標(biāo)準(zhǔn)解讀

GB/T 19767-2005 是一項(xiàng)中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),全稱為《基于微處理器儀表的評(píng)定方法》。該標(biāo)準(zhǔn)旨在為基于微處理器的儀表(通常指那些利用微處理器進(jìn)行數(shù)據(jù)處理和控制功能的測(cè)量?jī)x器)提供一套統(tǒng)一的評(píng)估和測(cè)試方法,確保這些儀表在性能、精度、可靠性和安全性等方面達(dá)到規(guī)定的質(zhì)量要求。以下是標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容的幾個(gè)關(guān)鍵點(diǎn):

  1. 適用范圍:本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了基于微處理器儀表的型式試驗(yàn)、出廠檢驗(yàn)和常規(guī)檢驗(yàn)的方法與要求,適用于新設(shè)計(jì)或已有產(chǎn)品改進(jìn)后的微處理器儀表的性能評(píng)價(jià)。

  2. 術(shù)語定義:標(biāo)準(zhǔn)首先明確了相關(guān)術(shù)語和定義,如“基于微處理器儀表”、“型式試驗(yàn)”、“出廠檢驗(yàn)”等,為后續(xù)內(nèi)容的準(zhǔn)確理解奠定基礎(chǔ)。

  3. 技術(shù)要求:詳細(xì)說明了儀表在功能、性能、環(huán)境適應(yīng)性、電磁兼容性、安全性和穩(wěn)定性等方面應(yīng)滿足的技術(shù)指標(biāo)和測(cè)試條件。

  4. 試驗(yàn)方法:規(guī)范了各項(xiàng)檢驗(yàn)和試驗(yàn)的具體操作步驟,包括但不限于功能驗(yàn)證、精度測(cè)試、環(huán)境試驗(yàn)(如溫度、濕度、振動(dòng)等)、電磁兼容性測(cè)試及安全測(cè)試等,以確保儀表在各種預(yù)設(shè)條件下都能正常工作。

  5. 評(píng)定規(guī)則:依據(jù)試驗(yàn)結(jié)果,制定了判定儀表是否合格的標(biāo)準(zhǔn)和程序,包括對(duì)單項(xiàng)不合格項(xiàng)目的處理原則以及綜合評(píng)定準(zhǔn)則。

  6. 檢驗(yàn)記錄與報(bào)告:要求在檢驗(yàn)過程中詳細(xì)記錄測(cè)試數(shù)據(jù)和觀察結(jié)果,并按照規(guī)定格式編制檢驗(yàn)報(bào)告,以作為產(chǎn)品質(zhì)量評(píng)定和后續(xù)改進(jìn)的依據(jù)。

  7. 標(biāo)志、包裝、運(yùn)輸和儲(chǔ)存:雖然這可能不是評(píng)估方法的直接部分,但標(biāo)準(zhǔn)也可能包含關(guān)于產(chǎn)品標(biāo)識(shí)、包裝要求以及運(yùn)輸和儲(chǔ)存條件的指導(dǎo),以保護(hù)儀表在交付前不受損害。


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  • 2005-12-01 實(shí)施
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ICS25.040.40:35.240.50N10中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T19767-2005/IEC/TS62098:2000基于微處理器儀表的評(píng)定方法Evaluationmethodsformicroprocessor-basedinstrument(IEC/TS62098:2000,IDT)2005-05-18發(fā)布2005-12-01實(shí)施中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局愛布中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T19767-2005/IEC/TS62098:2000三錄前言引言1概要1.1他圍1.2規(guī)范性引用文件1.3術(shù)語和定義2儀表的發(fā)展…….3評(píng)定需考慮的事項(xiàng)3.1系統(tǒng)方法·……3.2評(píng)定表3.3邊界區(qū)(接口)4評(píng)定技術(shù)4.1儀表分析4.2在數(shù)字通信鏈路上的儀表4.3儀表特性的識(shí)別·4.4影響量與相關(guān)測(cè)試……附錄A(資料性附錄)關(guān)于測(cè)量精確度的考慮附錄B(資料性附錄)控制器的靜差測(cè)量附錄C(資料性附錄)積分作用的分并率和消除附錄D(資料性附錄)防止積分飽和22附錄E(資料性附錄)評(píng)定表的實(shí)例29參考文獻(xiàn)25

GB/T19767-2005/IEC/TS62098:2000本標(biāo)準(zhǔn)等同采用IEC/TS62098:2000《基于微處理器儀表的評(píng)定方法》(英文版)為便于使用.對(duì)IEC/TS62098:2000做了下列編譯性修改:“本技術(shù)規(guī)范”和“本文本"一詞改為"本標(biāo)準(zhǔn)":b)用小數(shù)點(diǎn)"."代替作為小數(shù)點(diǎn)的退號(hào)".";用破折號(hào)·-“代替作為列項(xiàng)用的短橫線"";刪除IEC/TS62098:2000的前言,修改了IEC/TS62098:2000的引言;將IEC/TS62098.20004.3.7中提及的"IEC61721°改為“IEC60721°.因IEC60721是“環(huán)境條件分類"標(biāo)準(zhǔn),而IEC61721是"光伏組件對(duì)意外碰撞的承受能力(抗撞擊試驗(yàn))"標(biāo)準(zhǔn),根據(jù)上下文應(yīng)用前者:將IEC/TS62098:2000圖圖5中的過程域方框延長(zhǎng),以便與測(cè)量?jī)x表和(智能)執(zhí)行機(jī)構(gòu)間形成通信鏈路本標(biāo)準(zhǔn)的附錄A、附錄B、附錄C、附錄D和附錄E均為資料性附錄,本標(biāo)準(zhǔn)由中國(guó)機(jī)械工業(yè)聯(lián)合會(huì)提出。本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)工業(yè)過程測(cè)量和控制標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)第二分技術(shù)委員會(huì)歸口。本標(biāo)準(zhǔn)負(fù)責(zé)起草單位:西南師范大學(xué)。本標(biāo)準(zhǔn)參加起草單位:機(jī)械工業(yè)儀器儀表綜合技術(shù)經(jīng)濟(jì)研究所、四聯(lián)儀器儀表集團(tuán)、浙江大學(xué)、北京機(jī)械工業(yè)自動(dòng)化研究所。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人:周雪蓮、劉楓、張建成、薛思源本標(biāo)準(zhǔn)參加起草人;馮曉升、劉進(jìn)、馮冬芹、謝兵兵

GB/T19767-2005/IEC/TS62098:20000.1儀表或過程控制器的評(píng)定是在工廠的整個(gè)生存期期間核定測(cè)量或控制功能的固有成本的一種支持工具.固有成本包括投資成本(包括工廠在整個(gè)生存期期間的更新成本)、工程成本、安裝成本、維護(hù)成本、能源和原材料消耗成本0.2用于過程控制和測(cè)量的新型儀表通常配備有微處理器,因此有利于使用數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)處理方法和人工智能。這就使得這類儀表更加復(fù)雜,現(xiàn)有的標(biāo)準(zhǔn)化評(píng)定方法不總是能充分描述這類儀表的性能。評(píng)定內(nèi)容最多可以包括以下幾方面:-設(shè)計(jì)審查(硬件和軟件);性能(功能)測(cè)試;-對(duì)可靠性、可維護(hù)性的測(cè)試研究;安安全研究和安全性測(cè)試:現(xiàn)現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試0.3本標(biāo)準(zhǔn)所描述的評(píng)定方法主要涉及與性能和可靠性測(cè)試相關(guān)的內(nèi)容。本標(biāo)準(zhǔn)可看作是對(duì)(B/T18271的擴(kuò)展。為完整性起見,在GB/T18271里所提及的對(duì)基于微處理器的儀表仍然有效的方法在這里也被提到.但不完全重復(fù)它們,在相關(guān)的時(shí)候,將參考該標(biāo)準(zhǔn)。0.4在本標(biāo)準(zhǔn)中,關(guān)于對(duì)基于微處理器儀表的評(píng)定的某些考電是基于GB/T18272的前言中所提出的思想。0.5將來,基于微處理器的儀表將日益集成在數(shù)字通信系統(tǒng)中.因此本標(biāo)準(zhǔn)也將考慮這類儀表的通信特性以及它對(duì)實(shí)時(shí)操作和儀表的更多性能的可能影響。

GB/T19767-2005/IEC/TS62098:2000基于微處理器儀表的評(píng)定方法概要1.1花圍本標(biāo)準(zhǔn)的目的是為開發(fā)基于微處理器儀表的評(píng)定方法提供背景信息評(píng)定是從進(jìn)出過程的內(nèi)外信息流、操作員和外部系統(tǒng)等方面對(duì)儀表進(jìn)行分析開始的,然后辨識(shí)儀表的主要功能塊,通過使用4.2和4.3給出的檢驗(yàn)項(xiàng)目.能養(yǎng)識(shí)可能嵌入在被評(píng)定儀表的功能塊中的功能和特性。4.4給出了在相關(guān)影響條件下評(píng)定儀表的檢驗(yàn)項(xiàng)根據(jù)儀表的應(yīng)用,本標(biāo)準(zhǔn)的用戶可能需要定義更多的功能和特性或影響條件1.2規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件.其隨后所有的修改單(不包括勒誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn),然而,鼓勵(lì)根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件.其最新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。GB/T2900.56-2002電工術(shù)語自動(dòng)控制(IEC60050-351:1998.InternationalElectrotechnicalVocabularyChapter351:AutomaticControl(2w.Ed.),IDT)GB/T17614.1工業(yè)過程控制系統(tǒng)用變送器第1部分:性能評(píng)定方法(GB/T17614.1—1998.idtIEC60770-1:1984)GB/T18271.1過程測(cè)量和控制裝置通用性能評(píng)定方法和程序第1部分:總則(GB/T18271.1-2000,idtIEC61298-1:1995)GB/T18271.2過程測(cè)量和控制裝置通用性能評(píng)定方法和程序第2部分:參比條件下的試驗(yàn)(GB/T18271.2-2000.idtIEC61298-2:1995)GB/T18271.3過程測(cè)量和控制裝置通用性能評(píng)定方法和程序:第3部分:影響量影響的試驗(yàn)(GB/T18271.3-2000.idtIEC61298-3:1998)GB/T18271.4過程測(cè)量和控制裝置通用性能評(píng)定方法和程序第4部分:評(píng)定報(bào)告的內(nèi)容(GB/T18271.4-2000.idtIEC61298-4:1995)GB/T18272.1工業(yè)過程測(cè)量和控制系統(tǒng)評(píng)估中系統(tǒng)特性的評(píng)定三第1部分:總則和方法學(xué)(GB/T18272.1-2000,idtIEC61069-1:1991)GB/T18272.2工業(yè)過程測(cè)量和控制系統(tǒng)評(píng)估中系統(tǒng)特性的評(píng)定第2部分.評(píng)估方法學(xué)(GB/T18272.2-2000.idtIEC61069-2:1993)GB/T18272.3工業(yè)過程測(cè)量和控制系統(tǒng)評(píng)估中系統(tǒng)特性的評(píng)定第3部分:系統(tǒng)功能性評(píng)估(GB/T18272.3-2000.idtIEC61069-3:1996)GB/T18272.5工業(yè)過程測(cè)量和控制系統(tǒng)評(píng)估中系統(tǒng)特性的評(píng)定第5部分:系統(tǒng)可信性評(píng)估(GB/T18272.5-2000.idtTEC61069-5:1994)IEC61069-4:1997工業(yè)過程測(cè)量和控制系統(tǒng)評(píng)估中系統(tǒng)特性的評(píng)定第4部分:系統(tǒng)性能JB/T8209工業(yè)

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