GB/T 2423.48-1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ff：振動(dòng)-時(shí)間歷程法

IcS19.040K04中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T2423.48--1997idtIEC68-2-57:1989電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ft:振動(dòng)——時(shí)間歷程法EnvironmentaltestingforelectricandelectronicproductsPart2：TestmethodsTestFf:Vibration--Time-historymethod1997-09-01發(fā)布1998-10-01實(shí)施國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

GB/T2423.48-1997前言IEC前言引言?…引用標(biāo)準(zhǔn)………1目的2一般說明3定義4條件試驗(yàn)的要求S嚴(yán)酷等級(jí)6預(yù)處理”····.·2初始檢測(cè)……8條件試驗(yàn)……………·9中間檢測(cè)·恢復(fù)101000006600000000000611最后檢測(cè)有關(guān)規(guī)范應(yīng)作出的規(guī)定附錄A(標(biāo)準(zhǔn)的附錄）導(dǎo)則

GB/T2423.48—1997前本標(biāo)準(zhǔn)是根據(jù)國(guó)際電工委員會(huì)IEC68-2-57《環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ff：振動(dòng)——時(shí)間歷程法》1989年第一版制定的、本標(biāo)準(zhǔn)完全等同IEC68-2-57,1989年第一版。本標(biāo)準(zhǔn)的附錄A是標(biāo)準(zhǔn)的附錄。本標(biāo)準(zhǔn)由中華人民共和國(guó)電子工業(yè)部提出。本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口。本標(biāo)準(zhǔn)起草單位：電子工業(yè)部第五研究所、電子工業(yè)部第四研究所。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：張友蘭、王樹榮、周心才、盧兆明、劉忠來、張?jiān)健?/p>

GB/T2423.48-1997IEC前言1）國(guó)際電工委員會(huì)（IEC）關(guān)手技術(shù)間題的正式?jīng)Q議或協(xié)議·是由對(duì)該間題特別關(guān)切的國(guó)家委員會(huì)派代表參加的技術(shù)委員會(huì)制定的.他們盡可能地表達(dá)了國(guó)際上對(duì)該問題的一致意見。2）這些決議或協(xié)議以推薦標(biāo)準(zhǔn)的形式供國(guó)際上使用，在這種意義上為各國(guó)家委員會(huì)所接受3）為了促進(jìn)國(guó)際間的統(tǒng)一.國(guó)際電工委員會(huì)希型所有會(huì)員國(guó)在制定園家標(biāo)準(zhǔn)時(shí).只要國(guó)家具體條件許可，應(yīng)采用國(guó)際電工委員會(huì)的推薦標(biāo)準(zhǔn)的內(nèi)容作為他們的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)，國(guó)際電工委員會(huì)的推薦標(biāo)準(zhǔn)和國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)之間的任何分技應(yīng)盡可能地在國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)中明確地指出，本標(biāo)準(zhǔn)是由國(guó)際電工委員會(huì)第50技木委員會(huì)（環(huán)境試驗(yàn)）50A分技術(shù)委員會(huì)（沖擊、振動(dòng)與其他動(dòng)力學(xué)試驗(yàn))制定的、本標(biāo)淮文本以下列文件為基礎(chǔ)：50A（017650A<CC))178更詳細(xì)的全部表決資料可在上表指明的表決報(bào)售中找到

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法GB/T2423.48-1997試驗(yàn)F:振動(dòng)時(shí)時(shí)間歷程法idtIEC68-2-57:1989EnvironmentaltestingforelectricandelectronicproductsPart2：TestmethodsTestrt：Vibration-time-historymcthod本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了元器件、設(shè)備和其飛電工電子產(chǎn)品的時(shí)間歷程法振動(dòng)試驗(yàn)方法。因?yàn)檫@些元器件、設(shè)備和其它電工電子產(chǎn)品（下文稱樣品)在其使用期間可能會(huì)經(jīng)常受到短持續(xù)時(shí)間的隨機(jī)形式的動(dòng)態(tài)力的作用，例如地震、爆炸、某些運(yùn)輸情況在設(shè)備中所產(chǎn)生的應(yīng)力，這些力的特性和樣品的阻尼使樣品的振動(dòng)響應(yīng)達(dá)不到穩(wěn)態(tài)條件當(dāng)用正弦振動(dòng)進(jìn)行了初始振動(dòng)響應(yīng)檢查后.本試驗(yàn)將使樣品經(jīng)受由具有模擬動(dòng)態(tài)應(yīng)力特性的響應(yīng)譜來規(guī)定的時(shí)間歷程。時(shí)間歷程可以用下列方法產(chǎn)生和獲得：自然事件自然時(shí)間歷程；隨機(jī)樣本（人工時(shí)間歷程)：合成信號(hào)（人工時(shí)間歷程)。為了適應(yīng)所要求的嚴(yán)酷等級(jí)，通常還必須作某些修改，使用時(shí)間歷程時(shí)允許用單一試驗(yàn)波形包絡(luò)寬帶響應(yīng)譜激勵(lì)軸(一條或幾條)中的所有結(jié)構(gòu)模態(tài)可能在相伺的時(shí)間上被激勵(lì)，因此由幫合模式的合成效應(yīng)而導(dǎo)致的應(yīng)力一般都要加以考電，在12章中列出了編寫有關(guān)規(guī)范必須具備細(xì)節(jié)的詳綢清單.并在附錄A(標(biāo)準(zhǔn)的附錄)中給出了導(dǎo)引用標(biāo)準(zhǔn)下列標(biāo)準(zhǔn)所包含的條文通過在本標(biāo)準(zhǔn)中引用而構(gòu)成為本標(biāo)準(zhǔn)的殺文。本標(biāo)準(zhǔn)出版時(shí).所示版本均為有效。所有標(biāo)準(zhǔn)都會(huì)被修訂.使用本標(biāo)準(zhǔn)的各方應(yīng)探討使用下列標(biāo)準(zhǔn)最新版本的可能性。GB/T2298-9l機(jī)械振動(dòng)和沖擊術(shù)語(neqISC2041:1975）GB2421-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程總則(eqvIEC68-1:1988)GB/T2423.10--1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法驗(yàn)FC和導(dǎo)則：振動(dòng)（正弦）idtIEC68-2-6:1982)GB/T2423.43-1995元件、設(shè)備和其它產(chǎn)品在沖擊