GB/T 2424.26-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第3部分：支持文件和導(dǎo)則振動(dòng)試驗(yàn)選擇

犐犆犛１９．０４０

犓０４

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

犌犅／犜２４２４．２６—２００８／犐犈犆６００６８３８：２００３

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)

第３部分：支持文件和導(dǎo)則

振動(dòng)試驗(yàn)選擇

犈狀狏犻狉狅狀犿犲狀狋犪犾狋犲狊狋犻狀犵犳狅狉犲犾犲犮狋狉犻犮犪狀犱犲犾犲犮狋狉狅狀犻犮狆狉狅犱狌犮狋狊—

犘犪狉狋３：犛狌狆狆狅狉狋犻狀犵犱狅犮狌犿犲狀狋犪狋犻狅狀犪狀犱犵狌犻犱犪狀犮犲—

犛犲犾犲犮狋犻狀犵犪犿狅狀犵狊狋狏犻犫狉犪狋犻狅狀狋犲狊狋狊

（ＩＥＣ６００６８３８：２００３，Ｅｄ１．０，ＩＤＴ）

２００８１２３０發(fā)布２００９１００１實(shí)施

中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局

發(fā)布

中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

書(shū)

犌犅／犜２４２４．２６—２００８／犐犈犆６００６８３８：２００３

目次

前言!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!Ⅲ

引言!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!Ⅳ

１范圍!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

２規(guī)范性引用文件!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

３術(shù)語(yǔ)和定義!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１

４振動(dòng)試驗(yàn)方法描述!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!２

５樣品的振動(dòng)環(huán)境!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!４

６樣品實(shí)際生命周期動(dòng)態(tài)環(huán)境的估計(jì)!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!４

７試驗(yàn)方法的選擇!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!７

８樣品的振動(dòng)響應(yīng)檢查!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!９

參考文獻(xiàn)!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!１２

Ⅰ

書(shū)

犌犅／犜２４２４．２６—２００８／犐犈犆６００６８３８：２００３

前言

ＧＢ／Ｔ２４２４包含以下部分：

———ＧＢ／Ｔ２４２４．１電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則

———ＧＢ／Ｔ２４２４．２電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)濕熱試驗(yàn)導(dǎo)則

———ＧＢ／Ｔ２４２４．５電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)溫度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)

———ＧＢ／Ｔ２４２４．６電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)溫度／濕度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)

———ＧＢ／Ｔ２４２４．７電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn)Ａ和Ｂ（帶負(fù)載）用溫度試驗(yàn)箱的測(cè)量

———ＧＢ／Ｔ２４２４．１０電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程大氣腐蝕加速試驗(yàn)的通用導(dǎo)則

———ＧＢ／Ｔ２４２４．１３電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第２部分：試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則

———ＧＢ／Ｔ２４２４．１４電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第２部分：試驗(yàn)方法太陽(yáng)輻射試驗(yàn)導(dǎo)則

———ＧＢ／Ｔ２４２４．１５電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第３部分：溫度／低氣壓綜合試驗(yàn)導(dǎo)則

———ＧＢ／Ｔ２４２４．１７電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)錫焊試驗(yàn)導(dǎo)則

———ＧＢ／Ｔ２４２４．１９電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)?zāi)M貯存影響的環(huán)境試驗(yàn)導(dǎo)則

———ＧＢ／Ｔ２４２４．２２電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程溫度（低溫、高溫）和振動(dòng)（正弦）綜合試驗(yàn)

導(dǎo)則

———ＧＢ／Ｔ２４２４．２５電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第３部分：試驗(yàn)導(dǎo)則地震試驗(yàn)方法

———ＧＢ／Ｔ２４２４．２６電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第３部分：支持文件和導(dǎo)則振動(dòng)試驗(yàn)選擇

本部分為ＧＢ／Ｔ２４２４的第２６部分。

本部分等同采用ＩＥＣ６００６８３８：２００３（Ｅｄ１．０）《環(huán)境試驗(yàn)第３８部分：支持文件和導(dǎo)則振動(dòng)試

驗(yàn)選擇》。

為便于使用，本部分做了下列編輯性修改：

———“ＩＥＣ６００６８３的本部分”一詞改為“ＧＢ／Ｔ２４２４的本部分”或“本部分”；

———用小數(shù)點(diǎn)“．”代替作為小數(shù)點(diǎn)的逗號(hào)“，”；

———?jiǎng)h除國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的前言；

———為了與現(xiàn)有ＧＢ／Ｔ２４２４其他各部分的名稱(chēng)一致而將本部分改為當(dāng)前名稱(chēng)；

本部分引用的規(guī)范性文件中有一部分目前尚未轉(zhuǎn)化為等同采用的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)，在引用這些規(guī)范性文

件時(shí)仍以ＩＥＣ／ＩＳＯ的編號(hào)列出。

本部分由全國(guó)電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)（ＳＡＣ／ＴＣ８）提出并歸口。

本部分起草單位：上海市質(zhì)量檢驗(yàn)技術(shù)研究院、信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所、北京航空航天大學(xué)、廣

州大學(xué)、北京中元集團(tuán)、上海自動(dòng)化所。

本部分主要起草人：盧兆明、紀(jì)春陽(yáng)、吳颯、徐忠根、王沈敏、李傳日、張?jiān)?、史曉雯、周驊、常少莉?/p>

本部分為首次發(fā)布。

Ⅲ

犌犅／犜２４２４．２６—２００８／犐犈犆６００６８３８：２００３

引言

元件、設(shè)備和其他電工產(chǎn)品，下文中稱(chēng)樣品，在生產(chǎn)、運(yùn)輸或使用中將經(jīng)受各種不同類(lèi)型的振動(dòng)。在

ＧＢ／Ｔ４７９８中，不同的振動(dòng)環(huán)境按其振動(dòng)特性可劃分為穩(wěn)態(tài)和瞬態(tài)的。在ＧＢ／Ｔ２４２３系列標(biāo)準(zhǔn)中，描

述了關(guān)于穩(wěn)態(tài)振動(dòng)和瞬態(tài)振動(dòng)的試驗(yàn)方法，而且提供了三個(gè)關(guān)于振動(dòng)試驗(yàn)方法的標(biāo)準(zhǔn)，分別是：

———正弦振動(dòng)（ＧＢ／Ｔ２４２３．１０）試驗(yàn)Ｆｃ：振動(dòng)（正弦）；

———寬帶（數(shù)控）隨機(jī)（ＧＢ／Ｔ２４２３．５６）試驗(yàn)Ｆｈ：寬帶隨機(jī)振動(dòng)（數(shù)控）和導(dǎo)則；

———混合模式試驗(yàn)（ＧＢ／Ｔ２４２３．５８）試驗(yàn)Ｆｉ：振動(dòng)—混合模式。

Ⅳ

犌犅／犜２４２４．２６—２００８／犐犈犆６００６８３８：２００３

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)

第３部分：支持文件和導(dǎo)則

振動(dòng)試驗(yàn)選擇

１范圍

ＧＢ／Ｔ２４２４的本部分提供了在ＧＢ／Ｔ２４２３中試驗(yàn)Ｆｃ正弦、試驗(yàn)Ｆｈ隨機(jī)和試驗(yàn)Ｆｉ混合模式振動(dòng)

模式等三種穩(wěn)態(tài)的振動(dòng)試驗(yàn)方法中進(jìn)行選擇的導(dǎo)則。第４章簡(jiǎn)要描述了這幾種不同的穩(wěn)態(tài)振動(dòng)試驗(yàn)方

法和它們的目的。本部分不包括瞬態(tài)振動(dòng)試驗(yàn)方法。

在進(jìn)行振動(dòng)試驗(yàn)時(shí)，應(yīng)該了解其環(huán)境條件，尤其是樣品的動(dòng)力學(xué)環(huán)境。本部分有助于環(huán)境條件信息

的收集（見(jiàn)第８章）和動(dòng)力學(xué)環(huán)境的估計(jì)或測(cè)量（見(jiàn)第６章），并舉例演示如何確定最合適的振動(dòng)試驗(yàn)方

法。從振動(dòng)條件出發(fā)，給出了選擇合適試驗(yàn)的方法。由于實(shí)際的振動(dòng)環(huán)境中，隨機(jī)特性通常占主導(dǎo)作

用，所以隨機(jī)振動(dòng)試驗(yàn)應(yīng)該是最常用的方法。見(jiàn)第７章表１。

下述試驗(yàn)方法可以用于試驗(yàn)之前、期間和之后對(duì)樣品進(jìn)行振動(dòng)響應(yīng)檢查。如何選擇合適的激勵(lì)方

法見(jiàn)第８章和表２。

在本部分中，有關(guān)規(guī)范的編寫(xiě)者可以找到關(guān)于振動(dòng)試驗(yàn)方法的有關(guān)信息和如何選擇振動(dòng)試驗(yàn)方法

的導(dǎo)則。對(duì)于某一試驗(yàn)方法的試驗(yàn)參數(shù)或嚴(yán)酷度等級(jí)，應(yīng)參照有關(guān)規(guī)范。

２規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過(guò)ＧＢ／Ｔ２４２４的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文

件，其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn)，然而，鼓勵(lì)根據(jù)本部分達(dá)成

協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本

部分。

ＧＢ／Ｔ２４２１—１９９９電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)總則（ｉｄｔＩＥＣ６００６８１：１９８８）

ＧＢ／Ｔ２４２２—１９９５電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)：術(shù)語(yǔ)和定義（ｅｑｖＩＥＣ６００６８５２：１９９０）

ＧＢ／Ｔ２４２３．１０—２００８電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第２部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ｆｃ：振動(dòng)