GB/T 22092-2008電子數(shù)顯測微頭和深度千分尺

犐犆犛１７．０４０．３０

犑４２

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

犌犅／犜２２０９２—２００８

電子數(shù)顯測微頭和深度千分尺

犉犻狓犲犱犿犻犮狉狅犿犲狋犲狉犪狀犱犱犲狆狋犺犿犻犮狉狅犿犲狋犲狉狑犻狋犺犲犾犲犮狋狉狅狀犻犮犱犻犵犻狋犪犾犱犻狊狆犾犪狔

２００８０６２５發(fā)布２００９０１０１實施

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局

發(fā)布

中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

書

犌犅／犜２２０９２—２００８

前言

本標(biāo)準(zhǔn)的附錄Ａ為資料性附錄。

本標(biāo)準(zhǔn)由中國機(jī)械工業(yè)聯(lián)合會提出。

本標(biāo)準(zhǔn)由全國量具量儀標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會（ＳＡＣ／ＴＣ１３２）歸口。

本標(biāo)準(zhǔn)負(fù)責(zé)起草單位：蘇州麥克龍測量技術(shù)有限公司。

本標(biāo)準(zhǔn)參加起草單位：成都工具研究所。

本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：黃曉賓、張洪玲、姜志剛。

Ⅰ

書

犌犅／犜２２０９２—２００８

電子數(shù)顯測微頭和深度千分尺

１范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電子數(shù)顯測微頭和深度千分尺的術(shù)語和定義、型式與基本參數(shù)、要求、試驗方法、檢驗

方法、標(biāo)志與包裝等。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于分辨力高于或等于０．００１ｍｍ，量程小于或等于３０ｍｍ的電子數(shù)顯測微頭和深度千

分尺。量程等于５０ｍｍ的電子數(shù)顯測微頭和深度千分尺參見附錄Ａ。

２規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有

的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn)，然而，鼓勵根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究

是否使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。

ＧＢ／Ｔ１２１６—２００４外徑千分尺

ＧＢ／Ｔ２４２３．３—２００６電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第２部分：試驗方法試驗Ｃａｂ：恒定濕熱試驗

（ＩＥＣ６００６８２７８：２００１，ＩＤＴ）

ＧＢ／Ｔ２４２３．２２—２００２電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第２部分：試驗方法試驗Ｎ：溫度變化

（ＩＥＣ６００６８２１４：１９８４，ＩＤＴ）

ＧＢ４２０８—２００８外殼防護(hù)等級（ＩＰ代碼）

ＧＢ／Ｔ１７１６３幾何量測量器具術(shù)語基本術(shù)語

ＧＢ／Ｔ１７１６４幾何量測量器具術(shù)語產(chǎn)品術(shù)語

ＧＢ／Ｔ１７６２６．２—２００６電磁兼容試驗和測量技術(shù)靜電放電抗擾度試驗（ＩＥＣ６１０００４２：２００１，

ＩＤＴ）

ＧＢ／Ｔ１７６２６．３—２００６電磁兼容試驗和測量技術(shù)射頻電磁場輻射抗擾度試驗（ＩＥＣ６１０００４

３：２００２，ＩＤＴ）

３術(shù)語和定義

ＧＢ／Ｔ１７１６３和ＧＢ／Ｔ１７１６４中確立的以及下列術(shù)語和定義適用于本標(biāo)準(zhǔn)。

３．１

電子數(shù)顯千分尺數(shù)顯裝置犲犾犲犮狋狉狅狀犻犮犱犻犵犻狋犪犾犻狀犱犻犮犪狋犻狀犵犱犲狏犻犮犲狊犳狅狉犿犻犮狉狅犿犲狋犲狉

利用角度傳感器、電子和數(shù)字顯示技術(shù)，計算并顯示電子數(shù)顯千分尺的螺旋副位移的裝置。以下簡

稱“電子數(shù)顯裝置”。

３．２

最大允許誤差（