠的整個生存期期間核定測量或控制功能的固有成本的一種支持工具.固有成本包括投資成本(包括工廠在整個生存期期間的更新成本）、工程成本、安裝成本、維護(hù)成本、能源和原材料消耗成本0.2用于過程控制和測量的新型儀表通常配備有微處理器，因此有利于使用數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)處理方法和人工智能。這就使得這類儀表更加復(fù)雜，現(xiàn)有的標(biāo)準(zhǔn)化評定方法不總是能充分描述這類儀表的性能。評定內(nèi)容最多可以包括以下幾方面：-設(shè)計審查（硬件和軟件)；性能(功能)測試；-對可靠性、可維護(hù)性的測試研究;安安全研究和安全性測試：現(xiàn)現(xiàn)場測試0.3本標(biāo)準(zhǔn)所描述的評定方法主要涉及與性能和可靠性測試相關(guān)的內(nèi)容。本標(biāo)準(zhǔn)可看作是對（B/T18271的擴(kuò)展。為完整性起見,在GB/T18271里所提及的對基于微處理器的儀表仍然有效的方法在這里也被提到.但不完全重復(fù)它們,在相關(guān)的時候，將參考該標(biāo)準(zhǔn)。0.4在本標(biāo)準(zhǔn)中,關(guān)于對基于微處理器儀表的評定的某些考電是基于GB/T18272的前言中所提出的思想。0.5將來，基于微處理器的儀表將日益集成在數(shù)字通信系統(tǒng)中.因此本標(biāo)準(zhǔn)也將考慮這類儀表的通信特性以及它對實時操作和儀表的更多性能的可能影響。

GB/T19767-2005/IEC/TS62098:2000基于微處理器儀表的評定方法概要1.1花圍本標(biāo)準(zhǔn)的目的是為開發(fā)基于微處理器儀表的評定方法提供背景信息評定是從進(jìn)出過程的內(nèi)外信息流、操作員和外部系統(tǒng)等方面對儀表進(jìn)行分析開始的，然后辨識儀表的主要功能塊，通過使用4.2和4.3給出的檢驗項目.能養(yǎng)識可能嵌入在被評定儀表的功能塊中的功能和特性。4.4給出了在相關(guān)影響條件下評定儀表的檢驗項根據(jù)儀表的應(yīng)用，本標(biāo)準(zhǔn)的用戶可能需要定義更多的功能和特性或影響條件1.2規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件.其隨后所有的修改單(不包括勒誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn)，然而，鼓勵根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件.其最新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。GB/T2900.56-2002電工術(shù)語自動控制（IEC60050-351:1998.InternationalElectrotechnicalVocabularyChapter351:AutomaticControl(2w.Ed.),IDT)GB/T17614.1工業(yè)過程控制系統(tǒng)用變送器第1部分：性能評定方法（GB/T17614.1—1998.idtIEC60770-1：1984）GB/T18271.1過程測量和控制裝置通用性能評定方法和程序第1部分：總則（GB/T18271.1-2000,idtIEC61298-1:1995）GB/T18271.2過程測量和控制裝置通用性能評定方法和程序第2部分：參比條件下的試驗（GB/T18271.2-2000.idtIEC61298-2：1995）GB/T18271.3過程測量和控制裝置通用性能評定方法和程序：第3部分：影響量影響的試驗（GB/T18271.3-2000.idtIEC61298-3:1998）GB/T18271.4過程測量和控制裝置通用性能評定方法和程序第4部分：評定報告的內(nèi)容（GB/T18271.4-2000.idtIEC61298-4:1995)GB/T18272.1工業(yè)過程測量和控制系統(tǒng)評估中系統(tǒng)特性的評定三第1部分：總則和方法學(xué)（GB/T18272.1-2000,idtIEC61069-1:1991)GB/T18272.2工業(yè)過程測量和控制系統(tǒng)評估中系統(tǒng)特性的評定第2部分.評估方法學(xué)（GB/T18272.2-2000.idtIEC61069-2：1993)GB/T18272.3工業(yè)過程測量和控制系統(tǒng)評估中系統(tǒng)特性的評定第3部分：系統(tǒng)功能性評估（GB/T18272.3-2000.idtIEC61069-3:1996）GB/T18272.5工業(yè)過程測量和控制系統(tǒng)評估中系統(tǒng)特性的評定第5部分：系統(tǒng)可信性評估（GB/T18272.5-2000.idtTEC61069-5:1994)IEC61069-4:1997工業(yè)過程測量和控制系統(tǒng)評估中系統(tǒng)特性的評定第4部分：系統(tǒng)性能JB/T8209工業(yè)