射線檢測工藝規(guī)程

資料范本本資料為word版本，可以直接編輯和打印，感謝您的下載射線檢測工藝規(guī)程地點： 時間： 說明：本資料適用于約定雙方經過談判，協(xié)商而共同承認，共同遵守的責任與義務，僅供參考，文檔可直接下載或修改，不需要的部分可直接刪除，使用時請詳細閱讀內容GB/T12604.2GB/T12604.2TSGZ8001-2013GB/T11533NB/T47013.1-2015NB/T47013.2-2015GB/T19802GB/T23901.2GBZ117GBZ132JB/T5075JB/T7902GB/T19348.1膠片系統(tǒng)的分類GB/T19348.2方法控制膠片處理GB18871TSGG0001-2012GB/T16507-2013GB/T16508-2013TSGR0004-2009TSGR0005-2011GB150-20114術語和定義3引用標準及規(guī)程無損檢測術語射線照相檢測特種設備無損檢測人員資格考核與監(jiān)督管理規(guī)則標準對數(shù)視力表承壓設備無損檢測第1部分：通用要求承壓設備無損檢測第2部分：射線檢測無損檢測工業(yè)射線照相觀片燈最低要求無損檢測射線照相底片像質工業(yè)X射線探傷放射衛(wèi)生防護標準工業(yè)Y射線探傷放射防護標準無損檢測射線照相檢測用金屬增感屏射線照相用線型像質計無損檢測工業(yè)射線照相膠片第1部分：工業(yè)射線無損檢測工業(yè)射線照相膠片第2部分：用參考值電離輻射防護及輻射源安全基本標準鍋爐安全技術監(jiān)察規(guī)程鍋殼鍋爐水管鍋爐固定式壓力容器安全技術監(jiān)察規(guī)程移動式壓力容器安全技術監(jiān)察規(guī)程壓力容器射線照射方向上材料的公稱厚度。多層透照時，透照厚度為通過的各層材料公稱厚度之和。4.2工件至膠片距離b沿射線束中心測定的工件受檢部位射線源側表面與膠片之間的距離。4.3射線源至工件距離f沿射線束中心測定的射線源與工件受檢部位近源側表面之間的距離。4.4焦距F沿射線束中心測定的射線源與膠片之間的距離。4.5射線源尺寸d射線源的有效焦點尺寸4.6圓形缺陷長寬比不大于3的氣孔、夾渣和夾鎢等缺陷。4.7條形缺陷長寬比大于3的氣孔、夾渣和夾鎢等缺陷。4.8透照厚度比K一次透照長度范圍內射線束穿過母材的最大厚度和最小厚度之比。4.9一次透照長度符合標準規(guī)定的單次曝光有效檢測長度。4.10底片評定范圍本部分規(guī)定底片上必須觀察和評定的范圍。4.11缺陷評定區(qū)在質量份級評定時，為評價缺陷數(shù)量和密集程度而設置的一定尺寸區(qū)域，可以是正方形或長方形。4.12雙膠片透照技術暗盒內裝兩張膠片和三片增感屏（前、中、后屏）進行曝光，在觀片燈上采用雙片疊加方式進行底片觀察的透照技術。4.13小徑管外直徑Do小于或等于100mm的管子。5檢測人員5.1射線檢測人員未經矯正或經矯正的近（小數(shù)）視力和遠（距）視力應不低于5.0（小數(shù)記錄值為1.0），測試方法應符合GB11233的規(guī)定。評片人員的視力應每年檢查一次。5.2射線檢測人員必須按TSGZ8001-2010《特種設備無損檢測人員資格考核與監(jiān)督管理規(guī)則》要求進行培訓考核，取得射線資格證書。并且由公司向中國特種設備檢驗協(xié)會進行執(zhí)業(yè)注冊后，只能從事射線檢測方法與等級的無損檢測工作。5.3射線檢測人員資格級別分為1級（初級）、11級（中級）和111級（高級）。5.4質量等級評定及檢測報告簽發(fā)應由取得II級或III級資格證的人員擔任，且資格證應在有效期內。5.5射線檢測人員上崗前應進行輻射安全知識的培訓，并取得放射工作人員證。檢測設備和器材X射線檢測設備射線膠片膠片系統(tǒng)按照GB/T19348.1分為六類，即C1、C2、C3、C4、C5和C6類。C1為最高類別，C6為最低類別。膠片系統(tǒng)的特性指標見附錄B。膠片制造商對所生產的膠片進行系統(tǒng)性能測試并提供類別和參數(shù)。膠片處理方法、設備和化學藥劑可按照GB/T19384.2的規(guī)定，用膠片制造商提供的預先曝光膠片測試進行測試和控制。A級和AB級射線檢測技術應采用C5類或更高類別的膠片，B級射線檢測應采用C4類或更高類別的膠片。6.3觀片燈觀片燈的主要性能應符合GB/T19802的有關規(guī)定，最大亮度應能滿足評片的要求。6.4黑度計6.4.1.黑度計可測的最大黑度應不小于4.5，測量值的誤差不超過±0.05。6.4.2黑度計首次使用前應進行核查，以后至少每6個月應進行一次核查。在工作開始時或連續(xù)工作超過8小時后應在擬測量黑度范圍內選擇至少兩點進行檢查。6.4.3.黑度計定期核查方法.接通黑度計外接電源和測量開關，預熱10分鐘左右。.用標準黑度片的零黑度點校準黑度計零點，校準后順次測量黑度片上不同黑度的各點的黑度，記錄測量值。.按b條規(guī)定反復測量3次。.計算出各點測量值的平均值，以平均值與黑度片該點的黑度值之差作為黑度計的測量誤差。.對黑度不大于4.5的各點的測量誤差均應不超過±0.05，否則黑度計應核查、修理或報廢。6.4.4黑度計核查要進行記錄，黑度計檢查無需記錄。6.5標準密度片標準密度片應至少有8個一定間隔的黑度基準，且能覆蓋0.3-4.5黑度范圍，應至少每2年校準一次。必須特別注意標準密度片的保存和使用條件。6.6.1射線檢測應使用金屬增感屏或不用增感屏，金屬增感屏應滿足JB/T5075的要求，增感屏應完全干凈、拋光和無紋道。6.6.2使用增感屏時，膠片和增感屏之間應接觸良好，應定期用干凈紗布蘸乙醚或四氯化碳擦洗增感屏。增感屏的材料和厚度6.7像質計像質計是用來檢查透照技術和膠片處理質量的。衡量質量的參數(shù)是像質計靈敏度值。它等于底片上能識別出的最細金屬絲的線編號。6.7.1線型像質計的型號和規(guī)格通用線型像質計和等徑線型像質計的型號和規(guī)格應符合JB/T7902的規(guī)定。6.7.2像質計標志及代號像質計應具有下列標志：像質計材料代號一一Fe；像質計材料 碳素鋼適用材料范圍一一鋼6.8暗室安全照明時間確定膠片應在膠片制造商所推薦的安全燈光條件下進行暗室處理，暗室安全照明時間的確定方法可參考附錄E進行。射線檢測技術等級7.1射線檢測技術分為三級：A級-—低靈敏度技術;B級---中靈敏度技術代級---高靈敏度技術7.2射線檢測技術等級選擇應符合相關法規(guī)、規(guī)范、標準和設計技術文件的要求，同時還應滿足合同雙方商定的其它技術要求。承壓設備對接焊接接頭的制造、安裝、在用時的射線檢測，一般應采用AB級射線檢測技術進行檢測。對重要設備、結構、特殊材料和特殊焊接工藝制作的對接焊接接頭，可采用B級技術進行檢測。7.3檢測的某些條件不能滿足AB級（或B級）射線檢測技術的要求時，經合同雙方商定，在采取有效補償措施（例如選用更高類別的膠片）的前提下，若底片的像質計靈敏度達到了AB級（或B級）射線檢測技術的規(guī)定，則可認為按AB級（或B級）射線檢測技術進行了檢測。7.4承壓設備在用檢測中，檢測的某些條件不能滿足AB級射線檢測技術的要求時，經合同雙方商定,在采取有效補償措施（例如選用更高類別的膠片）后可采用A級技術進行射線檢測，但應同時采用其他無損檢測方法進行補充檢測。檢測工藝文件8.1射線檢測工藝規(guī)程：射線檢測工藝規(guī)程除滿足NB/T47013.1的要求外，還應規(guī)定下列相關因素的具體范圍或要求：如相關因素的變化超出規(guī)定時，應重新編制或修訂工藝規(guī)程：a） 適用范圍中的結構（對接接頭、角接接頭）、材料類別（鋼及復合材料）及厚度（2?120mm）；b） 射線源種類、能量及焦點尺寸；c） 檢測技術等級（AB級）；d） 透照技術；e） 透照方式；f） 膠片型號及等級；g） 像質計種類；h） 增感屏和濾光板型號（如使用）；i） 暗室處理方法或條件；j） 底片觀察技術。8.2射線檢測操作指導書8.2.1射線檢測操作指導書應由具有相應方法的II級及以上資格人員根據相應的工藝規(guī)程并結合無損檢測委托單與實際的工件結構進行編制。8.2.2射線檢測操作指導書至少包含以下內容。a） 適用范圍：被檢測工件的類型（形狀、結構等）、尺寸范圍（厚度及其他幾何尺寸）、所用材料的類型；b） 檢測設備器材：射線源（種類、型號、焦點尺寸）、膠片（牌號及其分類等級）、增感屏（類型、數(shù)量和厚度）、像質計（種類、型號）、濾光板、背散射屏蔽鉛板、標記、膠片暗室處理和觀察設備等；c） 檢測技術和工藝：采用的檢測技術等級、透照技術、透照方式、射線源、膠片、曝光參數(shù)、像質計的類型、擺放位置和數(shù)量，標記符號類型和放置、布片原則等d） 膠片暗室處理方法和條件要求；e） 底片觀察技術（雙片疊加或單片觀察評定）；f） 底片質量要求：幾何不清晰度、黑度、像質計靈敏度、標記等；g） 驗收標準；i）操作指導書的驗證要求。8.2.3射線檢測操作指導書驗證當首次使用射線檢測操作指導書時，應對工藝驗證，以驗證底片質量是否能達到標準規(guī)定的要求。驗證可通過專門的透照試驗進行，或以產品的第一批底片作為驗證依據。在這兩種情況下，作為依據的驗證底片均應做出標識“S”。9輻射安全防護9.1放射衛(wèi)生防護應符合GB18871、GBZ117和GBZ132的有關規(guī)定。9.2現(xiàn)場進行X射線檢測時，應按GBZ117的規(guī)定劃定控制區(qū)和管理區(qū)、設置警告標志。檢測工作人員應佩帶個人劑量計，并攜帶劑量報警儀。10檢測工藝及其選擇10.1檢測時機檢測時機應滿足相關法規(guī)、規(guī)范、標準和設計技術文件的要求，同時還應滿足合同雙方商定的其它技術要求。除非另有規(guī)定，射線檢測應在焊后進行，且對有延遲裂紋傾向的材料，至少應在焊接完成24h后進行射線檢測。10.2檢測程序1.對照無損檢測委托單核對實物-2.選用或新編制相應的操作指導書一3.根據操作指導書對工件進行檢測一4.暗室處理一5.對合格底片進行評定、記錄一對操作指導書進行驗證（新編操作指導書）。10.3檢測區(qū)檢測區(qū)寬度應滿足相關法規(guī)、規(guī)范、標準和設計技術文件的要求，同時還應滿足合同雙方商定的其它技術要求，如無特別要求，應滿足以下規(guī)定：10.3.1對接焊縫檢測區(qū)包括焊縫金屬及相對于焊縫邊緣至少為5mm的相鄰母材區(qū)域。10.3.2管座角焊縫檢測區(qū)包括焊縫金屬及相對于焊縫邊緣至少為5mm的安放式接管相鄰母材區(qū)域或插入式主管（或筒體、封頭、平板等）相鄰母材區(qū)域。10.4表面要求在射線檢測之前，對接焊接接頭的表面應經目視檢測并合格。表面的不規(guī)則狀態(tài)在底片上的影像不得掩蓋或干擾缺陷影像，否則應對表面作適當修整。10.5透照布置10.5.1膠片透照技術允許以下兩種膠片透照技術：a）單膠片透照技術使用單張膠片。X射線（W100kV）只允許采用單膠片透照技術。b）雙膠片透照技術使用兩張分類等級相同或相近的膠片。10.5.2透照方式10.5.2.1應根據工件特點和技術條件的要求選擇適宜的透照方式。在可以實施的情況下應優(yōu)先選用單壁透照方式，在單壁透照不能實施時才允許采用雙壁透照方式。10.5.2.2典型縱、環(huán)縫和小徑管透照方式圖1?圖8給出了常用的典型透照方式示意圖，可供透照布置時參考。圖中d表示射線源，F(xiàn)表示焦距，b表示工件至膠片距離，f表示射線源至工件距離，T表示公稱厚度，D0表示管子外徑。圖1縱、環(huán)向焊接接頭源在外單壁透照方式圖2環(huán)向焊接接頭源在中心周向透照方式圖3縱、環(huán)焊接接頭源在內單壁透照方式圖4環(huán)向焊焊接接頭源在外雙壁單影透照方式（1）圖5環(huán)向焊接接頭源在外雙壁單影透照方式（2）圖6.縱向焊接接頭源在外雙壁單影透照方式圖7小徑管環(huán)向焊接接頭傾斜透照方式（橢圓成像）圖8小徑管環(huán)向對接接頭垂直透照方式（重疊成像）10.5.2.3安放式和插入式管座角焊縫應優(yōu)先選擇源在外透照方式。插入式管座角焊縫源在內透照方式時，應優(yōu)先選擇射線源放置在支管軸線上的透照布置。管座角焊縫典型透照方式圖D.9?圖D.14給出了常用的管座角焊縫典型透照方式示意圖圖D.9插入式接管角焊縫單壁中心內透照方式圖D.10插入式接管角焊縫單壁偏心內透照方式注：射線源放在與支管母線呈20°?30。角的軸線上圖D.11插入式接管角焊縫單壁外透照方式注：射線源應放在管外側縫坡口的軸線上，偏差在0?+10°以內圖D.12安放式接管角焊縫單壁外透照方式圖D.13安放式接管角焊縫單壁中心透照方式圖D.14安放式接管角焊縫單壁偏心透照方式10.5.3透照方向透照時射線束中心一般應垂直指向透照區(qū)中心，并應與工件表面法線重合，需要時也可選用有利于發(fā)現(xiàn)缺陷的方向透照。10.5.4一次透照長度一次透照長度應以透照厚度比K進行控制。不同級別射線檢測技術和不同類型對接焊接接頭的透照厚度比應符合表1的規(guī)定。整條環(huán)向對接焊接接頭所需的透照次數(shù)可參照圖9-12的曲線圖確定。管座角焊縫、橢圓形封頭、碟形封頭小r區(qū)的焊縫，以及其他曲率連續(xù)變化的焊縫可不采用以K值確定一次透照長度的方法，允許用黑度范圍來確定一次透照長度，底片滿足黑度要求的長度范圍即為允許采用的一次透照長度。表1允許的透照厚度比K圖9源在外單壁透照環(huán)向對接焊接接頭、透照厚度比K=1.1時的透照次數(shù)圖圖10.其他透照方式透照環(huán)向對接焊接接頭、透照厚度比K=1.1時的透照次數(shù)圖圖11.源在外單壁透照環(huán)向對接焊接接頭、透照厚度比K=1.2時的透照次數(shù)圖圖12.其他方式透照環(huán)向對接焊接接頭、透照厚度比K=1.2時的透照次數(shù)圖10.5.4透照次數(shù)曲線圖對外徑D0>100mm的對接焊接接頭進行100%檢測，所需的最少透照次數(shù)與透照方式和透照厚度比有關，這一數(shù)值可從圖9?12中直接確定。a） 圖9為源在外單壁透照環(huán)向對接焊接接頭、透照厚度比K=1.1時的透照次數(shù)曲線圖。b） 圖10為其他透照方式（偏心內透法和雙壁單影法）透照環(huán)向對接焊接接頭、透照厚度比K=1.1時的透照次數(shù)曲線圖。c） 圖11為源在外單壁透照環(huán)向對接焊接接頭、透照厚度比K=1.2時的透照次數(shù)曲線圖。d） 圖12為其他透照方式（偏心內透法和雙壁單影法）透照環(huán)向對接焊接接頭、透照厚度比K=1.2時的透照次數(shù)曲線圖。10..5.5圖9?圖12確定透照次數(shù)的方法從圖中確定透照次數(shù)的步驟是:計算出T/D0、D0/f，在橫坐標上找到T/D0值對應的點，過此點畫一垂直于橫坐標的直線；在縱坐標上找到D0/f對應的點,過此點畫一垂直于縱坐標的直線;從兩直線交點所在的區(qū)域確定所需的透照次數(shù);當交點在兩區(qū)域的分界線上時，應取較大數(shù)值作為所需的最少透照次數(shù)。10.5.6有效評定區(qū)搭接10.5.6.1焊縫進行全部射線檢測時，采取的曝光次數(shù)和有效評定區(qū)的重疊應能保證檢測到被檢測區(qū)的整個體積范圍。10.5.6.2如果采用暗盒直接搭接透照的方式，也應保證整個有效評定區(qū)的底片滿足黑度的要求。10.5.7小徑管透照布置和透照次數(shù)10.5.7.1小徑管透照布置當同時滿足T（壁厚）W8啞和甘（焊縫寬度）WD0/4時，可采用傾斜透照方式橢圓成像。不滿足上述條件或橢圓成像有困難可采用垂直透照方式重疊成像。橢圓成像時，應控制影像的開口寬度（上下焊縫投影最大間距）在一倍焊縫寬度左右。10.5.7.2小徑管透照次數(shù)采用傾斜透照方式橢圓成像時，當T/D0W0.12時，應相隔90。透照2次。當T/D0>0.12時，應相隔120°或60。透照3次。垂直透照方式重疊成像時，一般應相隔120°或60°透照3次。因結構原因無法實施多次透照時，可采用橢圓成像或重疊成像方式透照1次。此時應采取有效措施擴大缺陷可檢出范圍，并保證底片評定范圍內黑度和靈敏度滿足要求。按照上述規(guī)定進行多次透照時，底片上被檢測區(qū)滿足標準黑度要求的區(qū)域為有效評定區(qū)，相鄰底片的有效評定區(qū)的重疊應保證覆蓋被檢測區(qū)的整個體積范圍，如最少曝光次數(shù)不能滿足100%覆蓋要求，則應增加曝光次數(shù)。10.5.8特殊情況由于結構原因不能按照規(guī)定的間隔角度多次透照時，經合同各方商定，可不再強制限制規(guī)定的間隔角度，但應采取有效措施盡量擴大缺陷可檢出范圍，同時應保證底片評定范圍內黑度和靈敏度滿足要求，并在檢測報告中對有關情況進行說明11射線能量11.1X射線照相應盡量選用較低的管電壓。在采用較高管電壓時，應保證適當?shù)钠毓饬?。圖1規(guī)定了不同材料、不同透照厚度允許采用的最高X射線管電壓。5.5.2對截面厚度變化大的承壓設備，在保證靈敏度要求的前提下，允許采用超過圖1規(guī)定的X射線管電壓。但對鋼、銅及銅合金材料，管電壓增量不應超過50kV；注：1-銅及銅合金；2-鋼；3-鈦及鈦合金；4-鋁及鋁合金圖1不同透照厚度允許的X射線最高透照管電壓12射線源至工件表面的最小距離12.1所選用的射線源至工件表面的距離f應滿足下式的要求：AB級射線檢測技術：fN10d-b2/3圖3是AB級射線檢測技術確定f的諾模圖。焦點尺寸d的計算見附錄A圖3AB級射線檢測技術確定焦點至工件表面距離的諾模圖.12.2采用源在內中心透照方式周向曝光時，只要得到的底片質量符合21.1.1和21.1.2的要求，f值可以減小，但減小值不應超過規(guī)定值的50%。12.3采用源在內單壁透照方式時，只要得到的底片質量符合21.1.1和21.1.2的要求，f值可以減小，但減小值不應超過規(guī)定值的20%。12.4安放式和插入式管座角焊縫采用源在內單壁中心透照方式（圖D9和圖D13）時，只要得到的底片質量符合5.15.1和5.15.2的要求f值可以減小，但減小值不應超過規(guī)定值的50%。12.5安放式和插入式管座角焊縫采用源在內單壁偏心透照方式（圖D10和圖D14）時，只要得到的底片質量符合5.15.1和5.15.2的要求f值可以減小，但減小值不應超過規(guī)定值的20%。13膠片與被檢工件之間的距離曝光期間，膠片應緊貼于工件，除非有特殊規(guī)定或透照布置能使被檢區(qū)域得到更好的透照影像。管座角焊縫源在內透照時，膠片應盡可能的靠近被檢工件焊縫。14曝光量14.1X射線照相，當焦距為700mm時，曝光量的推薦值為：A級和AB級射線檢測技術不小于15mA?min；B級射線檢測技術不小于20mA?min。當焦距改變時可按平方反比定律對曝光量的推薦值進行換算。15曝光曲線15.1對每臺在用射線設備均應做出經常檢測材料的曝光曲線，依據曝光曲線確定曝光參數(shù)。15.2制作曝光曲線所采用的膠片、增感屏、焦距、射線能量等條件以及底片應達到的靈敏度、黑度等參數(shù)均應符合本部分的規(guī)定。15.3對使用中的曝光曲線，每年至少應核查一次。射線設備更換重要部件或經較大修理后應及時對曝光曲線進行核查或重新制作。16無用射線和散射線屏蔽16.1應采用金屬增感屏、鉛板、濾光板、準直器等適當措施，屏蔽散射線和無用射線，限制照射場范圍。16.2對初次制定的檢測工藝，以及在使用中檢測條件、環(huán)境發(fā)生改變時，應進行背散射防護檢查。檢查背散射防護的方法是：在暗盒背面貼附“B”鉛字標記，一般B鉛字的高度為13mm、厚度為1.6mm,按檢測工藝的規(guī)定進行透照和暗室處理。若在底片上出現(xiàn)黑度低于周圍背景黑度的“B”字影像，則說明背散射防護不夠，應增大背散射防護鉛板的厚度。若底片上不出現(xiàn)“B”字影像或出現(xiàn)黑度高于周圍背景黑度的“B”字影像，則說明背散射防護符合要求。在背散射輕微或后增感屏足以屏蔽背散射線的情況下，可不使用背散射防護鉛板。17像質計的使用17.1像質計放置原則絲型像質計像質計一般應放置在焊接接頭的一端（在被檢區(qū)長度的1/4左右位置），金屬絲應橫跨焊縫，細絲置于外側.當一張膠片上同時透照多條焊接接頭時，像質計應放置在透照區(qū)最邊緣的焊縫處，還應滿足以下規(guī)定：a） 單壁透照規(guī)定像質計放置在源側。雙壁單影透照規(guī)定像質計放置在膠片側。雙壁雙影透照像質計可放置在源側，也可放置在膠片側。b） 單壁透照中，如果像質計無法放置在源側，允許放置在膠片側（球罐全景曝光除外）。c） 單壁透照中像質計放置在膠片側時，應進行對比試驗。對比試驗方法是在射源側和膠片側各放一個像質計，用與工件相同的條件透照，測定出像質計放置在源側和膠片側的靈敏度差異，以此修正像質計靈敏度的規(guī)定，以保證實際透照的底片靈敏度符合要求。當像質計放置在膠片側時，應在像質計上適當位置放置鉛字“F”作為標記，F(xiàn)標記的影像應與像質計的標記同時出現(xiàn)在底片上，且應在檢測報告中注明。17.2像質計數(shù)量原則上每張底片上都應有像質計的影像。當一次曝光完成多張膠片照相時，使用的像質計數(shù)量允許減少但應符合以下要求：環(huán)形對接焊接接頭采用源置于中心周向曝光時，至少在圓周上等間隔地放置3個像質計。球罐對接焊接接頭采用源置于球心的全景曝光時，在上極和下極焊縫的每張底片上都應放置像質計，且在每帶的縱縫和環(huán)縫上沿經度方向等間隔至少放置3個像質計。一次曝光連續(xù)排列的多張膠片時，至少在第一張、中間一張和最后一張膠片處各放置一個像質計。17.3小徑管對接焊縫小徑管使用通用絲型和專用等徑絲型像質計時，金屬絲應橫跨垂直焊縫放置。像質計應放置于源側，當無法放置在源側時，可將像質計置于膠片側，但應在檢測記錄和報告中說明。17.4不等厚或不同種類材料之間對接焊縫如果焊接接頭的幾何形狀允許，不同厚度或材料類型不同的部位應分別采用與被檢材料厚度或類型相匹配的像質計，并分別放置在焊接接頭相對應部位。17.5管座角焊縫推薦采用絲型像質計，根據像質計能夠投影到被檢測區(qū)的位置而放置。如果允許，像質計盡可能置于黑度最小的區(qū)域。17.6像質計影像識別使用絲型像質計時，底片上能夠識別的最細線的編號即為像質計靈敏度值。如底片黑度均勻部位（一般是鄰近焊縫的母材金屬區(qū)）能夠清晰地看到長度不小于10mm的連續(xù)金屬絲影像時，則認為該絲是可識別的。專用等徑絲型像質計至少應能識別兩根金屬絲。18標記18.1透照部位的標記由識別標記和定位標記組成。標記一般由適當尺寸的鉛（或其他適宜的重金屬）制數(shù)字、拼音字母和符號等構成。底片標識能清晰的閱讀且不至于對底片的評定帶來影響，標記的材料和厚度應根據被檢工件的厚度來選擇，保證標記影像不模糊，也不至于產生眩光.18.2識別標記一般包括：產品編號、對接焊接接頭編號、部位編號和透照日期。返修后的透照還應有返修標記,擴大檢測比例的透照應有擴大檢測標記。18.3定位標記一般包括中心標記、搭接標記、檢測區(qū)標記等。中心標記指示透照部位區(qū)段的中心位置和分段編號的方向，一般用十字箭頭“”表示。搭接標記是連續(xù)檢測時的透照分段標記，可用符號“1”或其他能顯示搭接情況的方法（如數(shù)字等）表示。檢測區(qū)標記采取的方式能夠清晰標識檢測區(qū)范圍即可。18.4內外焊縫余高均磨平的情況，底片上不能直接正確測定和區(qū)別檢測區(qū)位置和寬度時，應采用適當?shù)亩ㄎ粯擞洠ㄈ绮捎勉U質窄條）進行標識。18.5定位標記放置的部位還應符合附錄c和d的規(guī)定。所有標記的影像不應重疊，且不應干擾有效評定范圍內的影像。當由于結構原因，定位標記需要放置于膠片側時，檢測記錄和報告應標注實際的評定范圍，標記影像不得進入檢測區(qū)源側表面在底片上的投影區(qū)內。18.6識別標記允許放置于源側或膠片側，所有標記的影像不應重疊，且不應干擾有效評定范圍內的影像。18.7搭接標記放置的位置還應符合圖10?17的要求圖10平面工件或縱焊接接頭圖11射線源到膠片距離F小于曲面工件的曲率半徑圖12凸面朝向射線源的曲面部件圖16射線源到膠片距離F大于曲面工件的曲率半徑圖17射線源在曲面工件的曲率中心19膠片處理19.1底片處理膠片處理一般應按膠片使用說明書的規(guī)定進行。手工沖洗膠片宜在曝光后8小時之內完成，不得超過24小時。19.2手工處理推薦條件：顯影溫度：18?22°C 顯影時間：4min?6min定影溫度：18?22C 定影時間：10min?12min水洗溫度：16?24C 水洗時間：20min?30min19.3顯影液應采用膠片制造商推薦配方。19.4高溫季節(jié)應采用高溫堅膜劑配方，高溫季節(jié)不得使用低電壓曝光、高溫顯影。而低溫季節(jié)不得使用高電壓曝光、低溫顯影。19.5定影液也應采用膠片制造商推薦配方。19.6配制顯、定影液的關鍵是藥品稱重要準確，配制顯影液的水溫一般在30C?50C，配制定影液的水溫一般在60C?70C，藥品應按次序投入，每一種藥品需徹底溶解后再放入下一種藥品，配制好的顯、定影液應靜置24小時后再使用。20評片要求20.1評片一般應在專用的評片室內進行。評片室應整潔、安靜，溫度適宜,光線應暗且柔和。20.2評片人員在評片前應經歷一定的暗適應時間。從陽光下進入評片的暗適應時間一般為5min?10min；從一般的室內進入評片的暗適應時間應不少于30s。20.3評片時，底片評定范圍內的亮度應符合下列規(guī)定：a） 當?shù)灼u定范圍內的黑度DW2.5時，透過底片評定范圍內的亮度應不低于30cd/m2；b） 當?shù)灼u定范圍內的黑度D>2.5時，透過底片評定范圍內的亮度應不低于10cd/m221底片質量21.1黑度底片黑度應采用黑度計（光學密度計）進行測量，不同膠片透照技術和底片觀察技術對應的黑度范圍如下：21.1.1單膠片透照技術，單底片觀察評定，底片評定范圍內的黑度D應符合下列規(guī)定：A級：1.5WDW4.5；AB級：2.0WDW4.5；B級：2.3WDW4.5。21.1.2雙膠片透照技術，雙底片疊加觀察評定，評定范圍內的黑度D應符合2.7WDW4.5的規(guī)定：注1：采用分類相同的膠片時，在有效評定區(qū)內每張底片上相同點測量的黑度的差應不超過0.5。注2：用于雙底片疊加評定的任何單底片的黑度應不低于1.3。注3：應同時觀察、分析和保存每張底片。21.1.3用X射線透照小徑管或其他截面厚度變化大的工件，單底片觀察評定時，AB級最低黑度允許降至1.5；B級最低黑度可降至2.0。21.1.4對檢測區(qū)進行評定時，對應著不同的膠片透照技術或不同的底片觀察技術的區(qū)域的黑度范圍應分別在檢測報告中進行標識。21.1.5評定區(qū)的最大黑度限值允許提高，但觀片燈應經過校驗，觀片燈亮度應保證在底片最高黑度評定范圍內的亮度能夠滿足20.3的要求。21.2底片的像質計靈敏度單壁透照、像質計置于源側時應符合表1的規(guī)定；雙壁雙影透照、像質計置于源側時應符合表2的規(guī)定的規(guī)定；雙壁單影或雙壁雙影透照、像質計置于膠片側時應符合表3的規(guī)定。21.3其它要求底片上，定位和識別標記影像應顯示完整、位置正確。底片評定范圍內不應存在干擾缺陷影像識別的水跡、劃痕、斑紋等偽缺陷影像。在采用雙膠片疊加觀察評定時，如果其中一張底片存在輕微偽缺陷或劃傷，在能夠識別和不妨礙底片評定的情況下，可以接受該底片。表5絲型像質計靈敏度值一一單壁透照、像質計置于源側表1像質計靈敏度值一一單壁透照、像質計置于源側表2像質計靈敏度值一雙壁單影或雙壁雙影透照、像質計置于膠片測表3像質計靈敏度值一雙壁雙影透照、像質計置于源測22承壓設備熔化焊對接接頭的射線檢測質量分級22.1缺陷類型對接焊接接頭中的缺陷按性質可分為裂紋、未熔合、未焊透、條形缺陷和圓形缺陷五類。22.2質量分級依據根據對接焊接接頭中存在的缺陷性質、尺寸、數(shù)量和密集程度，焊縫質量分為I、II、III、W四個等級。22.3質量分級一般規(guī)定a） I級對接焊接接頭內不允許存在裂紋、未熔合、未焊透和條形缺陷。b） II級和III級對接焊接接頭內不允許存在裂紋、未熔合和未焊透。c） 圓形缺陷評定區(qū)內同時存在圓形缺陷和條形缺陷，應進行綜合評級，即分別評定圓形缺陷評定區(qū)內圓形缺陷和條形缺陷，將兩者級別之和減一作為綜合評級的質量級別。d） 當各類缺陷評定的質量級別不同時，以質量最差的級別作為對焊接接頭的質量級別。e） 對接焊接接頭中缺陷超過III級者為IV級。22.4圓形缺陷的質量分級a） 圓形缺陷用圓形缺陷評定區(qū)進行質量分級評定，圓形缺陷評定區(qū)為一個與焊縫平行的矩形，其尺寸見下表。圓形缺陷評定區(qū)應選在缺陷最嚴重的區(qū)域。圓形缺陷評定區(qū)單位：mmb） 在圓形缺陷評定區(qū)內或與圓形缺陷評定區(qū)邊界線相割的缺陷均應劃入評定區(qū)內。將評定區(qū)內的缺陷按下表的規(guī)定換算為點數(shù)。缺陷點數(shù)換算表單位（mm）不計點數(shù)的缺陷尺寸單位（mm）c） 根據焊縫圓形缺陷評定區(qū)內的點數(shù)按下表評定對接焊接接頭的質量級別。圓形缺陷的分級d） 由于材質和結構等方面的原因，進行返修可能會產生不利后果的對接焊接接頭，各級別的圓形缺陷點數(shù)可放寬1?2點。e）對致密性要求高的對接焊接接頭，制造方評定人員應考慮將圓形缺陷的黑度作為評級的依據。通常將黑度大的圓形缺陷定義為深孔缺陷，當對接焊接接頭存在深孔缺陷時，其質量級別應評為IV級。f）質量等級為I級的對接焊接接頭和母材公稱厚度不大于5mm的II級對接焊接接頭，不計點數(shù)的缺陷在圓形缺陷評定區(qū)內不得多于10個，超過時對接焊接接頭質量等級應降低一級。22.5條形缺陷的質量分級條形缺陷按下表的規(guī)定進行分級評定。各級別對接焊接接頭允許的條形缺陷長度 單位：mm23小口徑管環(huán)向對接接頭的射線檢測質量分級按下述規(guī)定執(zhí)行。壓力管道的環(huán)向對接接頭射線檢測質量分級也按下述規(guī)定執(zhí)行。23.1對接焊接接頭內的缺陷按性質可分為裂紋、未熔合、未焊透、條形缺陷、圓形缺陷、根部內凹和根部咬邊七類。23.2質量分級依據根據對接焊接接頭中存在的缺陷性質、數(shù)量和密集程度，焊縫質量分為I、II、III、W四個等級。23.3質量分級一般規(guī)定a） I級對接焊接接頭內不允許存在裂紋、未熔合、未焊透、條形缺陷、根部內凹、根部咬邊。b） II級和III級對接焊接接頭內不允許存在裂紋、未熔合以及加墊板單面焊的未焊透。c） 對接焊接接頭中缺陷超過III級者為W級。d） 當各類缺陷評定的質量級別不同時，以質量最差的級別作為對接焊接接頭的質量級別。注：焊縫系數(shù)取1和氬弧焊打底的對接焊接接頭II級和I級不允許未焊透23.4圓形缺陷的質量分級按§22.4b.的規(guī)定進行質量分級評定，但小徑管缺陷評定區(qū)取10mmX10mm。23.5條形缺陷的質量分級按§22.5的規(guī)定進行質量分級評定。23.6不加墊板單面焊的未焊透缺陷的分級評定不加墊板單面焊的未焊透缺陷的分級評定按下表的規(guī)定執(zhí)行。管外徑D0>100mm時不加墊板單面焊未焊透的分級管外徑D0W100mm（小徑管）時不加墊板單面焊未焊透的分級23.7根部內凹和根部咬邊的分級評級管外徑D0W100mm的小徑管不加墊板單面焊的根部內凹和根部咬邊缺陷按下1表的規(guī)定進行質量分級評定。管外徑D0>100mm時，不加墊板單面焊的根部內凹和根部咬邊缺陷按下表2的規(guī)定進行質量分級評定。表1.外徑DOW100mm時根部內凹和根部咬邊的分級表2.外徑DO>100mm時根部內凹和根部咬邊的分級23.8綜合評級在條形缺陷評定區(qū)內同時存在多種缺陷時，應進行綜合評級。對各類缺陷分別評級，取質量級別最低的級別作為綜合評級的級別；當各類缺陷的級別相同時，則降低一級作為綜合評級的級別。24文件保存所有射線檢測文件資料應由質控部探傷室保管,保存期應不少于七年。文件保存應包括：《無損檢測委托單》、《射線檢測操作指導書》、《射線檢測報告》、《射線檢測評定記錄》、《射線檢測定位圖》、《焊縫檢查返修復查通知單》、射線照相底片、《射線檢測設備定期校驗記錄》等。附錄A焦點尺寸計算方法正方形焦點：d=a長方形、橢圓形焦點：d=（a+b）/2圓形焦點：d=a（d為有效焦點）aaabbaa正方形圓形長方形橢圓形圖A1理想焦點圖形附錄B工業(yè)射線膠片系統(tǒng)的特任指標附錄C射線檢測定位規(guī)則1汽包要求以右手螺旋規(guī)則進行定位。一般以第一道環(huán)縫的“丁”字口為縱、環(huán)縫的起點，右手大母指方向為縱縫方向，其余四指的方向為環(huán)縫方向。有一個人孔的以人孔側為B1縫，雙人孔或沒有人孔的按“無損檢測委托單”的要求定位。同時需在起點處（B1-1）用鋼印打上永久標記（t）o2集箱、大徑管要求以右手螺旋規(guī)則進行定位。右手大母指方向為每道環(huán)縫的排列方向，其余四指的方向為環(huán)縫方向。要求在集箱環(huán)縫起點（B1-1）處用鋼印打上永久標記（t）o3小徑管要求以示意圖的形式，準確記錄每個焊口的具體位置。附錄E暗室安全照明時間確定E1范圍本附錄適用于工業(yè)射線檢測膠片暗室安全照明時間的確定。E.2定義E.2.1可檢測黑度的變化能夠用對比法目視檢測或通過黑度計測量的底片黑度的微小差別。E.2.2曝光前照射試驗膠片在接受射線曝光前進行的安全燈照射試驗。由此確定的在試驗片條上沒有檢測到黑度變化的最長安全燈照射時間，即為曝光前安全照射時間t1。E.2.3曝光后照射試驗膠片在接受射線曝光后，在顯影過程開始之前保持干燥狀態(tài)下進行的安全燈照射試驗，由此確定的在試驗片條上沒有檢測到黑度變化的最長安全燈照射時間，即為曝光前安全照射時間t2。E.2.4潮濕膠片的曝光后照射試驗膠片自顯影過程開始至顯影結束（或定影過程開始），在潮濕狀態(tài)下進行的安全燈照射試驗，由此確定的在試驗片條上沒有檢測到黑度變化的最長安全燈照射時間，即為潮濕膠片曝光后安全照射時間t3。E.2.5暗室安全照射時間通過試驗得到的能夠確保安全燈照射對底片黑度不產生影響的時間t，為t1、t2、t3中最小值的一半。E.3試驗器材E.3.1階梯試塊為了獲得系列階梯黑度底片，應適用適當?shù)慕饘俨牧现谱麟A梯試塊。采用適當?shù)纳渚€透過階梯試塊對膠片進行曝光，然后按照產品檢測時使用的暗室處理參數(shù)進行處理，獲得與標準適用黑度范圍大致對應的階梯黑度范圍。E.3.2遮光卡遮光卡是用適當?shù)牟煌赴坠獠牧希ㄈ绾诩垼┯糜诳刂圃囼炗媚z片的受照射面積。E.3.3計時器計時器的計時范圍應在8分鐘以上，計時分度值不大于1秒，但計時器發(fā)出的光不得照射到試驗膠片