標(biāo)準(zhǔn)解讀
《GB/T 21649.1-2008 粒度分析 圖像分析法 第1部分:靜態(tài)圖像分析法》是中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)之一,主要規(guī)定了使用靜態(tài)圖像分析技術(shù)進(jìn)行粒度分析的方法。該標(biāo)準(zhǔn)適用于各種顆粒材料的尺寸分布測(cè)量,包括但不限于金屬粉末、陶瓷粉體及其他非金屬粉末等。
根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容,靜態(tài)圖像分析法是指通過(guò)采集樣品的二維投影圖像,并利用計(jì)算機(jī)軟件對(duì)這些圖像中的顆粒進(jìn)行識(shí)別和測(cè)量,以獲得顆粒大小及其分布信息的技術(shù)手段。整個(gè)過(guò)程涉及樣品制備、圖像獲取、數(shù)據(jù)處理等多個(gè)步驟。其中,對(duì)于樣品制備的要求非常嚴(yán)格,需要確保顆粒分散良好且無(wú)重疊現(xiàn)象;圖像獲取階段,則需采用合適的顯微鏡或相機(jī)設(shè)備來(lái)捕捉清晰的顆粒圖像;至于數(shù)據(jù)分析,則是基于特定算法自動(dòng)完成顆粒邊界識(shí)別及尺寸計(jì)算等工作。
如需獲取更多詳盡信息,請(qǐng)直接參考下方經(jīng)官方授權(quán)發(fā)布的權(quán)威標(biāo)準(zhǔn)文檔。
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- 正在執(zhí)行有效
- 2008-04-16 頒布
- 2008-10-01 實(shí)施
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GB/T 21649.1-2008粒度分析圖像分析法第1部分:靜態(tài)圖像分析法-免費(fèi)下載試讀頁(yè)文檔簡(jiǎn)介
犐犆犛19.120
犃28
中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
犌犅/犜21649.1—2008
粒度分析圖像分析法
第1部分:靜態(tài)圖像分析法
犘犪狉狋犻犮犾犲狊犻狕犲犪狀犪犾狔狊犻狊—犐犿犪犵犲犪狀犪犾狔狊犻狊犿犲狋犺狅犱狊—
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(ISO133221:2004,MOD)
20080416發(fā)布20081001實(shí)施
中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局
發(fā)布
中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
書
犌犅/犜21649.1—2008
目次
前言!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!Ⅰ
引言!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!Ⅱ
1范圍!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!1
2規(guī)范性引用文件!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!1
3術(shù)語(yǔ)、縮略語(yǔ)、定義與符號(hào)!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!1
3.1術(shù)語(yǔ)、縮略語(yǔ)與定義!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!1
3.2符號(hào)!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!2
4本方法要求的樣品制備!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!3
4.1總的推薦方法!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!3
4.2制樣方法!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!4
5圖像采集!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!4
5.1總則!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!4
5.2步驟!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!4
5.3圖像采集儀的操作條件!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!4
6顯微鏡和圖像分析!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!5
6.1總則!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!5
6.2粒度分級(jí)和放大!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!5
6.3計(jì)數(shù)步驟!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!5
7粒度的計(jì)算結(jié)果!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!8
8試驗(yàn)報(bào)告!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!9
附錄A(規(guī)范性附錄)用于評(píng)估樣品平均粒徑所需的顆粒尺寸的研究!!!!!!!!!!!!10
附錄B(規(guī)范性附錄)操作時(shí)的放大倍率!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!23
附錄C(規(guī)范性附錄)典型物鏡的分辨率和粒度區(qū)間!!!!!!!!!!!!!!!!!!!24
附錄D(資料性附錄)典型圖像分析法的流程圖!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!25
附錄E(資料性附錄)平均值和方差的統(tǒng)計(jì)檢驗(yàn)(方差分析和多樣性比較)!!!!!!!!!!26
附錄F(資料性附錄)幾種制樣方法!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!28
參考文獻(xiàn)!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!30
書
犌犅/犜21649.1—2008
前言
GB/T21649《粒度分析圖像分析法》分為以下兩個(gè)部分:
———第1部分:靜態(tài)圖像分析法;
———第2部分:動(dòng)態(tài)圖像分析法。
本部分是GB/T21649的第1部分。
本部分修改采用ISO133221:2004《粒度分析圖像分析法第1部分:靜態(tài)圖像分析法》(英文版)。
本部分與ISO133221比較,主要修改內(nèi)容如下:
———在附錄B中增加了兩檔放大倍率,使測(cè)量范圍拓展到納米級(jí)。
———4.2條制樣方法的內(nèi)容從正文移至附錄F(資料性附錄),并增加F.5“支持膜法”。
———對(duì)范圍進(jìn)行了修改。
———對(duì)術(shù)語(yǔ)、縮略語(yǔ)、定義與符號(hào)進(jìn)行了修改。
———對(duì)公式(4)進(jìn)行了修改:
(犣1-犡F1)(犣2-犡F2)
犘i=
犣1犣2
———將ISO1332216.3.6.1條中示例改寫為“檢定過(guò)的標(biāo)準(zhǔn)格柵或粒度標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)”。
本部分相對(duì)于ISO133221:2004刪除的內(nèi)容如下:
———?jiǎng)h除5.2條中內(nèi)容重復(fù)的b)、c)、d)、h)。
———將一些適用于國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的表述改寫為適用于我國(guó)標(biāo)準(zhǔn)的表述。
本部分的附錄A、附錄B、附錄C為規(guī)范性附錄,附錄D、附錄E、附錄F為資料性附錄。
本部分由全國(guó)篩網(wǎng)篩分和顆粒分檢方法標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC168)提出并歸口。
本部分起草單位:北京市理化分析測(cè)試中心、鋼鐵研究總院。
本部分主要起草人:周素紅、鄒濤、陳縈、盧慶新、鄭毅、方建鋒。
Ⅰ
犌犅/犜21649.1—2008
引言
在采用圖像分析法測(cè)定粒度時(shí),本標(biāo)準(zhǔn)旨在對(duì)測(cè)試方法以及適用范圍提供指導(dǎo)。
圖像分析技術(shù)已廣泛應(yīng)用于分析各種性質(zhì)的可成像材料。因而,當(dāng)采用圖像分析法測(cè)定粒度時(shí),本
標(biāo)準(zhǔn)僅限于規(guī)范該技術(shù),并給出標(biāo)準(zhǔn)適用范圍,而不是提供精確的標(biāo)準(zhǔn)方法。
本標(biāo)準(zhǔn)包括了用檢定過(guò)的標(biāo)準(zhǔn)格柵、粒度標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)來(lái)標(biāo)定驗(yàn)證的方法。通過(guò)測(cè)量已知尺寸的格柵
或顆??梢院侠淼赜?jì)算出由設(shè)備引入的系統(tǒng)不確定度。
為了確保數(shù)據(jù)的有效性,本標(biāo)準(zhǔn)推薦了一種有關(guān)顆粒數(shù)量分布的準(zhǔn)確描述,并提供了一個(gè)分析
平臺(tái)。
采用顯微鏡法測(cè)量粒度分布簡(jiǎn)單直接。但由于該技術(shù)僅測(cè)量樣品的一小部分,為了保證分析結(jié)果
具有代表性,建議將原始樣品分成若干份,測(cè)量其中的三份或更多份。如采用狋檢驗(yàn)法對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)
分析,可以知道測(cè)量的樣品是否真實(shí)地代表全部原始樣品。
從樣品細(xì)分到得到最終結(jié)果的分析過(guò)程中,每一步產(chǎn)生的誤差累計(jì)到總的測(cè)量不確定度中。估計(jì)
每一步產(chǎn)生的不確定度是非常重要的。在本標(biāo)準(zhǔn)的適當(dāng)位置給出了說(shuō)明。
由于儀器的測(cè)量范圍不同,制樣技術(shù)各異,在此沒(méi)有給出統(tǒng)一的制樣方法,采用其他方法不會(huì)影響
數(shù)據(jù)的有效性。然而,為了保證所做的測(cè)量與本標(biāo)準(zhǔn)一致并能夠溯源,還是規(guī)定了一些基本步驟。
Ⅱ
犌犅/犜21649.1—2008
粒度分析圖像分析法
第1部分:靜態(tài)圖像分析法
1范圍
GB/T21649.1的本部分規(guī)定了利用靜態(tài)圖像分析法測(cè)定顆粒粒度分布的方法。本部分適用于測(cè)
定能夠從顯微鏡中獲得圖像的顆粒的粒度分布。
本部分測(cè)量的顆粒尺寸范圍是小于10∶1的窄分布。為了獲得可重復(fù)的體積平均直徑,對(duì)符合正
態(tài)分布的、標(biāo)準(zhǔn)偏差為1.6的分布,需要測(cè)量6000多個(gè)顆粒。如果要得到可靠的百分?jǐn)?shù)值時(shí),如犇90或
其他百分?jǐn)?shù)值,則必須至少測(cè)量61000個(gè)顆粒。詳見(jiàn)附錄A。
2規(guī)范性引用文件
下列文件中的條款通過(guò)GB/T21649的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文
件,其隨
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