GB/T 22319.8-2008石英晶體元件參數(shù)的測量第8部分：表面貼裝石英晶體元件用測量夾具

犐犆犛３１．１４０

犔２１

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

犌犅／犜２２３１９．８—２００８／犐犈犆６０４４４８：２００３

石英晶體元件參數(shù)的測量

第８部分：表面貼裝石英晶體元件

用測量夾具

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（ＩＥＣ６０４４４８：２００３，ＩＤＴ）

２００８０８０６發(fā)布２００９０１０１實(shí)施

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局

發(fā)布

中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

書

中華人民共和國

國家標(biāo)準(zhǔn)

石英晶體元件參數(shù)的測量

第８部分：表面貼裝石英晶體元件

用測量夾具

ＧＢ／Ｔ２２３１９．８—２００８／ＩＥＣ６０４４４８：２００３

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書號：１５５０６６·１３４６８３

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書

犌犅／犜２２３１９．８—２００８／犐犈犆６０４４４８：２００３

前言

ＧＢ／Ｔ２２３１９《石英晶體元件參數(shù)的測量》分為如下幾部分：

———第１部分：用π型網(wǎng)絡(luò)零相位法測量石英晶體元件諧振頻率和諧振電阻的基本方法；

———第２部分：測量石英晶體元件動(dòng)態(tài)電路的相位偏置法；

———第３部分：利用有并電容犆０補(bǔ)償?shù)摩行途W(wǎng)絡(luò)相位法測量頻率達(dá)２００ＭＨｚ的石英晶體元件兩

端網(wǎng)絡(luò)參數(shù)的基本方法；

———第４部分：頻率達(dá)３０ＭＨｚ石英晶體元件負(fù)載諧振頻率和負(fù)載諧振電阻犚Ｌ的測量方法及其他

導(dǎo)出參數(shù)的計(jì)算；

———第５部分：采用自動(dòng)網(wǎng)絡(luò)分析技術(shù)和誤差校正確定等效電參數(shù)的方法；

———第６部分：激勵(lì)電平相關(guān)性（ＤＬＤ）的測量；

———第７部分：石英晶體元件活力和頻率降的測量；

———第８部分：表面貼裝石英晶體元件用測量夾具；

———第９部分：石英晶體元件寄生諧振的測量。

本部分為ＧＢ／Ｔ２２３１９的第８部分。

本部分等同采用ＩＥＣ６０４４４８：２００３《石英晶體元件參數(shù)的測量第８部分：表面貼裝石英晶體元件

用測量夾具》（英文版）。

為便于使用，本部分作了下列編輯性修改：

ａ）刪除國際標(biāo)準(zhǔn)的前言；

ｂ）刪除國際標(biāo)準(zhǔn)的引言；

ｃ）將本部分的各圖集中到正文最后；

ｄ）將原文６．１第二段中“５０±５％”改為“５０×（１±５％）Ω”。

本部分由中華人民共和國信息產(chǎn)業(yè)部提出。

本部分由全國頻率控制和選擇用壓電器件標(biāo)委會(huì)歸口。

本部分起草單位：中國電子元件行業(yè)協(xié)會(huì)壓電晶體分會(huì)。

本部分主要起草人：章怡、姜連生。

Ⅰ

書

犌犅／犜２２３１９．８—２００８／犐犈犆６０４４４８：２００３

石英晶體元件參數(shù)的測量

第８部分：表面貼裝石英晶體元件

用測量夾具

１范圍

ＧＢ／Ｔ２２３１９的本部分規(guī)定了能精確測量無引線表面貼裝石英晶體元件的諧振頻率、諧振電阻及

等效電路參數(shù)的測量夾具，測量方法采用ＩＥＣ６０４４４４：１９８８和ＩＥＣ６０４４４５：１９９５規(guī)定的零相位技術(shù)。

使用該測量夾具的等效電路和適用的頻率范圍見隨后條款。

此外，本部分也適用于ＩＥＣ６１２４０：１９９４中的無引線晶體元件外殼。測量夾具的等效電路和電參數(shù)

都基于ＩＥＣ６０４４４１：１９８６和ＩＥＣ６０４４４４：１９８８。負(fù)載電容范圍為１０ｐＦ或更高。本部分還規(guī)定了測

量系統(tǒng)和犆Ｌ片的校準(zhǔn)。

本部分適用于能準(zhǔn)確測量石英晶體元件的諧振頻率、諧振電阻、并電容犆０、動(dòng)態(tài)電容犆１和動(dòng)態(tài)電

感犔１的測量夾具，其頻率范圍為１ＭＨｚ～１５０ＭＨｚ，采用基于ＩＥＣ６０４４４５：１９９５的自動(dòng)網(wǎng)絡(luò)分析儀。

２規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過ＧＢ／Ｔ２２３１９的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文

件，其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本部分，然而，鼓勵(lì)根據(jù)本部分達(dá)成

協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本

部分。

ＩＥＣ６０４４４１：１９８６采用π網(wǎng)絡(luò)零相位技術(shù)測量石英晶體元件參數(shù)第１部分：采用