GB/T 2423.8-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Ed：自由跌落

PDC.621.3：620.178K04中華人民共和國國家標準GB/T2423.8-1995idtIec68-2-32：1990電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Ed：自由跌落EnvironmentaltestingforelectricandelectronicproductsPart2：TestmethodsTestEd:Freefall1995-08-29發(fā)布1996-08-01實施國家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

GB:T2423.8-1995本標準等同采用國際電工委員會標準IEC68-2-32(1975年第二版)基本環(huán)境試驗規(guī)程第2部分：試驗方法試驗Ed;自由跌落》、1982年的第一次修改和1990年的第二次修改。這樣，使這項國家標準與國際標準相同，以適應國際貿(mào)易、技術(shù)和經(jīng)濟交流的需要，本標準代替GB2423.8—81《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Ed:自由跌落試驗方法》和（B2424.6—81《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程自由跌落試驗導則》。GB2423.8-81和GB2424.6一81是參照IEC68-2-32(1975年第二版)《基本環(huán)境試驗規(guī)程第2部分：試驗方法試驗Ed:自由跌落》起草的。本標準在技術(shù)內(nèi)容、編寫格式和規(guī)則上都與IEC68-2-32(1975)、1982年的第一次修改文本,1990年的第二次修改文本完全相同。本標準與前版的主要區(qū)別在于：-將GB2423.8和GB2424.6兩個標準合并成一個標準GB/T2423.8；-按IEC68-2-32.1982年和1990年的兩次修改，對方法二和附錄A作了修改，補充了附錄B。下列四項標準與本標準均屬撞擊試驗范時,有關(guān)規(guī)范應根據(jù)產(chǎn)品的使用和運輸?shù)木唧w情況選擇合適的試驗方法（見附錄B)。-GB/T2423.5一1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Ea和導則：沖擊：-GB/T2423.6—1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法武驗Eb和導則：碰撞，電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗GB/T2423.7-1995：第2部分：試驗方法試驗Ee和導則：傾跌與翻倒(主要用于設備型樣品)-GB2423.39—90電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Ee:彈跳試驗方法、本標準的附錄A、附錄B是標準的附錄。本標準由中華人民共和國電子工業(yè)部提出。本標準由全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標準化技術(shù)委員會歸口。本標準起草單位：郵電部第一研究所、電子工業(yè)部第五研究所。本標準主要起草人：王裕春、魏蓓、何錦康、于占泉、王樹榮。

GB/T2423.8-1995IEC前吉1）國際電工委員會(IEC)關(guān)于技術(shù)問題的正式?jīng)Q議或協(xié)議,是由對該問題特別關(guān)切的國家委員會代表參加的技術(shù)委員會制定的,它們盡可能地表達了國際上對該問題的一致意見。2）這些決議或協(xié)議以推薦標準的形式供國際上使用，在這種意義上為各國家委員會所接受。3）為了促進國際上的統(tǒng)一,國際電工委員會希望：所有國家委員會在本國條件許可的情況下應采用IC推薦標準作為他們的國家標準。IC推薦標準與相應的國家標準之間的任何分歧，應盡可能在國家標準中明確地說明。本標準是由IEC第50技術(shù)委員會（環(huán)境試驗)的50A分技術(shù)委員會(沖擊和振動試驗)制定的第一次草案在1972年斯德哥爾摩會議上討論.形成文件:50A(中央辦公室)138。于1973年提交給各國家委員會按"六個月法"表決。下列國家投票明確贊成本標準：澳大利亞、比利時、巴西、捷克斯洛伐克、丹麥、埃及、芬蘭、德國、法國、以色列、日本、荷蘭、挪威、波蘭、和新牙、南非(共和）、羅馬尼亞、西班牙、瑞典、瑞士、土耳其、蘇聯(lián)、聯(lián)合王國、美國。1982年作了第一次修改，增加了附錄B導則。1990年作了第二次修改，修改基于下列文件：二月程摩六個月法表決報省修改文件號表決報告50A(CO)18550A（CO)18650A（CO)18150A（CO)18750A（CO15250A（CO)157更詳細的資料可查閱上表所列表決報告。第二次修改更新了兩個附錄的內(nèi)容

中華人民共和國國家標準電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Ed：自由跌落代替CE：2423.8一GB2424.6-81EnvironmentaltestingforelectricandelectronicproductsPart2：TestmethodsTestEd：Freefall引言本試驗分為兩種方法。第一種方法通常是用來模擬非包裝狀態(tài)的產(chǎn)品在搬運期間可能經(jīng)受到的自由跌落，樣品通常是按照規(guī)定的姿態(tài)從規(guī)定的高度跌落到規(guī)定的表面上兩次。第二種方法通常用來模擬附在電纜上的連接器、小型通控裝置等在使用中可能經(jīng)受的重復自由跌落。使試驗樣品從規(guī)定高度重復跌落到規(guī)定的表面上。它是通過使用合適的設備，例如(旋轉(zhuǎn))滾簡來實現(xiàn)的。方法一：自由跌落1日的確定產(chǎn)品在搬運期間由于粗率裝卸遭到跌落的適應性，或確定安全要求用的最低牢固等級。本試驗主要用于非包裝的試驗樣品，以及在運輸箱中其包裝可以作為樣品一部分的試驗樣品。武驗條件2.1試驗表面試驗表面應該是混凝土或鋼制成的平滑、堅硬的剛性表面。必要時，有關(guān)規(guī)范可以規(guī)定其它表面。2.2跌溶高度是指試驗樣品在跌落前懸掛著的時候，試驗表面與離它最近的樣品部位之間的高度。2.3釋放方法釋放試驗樣品的方法應使試驗樣品從懸掛著的位置自由跌落。釋放時，要使干擾最小.3·嚴酷等級應從下列諸值中選取跌落高度：（25、5